JPS6255099B2 - - Google Patents

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JPS6255099B2
JPS6255099B2 JP55120400A JP12040080A JPS6255099B2 JP S6255099 B2 JPS6255099 B2 JP S6255099B2 JP 55120400 A JP55120400 A JP 55120400A JP 12040080 A JP12040080 A JP 12040080A JP S6255099 B2 JPS6255099 B2 JP S6255099B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ultrasonic
microscope
optical
sample
focusing lens
Prior art date
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Expired
Application number
JP55120400A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5774657A (en
Inventor
Isao Momii
Fumio Uchino
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
Priority to JP55120400A priority Critical patent/JPS5774657A/ja
Publication of JPS5774657A publication Critical patent/JPS5774657A/ja
Publication of JPS6255099B2 publication Critical patent/JPS6255099B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N29/00Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
    • G01N29/04Analysing solids
    • G01N29/06Visualisation of the interior, e.g. acoustic microscopy

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Acoustics & Sound (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は超音波ビームを利用して試料を観察す
ると共に光学顕微鏡によつてもその試料の同一箇
所を容易に観察できるようにした超音波顕微鏡装
置に関する。
超音波顕微鏡は、原理的には細く絞つた超高周
波超音波ビームによつて試料面を機械的に走査
し、その試料により散乱された超音波を集音して
電気信号に変換し、その信号を陰極線管の表示面
に二次元的に表示し、顕微鏡像を得るのであり、
その構成から透過型と反射型とに分けられる。
第1図は反射型の超音波顕微鏡の原理図で、高
周波発振器1からの信号は方向性結合器2により
上部及び下部電極3a,3b及び圧電体3cから
成る送受兼用トランスジユーサ3へ供給される。
この信号は超音波に変換されてこれが貼着された
送受波兼用のサフアイア等の超音波伝搬媒体材か
ら成る超音波集束レンズの平面状の一面より内部
に放射される。該超音波集束レンズ4の他面は球
面状にえぐられて球面レンズ部4aとされ、球面
レンズ部4aと対向して試料保持板5が配され
る。超音波集束レンズ4と前記保持板5との間に
は水等の音場媒体6が介装され、前記球面レンズ
部4aの焦点において試料7が保持板5に取付け
られる。保持板5は走査装置8でX及びY方向に
移動される。勿論、保持板5の代わりに超音波レ
ンズ4をX及びY方向に移動することも可能であ
る。走査装置8は走査回路9により制御される。
そこで、前記トランスジユーサ3より超音波集束
レンズ4内に入射された平面状の超音波は前記球
面レンズ部4aに伝播し、該球面レンズ部4aに
より集束されて試料7へ到達する。その反射波は
再び超音波集束レンズ4で集束され、トランスジ
ユーサ3で電気信号に変換されて、前記方向性結
合器2を通つて表示装置10へ供給される。
ところで、超音波顕微鏡は普及の散乱が弾性的
性質の違いにより起ることを利用しており、一
方、被学顕微鏡において光の散乱が光学的屈折率
の違いにより起ることを利用している。従つて超
音波顕微鏡は光学顕微鏡とは異なつた情報を得る
ことができる。この点より超音波顕微鏡により観
察した試料内の微小部分の超音波像を、光学顕微
鏡による光学像と比較することが医学、生物学、
工学などの分野ではどうしても必要となる。
このため従来においては超音波顕微鏡で観察し
た試料をその走査装置からとりはずして、それを
あらためて光学顕微鏡の試料台にのせて観察して
いた。このとき広い試料面から超音波で観察した
微小な同一部分を探すのはかなりの苦労を要して
いた。一方、逆に試料中の観察したい部分が光学
顕微鏡の観察によりあらかじめ決定される場合に
は、その同一部分を超音波顕微鏡により探すため
に、該当する部分の近傍で超音波ビームの照射位
置を二次元的にわずかずつずらしながら、何回か
超音波顕微鏡像を撮つて始めて所望の部分の超音
波顕微鏡像が得られるのが普通であつた。
また何れの場合にも試料の脱着時に、試料を毀
損する危険性もあつた。
本発明は、このような欠点を改善するもので、
試料をいちいち超音波顕微鏡の走査装置からはず
したり、或いは逆にその走査装置に装着したりす
ることなく、光学顕微鏡の光軸と超音波顕微鏡の
超音波軸とを一致させ、光学像と超音波像との比
較を容易に得ることができる超音波顕微鏡装置を
提供することを目的とする。
以下、本発明について図面により説明すると、
第2図は超音波集束レンズを走査するようにした
超音波顕微鏡装置の概略斜視図を示したもので、
4はサフアイヤ、溶融石英党の透明材料から成る
超音波集束レンズで、該集束レンズ4は加振器等
から成る走査装置8の駆動軸8aに固定されて、
該駆動軸8aの振動によつてX方向に走査され、
且つ、走査装置8自体はレンズ系ベース11に固
定され、該レンズ系ベース11の移動に伴つてY
方向に走査される。12は前記レンズ系ベース1
1に取付けられた光学顕微鏡で、該光学顕微鏡1
2の光学レンズ系部12aは前記超音波集束レン
ズ4の上方に配設され、且つ、予め光学レンズ系
部12aの光軸と超音波集束レンズ4の超音波軸
とが一致するように設置されている。5は試料7
を取付けた保持板、13は前記保持板5を載置
し、自動送り装置14によりx、y、z方向に微
調整可能な試料台、6は超音波集束レンズ4と試
料7との間に介在した水等から成る音場媒体、1
5はベースである。
そこで、前記超音波集束レンズ4の球面レンズ
部4aを設けていない平面状の面には、送受兼用
トランスジユーサ3が形成されているが、該トラ
ンスジユーサ3は第3図a,bに示すよう、
In2O3、SnO2等の透明導電材料から成る上部及び
下部電極3a,3bと、該上・下部電極3a,3
bの間に介在させたZnO等の透明な圧電体3cと
から構成され、これらは蒸着法により順次形成さ
れる。
上記超音波顕微鏡装置において超音波像は、超
音波集束レンズ4をX方向に振動させながら、Y
方向に移動させ、試料7から得られた超音波を前
記トランスジユーサ3で電気信号に変換し、第1
図で述べた表示装置10へ供給することにより得
られる。一方、光学像は、光学顕微鏡12の光学
レンズ系部12aの光軸と超音波集束レンズ4の
超音波軸とが予め一致しているため、超音波集束
レンズ4の走査を停止した後に、超音波顕微鏡で
観察した試料7の微小部分を、光学レンズ系部1
2aは何等移動させることなく、超音波集束レン
ズ4を介してそのまま極めて容易に観察される。
この時に光の経路は第5図に示すようになり、超
音波集束レンズ4は光学レンズを兼ね、超音波集
束レンズ4上に設けた前記トランスジユーサ3は
透明材料で形成されているために、光線a,bを
導くための妨げとはならない。なお、cは光軸ま
たは超音波軸である。
第4図a,bは、超音波集束レンズ4に設けた
トランスジユーサ3のその他の構成について示し
たもので、トランスジユーサ3の上・下部電極3
a,3bとしてAu、Al等の不透明の材料を用い
ているが、超音波集束レンズ4の外径寸法Aに比
較して上・下部電極3a,3bの外径切法Bが充
分に小さければ、該超音波集束レンズ4を前記超
音波顕微鏡装置に使用しても、光学顕微鏡12に
よる光学像の観察は可能である。その時の光の径
路は、第6図に示す通りである。
第7図は本発明のその他の超音波顕微鏡装置の
概略を示したもので、ガラス、マイラー膜等の透
明な材料から成る保持板5の表面に試料7を取付
け、該保持板5の裏面側に光学顕微鏡12の光学
レンズ系部12aを配置した構成であり、上記し
たと同様に光学像と超音波像との比較が容易に行
える。勿論、超音波集束レンズ4の超音波軸と光
学レンズ系部12aの光軸とは予め一致させてあ
る。上記構成は試料7が生物、生体組織等の場合
に便利である。
なお、前記本発明の装置では、超音波集束レン
ズ4を走査するものを示したが、その代わりに、
試料7を保持する保持板5をX、Y方向に走査し
ても良いこと勿論である。
叙上のように、本発明は光学顕微鏡12の光学
レンズ系部12aの光軸と超音波顕微鏡の超音波
集束レンズ4の超音波軸とを略一致させたもので
あるため、超音波顕微鏡で観察した試料7の微小
部分の同一箇所を、光学レンズ系部12aは何等
移動させることなく、そのままで極めて容易に観
察し得、試料7を脱着する必要がなく、試料7を
毀損する虞れがない等の顕著な効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は反射型超音波顕微鏡の原理を示す図、
第2図〜第7図は本発明の超音波顕微鏡装置に係
り、第2図はその概略斜視図、第3図aはトラン
スジユーサを設けた超音波集束レンズの断側面
図、第3図bはその平面図、第4図aはその他の
トランスジユーサを設けた超音波集束レンズの断
側面図、第4図bはその平面図、第5図、第6図
はそれぞれ超音波集束レンズを介して透過する光
の経路を説明する説明図、第7図は本発明のその
他の超音波顕微鏡装置を説明する概略図である。 4……超音波集束レンズ、5……保持板、6…
…音場媒体、7……試料、12……光学顕微鏡、
12a…光学レンズ系部。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 光学顕微鏡と超音波顕微鏡とを互に固定して
    設けた超音波顕微鏡装置において、光学顕微鏡の
    光学レンズ系部の光学軸と超音波顕微鏡の超音波
    集束レンズの超音波軸とを略一致させたことを特
    徴とする超音波顕微鏡装置。
JP55120400A 1980-08-30 1980-08-30 Ultrasonic microscope device Granted JPS5774657A (en)

Priority Applications (1)

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JP55120400A JPS5774657A (en) 1980-08-30 1980-08-30 Ultrasonic microscope device

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JP55120400A JPS5774657A (en) 1980-08-30 1980-08-30 Ultrasonic microscope device

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JPS5774657A JPS5774657A (en) 1982-05-10
JPS6255099B2 true JPS6255099B2 (ja) 1987-11-18

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JP55120400A Granted JPS5774657A (en) 1980-08-30 1980-08-30 Ultrasonic microscope device

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JPS5970769A (ja) * 1982-10-13 1984-04-21 Nec Home Electronics Ltd 蒸着方法
JPH0610318Y2 (ja) * 1982-11-29 1994-03-16 オリンパス光学工業株式会社 超音波顕微鏡用走査装置
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JPS6331314U (ja) * 1986-08-14 1988-02-29
CN101980066B (zh) * 2010-05-26 2012-07-04 上海大学 一种可观测超声条件下聚合物结晶过程的偏光显微镜装置

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