JPS6254183A - 動作中に集積回路の機能を監視する方法と装置 - Google Patents
動作中に集積回路の機能を監視する方法と装置Info
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- JPS6254183A JPS6254183A JP61139950A JP13995086A JPS6254183A JP S6254183 A JPS6254183 A JP S6254183A JP 61139950 A JP61139950 A JP 61139950A JP 13995086 A JP13995086 A JP 13995086A JP S6254183 A JPS6254183 A JP S6254183A
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/244—Detectors; Associated components or circuits therefor
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/302—Contactless testing
- G01R31/305—Contactless testing using electron beams
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- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
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- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
IIよ二且ユ皇1
本発明は電子ビームを使って集積回路を試験することに
関する。
関する。
従来の技術及び問題、。
集積回路を試験する時の難点は、内部の導体が非常に小
さく、絶縁コーティングの下にあって接近出来ないと共
に流れる電流が極めて小さいことがある為に、計器及び
オツシロスコープの様な普通の手段によって監視し得る
唯一の出力が、回路の出力導体に出る出力であることで
ある。動作中の集積回路の節に電子ビームを差し向けた
時、集積回路から放出される2次電子のエネルギが、照
射される回路の節の電位に関係することが判った。
さく、絶縁コーティングの下にあって接近出来ないと共
に流れる電流が極めて小さいことがある為に、計器及び
オツシロスコープの様な普通の手段によって監視し得る
唯一の出力が、回路の出力導体に出る出力であることで
ある。動作中の集積回路の節に電子ビームを差し向けた
時、集積回路から放出される2次電子のエネルギが、照
射される回路の節の電位に関係することが判った。
この照射は、回路に苅し、その動作を妨げる程の負荷と
ならない。この性質を利用して、回路の種種の場所に於
ける電位の表示を取出し、その性能を評価している。電
子エネルギ、従って回路の電位を正確に測定する時の要
因は、検出される電子の最低エネルギ・レベルを決定す
る2次電子検出鼎のフィルタ格子の電圧の設定であり、
この為、この電圧は、フィルタ格子を通過する多数の電
子からの帰還ループによって設定されている。実際には
、フィルタ格子の電圧を設定する精度は、最大開放ルー
プ利得によって制限される。従来使われていた制御ルー
プを用いた時に起る別の問題は、2次電子信号のボック
スカー平均作用並びにその後の基準レベルとの比較によ
って、帯域幅が制限されていることである。この様なル
ープによる制御が、検査される節にある信号の周波数に
強い依存性を持つことは明らかであり、実際には、信号
周波数の変化に対処する為に、装置の調節をリセットす
ることが必要である。この為、可変周波数信号を発生ず
る集積回路の試験は、こういう種類の装置を用いて行な
うことが出来ないことになる。
ならない。この性質を利用して、回路の種種の場所に於
ける電位の表示を取出し、その性能を評価している。電
子エネルギ、従って回路の電位を正確に測定する時の要
因は、検出される電子の最低エネルギ・レベルを決定す
る2次電子検出鼎のフィルタ格子の電圧の設定であり、
この為、この電圧は、フィルタ格子を通過する多数の電
子からの帰還ループによって設定されている。実際には
、フィルタ格子の電圧を設定する精度は、最大開放ルー
プ利得によって制限される。従来使われていた制御ルー
プを用いた時に起る別の問題は、2次電子信号のボック
スカー平均作用並びにその後の基準レベルとの比較によ
って、帯域幅が制限されていることである。この様なル
ープによる制御が、検査される節にある信号の周波数に
強い依存性を持つことは明らかであり、実際には、信号
周波数の変化に対処する為に、装置の調節をリセットす
ることが必要である。この為、可変周波数信号を発生ず
る集積回路の試験は、こういう種類の装置を用いて行な
うことが出来ないことになる。
試論される集積回路の節の電圧の周波数が、1MH2以
下になることもある様なループの帯域幅の制限の為に、
実時間で測定するには高過ぎる場合、電子ビーム又は2
次電子によって発生された出力を短いパルスとしてゲー
トし、その各々から電圧波形の1点を取出すことが出来
る。集積回路の電圧変化のサイクルに対して、ゲート動
作の時間を変えることによって、これを繰返し、サンプ
リング・オツシロスコープの動作の仕方と似た形で、回
路内の電圧波形を構成する一連の点を発生ずることが出
来る。これはストロボ・モードとして知られている。
下になることもある様なループの帯域幅の制限の為に、
実時間で測定するには高過ぎる場合、電子ビーム又は2
次電子によって発生された出力を短いパルスとしてゲー
トし、その各々から電圧波形の1点を取出すことが出来
る。集積回路の電圧変化のサイクルに対して、ゲート動
作の時間を変えることによって、これを繰返し、サンプ
リング・オツシロスコープの動作の仕方と似た形で、回
路内の電圧波形を構成する一連の点を発生ずることが出
来る。これはストロボ・モードとして知られている。
問題点を解決する為の手1 び
本発明の目的は、集積回路に対する電子ビーム試験装置
の性能を改善することである。
の性能を改善することである。
本発明の1面では、試験される集積回路の選ばれた部分
を照射する為に電子ビームを用い、当該フィルタ格子の
電圧によって設定された予定の値より高いエネルギを持
つ電子をこの値より低いエネルギを持つ電子から分1!
iするバイアス形フィルタ格子を持つ電子検出器を用い
て、前記照射から生じた2次電子を収集し、前記フィル
タ格子を通過する電子の数を表わ寸電気信号を定常基準
信号と比較して、その差をフィルタ・バイアスの値に加
篩して前記フィルタ格子の電圧を設定する様に帰還し、
前記フィルタ格子の電圧に関係し且つ前記集積回路の選
ばれた部分の電圧を表わす出力信号を発生することによ
り、動作中に集積回路の機能を監視する方法に於て、前
記電気信号を基準信号と連続的に比較して差信号を発生
し、利1% 1の帯域幅までの略全部の利用し得るWI
域に及んで略6dB/オクターブのO−ルオフを持つ電
圧利得対周波数特性を有する帰還通路を介して、前記差
信号をフィルタ格子に帰還するようにした方法が提供さ
れる。
を照射する為に電子ビームを用い、当該フィルタ格子の
電圧によって設定された予定の値より高いエネルギを持
つ電子をこの値より低いエネルギを持つ電子から分1!
iするバイアス形フィルタ格子を持つ電子検出器を用い
て、前記照射から生じた2次電子を収集し、前記フィル
タ格子を通過する電子の数を表わ寸電気信号を定常基準
信号と比較して、その差をフィルタ・バイアスの値に加
篩して前記フィルタ格子の電圧を設定する様に帰還し、
前記フィルタ格子の電圧に関係し且つ前記集積回路の選
ばれた部分の電圧を表わす出力信号を発生することによ
り、動作中に集積回路の機能を監視する方法に於て、前
記電気信号を基準信号と連続的に比較して差信号を発生
し、利1% 1の帯域幅までの略全部の利用し得るWI
域に及んで略6dB/オクターブのO−ルオフを持つ電
圧利得対周波数特性を有する帰還通路を介して、前記差
信号をフィルタ格子に帰還するようにした方法が提供さ
れる。
本発明の第2の面では、試験される集積回路の選ばれた
部分を照射する為にパルス状電子ビームを持ち、当該フ
ィルタ格子の電圧によって設定された予定の値より高い
エネルギを持つ電子をこの値より低いエネルギを持つ電
子から分離する為にバイアス形フィルタ格子を持つ電子
検出器を用いて、前記照射によって生じた2次電子を収
集し、前記パルスの間に前記フィルタ格子を通過した電
子の数を表わす電気信号を定常基準信号と比較して、そ
の差を貯蔵する為にフィルタ・バイアスの値に加算し、
その和を前記フィルタ格子の電圧を設定する様に帰還し
、前記フィルタ格子の電圧に関係し且つ前記パルスの間
の集積回路の選ばれた部分の電圧を表わす出力信号を発
生することにより、動作中に集積回路の機能を監視する
方法に於て、前記パルスの間に前記電気信号を基準信号
と比較して差信号を発生し、該差信号を帰還通路にある
手段によって貯蔵し、該帰還通路は貯蔵された差信号を
フィルタ格子に印加し、前記帰還通路は、パルスのデユ
ーティ・サイクルで利得1の帯域幅までの略全体の利用
し得る帯域に及んで略6dB/オクターブのロールオフ
を持つ電圧利得対周波数特性を持っている方法が提供さ
れる。「パルス中」のビーム・パルスから取出した信号
に対して作用する時、信号が回路の中を通るのに要する
時間に対するゆとりをみなければならない。
部分を照射する為にパルス状電子ビームを持ち、当該フ
ィルタ格子の電圧によって設定された予定の値より高い
エネルギを持つ電子をこの値より低いエネルギを持つ電
子から分離する為にバイアス形フィルタ格子を持つ電子
検出器を用いて、前記照射によって生じた2次電子を収
集し、前記パルスの間に前記フィルタ格子を通過した電
子の数を表わす電気信号を定常基準信号と比較して、そ
の差を貯蔵する為にフィルタ・バイアスの値に加算し、
その和を前記フィルタ格子の電圧を設定する様に帰還し
、前記フィルタ格子の電圧に関係し且つ前記パルスの間
の集積回路の選ばれた部分の電圧を表わす出力信号を発
生することにより、動作中に集積回路の機能を監視する
方法に於て、前記パルスの間に前記電気信号を基準信号
と比較して差信号を発生し、該差信号を帰還通路にある
手段によって貯蔵し、該帰還通路は貯蔵された差信号を
フィルタ格子に印加し、前記帰還通路は、パルスのデユ
ーティ・サイクルで利得1の帯域幅までの略全体の利用
し得る帯域に及んで略6dB/オクターブのロールオフ
を持つ電圧利得対周波数特性を持っている方法が提供さ
れる。「パルス中」のビーム・パルスから取出した信号
に対して作用する時、信号が回路の中を通るのに要する
時間に対するゆとりをみなければならない。
本発明の第3の面では、試験される集積回路の選ばれた
部分を電子ビームによって照射し、この照射によって生
ずる2次電子をバイアス形フィルタ格子を持つ電子検出
器によって収集し、該フィルタ格子は、該フィルタ格子
に対する電圧によって定められた予定の値により高いエ
ネルギを持つ2次電子が通過出来る様にすると共にこの
値より低いエネルギを持つ2次電子を停止することによ
り、動作中に集積回路の機能を監視する装置に於て、前
記電子検出器に結合されていて、前記フィルタ格子を通
過した電子の数を表わす電気信号を発生する手段と、前
記電気信号を定常基準信号と比較して、その間の差に比
例する出力信号を発生する比較手段と、該比較手段の出
力信号に応答して前記出力信号をフィルタ・バイアスの
値に加算して前記フィルタ格子に印加される電圧を発生
する加算手段とを有し、前記比較手段の出力信号は、集
積回路の選ばれた部分の電圧を表わす装置の出力を発生
する為にも使われ、前記比較手段が前記電気信号を基準
信号と連続的に比較し、その出力信号が、利得1の帯1
tJ、幅までの略全部の利用し得る帯域に及んで略6d
B/オクターブのロールオフを持つ電圧利得対周波数特
性を有する帰還通路によって前記フィルタ格子に印加さ
れるようにした装置が提供される。
部分を電子ビームによって照射し、この照射によって生
ずる2次電子をバイアス形フィルタ格子を持つ電子検出
器によって収集し、該フィルタ格子は、該フィルタ格子
に対する電圧によって定められた予定の値により高いエ
ネルギを持つ2次電子が通過出来る様にすると共にこの
値より低いエネルギを持つ2次電子を停止することによ
り、動作中に集積回路の機能を監視する装置に於て、前
記電子検出器に結合されていて、前記フィルタ格子を通
過した電子の数を表わす電気信号を発生する手段と、前
記電気信号を定常基準信号と比較して、その間の差に比
例する出力信号を発生する比較手段と、該比較手段の出
力信号に応答して前記出力信号をフィルタ・バイアスの
値に加算して前記フィルタ格子に印加される電圧を発生
する加算手段とを有し、前記比較手段の出力信号は、集
積回路の選ばれた部分の電圧を表わす装置の出力を発生
する為にも使われ、前記比較手段が前記電気信号を基準
信号と連続的に比較し、その出力信号が、利得1の帯1
tJ、幅までの略全部の利用し得る帯域に及んで略6d
B/オクターブのロールオフを持つ電圧利得対周波数特
性を有する帰還通路によって前記フィルタ格子に印加さ
れるようにした装置が提供される。
本発明の第4の面では、試験される集積回路の選ばれた
部分がパルス状電子ビームによって照射され、この照射
によって生ずる2次電子がバイアス形フィルタ格子を持
つ電子検出器によって収集され、該フィルタ格子は該フ
ィルタ格子の電圧によって設定された予定の値より高い
エネルギを持つ2次電子が通過出来る様にすると共に、
この値より低いエネルギを持つ2次電子を停止させるこ
とにより、動作中に集積回路の機能を監視する装置に於
て、前記電子検出器に結合されていて、パルスの間にフ
ィルタ格子を通過した電子の数を表わす電気信号を発生
する手段と、前記電気信号を定常基準信号と比較する比
較手段と、該比較手段の出力信号に応答して差信号を貯
蔵する手段と、貯蔵された差信号に応答して、誤差信号
をフィルタ・バイアスの値に旭尊して、フィルタ格子に
印加される電圧を発生する加算手段とを有し、貯蔵され
た差信号は、集積回路の選ばれた部分の電圧を表わす装
置の出力を発生する為にも使われ、前記比較手段が前記
パルスの間だけ、前記電気信号を基準信号と比較する様
に構成されていて、前記貯蔵する手段が貯蔵された差信
号をフィルタ格子に印加する帰還通路内にあり、該帰還
通路はパルスのデユーティ・サイクルで利得1の帯域幅
までの略全部の利用し得る帯域に及んで略6dB/オク
ターブのロールオフを持つ電圧利得対周波数特性を有す
る装置が提供される。
部分がパルス状電子ビームによって照射され、この照射
によって生ずる2次電子がバイアス形フィルタ格子を持
つ電子検出器によって収集され、該フィルタ格子は該フ
ィルタ格子の電圧によって設定された予定の値より高い
エネルギを持つ2次電子が通過出来る様にすると共に、
この値より低いエネルギを持つ2次電子を停止させるこ
とにより、動作中に集積回路の機能を監視する装置に於
て、前記電子検出器に結合されていて、パルスの間にフ
ィルタ格子を通過した電子の数を表わす電気信号を発生
する手段と、前記電気信号を定常基準信号と比較する比
較手段と、該比較手段の出力信号に応答して差信号を貯
蔵する手段と、貯蔵された差信号に応答して、誤差信号
をフィルタ・バイアスの値に旭尊して、フィルタ格子に
印加される電圧を発生する加算手段とを有し、貯蔵され
た差信号は、集積回路の選ばれた部分の電圧を表わす装
置の出力を発生する為にも使われ、前記比較手段が前記
パルスの間だけ、前記電気信号を基準信号と比較する様
に構成されていて、前記貯蔵する手段が貯蔵された差信
号をフィルタ格子に印加する帰還通路内にあり、該帰還
通路はパルスのデユーティ・サイクルで利得1の帯域幅
までの略全部の利用し得る帯域に及んで略6dB/オク
ターブのロールオフを持つ電圧利得対周波数特性を有す
る装置が提供される。
電気信号と基準信号の閤の差は、例えばトランスコンダ
クタンス増幅器からの電流として発生することが出来る
。この電流が、フィルタ格子の電圧を設定する為にフィ
ルタ・バイアスに加算される電圧まで、静電容量を充電
する為に印加される。
クタンス増幅器からの電流として発生することが出来る
。この電流が、フィルタ格子の電圧を設定する為にフィ
ルタ・バイアスに加算される電圧まで、静電容量を充電
する為に印加される。
集積回路の選ばれた部分の電圧を表わす出力信号は、こ
の静電容量の電圧から取出すことが出来る。
の静電容量の電圧から取出すことが出来る。
交代的に、電気信号は最初に記載した基準信号とは異な
る第2の基準信号と比較して差信号を発生し、この差信
号を最初に記載したフィルタ・バイアスの値とは異なる
第2のフィルタ・バイアスの値に加韓して、フィルタ格
子に交代的に印加することが出来る。集積回路の選ばれ
た部分の電圧の2つの測定値を比較して、2次電子放出
と選ばれた部分の電圧の間の関係のドリフトに対し、測
定値を補正することが出来る。このドリフトは、例えば
、1次ビーム電流、IC表面の2次電子放出係数又は2
次電子検出装置の変化によって起ることがある。ストロ
ボ・モードでは、2つの基準信号及びフィルタ・バイア
スの値を用いて、別々の信号チャンネルを用いることが
出来、相次ぐパルス又はパルス群に対して、その出力を
交互にフィルタ格子に対して多重化する。実時間モード
では、基準信号及びフィルタ・バイアスの値を交互に1
個の信号チャンネルに対して切換え、対応する出力を例
えばディジタル式に貯蔵し、その後比較して補正するこ
とが出来る。この代りに、後考の方法では、別々の信号
チャンネルを用いることが出来る。2つより多くの基準
信号及びフィルタ・バイアスの値を用いてもよい。
る第2の基準信号と比較して差信号を発生し、この差信
号を最初に記載したフィルタ・バイアスの値とは異なる
第2のフィルタ・バイアスの値に加韓して、フィルタ格
子に交代的に印加することが出来る。集積回路の選ばれ
た部分の電圧の2つの測定値を比較して、2次電子放出
と選ばれた部分の電圧の間の関係のドリフトに対し、測
定値を補正することが出来る。このドリフトは、例えば
、1次ビーム電流、IC表面の2次電子放出係数又は2
次電子検出装置の変化によって起ることがある。ストロ
ボ・モードでは、2つの基準信号及びフィルタ・バイア
スの値を用いて、別々の信号チャンネルを用いることが
出来、相次ぐパルス又はパルス群に対して、その出力を
交互にフィルタ格子に対して多重化する。実時間モード
では、基準信号及びフィルタ・バイアスの値を交互に1
個の信号チャンネルに対して切換え、対応する出力を例
えばディジタル式に貯蔵し、その後比較して補正するこ
とが出来る。この代りに、後考の方法では、別々の信号
チャンネルを用いることが出来る。2つより多くの基準
信号及びフィルタ・バイアスの値を用いてもよい。
本発明が十分に理解され、容易に実施出来る様にする為
に、次に特定の例及びその例の変形を図面について説明
する。
に、次に特定の例及びその例の変形を図面について説明
する。
実施例
第1図に示す装置では、試験される集積回路が1の所に
配置され、その選ばれた一部分が、回路の動作中に、電
子ビームによって照射される。電子銃、偏向装置、並び
にそれらと集積回路1を収容する真空にひいた外被は、
この種の装置にとって普通の構成であってよいので、図
面に示してない。破線2で示した2次電子が集積回路1
によって放出され、フィルタ格子4を持つエネルギ解析
器3の中を上向きに通過する。エネルギ解析器3は、係
属中のヨーロッパ特許出願番号第84307068.1
に記載される様な構造を持ってぃてよい。フィルタ格子
4に対する電圧による減速電界により、フィルタ格子の
電圧に対応するエネルギよりも大きなエネルギを持つ2
次電子だけが通過出来る様にする。フィルタ格子4を通
過した2次電子がシンチレータ5に入射して、光子6と
して示す光出力を発生する。エネルギ解析器3及びシン
チレータ5も真空にひいた外被の中に配置されている。
配置され、その選ばれた一部分が、回路の動作中に、電
子ビームによって照射される。電子銃、偏向装置、並び
にそれらと集積回路1を収容する真空にひいた外被は、
この種の装置にとって普通の構成であってよいので、図
面に示してない。破線2で示した2次電子が集積回路1
によって放出され、フィルタ格子4を持つエネルギ解析
器3の中を上向きに通過する。エネルギ解析器3は、係
属中のヨーロッパ特許出願番号第84307068.1
に記載される様な構造を持ってぃてよい。フィルタ格子
4に対する電圧による減速電界により、フィルタ格子の
電圧に対応するエネルギよりも大きなエネルギを持つ2
次電子だけが通過出来る様にする。フィルタ格子4を通
過した2次電子がシンチレータ5に入射して、光子6と
して示す光出力を発生する。エネルギ解析器3及びシン
チレータ5も真空にひいた外被の中に配置されている。
光増倍管7がシンチレータ5からの光子を受取り、導体
8に電気信号を発生する。この電気信号は、ヘッド前費
増幅器9によって増幅された後、トランスコンダクタン
ス増幅器10の信号入力に印加される。増幅器10の第
2の入力には、導体11を介して基準電圧が印加される
。増幅器10は、そのゲート信号人力12に印加された
サンプリング・パルスによってゲートされる様に構成さ
れている。増幅器10の出力電流が、分路接続の積分キ
ャパシタ13と、直流負帰還を持つバッファ電圧増幅器
14の入力とに直接的に印加される。増幅器14の出力
電圧が波形バッファ増幅器15に接続される。この増幅
器は、端子16に線形増幅出力を発生する様に、一定の
利得を持つ反転増幅器として作用する様に接続された抵
抗を持っている。増幅器14はフィルタ格子駆動増幅v
!A17にも接続されており、増幅器17は、増幅器1
4の出力を端子18に印加されるフィルタ・バイアス電
圧と組合せる加埠増幅器として構成されている。増幅器
17の出力が導体19を介してフィルタ格子4に接続さ
れる。
8に電気信号を発生する。この電気信号は、ヘッド前費
増幅器9によって増幅された後、トランスコンダクタン
ス増幅器10の信号入力に印加される。増幅器10の第
2の入力には、導体11を介して基準電圧が印加される
。増幅器10は、そのゲート信号人力12に印加された
サンプリング・パルスによってゲートされる様に構成さ
れている。増幅器10の出力電流が、分路接続の積分キ
ャパシタ13と、直流負帰還を持つバッファ電圧増幅器
14の入力とに直接的に印加される。増幅器14の出力
電圧が波形バッファ増幅器15に接続される。この増幅
器は、端子16に線形増幅出力を発生する様に、一定の
利得を持つ反転増幅器として作用する様に接続された抵
抗を持っている。増幅器14はフィルタ格子駆動増幅v
!A17にも接続されており、増幅器17は、増幅器1
4の出力を端子18に印加されるフィルタ・バイアス電
圧と組合せる加埠増幅器として構成されている。増幅器
17の出力が導体19を介してフィルタ格子4に接続さ
れる。
第1図に示す装置の動作について説明すると、フィルタ
格子4に対する電圧を調節することにより、2次電子が
シンチレータ5に入射する速度が略一定に保たれ、フィ
ルタ格子に印加された電圧と対応する電圧が、それから
は成る定数(端子18に印加されるフィルタ・バイアス
に関係する)及び成る倍率だけ異なるが、端子16に発
生される。2次電子の割合を一定に保つ為に、フィルタ
格子に加えることを必要とする電圧変化は、試験される
集積回路の選ばれた部分に於ける電圧変化に略等しく、
従って、端子16の出力電圧は、集積回路の電圧にごく
密接に追従する様に構成することが出来る。これが装置
の実時圏動作モードである。
格子4に対する電圧を調節することにより、2次電子が
シンチレータ5に入射する速度が略一定に保たれ、フィ
ルタ格子に印加された電圧と対応する電圧が、それから
は成る定数(端子18に印加されるフィルタ・バイアス
に関係する)及び成る倍率だけ異なるが、端子16に発
生される。2次電子の割合を一定に保つ為に、フィルタ
格子に加えることを必要とする電圧変化は、試験される
集積回路の選ばれた部分に於ける電圧変化に略等しく、
従って、端子16の出力電圧は、集積回路の電圧にごく
密接に追従する様に構成することが出来る。これが装置
の実時圏動作モードである。
第2図は、1次電子ビームによる照射の結果として、集
積回路から放出されたエネルギに対し、2次電子の放出
の割合に正規化して示すグラフである。エネルギ目盛上
のグラフ全体の位置は集積回路の内、照射された部分に
対する電圧に関係する。グラフの形は実質的に影響を受
けない。第3図は第2図から導き出されたものであり、
予定のレベルより高いエネルギを持ち、従ってフィルタ
格子を通過する2次電子の単位時間あたりの数を、フィ
ルタ格子電圧の異なる値に対して示している。
積回路から放出されたエネルギに対し、2次電子の放出
の割合に正規化して示すグラフである。エネルギ目盛上
のグラフ全体の位置は集積回路の内、照射された部分に
対する電圧に関係する。グラフの形は実質的に影響を受
けない。第3図は第2図から導き出されたものであり、
予定のレベルより高いエネルギを持ち、従ってフィルタ
格子を通過する2次電子の単位時間あたりの数を、フィ
ルタ格子電圧の異なる値に対して示している。
このグラフはその形に因んでS字曲線と呼ばれ、フィル
タ格子を通過する2次電子の数が略一定に保たれる様に
、フィルタ格子電圧を制御するループの効果を決定する
。
タ格子を通過する2次電子の数が略一定に保たれる様に
、フィルタ格子電圧を制御するループの効果を決定する
。
ストロボ・モードでは、周期回路の内、関心のある部分
に差し向けられた集束電子ビームがパルス状(典型的に
は各々のパルスは0.1乃至100nsであるンであり
、この為その部分で電圧の一連のサンプルが得られる。
に差し向けられた集束電子ビームがパルス状(典型的に
は各々のパルスは0.1乃至100nsであるンであり
、この為その部分で電圧の一連のサンプルが得られる。
トランスコンダクタンス増幅器1oのゲート人力12に
印加されるサンプル・パルスは、電子ビームのパルス駆
動と同じ速度で発生されるが、後で述べたパルスに較べ
て、電子ビーム・パルスに応答して増幅器10の信号入
力に電圧パルスが発生されるのに要する期間だけ遅延し
ており、この為、信号入力が大部分M音である時に増l
1tA器10がオフに切換えられ、有意の信号入力が予
想される時にオンに切換えられる。発生される出力は数
多くのサンプルで構成され、集積回路のこの部分に於け
る信号の波形が、この波形に対して電子ビーム・パルス
のタイミングを変えることにより、サンプリング・オフ
シロスコープ等で構成される。ストロボ・モードでは、
ループの帯域幅は、パルス駆動の為に、ビーム動作のデ
ユーティ・サイクルを減少するのと同じ割合で増加する
。パルスが帯域幅の逆数より短いことが重要である。積
分静電容量の値はデユーティ・サイクルと同じ割合で減
少することが出来る。
印加されるサンプル・パルスは、電子ビームのパルス駆
動と同じ速度で発生されるが、後で述べたパルスに較べ
て、電子ビーム・パルスに応答して増幅器10の信号入
力に電圧パルスが発生されるのに要する期間だけ遅延し
ており、この為、信号入力が大部分M音である時に増l
1tA器10がオフに切換えられ、有意の信号入力が予
想される時にオンに切換えられる。発生される出力は数
多くのサンプルで構成され、集積回路のこの部分に於け
る信号の波形が、この波形に対して電子ビーム・パルス
のタイミングを変えることにより、サンプリング・オフ
シロスコープ等で構成される。ストロボ・モードでは、
ループの帯域幅は、パルス駆動の為に、ビーム動作のデ
ユーティ・サイクルを減少するのと同じ割合で増加する
。パルスが帯域幅の逆数より短いことが重要である。積
分静電容量の値はデユーティ・サイクルと同じ割合で減
少することが出来る。
第1図に示す装置は、トランスコンダクタンス増幅器1
0を用い、これが電圧入力信号に比例する電流出力信号
を発生し、それが積分キャパシタ13に印加される。こ
の回路形式により、フィルタ格子電圧に対する開放制御
ループの利得周波数特性は、ループの信号の周波数範囲
全体にわたってオクターブあたり6dBのロールオフを
持つが、これは安定で整定の速い閑ループにとって理想
的である。電圧増幅器を使った従来の場合、ロールオフ
は、増幅器の固有の利得制限の結果として、中間周波数
から上向きにだけ及んでいる。このことが第4図に示さ
れている。
0を用い、これが電圧入力信号に比例する電流出力信号
を発生し、それが積分キャパシタ13に印加される。こ
の回路形式により、フィルタ格子電圧に対する開放制御
ループの利得周波数特性は、ループの信号の周波数範囲
全体にわたってオクターブあたり6dBのロールオフを
持つが、これは安定で整定の速い閑ループにとって理想
的である。電圧増幅器を使った従来の場合、ロールオフ
は、増幅器の固有の利得制限の結果として、中間周波数
から上向きにだけ及んでいる。このことが第4図に示さ
れている。
第4図に示した装置の利得1の帯域幅は、従来提案され
た装置よりもずっと大きく、積分キャパシタに印加され
る前に、2次電子信号と基準信号の間の差を形成する為
に、IOMHz又はそれ以上にすることが出来る。装置
の他の部品の利得は、閉ループの利1g1の帯域幅より
高い所まで、周波数に無関係である。積分キャパシタ1
3は、2次電子から取出された信号のショットノイズの
濾波作用を最適にする為に、必要に応じて閉ループの帯
域幅を減少することが出来る様に、その値を切換え可能
にすることが出来る。
た装置よりもずっと大きく、積分キャパシタに印加され
る前に、2次電子信号と基準信号の間の差を形成する為
に、IOMHz又はそれ以上にすることが出来る。装置
の他の部品の利得は、閉ループの利1g1の帯域幅より
高い所まで、周波数に無関係である。積分キャパシタ1
3は、2次電子から取出された信号のショットノイズの
濾波作用を最適にする為に、必要に応じて閉ループの帯
域幅を減少することが出来る様に、その値を切換え可能
にすることが出来る。
第5図は集積回路形式で構成するのに適したトランスコ
ンダクタンス増幅器1001例の回路図を示す。この増
幅器が一15ボルトに保たれた負の電圧レール5o及び
+15ボルトに保たれた正の電圧レール51に接続され
、信号人力53に印加された信号と基準人力54に印加
された基準の′間の電圧の差に比例する出力電流を端子
52に発生する。プッシュプル形ゲート信号に対して2
つのゲート入力端子55.56を設け、増幅器をオフ及
びオンに切換える。共通の抵抗負荷電流通路70を持つ
2つの制t10電流17’oを、トランジスタ57.5
8及びトランジスタ59.60によって構成し、これら
のトランジスタがトランジスタの対63.64及び65
..66に対し、導体61゜62を介して正確な関係を
持つ反対向きの10mA及び20mAの電流を供給する
。別のトランジスタの対67.68がトランジスタ66
のコレクタに接続される。出力端子52がトランジスタ
63.68のコレクタに接続され、導体61.62の間
にはトランジスタ63.68.66を直列に通る電流通
路が存在する。トランジスタ64゜65.67の]レク
タがアースに接続される。トランジスタ57.58.5
9は何れも390オームのエミッタ抵抗を持っているが
、トランジスタ60はエミッタ回路に並列の2つの39
0オームの抵抗を持っていて、トランジスタ60のコレ
クタ電流がトランジスタ58のコレクタ電流の2倍にな
る様になっている。トランジスタ65.66のベースが
、同一の抵抗−静電各端回路を介して、信号入力及び基
準入力53.54に夫々接続される。このベースは、ト
ランジスタ59によって制御されるトランジスタ71.
72からバイアス電流も受取る。ゲート入力端子55が
、反転バッファ増幅器として構成されたトランジスタ7
3,74を介して、夫々トランジスタ64.68のベー
スに接続される。ゲート入力端子56が、反転バッファ
増幅器として構成されたトランシタスフ5゜76を介し
て、夫々トランジスタ63.67のベースに接続される
。
ンダクタンス増幅器1001例の回路図を示す。この増
幅器が一15ボルトに保たれた負の電圧レール5o及び
+15ボルトに保たれた正の電圧レール51に接続され
、信号人力53に印加された信号と基準人力54に印加
された基準の′間の電圧の差に比例する出力電流を端子
52に発生する。プッシュプル形ゲート信号に対して2
つのゲート入力端子55.56を設け、増幅器をオフ及
びオンに切換える。共通の抵抗負荷電流通路70を持つ
2つの制t10電流17’oを、トランジスタ57.5
8及びトランジスタ59.60によって構成し、これら
のトランジスタがトランジスタの対63.64及び65
..66に対し、導体61゜62を介して正確な関係を
持つ反対向きの10mA及び20mAの電流を供給する
。別のトランジスタの対67.68がトランジスタ66
のコレクタに接続される。出力端子52がトランジスタ
63.68のコレクタに接続され、導体61.62の間
にはトランジスタ63.68.66を直列に通る電流通
路が存在する。トランジスタ64゜65.67の]レク
タがアースに接続される。トランジスタ57.58.5
9は何れも390オームのエミッタ抵抗を持っているが
、トランジスタ60はエミッタ回路に並列の2つの39
0オームの抵抗を持っていて、トランジスタ60のコレ
クタ電流がトランジスタ58のコレクタ電流の2倍にな
る様になっている。トランジスタ65.66のベースが
、同一の抵抗−静電各端回路を介して、信号入力及び基
準入力53.54に夫々接続される。このベースは、ト
ランジスタ59によって制御されるトランジスタ71.
72からバイアス電流も受取る。ゲート入力端子55が
、反転バッファ増幅器として構成されたトランジスタ7
3,74を介して、夫々トランジスタ64.68のベー
スに接続される。ゲート入力端子56が、反転バッファ
増幅器として構成されたトランシタスフ5゜76を介し
て、夫々トランジスタ63.67のベースに接続される
。
差しあたってトランジスタ63.64.67゜68及び
73乃至76の作用を無視すると、増幅器の動作は導体
61からの電流(10mA)とトランジスタ66のコレ
クタからの電流の間の差に等しい電流を出力端子52に
供給する。(端子53の)信号入力電圧が(端子54)
の基準入力電圧と等しければ、導体を介してトランジス
タに供給されるエミッタ電流(20mA)は、トランジ
スタ65.66のコレクタに三等分される。つまり、″
トランジスタ66のコレクタからの電流が10 m A
であって、従って導体61からの電流(1QmA)に等
しく、端子52には出力電流が流れない。基準入力電圧
を一定に保つと仮定すると、端子53の信号入力電圧が
変化すると、トランジスタ66のコレクタに流れる電流
の割合が変化して、出力端子52に電流の不平衡が生じ
、この結果、出力電流が流れる。
73乃至76の作用を無視すると、増幅器の動作は導体
61からの電流(10mA)とトランジスタ66のコレ
クタからの電流の間の差に等しい電流を出力端子52に
供給する。(端子53の)信号入力電圧が(端子54)
の基準入力電圧と等しければ、導体を介してトランジス
タに供給されるエミッタ電流(20mA)は、トランジ
スタ65.66のコレクタに三等分される。つまり、″
トランジスタ66のコレクタからの電流が10 m A
であって、従って導体61からの電流(1QmA)に等
しく、端子52には出力電流が流れない。基準入力電圧
を一定に保つと仮定すると、端子53の信号入力電圧が
変化すると、トランジスタ66のコレクタに流れる電流
の割合が変化して、出力端子52に電流の不平衡が生じ
、この結果、出力電流が流れる。
トランジスタ63.64.67.68は、端子55.5
6に印加されたゲート信号によって制御される2極切換
えスイッチとして作用する。端子55が端子56に対し
て十分に正である時、トランジスタ74.75が導電し
、トランジスタ73゜76は非導電である。つまり、ト
ランジスタ66のコレクタ及び導体61が端子52に接
続され、この為、信号電圧及び基準電圧に応じた出力電
流が発生され、トランジスタ64.67は非導電である
。他方、端子55が端子56に対して十分に負である場
合、トランジスタ63.68が非導電であり、この為端
子52には出力電流が供給されず、外部回路から印加さ
れた任意の電圧をとり得る。1Jffiしているトラン
ジスタ64.67を通る電流はアースに戻る。
6に印加されたゲート信号によって制御される2極切換
えスイッチとして作用する。端子55が端子56に対し
て十分に正である時、トランジスタ74.75が導電し
、トランジスタ73゜76は非導電である。つまり、ト
ランジスタ66のコレクタ及び導体61が端子52に接
続され、この為、信号電圧及び基準電圧に応じた出力電
流が発生され、トランジスタ64.67は非導電である
。他方、端子55が端子56に対して十分に負である場
合、トランジスタ63.68が非導電であり、この為端
子52には出力電流が供給されず、外部回路から印加さ
れた任意の電圧をとり得る。1Jffiしているトラン
ジスタ64.67を通る電流はアースに戻る。
第5図の回路の動作をまとめて云えば、トランジスタ6
5.66がトランジスタ60からの制御された電流を方
向ぎめして、入力電圧に応じたその成る割合が出力端子
に供給され、そこでこの割合とトランジスタ58からの
電流の間の差が増幅器の出力電流となる様に作用する。
5.66がトランジスタ60からの制御された電流を方
向ぎめして、入力電圧に応じたその成る割合が出力端子
に供給され、そこでこの割合とトランジスタ58からの
電流の間の差が増幅器の出力電流となる様に作用する。
トランジスタ63.64,67.68は、端子55.5
6に印加されたプッシュプル・ゲート信号の制御のFに
、電流を出力端子52に方向ぎめして、出力電流が発生
される様にするか、又は大地に方向ぎめする様にし、出
力端子52が浮動状態になることが出来る様にする。
6に印加されたプッシュプル・ゲート信号の制御のFに
、電流を出力端子52に方向ぎめして、出力電流が発生
される様にするか、又は大地に方向ぎめする様にし、出
力端子52が浮動状態になることが出来る様にする。
第1図に示す装置では、それを通過する2次電子の数に
応答して、フィルタ格子の電圧を設定する制御ループが
あるが、端子16の出力によって表わされる様な、試験
される集積回路10波形の実際の測定値は、閉ループの
測定値ではない。集積回路1の2次電子放出係数の変動
は、シンチレータ5に入射する2次電子の数に影響し得
る幾つかの要因の内の1つにすぎず、これが端子16の
波形出力の変化となって擬似的に現われる。装置の利得
、即ち、出力波形と集積回路の波形の間の関係に影響を
与える別の要因は、それらの部品がフィルタ格子電圧制
御ループに入っていても、シンデレーター光増信管−ヘ
ッド増幅器の組合せの利得である。装置の利得の変化が
、S字曲線(第3図)の高さに影青し、従って動作点に
於けるその勾配に影響し、これが出力波形の内のどの変
化が擬似的であって、どれが集積回路の電圧変化を反映
しているかを検出する方法になる。
応答して、フィルタ格子の電圧を設定する制御ループが
あるが、端子16の出力によって表わされる様な、試験
される集積回路10波形の実際の測定値は、閉ループの
測定値ではない。集積回路1の2次電子放出係数の変動
は、シンチレータ5に入射する2次電子の数に影響し得
る幾つかの要因の内の1つにすぎず、これが端子16の
波形出力の変化となって擬似的に現われる。装置の利得
、即ち、出力波形と集積回路の波形の間の関係に影響を
与える別の要因は、それらの部品がフィルタ格子電圧制
御ループに入っていても、シンデレーター光増信管−ヘ
ッド増幅器の組合せの利得である。装置の利得の変化が
、S字曲線(第3図)の高さに影青し、従って動作点に
於けるその勾配に影響し、これが出力波形の内のどの変
化が擬似的であって、どれが集積回路の電圧変化を反映
しているかを検出する方法になる。
第6図は第1図の装置の変形を示しており、追加の部分
は、擬似的な変化を検出することが出来る様にし、希望
によっては、出力波形から除くことが出来る様にする。
は、擬似的な変化を検出することが出来る様にし、希望
によっては、出力波形から除くことが出来る様にする。
第6図では、第1図と対応する部品には同じ参照数字を
用いており、追加の部品20乃至29は部品10乃至1
9と夫々同様である。ヘッド増幅器9の出力が更に第2
のトランスコンダクタンス増幅器20に印加され、この
増幅器もゲートすることが出来、信号は部品10乃至1
9によって形成された通路と共に、部品20乃至29に
よって形成された通路に沿って通過する。アナログ・マ
ルチプレクサ3oが導体19゜29の電圧を導体31に
、そしてこの導体を介してフィルタ格子4に選択的に接
続する。
用いており、追加の部品20乃至29は部品10乃至1
9と夫々同様である。ヘッド増幅器9の出力が更に第2
のトランスコンダクタンス増幅器20に印加され、この
増幅器もゲートすることが出来、信号は部品10乃至1
9によって形成された通路と共に、部品20乃至29に
よって形成された通路に沿って通過する。アナログ・マ
ルチプレクサ3oが導体19゜29の電圧を導体31に
、そしてこの導体を介してフィルタ格子4に選択的に接
続する。
2つのトランスコンダクタンス増幅器1o、20の基準
入力11.21には相異なる基準電圧が印加されており
、フィルタ格子電圧制御ループが、マルチプレクサ30
によって導体31に導体19又は導体29のどららが接
続されるかに応じて、S字曲tfA(第3図)上の相異
なる2点で動作する様になっている。S字曲線上の相異
なる2つの動作点に対する、集積回路の標本化電圧の変
化の影響は、装置の利得の変化のIie費とは異なる。
入力11.21には相異なる基準電圧が印加されており
、フィルタ格子電圧制御ループが、マルチプレクサ30
によって導体31に導体19又は導体29のどららが接
続されるかに応じて、S字曲tfA(第3図)上の相異
なる2点で動作する様になっている。S字曲線上の相異
なる2つの動作点に対する、集積回路の標本化電圧の変
化の影響は、装置の利得の変化のIie費とは異なる。
2つの影響が第7(ハ)図及び第70図に示した理想化
したS字曲線について示されている。第7(ハ)図では
、集積回路の標本化電圧の変化の影響が、同じ距離にわ
たって、S字曲線全体が右に平行移動することどして示
されており、これは端子16.26の出力電圧が同じ大
きさだけ変化することを示す。
したS字曲線について示されている。第7(ハ)図では
、集積回路の標本化電圧の変化の影響が、同じ距離にわ
たって、S字曲線全体が右に平行移動することどして示
されており、これは端子16.26の出力電圧が同じ大
きさだけ変化することを示す。
第70図では、装置の利得の変化の影響が、S字曲線が
急峻になることとなって現われており、端子18.26
の出力電圧が異なる形で影響を受けることを示している
。
急峻になることとなって現われており、端子18.26
の出力電圧が異なる形で影響を受けることを示している
。
第6図の回路の動作について説明すると、異なる基準電
圧レベル及び異なるフィルタ・バイアス・レベルを使う
ごとによって、2つの動作点が設定される。典型的には
、2番目の動作点は1番目よりもフィルタ・バイアスが
一層高く、基準電圧が一層低い。これらの動作点を交互
に用いて、集積回路の波形の測定をする。ストロボ・モ
ードでは、マルチプレクサ3oを電子ビーム・パルスの
間で切換える。端子16.26から2つの完全な波形出
力が得られ、これを第7に)図及び第70図について上
に述べた所に基づいて比較することが出来る。この代り
に、2つの波形出力を組合せて、装置の利得の変動の影
響を除き、集積回路の標本化した部分の電圧波形の純粋
な形を残すことが出来る。使方、2つの波形の間の差を
使って、例えば光増倍管7の利得を制御することにより
、装置の利得を制御することが出来る。この何れの方法
によっても、装置は、1次ビーム電流、2次電子放出係
数、シンチレータ効率、光増倍管の利得及びヘッド増幅
器の利得の変化が波形測定値に影響しない様に構成する
ことが出来る。
圧レベル及び異なるフィルタ・バイアス・レベルを使う
ごとによって、2つの動作点が設定される。典型的には
、2番目の動作点は1番目よりもフィルタ・バイアスが
一層高く、基準電圧が一層低い。これらの動作点を交互
に用いて、集積回路の波形の測定をする。ストロボ・モ
ードでは、マルチプレクサ3oを電子ビーム・パルスの
間で切換える。端子16.26から2つの完全な波形出
力が得られ、これを第7に)図及び第70図について上
に述べた所に基づいて比較することが出来る。この代り
に、2つの波形出力を組合せて、装置の利得の変動の影
響を除き、集積回路の標本化した部分の電圧波形の純粋
な形を残すことが出来る。使方、2つの波形の間の差を
使って、例えば光増倍管7の利得を制御することにより
、装置の利得を制御することが出来る。この何れの方法
によっても、装置は、1次ビーム電流、2次電子放出係
数、シンチレータ効率、光増倍管の利得及びヘッド増幅
器の利得の変化が波形測定値に影響しない様に構成する
ことが出来る。
以上の説明に関連して、更に下記の項を開示する。
(1)試験される集積回路の選ばれた部分を照射する為
に電子ビームを用い、当該フィルタ格子の電圧によって
設定された予定の値より高いエネルギを持つ電子をこの
値より低いエネルギを持つ電子から分離するバイアス形
フィルタ格子を持つ電子検出器を用いて、前記照射から
生じた2次電子を収集し、前記フィルタ格子を通過する
電子の数を表わす電気信号を定常基準信号と比較して、
その差をフィルタ・バイアスの値に加算して前記フィル
タ格子の電圧を設定する様に帰還し、前記フィルタ格子
の電圧に関係し且つ前記集積回路の選ばれた部分の電圧
を表わす出力信号を発生することにより、動作中に集積
回路の機能を監視する方法に於て、前記電気信号を基準
信号と連続的に比較して差信号を発生し、利得1の帯域
幅までの略全部の利用し得る帯域に及んで略6dB/オ
クターブのロールオフを持つ電圧利得対周波数特性を有
する帰還通路を介して、前記差信号をフィルタ格子に帰
還するようにした方法。
に電子ビームを用い、当該フィルタ格子の電圧によって
設定された予定の値より高いエネルギを持つ電子をこの
値より低いエネルギを持つ電子から分離するバイアス形
フィルタ格子を持つ電子検出器を用いて、前記照射から
生じた2次電子を収集し、前記フィルタ格子を通過する
電子の数を表わす電気信号を定常基準信号と比較して、
その差をフィルタ・バイアスの値に加算して前記フィル
タ格子の電圧を設定する様に帰還し、前記フィルタ格子
の電圧に関係し且つ前記集積回路の選ばれた部分の電圧
を表わす出力信号を発生することにより、動作中に集積
回路の機能を監視する方法に於て、前記電気信号を基準
信号と連続的に比較して差信号を発生し、利得1の帯域
幅までの略全部の利用し得る帯域に及んで略6dB/オ
クターブのロールオフを持つ電圧利得対周波数特性を有
する帰還通路を介して、前記差信号をフィルタ格子に帰
還するようにした方法。
(2)第(1)項に記載した方法に於て、前記電気信号
とり単信号の間の差に比例する電流を発生し、該電流を
静電容量を充電する様に印加し、該静電容量に設定され
た電圧をフィルタ命バイアスに加算して、フィルタ格子
に対する電圧を設定し、前記静電容量に設定された電圧
から出力信号を取出1工程を含む方法。
とり単信号の間の差に比例する電流を発生し、該電流を
静電容量を充電する様に印加し、該静電容量に設定され
た電圧をフィルタ命バイアスに加算して、フィルタ格子
に対する電圧を設定し、前記静電容量に設定された電圧
から出力信号を取出1工程を含む方法。
(3)試験される集積回路の選ばれた部分を照射する為
にパルス状電子ビームを持ら、当該フィルタ格子の電圧
によって設定された予定の値より高いエネルギを持つ電
子をこの値゛より低いエネルギを持つ電子から分離する
為にバイアス形フィルタ格子を持つ電子検出器を用いて
、前記照射によって生じた2次電子を収集し、前記パル
スの間に前記フィルタ格子を通過した電子の数を表わす
電気信号を定常基準信号と比較して、その差を貯蔵する
と共にフィルタ・バイアスの値に加算し、その和を前記
フィルタ格子の電圧を設定する様に帰還し、前記フィル
タ格子の電圧に関係し且つ前記パルスの間の集積回路の
選ばれた部分の電圧を表わす出力信号を発生することに
より、動作中に集積回路の機能を監視する方法に於て、
前記パルスの間に前記電気信号を基準信号と比較して差
信号を発生し、該差信号を帰還通路にある手段によって
貯蔵し、該帰還通路は貯蔵された差信号をフィルタ格子
に印加し、前記帰還通路は、パルスのデユーティ・サイ
クルで利得1の帯域幅までの略全体の利用し得る帯域に
及lυで略6dB/オクターブのロールオフを持つ電圧
利得対周波数特性を持っている方法。
にパルス状電子ビームを持ら、当該フィルタ格子の電圧
によって設定された予定の値より高いエネルギを持つ電
子をこの値゛より低いエネルギを持つ電子から分離する
為にバイアス形フィルタ格子を持つ電子検出器を用いて
、前記照射によって生じた2次電子を収集し、前記パル
スの間に前記フィルタ格子を通過した電子の数を表わす
電気信号を定常基準信号と比較して、その差を貯蔵する
と共にフィルタ・バイアスの値に加算し、その和を前記
フィルタ格子の電圧を設定する様に帰還し、前記フィル
タ格子の電圧に関係し且つ前記パルスの間の集積回路の
選ばれた部分の電圧を表わす出力信号を発生することに
より、動作中に集積回路の機能を監視する方法に於て、
前記パルスの間に前記電気信号を基準信号と比較して差
信号を発生し、該差信号を帰還通路にある手段によって
貯蔵し、該帰還通路は貯蔵された差信号をフィルタ格子
に印加し、前記帰還通路は、パルスのデユーティ・サイ
クルで利得1の帯域幅までの略全体の利用し得る帯域に
及lυで略6dB/オクターブのロールオフを持つ電圧
利得対周波数特性を持っている方法。
(4)第(3)項に記載した方法に於て、前記電気信号
及び基準信号の間の差が電流として発生され、該電流が
電荷を貯蔵する静電容量を充電する様に印加され、前記
静電容量の電圧がフィルタ・バイアスの値に加算されて
フィルタ格子の電圧を設定し、出力信号が前記静電容量
の電圧から取出される方法。
及び基準信号の間の差が電流として発生され、該電流が
電荷を貯蔵する静電容量を充電する様に印加され、前記
静電容量の電圧がフィルタ・バイアスの値に加算されて
フィルタ格子の電圧を設定し、出力信号が前記静電容量
の電圧から取出される方法。
(5)第(3)項又は第(4)項に記載した方法に於て
、パルスの繰返し周波数が、試験される集積回路の選ば
れた部分に於りる反復的な波形の周波数に対して、パル
スが相次いで発生する時に、該パルスが前記波形を漸進
的に歩進する様に選ばれており、前記出力信号が波形の
1回の発生を表わす様に処理される方法。
、パルスの繰返し周波数が、試験される集積回路の選ば
れた部分に於りる反復的な波形の周波数に対して、パル
スが相次いで発生する時に、該パルスが前記波形を漸進
的に歩進する様に選ばれており、前記出力信号が波形の
1回の発生を表わす様に処理される方法。
(6)第(1)項乃至第(5)項に記載した方法に於て
、前記電気信号が最初に記載した基準信号とは異なる第
2の基準信号と交代的に比較されて差信号を発生し、該
差信号が最初に記載したフィルタ・バイアスの値とは異
なる第2のフィルタ・バイアスの値に加算されて、前記
フィルタ格子に交代的に帰還されることにより、集積回
路の選ばれた部分の電圧の交代的な2回の測定値が発生
され、これらの測定値の間の差を使って、検出された2
次電子放出と集積回路の選ばれた部分の電圧の間の関係
のドリフトに対して、測定値を補正する方法。
、前記電気信号が最初に記載した基準信号とは異なる第
2の基準信号と交代的に比較されて差信号を発生し、該
差信号が最初に記載したフィルタ・バイアスの値とは異
なる第2のフィルタ・バイアスの値に加算されて、前記
フィルタ格子に交代的に帰還されることにより、集積回
路の選ばれた部分の電圧の交代的な2回の測定値が発生
され、これらの測定値の間の差を使って、検出された2
次電子放出と集積回路の選ばれた部分の電圧の間の関係
のドリフトに対して、測定値を補正する方法。
(7)試験される集積回路の選ばれた部分を電子ビーム
によって照射し、この照射によって生ずる2次電子をバ
イアス形フィルタ格子を持つ電子検出器によって収集し
、該フィルタ格子は、該フィルタ格子に対する電圧によ
って定められた予定の値より高いエネルギを持つ2次電
子が通過出来る様にすると共にこの値より低いエネルギ
を持つ2次電子を停止することにより、動作中に集積回
路の機能を監視する装置に於て、前記電子検出器に結合
されていて、前記フィルタ格子を通過した電子の数を表
わす電気信号を発生する手段と、前記電気信号を定常基
準信号と比較して、その間の差に比例する出力信号を発
生する比較手段と、該比較手段の出力信号に応答して前
記出力信号をフィルタ・バイアスの値に加算して前記フ
ィルタ格子に印加される電圧を発生する加算手段とを有
し、前記比較手段の出力信号は、集積回路の選ばれた部
分の電圧を表わす装置の出力を発生する為にも使われ、
前記比較手段が前記電気信号を基準信号と連続的に比較
し、その出力信号が、利得1の帯域幅までの略全部の利
用し得る帯域に及んで略6dB/オクターブのロールオ
フを持つ電圧利得対周波数特性を有する帰還通路によっ
て前記フィルタ格子に印加されるvt置。
によって照射し、この照射によって生ずる2次電子をバ
イアス形フィルタ格子を持つ電子検出器によって収集し
、該フィルタ格子は、該フィルタ格子に対する電圧によ
って定められた予定の値より高いエネルギを持つ2次電
子が通過出来る様にすると共にこの値より低いエネルギ
を持つ2次電子を停止することにより、動作中に集積回
路の機能を監視する装置に於て、前記電子検出器に結合
されていて、前記フィルタ格子を通過した電子の数を表
わす電気信号を発生する手段と、前記電気信号を定常基
準信号と比較して、その間の差に比例する出力信号を発
生する比較手段と、該比較手段の出力信号に応答して前
記出力信号をフィルタ・バイアスの値に加算して前記フ
ィルタ格子に印加される電圧を発生する加算手段とを有
し、前記比較手段の出力信号は、集積回路の選ばれた部
分の電圧を表わす装置の出力を発生する為にも使われ、
前記比較手段が前記電気信号を基準信号と連続的に比較
し、その出力信号が、利得1の帯域幅までの略全部の利
用し得る帯域に及んで略6dB/オクターブのロールオ
フを持つ電圧利得対周波数特性を有する帰還通路によっ
て前記フィルタ格子に印加されるvt置。
(8)第(7)項に記載した装置に於て、前記比較手段
が、前記電気信号及び基準信号の間の差に比例する出力
信号を発生するトランスコンダクタンス増幅器を含み、
更に、該トランスコンダクタンス増幅器の出力電流によ
って充電される様に接続された静電容量を持っていて、
該静電容量に設定された電圧が前記加締手段に印加され
て、前記フィルタ・バイアスの値と加算されて前記フィ
ルタ格子に印加される電圧を発生する装置。
が、前記電気信号及び基準信号の間の差に比例する出力
信号を発生するトランスコンダクタンス増幅器を含み、
更に、該トランスコンダクタンス増幅器の出力電流によ
って充電される様に接続された静電容量を持っていて、
該静電容量に設定された電圧が前記加締手段に印加され
て、前記フィルタ・バイアスの値と加算されて前記フィ
ルタ格子に印加される電圧を発生する装置。
(9)試験される集積回路の選ばれた部分がパルス状電
子ビームによって照射され、この照射によって生ずる2
次電子がバイアス形フィルタ格子を持つ電子検出器によ
って収集され、該フィルタ格子は該フィルタ格子の電圧
によって設定された予 一定の値より高いエネルギを持
つ2次電子が通過出来る様にすると共に、この値より低
いエネルギを持つ2次電子を停止させることにより、動
作中に集積回路の機能を監視する装置に於て、前記電子
検出器に結合されていて、パルスの間にフィルタ格子を
通過した電子の数を表わす電気信号を発生する手段と、
前記電気信号を定常基準信号と比較する比較手段と、該
比較手段の出力信号に応答して差信号を貯Faする手段
と、貯蔵された差信号に応答して、誤差信号をフィルタ
・バイアスの値に側口して、フィルタ格子に印加される
電圧を発生する加算手段とを有し、貯蔵された差信号は
、集積回路の選ばれた部分の電圧を゛表わす装置の出力
そ発生する為にも使われ、前記比較手段が前記パルスの
間だけ、前記電気信号を基準信号と比較する様に構成さ
れていて、前記貯蔵する手段が貯蔵された差信号をフィ
ルタ格子に印加する帰還通路内にあり、該帰還通路はパ
ルスのデユーティ・サイクルで利得1の帯域幅までの略
全部の利用し得る帯域に及んで略6bB/オクターブの
ロールオフを持つ電圧利得対周波数特性を有する装置。
子ビームによって照射され、この照射によって生ずる2
次電子がバイアス形フィルタ格子を持つ電子検出器によ
って収集され、該フィルタ格子は該フィルタ格子の電圧
によって設定された予 一定の値より高いエネルギを持
つ2次電子が通過出来る様にすると共に、この値より低
いエネルギを持つ2次電子を停止させることにより、動
作中に集積回路の機能を監視する装置に於て、前記電子
検出器に結合されていて、パルスの間にフィルタ格子を
通過した電子の数を表わす電気信号を発生する手段と、
前記電気信号を定常基準信号と比較する比較手段と、該
比較手段の出力信号に応答して差信号を貯Faする手段
と、貯蔵された差信号に応答して、誤差信号をフィルタ
・バイアスの値に側口して、フィルタ格子に印加される
電圧を発生する加算手段とを有し、貯蔵された差信号は
、集積回路の選ばれた部分の電圧を゛表わす装置の出力
そ発生する為にも使われ、前記比較手段が前記パルスの
間だけ、前記電気信号を基準信号と比較する様に構成さ
れていて、前記貯蔵する手段が貯蔵された差信号をフィ
ルタ格子に印加する帰還通路内にあり、該帰還通路はパ
ルスのデユーティ・サイクルで利得1の帯域幅までの略
全部の利用し得る帯域に及んで略6bB/オクターブの
ロールオフを持つ電圧利得対周波数特性を有する装置。
(10)第(9)項に記載した装置に於て、前記パルス
の繰返し周波数が集積回路の選ばれた部分の反復的な波
形の周波数に対し、前記パルスが相次いで発生する時に
該パルスが前記波形に漸進的に歩進する様に選ばれてお
り、出力信号が前記波形の1回の発生を表わす様に処理
される装置。
の繰返し周波数が集積回路の選ばれた部分の反復的な波
形の周波数に対し、前記パルスが相次いで発生する時に
該パルスが前記波形に漸進的に歩進する様に選ばれてお
り、出力信号が前記波形の1回の発生を表わす様に処理
される装置。
(11)第(9)項又は第(10)項に記載した装置に
於て、前記比較手段が制御信号を受取る様に接続された
ゲート形トランスコンダクタンス増幅器を含んでおり、
該制御信号は前記トランスコンダクタンス増幅器が、各
々のパルスの間だけ、前記電気信号と基準信号の間の差
に比例する出力電流を発生することが出来る様にし、前
記貯蔵する手段が前記トランスコンダクタンス増幅器か
らの電流によって、前記貯蔵された差信号を形成する電
圧まで充電される様に接続された静電容量を含んでいる
装置。
於て、前記比較手段が制御信号を受取る様に接続された
ゲート形トランスコンダクタンス増幅器を含んでおり、
該制御信号は前記トランスコンダクタンス増幅器が、各
々のパルスの間だけ、前記電気信号と基準信号の間の差
に比例する出力電流を発生することが出来る様にし、前
記貯蔵する手段が前記トランスコンダクタンス増幅器か
らの電流によって、前記貯蔵された差信号を形成する電
圧まで充電される様に接続された静電容量を含んでいる
装置。
(12)第(8)項又は第(11)項に記載した装置に
於て、前記トランスコンダクタンス増幅器が入力電圧に
応答して該増幅器の出力電流を制御する高速電流方向き
め回路を含lνでいる装置。
於て、前記トランスコンダクタンス増幅器が入力電圧に
応答して該増幅器の出力電流を制御する高速電流方向き
め回路を含lνでいる装置。
(13)第(7)項乃至第(12)項に記載した装置に
於て、前記比較手段が前記電気信号を、最初に記載した
基準信号とは異なる第2の基準信号と交代的に比較して
第2の差信号を発生する様に構成されており、前記加算
手段が前記第2の差信号を最初に記載したフィルタ・バ
イアスの値とは異なる第2のフィルタ・バイアスの値に
加算して、前記フィルタ格子に交代的に印加される電圧
を発生する様に構成されており、この為、装置は集積回
路の選ばれた部分の電圧の交代的な2つの測定値を発生
し、更に、2つの交代的な測定値の間の差に応答して、
検出された2次電子放出と集積回路の選ばれた部分の電
圧の間の関係のドリフトに対して測定値を補正する手段
を有する装置。
於て、前記比較手段が前記電気信号を、最初に記載した
基準信号とは異なる第2の基準信号と交代的に比較して
第2の差信号を発生する様に構成されており、前記加算
手段が前記第2の差信号を最初に記載したフィルタ・バ
イアスの値とは異なる第2のフィルタ・バイアスの値に
加算して、前記フィルタ格子に交代的に印加される電圧
を発生する様に構成されており、この為、装置は集積回
路の選ばれた部分の電圧の交代的な2つの測定値を発生
し、更に、2つの交代的な測定値の間の差に応答して、
検出された2次電子放出と集積回路の選ばれた部分の電
圧の間の関係のドリフトに対して測定値を補正する手段
を有する装置。
(14)第(13)項に記載した装置に於て、前記比較
手段が前記電気信号を交代的に第1及び第2の基準信号
と比較する様に切換えられ、前記加算手段が前記比較手
段と同期的に切換えられて、前記第1及び第2のフィル
タ・バイアスの値を交互に加算して、前記フィルタ格子
に印加される電圧を発生する装置。
手段が前記電気信号を交代的に第1及び第2の基準信号
と比較する様に切換えられ、前記加算手段が前記比較手
段と同期的に切換えられて、前記第1及び第2のフィル
タ・バイアスの値を交互に加算して、前記フィルタ格子
に印加される電圧を発生する装置。
(15)第(13)項に記載した装置に於て、電気信号
を第1及び第2の基準信号と夫々比較する為の2つの別
々の比較手段を設け、その結果得られた差信号が2つの
別々の加算手段に夫々印加されて、夫々用1及び第2の
フィルタ・バイアスの値を用いたフィルタ格子の電圧を
発生し、2つの加算手段からの電圧が交互にフィルタ格
子に印加される装置。
を第1及び第2の基準信号と夫々比較する為の2つの別
々の比較手段を設け、その結果得られた差信号が2つの
別々の加算手段に夫々印加されて、夫々用1及び第2の
フィルタ・バイアスの値を用いたフィルタ格子の電圧を
発生し、2つの加算手段からの電圧が交互にフィルタ格
子に印加される装置。
第1図は本発明の1例の略図、第2図は電子の照射によ
ってターゲラ1〜から放出された2次電子のエネルギ・
スペクトルを示すグラフ、第3図は電子の照射を受ける
ターゲットから放出された、所定の値より大きなエネル
ギを持つ2次電子の数を示す正規化したグラフであり、
このグラフをS字曲線と呼ぶ。第4図は従来の同等の特
性と比較して、本発明の実施例の開放ループ電圧利得を
周波数に対して示すグラフ、第5図は本発明の実施例に
使うのに適したトランスコンダクタンス増幅器の回路図
、第6図は第1図に示した実施例の変形の回路図、第7
咎図及び第70図は第6図に示した変形が、検出された
2次電子放出とターゲットの電圧の間の関係のドリフト
の128に対して補償を行なうことが出来る様にする様
子を示すグラフである。 主な符号の説明 1:集積回路 3:エネルギ解析器 4:フィルタ格子 7:光増倍管 1oニドランスコンダクタンス増幅器 17:加算増幅器 19:導体
ってターゲラ1〜から放出された2次電子のエネルギ・
スペクトルを示すグラフ、第3図は電子の照射を受ける
ターゲットから放出された、所定の値より大きなエネル
ギを持つ2次電子の数を示す正規化したグラフであり、
このグラフをS字曲線と呼ぶ。第4図は従来の同等の特
性と比較して、本発明の実施例の開放ループ電圧利得を
周波数に対して示すグラフ、第5図は本発明の実施例に
使うのに適したトランスコンダクタンス増幅器の回路図
、第6図は第1図に示した実施例の変形の回路図、第7
咎図及び第70図は第6図に示した変形が、検出された
2次電子放出とターゲットの電圧の間の関係のドリフト
の128に対して補償を行なうことが出来る様にする様
子を示すグラフである。 主な符号の説明 1:集積回路 3:エネルギ解析器 4:フィルタ格子 7:光増倍管 1oニドランスコンダクタンス増幅器 17:加算増幅器 19:導体
Claims (2)
- (1)試験される集積回路の選ばれた部分を照射する為
に電子ビームを用い、当該フィルタ格子の電圧によつて
設定された予定の値より高いエネルギを持つ電子をこの
値より低いエネルギを持つ電子から分離するバイアス形
フィルタ格子を持つ電子検出器を用いて、前記照射から
生じた2次電子を収集し、前記フィルタ格子を通過する
電子の数を表わす電気信号を定常基準信号と比較して、
その差をフィルタ・バイアスの値に加算して前記フィル
タ格子の電圧を設定する様に帰還し、前記フィルタ格子
の電圧に関係し且つ前記集積回路の選ばれた部分の電圧
を表わす出力信号を発生することにより、動作中に集積
回路の機能を監視する方法に於て、前記電気信号を基準
信号と連続的に比較して差信号を発生し、利得(1)の
帯域幅までの略全部の利用し得る帯域に及んで略6dB
/オクターブのロールオフを持つ電圧利得対周波数特性
を有する帰還通路を介して、前記差信号をフィルタ格子
に帰還するようにした方法。 - (2)試験される集積回路の選ばれた部分を電子ビーム
によつて照射し、この照射によつて生ずる2次電子をバ
イアス形フィルタ格子を持つ電子検出器によつて収集し
、該フィルタ格子は、該フィルタ格子に対する電圧によ
つて定められた予定の値より高いエネルギを持つ2次電
子が通過出来る様にすると共にこの値より低いエネルギ
を持つ2次電子を停止することにより、動作中に集積回
路の機能を監視する装置に於て、前記電子検出器に結合
されていて、前記フィルタ格子を通過した電子の数を表
わす電気信号を発生する手段と、前記電気信号を定常基
準信号と比較して、その間の差に比例する出力信号を発
生する比較手段と、該比較手段の出力信号に応答して前
記出力信号をフィルタ・バイアスの値に加算して前記フ
ィルタ格子に印加される電圧を発生する加算手段とを有
し、前記比較手段の出力信号は、集積回路の選ばれた部
分の電圧を表わす装置の出力を発生する為にも使われ、
前記比較手段が前記電気信号を基準信号と連続的に比較
し、その出力信号が、利得(1)の帯域幅までの略全部
の利用し得る帯域に及んで略6dB/オクターブのロー
ルオフを持つ電圧利得対周波数特性を有する帰還通路に
よつて前記フィルタ格子に印加されるようにした装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB8515250 | 1985-06-17 | ||
GB858515250A GB8515250D0 (en) | 1985-06-17 | 1985-06-17 | Testing of integrated circuits |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6254183A true JPS6254183A (ja) | 1987-03-09 |
JP2723215B2 JP2723215B2 (ja) | 1998-03-09 |
Family
ID=10580844
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61139950A Expired - Lifetime JP2723215B2 (ja) | 1985-06-17 | 1986-06-16 | 動作中に集積回路の機能を監視する方法と装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4801879A (ja) |
EP (1) | EP0209236B1 (ja) |
JP (1) | JP2723215B2 (ja) |
DE (1) | DE3683701D1 (ja) |
GB (1) | GB8515250D0 (ja) |
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---|---|---|---|---|
JPS62290851A (ja) * | 1986-06-09 | 1987-12-17 | Sky Alum Co Ltd | アルミニウム合金圧延板の製造方法 |
US5192378A (en) * | 1990-11-13 | 1993-03-09 | Aluminum Company Of America | Aluminum alloy sheet for food and beverage containers |
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---|---|---|---|---|
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DE3708787A1 (de) * | 1987-03-18 | 1988-09-29 | Standard Elektrik Lorenz Ag | Integrierte schaltung sowie verfahren und einrichtung zu ihrer pruefung |
US6144037A (en) * | 1998-06-18 | 2000-11-07 | International Business Machines Corporation | Capacitor charging sensor |
US6359451B1 (en) | 2000-02-11 | 2002-03-19 | Image Graphics Incorporated | System for contactless testing of printed circuit boards |
WO2001058558A2 (en) | 2000-02-14 | 2001-08-16 | Eco 3 Max Inc. | Process for removing volatile organic compounds from an air stream and apparatus therefor |
US6967492B2 (en) * | 2003-11-26 | 2005-11-22 | Asm Assembly Automation Ltd. | Spring contact probe device for electrical testing |
US7891015B2 (en) * | 2007-07-31 | 2011-02-15 | Bruker Nano, Inc. | High-bandwidth actuator drive for scanning probe microscopy |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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DE2823642A1 (de) * | 1978-05-30 | 1980-01-03 | Siemens Ag | Verfahren zur beruehrungslosen potentialmessung an einem elektronischen bauelement |
JPS55156867A (en) * | 1979-05-28 | 1980-12-06 | Hitachi Ltd | Potential measuring device |
DE3235484A1 (de) * | 1982-09-24 | 1984-03-29 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren zur unterdrueckung einer stoerung bei der messung von signalverlaeufen mit einer korpuskularsonde und vorrichtung zur durchfuehrung eines solchen verfahrens |
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