JPS624988B2 - - Google Patents
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- JPS624988B2 JPS624988B2 JP55112222A JP11222280A JPS624988B2 JP S624988 B2 JPS624988 B2 JP S624988B2 JP 55112222 A JP55112222 A JP 55112222A JP 11222280 A JP11222280 A JP 11222280A JP S624988 B2 JPS624988 B2 JP S624988B2
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 5
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 238000013459 approach Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 210000001015 abdomen Anatomy 0.000 description 1
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- 229920002379 silicone rubber Polymers 0.000 description 1
- 239000004945 silicone rubber Substances 0.000 description 1
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- Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、超音波ビームを生体のような媒体に
投射して、生体組織内の状況を診断する超音波診
断装置に関するものである。
投射して、生体組織内の状況を診断する超音波診
断装置に関するものである。
本発明の主な目的は、探触子の送受波面の接触
関係を最適にした状態で、かつ探触子を移動させ
たり、傾斜させたりすることなく、所望の断面像
を得ることができるとともに、必要に応じて被検
体の体軸に対してほぼ平行する断面像(Cモード
像)を得ることのできる超音波診断装置を実現し
ようとするものである。また、本発明の他の目的
は、必要に応じて、ひとつの断面像と、この断面
像に対してある角度で傾斜するもうひとつの断面
像を得るようにし、これらから立体的な像を認識
できる超音波診断装置を実現しようとするもので
ある。
関係を最適にした状態で、かつ探触子を移動させ
たり、傾斜させたりすることなく、所望の断面像
を得ることができるとともに、必要に応じて被検
体の体軸に対してほぼ平行する断面像(Cモード
像)を得ることのできる超音波診断装置を実現し
ようとするものである。また、本発明の他の目的
は、必要に応じて、ひとつの断面像と、この断面
像に対してある角度で傾斜するもうひとつの断面
像を得るようにし、これらから立体的な像を認識
できる超音波診断装置を実現しようとするもので
ある。
第1図は本発明にかかわる装置に用いられる探
触子の一例を示す構成斜視図である。この探触子
1は、その送受波面が、X軸方向(超音波ビーム
の走査方向)にn個、Y軸方向にn個(m<n)
並ぶ複数の超音波振動子で構成されており、これ
らの振動子の表面には、シリコンゴムのような音
響マツチング層11が固着されている。この探触
子1はケーブル10を介して本体(図示せず)に
結合する。
触子の一例を示す構成斜視図である。この探触子
1は、その送受波面が、X軸方向(超音波ビーム
の走査方向)にn個、Y軸方向にn個(m<n)
並ぶ複数の超音波振動子で構成されており、これ
らの振動子の表面には、シリコンゴムのような音
響マツチング層11が固着されている。この探触
子1はケーブル10を介して本体(図示せず)に
結合する。
第2図は、本発明装置の一実施例を示す構成ブ
ロツク図である。図において、1は探触子で、超
音波信号の送受波面は、X軸方向にn個、Y軸方
向にm個2次元的に配列するnxm個の超音波振動
子a11〜aonで構成されている。2は基準信号発
生器、20はこの基準信号発生器2からのクロツ
クパルスを入力し、全体回路を統括する制御回
路、3は基準信号発生器2からの信号を入力し、
各超音波振動子a11〜aonを駆動する送信回路、
4は複数個のそれぞれ遅延時間の異なつた遅延素
子を含んだ超音波ビームの走査方向〔x軸方向)
の電子フオーカスを行う第1の遅延回路、51は
遅延回路4と各超音波振動子との間の接続を切換
え、リニヤ走査を行うスイツチ回路、52は各超
音波振動子a11〜aonに対応して設けられた可変
遅延素子τ11〜τonからなり、Y軸方向の超音波
ビーム角の制御を行う第2の遅延回路、53はこ
の遅延回路52は各遅延素子の遅延時間を制御す
る遅延時間制御回路である。6は受信回路で、第
2の遅延回路52、スイツチ回路51および第1
の遅延回路4を介して印加される超音波振動子か
らの信号を受信する。7はこの受信回路6からの
信号を入力する信号処理回路、81,82は信号
処理回路7からの信号を入力とする第1モニタ、
第二モニタ、9は信号処理回路7に結合し、静止
画像やCモード像を得るためのメモリ回路であ
る。
ロツク図である。図において、1は探触子で、超
音波信号の送受波面は、X軸方向にn個、Y軸方
向にm個2次元的に配列するnxm個の超音波振動
子a11〜aonで構成されている。2は基準信号発
生器、20はこの基準信号発生器2からのクロツ
クパルスを入力し、全体回路を統括する制御回
路、3は基準信号発生器2からの信号を入力し、
各超音波振動子a11〜aonを駆動する送信回路、
4は複数個のそれぞれ遅延時間の異なつた遅延素
子を含んだ超音波ビームの走査方向〔x軸方向)
の電子フオーカスを行う第1の遅延回路、51は
遅延回路4と各超音波振動子との間の接続を切換
え、リニヤ走査を行うスイツチ回路、52は各超
音波振動子a11〜aonに対応して設けられた可変
遅延素子τ11〜τonからなり、Y軸方向の超音波
ビーム角の制御を行う第2の遅延回路、53はこ
の遅延回路52は各遅延素子の遅延時間を制御す
る遅延時間制御回路である。6は受信回路で、第
2の遅延回路52、スイツチ回路51および第1
の遅延回路4を介して印加される超音波振動子か
らの信号を受信する。7はこの受信回路6からの
信号を入力する信号処理回路、81,82は信号
処理回路7からの信号を入力とする第1モニタ、
第二モニタ、9は信号処理回路7に結合し、静止
画像やCモード像を得るためのメモリ回路であ
る。
なお、この実施例では、第1の遅延回路と第2
の遅延回路とを別々に設けたものであるが、第1
の遅延回路4を省略し、この機能を第2の遅延回
路52にもたせるようにしてもよい。
の遅延回路とを別々に設けたものであるが、第1
の遅延回路4を省略し、この機能を第2の遅延回
路52にもたせるようにしてもよい。
接触子1において、Y軸方向に並ぶ超音波振動
子a11〜a1nは、それぞれ対応する可変遅延素子
τ11〜τ1nを介してひとつのリード線l1に接続さ
れ、スイツチ回路51に接続されている。以下同
じようにして、Y軸方向に並ぶ超音波振動子a21
〜a2n(ao1〜aon)も、それぞれ対応する可変
遅延素子τ21〜τ2n(τo1〜τon)を介してリー
ド線l2(lo)に接続され、スイツチ回路51に
接続されている。スイツチ回路51は、制御回路
20からの信号に基づいて、多数個のリード線l1
〜loのなかのいくつか(例えば7本又は8本)
を順次1個づつずらせて選択し、リニヤ走査を行
なう役目をなす。
子a11〜a1nは、それぞれ対応する可変遅延素子
τ11〜τ1nを介してひとつのリード線l1に接続さ
れ、スイツチ回路51に接続されている。以下同
じようにして、Y軸方向に並ぶ超音波振動子a21
〜a2n(ao1〜aon)も、それぞれ対応する可変
遅延素子τ21〜τ2n(τo1〜τon)を介してリー
ド線l2(lo)に接続され、スイツチ回路51に
接続されている。スイツチ回路51は、制御回路
20からの信号に基づいて、多数個のリード線l1
〜loのなかのいくつか(例えば7本又は8本)
を順次1個づつずらせて選択し、リニヤ走査を行
なう役目をなす。
第3図は各振動子a11〜aonの複数個の超音波
振動子の駆動方法を説明するための説明図であ
る。この説明図では、第1の遅延回路4は3個の
それぞれ遅延時間の異なつた遅延素子で構成され
ており、X軸方向に並ぶ超音波振動子の同時に駆
動する複数列(ここでは7列)において、中央の
ものが大きな遅延時間が与えられ、両端に近ずく
に従つて遅延時間が小さくなるように接続、構成
されている。スイツチ回路51は、第1の遅延回
路4からの7本のリード線と、第2の遅延回路5
2を介して、Y軸方向に並ぶひとつの列をひとつ
のグループとするリード線l1′,l2′……loとのマ
トリツクス回路で構成されている。また、第2の
遅延回路52において、各超音波振動子に接続さ
れる各可変遅延素子の遅延時間は、遅延時間制御
回路53からの信号によつて制御されるもので、
この説明図ではY軸方向に並ぶ超音波振動子の同
時に駆動する複数行(ここでは5行)において、
中央のものが大きな遅延時間が与えられ、上下両
端に行くに従つて遅延時間が小さくなるように制
御されている例を図示化(遅延時間の大きいもの
を長いブロツク、小さいものを短かいブロツクで
代表する)して示してある。
振動子の駆動方法を説明するための説明図であ
る。この説明図では、第1の遅延回路4は3個の
それぞれ遅延時間の異なつた遅延素子で構成され
ており、X軸方向に並ぶ超音波振動子の同時に駆
動する複数列(ここでは7列)において、中央の
ものが大きな遅延時間が与えられ、両端に近ずく
に従つて遅延時間が小さくなるように接続、構成
されている。スイツチ回路51は、第1の遅延回
路4からの7本のリード線と、第2の遅延回路5
2を介して、Y軸方向に並ぶひとつの列をひとつ
のグループとするリード線l1′,l2′……loとのマ
トリツクス回路で構成されている。また、第2の
遅延回路52において、各超音波振動子に接続さ
れる各可変遅延素子の遅延時間は、遅延時間制御
回路53からの信号によつて制御されるもので、
この説明図ではY軸方向に並ぶ超音波振動子の同
時に駆動する複数行(ここでは5行)において、
中央のものが大きな遅延時間が与えられ、上下両
端に行くに従つて遅延時間が小さくなるように制
御されている例を図示化(遅延時間の大きいもの
を長いブロツク、小さいものを短かいブロツクで
代表する)して示してある。
スイツチ回路51は、各リード線の交点の接続
を○印、△印、×印の順に順次接続し、リニヤ走
査を行なう。ここで、例えば○印のように接続し
た状態で送信回路3から駆動パルスを与えると、
X軸方向およびY軸方向に並ぶ各超音波振動子
(7(列)×5(行))がそれぞれ僅かに異なつたタ
イミングで駆動される。すなわち、X軸方向、Y
軸方向いずれも電子的なフオーカスが与えられ、
これらの各超音波振動子からの超音波ビームP1
は、探触子1の送受波面に対して垂直であつて、
各素子の遅延時間を模擬的に示す円弧面の中心点
A付近に収束される。したがつて、スイツチ回路
51において、△印、×印……の順に駆動させれ
ば、超音波ビームP1をA点付近で電子的に収束さ
せた状態で矢印a方向(X軸方向)にリニヤ走査
することができる。ここで、各遅延回路4および
52において、各遅延素子の遅延時間をその比率
を維持しながら一回の送受信時間において変化す
れば、X軸方向、Y軸方向ともにダイナミツクな
電子フオーカスが可能となり、鮮明の断面像を得
ることができる。
を○印、△印、×印の順に順次接続し、リニヤ走
査を行なう。ここで、例えば○印のように接続し
た状態で送信回路3から駆動パルスを与えると、
X軸方向およびY軸方向に並ぶ各超音波振動子
(7(列)×5(行))がそれぞれ僅かに異なつたタ
イミングで駆動される。すなわち、X軸方向、Y
軸方向いずれも電子的なフオーカスが与えられ、
これらの各超音波振動子からの超音波ビームP1
は、探触子1の送受波面に対して垂直であつて、
各素子の遅延時間を模擬的に示す円弧面の中心点
A付近に収束される。したがつて、スイツチ回路
51において、△印、×印……の順に駆動させれ
ば、超音波ビームP1をA点付近で電子的に収束さ
せた状態で矢印a方向(X軸方向)にリニヤ走査
することができる。ここで、各遅延回路4および
52において、各遅延素子の遅延時間をその比率
を維持しながら一回の送受信時間において変化す
れば、X軸方向、Y軸方向ともにダイナミツクな
電子フオーカスが可能となり、鮮明の断面像を得
ることができる。
探触子1から出た超音波ビームはふたつの組織
の境界面で反射し、この反射パルスが同じ振動子
群によつて受信される。各振動子群からの受信信
号は、各遅延回路52,4を介して電子フオーカ
スがなされ、受信回路6に印加され、ここで例え
ば利得制御(STC)がなされ、信号処理回路7
を介して第1モニタ81にBモード像が表示され
る。
の境界面で反射し、この反射パルスが同じ振動子
群によつて受信される。各振動子群からの受信信
号は、各遅延回路52,4を介して電子フオーカ
スがなされ、受信回路6に印加され、ここで例え
ば利得制御(STC)がなされ、信号処理回路7
を介して第1モニタ81にBモード像が表示され
る。
一方、第2の遅延回路52において、Y軸方向
に並ぶ超音波振動子の同時に駆動する複数行にお
いて、第4図に図示化するように、各遅延素子の
遅延時間を例えば下端に行くに従つて遅延時間が
大きくなるように制御すれば、各超音波振動子か
らの超音波ビームは、下端側に従つておくれたタ
イミングで駆動されるので、第3図の矢印P2に示
すように、Y軸方向に対しては垂直であつて、Y
軸方向にθだけ傾斜したものとなる。傾斜角θ
は、各遅延素子の遅延時間の与え方によつて第3
図破線矢印bに示すように変えることができる。
に並ぶ超音波振動子の同時に駆動する複数行にお
いて、第4図に図示化するように、各遅延素子の
遅延時間を例えば下端に行くに従つて遅延時間が
大きくなるように制御すれば、各超音波振動子か
らの超音波ビームは、下端側に従つておくれたタ
イミングで駆動されるので、第3図の矢印P2に示
すように、Y軸方向に対しては垂直であつて、Y
軸方向にθだけ傾斜したものとなる。傾斜角θ
は、各遅延素子の遅延時間の与え方によつて第3
図破線矢印bに示すように変えることができる。
第5図は超音波ビームの走査方法の一例を示す
斜視図である。探触子1の送受波面からは、探触
子1本体を動かすことなく、送受波面に対して垂
直な走査面、送受波面に対して傾斜した走査面
あるいはのような走査を行うことができ、ま
た走査面,の傾斜角θは、第2の遅延回路を
構成する遅延素子の遅延時間を制御することによ
り自由に変えることができる。
斜視図である。探触子1の送受波面からは、探触
子1本体を動かすことなく、送受波面に対して垂
直な走査面、送受波面に対して傾斜した走査面
あるいはのような走査を行うことができ、ま
た走査面,の傾斜角θは、第2の遅延回路を
構成する遅延素子の遅延時間を制御することによ
り自由に変えることができる。
このような装置によれば、送受波面と被検体の
表面とを最適な密着条件を維持しながら、走査面
,,…による断面像を例えば時分割で順次
得るようにし、これらの像を第1モニタ、第2モ
ニタにそれぞれ選択して表示することによつて、
これらの像から立体的な像を正しく認識すること
ができる。また、探触子1の送受波面を被検体の
表面に最適な条件で接触させた状態で走査面の傾
斜角を変えることができるので、送受波面を被検
体表面に斜目に強く押しつけたりしなくとも所望
の断面像を容易に得ることもできる。
表面とを最適な密着条件を維持しながら、走査面
,,…による断面像を例えば時分割で順次
得るようにし、これらの像を第1モニタ、第2モ
ニタにそれぞれ選択して表示することによつて、
これらの像から立体的な像を正しく認識すること
ができる。また、探触子1の送受波面を被検体の
表面に最適な条件で接触させた状態で走査面の傾
斜角を変えることができるので、送受波面を被検
体表面に斜目に強く押しつけたりしなくとも所望
の断面像を容易に得ることもできる。
第6図は超音波ビームの走査方法の他の例を示
す斜視図である。この例は、Cモード像を得る場
合であつて、走査面の傾斜を矢印b方向に一走
査面ごとに一定角度づつずらせて振らせたもので
ある。各走査面に対応する画像情報を順次メモリ
回路9に格納し、このメモリ回路9からの続み出
しを第6図矢印Cに示すように例えば被検体の表
面から一定の深さに相当する部分についてのみ、
順次読み出し、これを第2モニタ82に表示すれ
ば、送受波面に対してほぼ平行する第6図Vに示
す断面像を得ることができる。また、探触子1の
送受波面に対して例えば垂直な走査面による断
面像を第1モニタ81に表示する。
す斜視図である。この例は、Cモード像を得る場
合であつて、走査面の傾斜を矢印b方向に一走
査面ごとに一定角度づつずらせて振らせたもので
ある。各走査面に対応する画像情報を順次メモリ
回路9に格納し、このメモリ回路9からの続み出
しを第6図矢印Cに示すように例えば被検体の表
面から一定の深さに相当する部分についてのみ、
順次読み出し、これを第2モニタ82に表示すれ
ば、送受波面に対してほぼ平行する第6図Vに示
す断面像を得ることができる。また、探触子1の
送受波面に対して例えば垂直な走査面による断
面像を第1モニタ81に表示する。
第7図はこのようにして得られた断面像の一例
であつて、イは第1モニタ81に得られる像、す
なわち、第6図において走査面に対応した断面
像を、ロは第2モニタ82に得られる像、すなわ
ち第6図において、探触子1の送受波面と平行す
る断面Vに対応したCモード像をそれぞれ示して
いる。ここで、イ図において、X−Xはロ図に示
される断面位置を示す輝線であり、また、ロ図に
おいてY−Yはイ図に示される断面位置を示す輝
線で、これらは各断面像の位置関係を示してい
る。これらの断面位置を示す輝線は、マークでも
よく、電気的な回路手段によつて表示される。ま
た、イ,ロに示す断面像は、メモリ回路9からの
読み出し番地(位置)を変えることによつて、任
意の断面像を得ることができる。
であつて、イは第1モニタ81に得られる像、す
なわち、第6図において走査面に対応した断面
像を、ロは第2モニタ82に得られる像、すなわ
ち第6図において、探触子1の送受波面と平行す
る断面Vに対応したCモード像をそれぞれ示して
いる。ここで、イ図において、X−Xはロ図に示
される断面位置を示す輝線であり、また、ロ図に
おいてY−Yはイ図に示される断面位置を示す輝
線で、これらは各断面像の位置関係を示してい
る。これらの断面位置を示す輝線は、マークでも
よく、電気的な回路手段によつて表示される。ま
た、イ,ロに示す断面像は、メモリ回路9からの
読み出し番地(位置)を変えることによつて、任
意の断面像を得ることができる。
なお、上記の実施例において、走査面の傾斜角
θは、モニタ像を観察しながら自由に選択できる
ものとし、また、Cモード像を得る場合には、走
査面の傾斜角度を一走査面ごとに僅かな角度で自
動的に変るように構成されているものとする。こ
れは、例えば第2の遅延回路において、各遅延素
子の遅延時間を、あらかじめ遅延時間制御回路5
3に設けた、例えばリードオンリメモリ
(ROM)に記憶させた値で順次制御することによ
つて実現できる。
θは、モニタ像を観察しながら自由に選択できる
ものとし、また、Cモード像を得る場合には、走
査面の傾斜角度を一走査面ごとに僅かな角度で自
動的に変るように構成されているものとする。こ
れは、例えば第2の遅延回路において、各遅延素
子の遅延時間を、あらかじめ遅延時間制御回路5
3に設けた、例えばリードオンリメモリ
(ROM)に記憶させた値で順次制御することによ
つて実現できる。
従来、リニヤスキヤンを行う探触子をもつこの
種の装置においても、探触子1の送受波面の接触
角度を変えることによつて、走査面を被検体表面
に対して傾斜させることができ、時間をおいて、
順次異なる走査面の断面像を得ることが可能であ
るが、送受波面の接触角度を余り大きくすると被
検体との密着性の条件が悪くなつて、良質の断面
像を得ることができない。このため、例えば肋骨
後側の断面像をリニヤ走査によつて得ることは困
難であつた。
種の装置においても、探触子1の送受波面の接触
角度を変えることによつて、走査面を被検体表面
に対して傾斜させることができ、時間をおいて、
順次異なる走査面の断面像を得ることが可能であ
るが、送受波面の接触角度を余り大きくすると被
検体との密着性の条件が悪くなつて、良質の断面
像を得ることができない。このため、例えば肋骨
後側の断面像をリニヤ走査によつて得ることは困
難であつた。
本発明にかかわる装置によれば、探触子の送受
波面の接触関係を最適にした状態で、所望の傾斜
角で切断した断面像を容易に得ることができるも
ので、例えば肋骨の後側も腹部からリニヤ走査に
よつて覗くことが可能である。また、ひとつの断
面像と、この断面像に対して任意の角度で傾斜す
るもうひとつの断面像を探触子を大巾に移動させ
たり、傾斜させることなく得ることができるう
え、必要に応じて体軸に対して、ほぼ平行するC
モード像をも得ることができ、診断効果を向上さ
せることができる。
波面の接触関係を最適にした状態で、所望の傾斜
角で切断した断面像を容易に得ることができるも
ので、例えば肋骨の後側も腹部からリニヤ走査に
よつて覗くことが可能である。また、ひとつの断
面像と、この断面像に対して任意の角度で傾斜す
るもうひとつの断面像を探触子を大巾に移動させ
たり、傾斜させることなく得ることができるう
え、必要に応じて体軸に対して、ほぼ平行するC
モード像をも得ることができ、診断効果を向上さ
せることができる。
第1図は本発明にかかわる装置に用いられる探
触子の一例を示す構成斜視図、第2図は本発明装
置の一実施例を示す構成ブロツク図、第3図およ
び第4図は超音波振動子の駆動方法を説明するた
めの説明図、第5図および第6図は超音波ビーム
の走査状態を示した斜視図、第7図は第6図に示
す走査例によつて得られた断面像の一例を示す図
である。 1……探触子、a11〜aon……超音波振動子、
2……基準信号発生器、20……制御回路、3…
…送信回路、4,52……遅延回路、τ11〜τon
……可変遅延素子、51……スイツチ回路、53
……遅延時間制御回路、6……受信回路、7……
信号処理回路、81,82……第1モニタ、第2
モニタ、9……メモリ回路。
触子の一例を示す構成斜視図、第2図は本発明装
置の一実施例を示す構成ブロツク図、第3図およ
び第4図は超音波振動子の駆動方法を説明するた
めの説明図、第5図および第6図は超音波ビーム
の走査状態を示した斜視図、第7図は第6図に示
す走査例によつて得られた断面像の一例を示す図
である。 1……探触子、a11〜aon……超音波振動子、
2……基準信号発生器、20……制御回路、3…
…送信回路、4,52……遅延回路、τ11〜τon
……可変遅延素子、51……スイツチ回路、53
……遅延時間制御回路、6……受信回路、7……
信号処理回路、81,82……第1モニタ、第2
モニタ、9……メモリ回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 超音波信号の送受波面がX軸方向にn個Y軸
方向にm個2次元的に配列する複数個の超音波振
動子で構成された超音波探触子と、一端が前記複
数個の超音波振動子にそれぞれ接続され他端がY
軸方向に配列するm個の超音波振動子に対応する
ものをひとつのグループとしそれぞれリード線l1
〜l2に接続される複数個の可変遅延素子と、前記
リード線l1〜loのいくつかに順次X軸方向にず
らせて駆動信号を与え超音波振動子からの超音波
ビームをリニヤ走査させるリニア走査回路手段
と、Y軸方向に配列するm個の超音波振動子にそ
れぞれ接続されたm個の可変逐延素子の遅延時間
をそれぞれ僅かずつ異なるように制御し前記リニ
ア走査による走査面を前記送受波面に対して傾斜
させるようにする遅延時間制御回路と、前記超音
波振動子からの受信信号を入力し信号処理した後
モニタに画像を表示する信号処理回路とを備えた
超音波診断装置。 2 遅延時間制御回路は、Y軸方向に配列するm
個の超音波振動子のうち、中央付近に行くに従つ
て遅いタイミングで駆動するように対応する可変
遅延素子の逐延時間を制御し、Y軸方向の電子フ
オーカスをするようにした特許請求の範囲第1項
記載の超音波診断装置。 3 リニヤ走査回路手段は、リニヤ走査の送受波
面に対する角度をひとつのリニヤ走査ごとに僅か
ずつずらせて振らせ、信号処理回路は前記各リニ
ア走査に対応する画像データを順次メモリ手段に
格納し、このメモリ手段からのデータの読み出し
を被検体表面からの深さに関連して読み出し、こ
れをモニタにCモード像表示するようにした特許
請求の範囲第1項記載の超音波診断装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11222280A JPS5737441A (en) | 1980-08-14 | 1980-08-14 | Ultrasonic diagnostic apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11222280A JPS5737441A (en) | 1980-08-14 | 1980-08-14 | Ultrasonic diagnostic apparatus |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5737441A JPS5737441A (en) | 1982-03-01 |
JPS624988B2 true JPS624988B2 (ja) | 1987-02-02 |
Family
ID=14581303
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11222280A Granted JPS5737441A (en) | 1980-08-14 | 1980-08-14 | Ultrasonic diagnostic apparatus |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5737441A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005537078A (ja) * | 2002-08-29 | 2005-12-08 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 傾斜像平面を用いた超音波画像診断 |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57170229A (en) * | 1981-04-13 | 1982-10-20 | Tokyo Shibaura Electric Co | Ultrasonic diagnostic apparatus |
JPS5920157A (ja) * | 1982-07-28 | 1984-02-01 | アロカ株式会社 | 超音波診断装置 |
JPS60227741A (ja) * | 1984-04-26 | 1985-11-13 | 株式会社島津製作所 | 超音波診断装置 |
JP2662868B2 (ja) * | 1987-11-13 | 1997-10-15 | 株式会社日立メディコ | 超音波診断装置 |
JP2759808B2 (ja) * | 1988-10-05 | 1998-05-28 | 株式会社日立メディコ | 超音波診断装置 |
JP5422264B2 (ja) | 2009-06-09 | 2014-02-19 | 株式会社東芝 | 超音波診断装置及び医用画像処理装置 |
JP5892745B2 (ja) | 2011-08-18 | 2016-03-23 | 株式会社東芝 | 超音波診断装置 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS54131379A (en) * | 1978-03-31 | 1979-10-12 | Ito Kenichi | Ultrasonic wave diagnosis device |
-
1980
- 1980-08-14 JP JP11222280A patent/JPS5737441A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS54131379A (en) * | 1978-03-31 | 1979-10-12 | Ito Kenichi | Ultrasonic wave diagnosis device |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005537078A (ja) * | 2002-08-29 | 2005-12-08 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 傾斜像平面を用いた超音波画像診断 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5737441A (en) | 1982-03-01 |
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