JPS6249809B2 - - Google Patents
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- JPS6249809B2 JPS6249809B2 JP55125764A JP12576480A JPS6249809B2 JP S6249809 B2 JPS6249809 B2 JP S6249809B2 JP 55125764 A JP55125764 A JP 55125764A JP 12576480 A JP12576480 A JP 12576480A JP S6249809 B2 JPS6249809 B2 JP S6249809B2
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 71
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 15
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 claims description 14
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 7
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 4
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
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- Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は電力系統を保護する保護継電器の点検
方法の改良に関する。
方法の改良に関する。
電力系統を保護する保護継電器としては種々の
ものが用いられているが、保護継電器はその運用
中においても常に正しく動作できるか否かの点検
が行なわれているのが一般的である。その中で、
継電器の入力回路は継電器の動作判定に必要な電
気量を作成するための回路であり、この入力回路
に故障が生じたり不良が発生すると、継電器が誤
動作、誤不動作することになり電力系統の正しい
保護を行なうことができなくなる。したがつて、
この保護継電器における入力回路の点検を行なう
ことは極めて重要なことである。
ものが用いられているが、保護継電器はその運用
中においても常に正しく動作できるか否かの点検
が行なわれているのが一般的である。その中で、
継電器の入力回路は継電器の動作判定に必要な電
気量を作成するための回路であり、この入力回路
に故障が生じたり不良が発生すると、継電器が誤
動作、誤不動作することになり電力系統の正しい
保護を行なうことができなくなる。したがつて、
この保護継電器における入力回路の点検を行なう
ことは極めて重要なことである。
第１図は、系統の電流、電圧を導入しこの電
流、電圧の比に応動して系統のインピーダンスを
測定する距離継電器の構成を示すものであり、第
２図は第１図における距離継電器の特性及びその
点検方法を説明するための図である。第１図にお
いて、継電器運用時には系統の電流Ｉ、電圧Ｖを
継電器７の入力回路３Ａ，３Ｂにそれぞれ導入す
る。この入力回路３Ａ，３Ｂは変流器CT、変圧
器PT、及びフイルタ回路４等によつて構成され
ており、電流Ｉ、電圧Ｖはそれぞれ変流器CT、
変圧器PTによつて継電器７の動作判定に適した
大きさの電気量に変換され、フイルタ回路４でそ
の高調波分等が除去される。そして、最終的にこ
の入力回路３Ａ，３Ｂの出力が判定部６に導入さ
れて継電器の動作判定が行なわれ、第２図に示す
様な特性を得て系統を保護するようにしている。
流、電圧の比に応動して系統のインピーダンスを
測定する距離継電器の構成を示すものであり、第
２図は第１図における距離継電器の特性及びその
点検方法を説明するための図である。第１図にお
いて、継電器運用時には系統の電流Ｉ、電圧Ｖを
継電器７の入力回路３Ａ，３Ｂにそれぞれ導入す
る。この入力回路３Ａ，３Ｂは変流器CT、変圧
器PT、及びフイルタ回路４等によつて構成され
ており、電流Ｉ、電圧Ｖはそれぞれ変流器CT、
変圧器PTによつて継電器７の動作判定に適した
大きさの電気量に変換され、フイルタ回路４でそ
の高調波分等が除去される。そして、最終的にこ
の入力回路３Ａ，３Ｂの出力が判定部６に導入さ
れて継電器の動作判定が行なわれ、第２図に示す
様な特性を得て系統を保護するようにしている。
一方、このような継電器７の点検を行なう際に
は、第２図のＡ点またはＢ点に相当する様な点検
電流ＩT、点検電圧ＶTを入力回路３Ａ，３Ｂに
夫々印加して点検を行なう。つまり、Ａ点に相当
する点検電流ＩT、点検電圧ＶTを印加すれば、こ
のＡ点は継電器７の動作範囲内であるため継電器
７が動作状態となる。また、Ｂ点に相当する点検
電流ＩT、点検電圧ＶTを印加すればこのＢ点はそ
の不動作範囲であるため継電器７は不動作状態と
なる（動作しない）。この様に従来の継電器の点
検方法は、上記Ａ点、Ｂ点の様に動作点及び不動
作点に相当する点検入力を印加し、継電器が動作
及び不動作となることを確認することによつて継
電器７の入力回路３Ａ，３Ｂの点検を行なうよう
にしている。
は、第２図のＡ点またはＢ点に相当する様な点検
電流ＩT、点検電圧ＶTを入力回路３Ａ，３Ｂに
夫々印加して点検を行なう。つまり、Ａ点に相当
する点検電流ＩT、点検電圧ＶTを印加すれば、こ
のＡ点は継電器７の動作範囲内であるため継電器
７が動作状態となる。また、Ｂ点に相当する点検
電流ＩT、点検電圧ＶTを印加すればこのＢ点はそ
の不動作範囲であるため継電器７は不動作状態と
なる（動作しない）。この様に従来の継電器の点
検方法は、上記Ａ点、Ｂ点の様に動作点及び不動
作点に相当する点検入力を印加し、継電器が動作
及び不動作となることを確認することによつて継
電器７の入力回路３Ａ，３Ｂの点検を行なうよう
にしている。
しかしながら、この距離継電器７の特性は第３
図に示す様にその整定によつて特性が大きく変わ
るために、点検電流ＩT、電圧ＶTとしてはA′点
及びB′点の様に動作と不動作に大きな差をもたせ
なければならない。つまり、その整定が小なる時
には図示特性１の様に動作範囲が小さくなるの
で、A′点の様な確実に動作となる点検入力を印
加し、また整定が大なる時には図示特性２の様に
動作範囲が大きくなるので、B′点の様な確実に不
動作となる点検入力を印加しなければならない。
したがつて、この様な従来の点検方法では整定に
よつて継電器の特性が大きく変わるため、確実な
点検を行なうには点検電源ＩT、点検電圧ＶTも大
きく変化させて印加しなければならない。このた
め、精度の良い点検を行なえないことになり、継
電器で最も重要な入力回路３Ａ，３Ｂの点検は盲
点となつてしまう。つまり、入力回路３Ａ，３Ｂ
に不良があつても精度の悪い点検方法であるため
に、この不良を発見することができないという欠
点がある。また、上記第１図では１要素のみの距
離継電器構成であつたが、複数の判定部を設けた
多要素形の継電器の点検を行なおうとすると、そ
のための点検電流、点検電圧は各要素毎に夫々対
応したものが必要となり、その点検規模が莫大な
ものになつてしまう。そればかりか、多要素であ
るために点検ステツプが多くなり点検に要する時
間も多大なものとなつてしまう。更に、点検電
流、点検電圧に用いられる電源は通常電気所の所
定電源を用いており、その所内電源は±10〜20％
程度の変動が起り得る。したがつて、電流Ｉ、電
圧Ｖの比によつて応動する距離継電器はともか
く、過電流継電器あるいは不足電圧継電器などの
単一入力量の継電器要素などでは、この点検電源
の変動分を考慮に入れた点検入力の設定が必要と
なり、やはり入力回路に対する点検は精度の悪い
ものとなつてしまう。
図に示す様にその整定によつて特性が大きく変わ
るために、点検電流ＩT、電圧ＶTとしてはA′点
及びB′点の様に動作と不動作に大きな差をもたせ
なければならない。つまり、その整定が小なる時
には図示特性１の様に動作範囲が小さくなるの
で、A′点の様な確実に動作となる点検入力を印
加し、また整定が大なる時には図示特性２の様に
動作範囲が大きくなるので、B′点の様な確実に不
動作となる点検入力を印加しなければならない。
したがつて、この様な従来の点検方法では整定に
よつて継電器の特性が大きく変わるため、確実な
点検を行なうには点検電源ＩT、点検電圧ＶTも大
きく変化させて印加しなければならない。このた
め、精度の良い点検を行なえないことになり、継
電器で最も重要な入力回路３Ａ，３Ｂの点検は盲
点となつてしまう。つまり、入力回路３Ａ，３Ｂ
に不良があつても精度の悪い点検方法であるため
に、この不良を発見することができないという欠
点がある。また、上記第１図では１要素のみの距
離継電器構成であつたが、複数の判定部を設けた
多要素形の継電器の点検を行なおうとすると、そ
のための点検電流、点検電圧は各要素毎に夫々対
応したものが必要となり、その点検規模が莫大な
ものになつてしまう。そればかりか、多要素であ
るために点検ステツプが多くなり点検に要する時
間も多大なものとなつてしまう。更に、点検電
流、点検電圧に用いられる電源は通常電気所の所
定電源を用いており、その所内電源は±10〜20％
程度の変動が起り得る。したがつて、電流Ｉ、電
圧Ｖの比によつて応動する距離継電器はともか
く、過電流継電器あるいは不足電圧継電器などの
単一入力量の継電器要素などでは、この点検電源
の変動分を考慮に入れた点検入力の設定が必要と
なり、やはり入力回路に対する点検は精度の悪い
ものとなつてしまう。
この様に、従来の点検方法では継電器の入力回
路に対する点検は非常に精度の悪いものとなつて
しまい、このことは継電器にとつて重要な機能を
果す入力回路の不良を検出することができず、場
合によつては継電器の誤動作、誤不動作等の重大
な事故に継がることになる。すなわち、以上のこ
とが従来の点検方法の大きな欠点であり、今だ解
決策が提案されていないのが実情である。
路に対する点検は非常に精度の悪いものとなつて
しまい、このことは継電器にとつて重要な機能を
果す入力回路の不良を検出することができず、場
合によつては継電器の誤動作、誤不動作等の重大
な事故に継がることになる。すなわち、以上のこ
とが従来の点検方法の大きな欠点であり、今だ解
決策が提案されていないのが実情である。
本発明は上記の様な事情に鑑みて成されたもの
で、その目的は保護継電器特にその入力回路の点
検を極めて高精度にて行なうことができる保護継
電器の点検方法を提供することにある。
で、その目的は保護継電器特にその入力回路の点
検を極めて高精度にて行なうことができる保護継
電器の点検方法を提供することにある。
以下、第４図を参照して本発明の一実施例につ
いて説明する。第４図は、本発明による保護継電
器の点検の概要構成を示すものであり、第１図と
同様な距離継電器の入力回路を点検する場合の例
を示すものである。図において、継電器運用時に
は接点X2，X3は閉じており、また接点X1及びＸT
１〜ＸT4は開いており、継電器７には系統の電流
Ｉ、電圧Ｖを夫々導入する様に構成している。一
方、点検時には接点X1及びＸT1〜ＸT4が閉じ、接
点X2，X3は開いており、継電器７には点検電源
１を印加する様に構成している。また、上記点検
電源１には可変抵抗VR1及びVR2を図示の如く接
続しており、点検時における点検電流ＩT及び点
検電圧ＶTの値を夫々の可変抵抗VR1，VR2によ
つて変化し得る様にしている。継電器７の入力回
路３Ａ，３Ｂは変流器CT、変圧器PT、及びフイ
ルタ回路４によつて構成され、この入力回路３
Ａ，３Ｂの出力V1及びV2を夫々判定部６に導入
して動作判定を行なう。また、この出力V1及び
V2は比較回路８にも導入して、点検時のV1とV2
の値が所定の関係になつているか否かの判定を行
なう。
いて説明する。第４図は、本発明による保護継電
器の点検の概要構成を示すものであり、第１図と
同様な距離継電器の入力回路を点検する場合の例
を示すものである。図において、継電器運用時に
は接点X2，X3は閉じており、また接点X1及びＸT
１〜ＸT4は開いており、継電器７には系統の電流
Ｉ、電圧Ｖを夫々導入する様に構成している。一
方、点検時には接点X1及びＸT1〜ＸT4が閉じ、接
点X2，X3は開いており、継電器７には点検電源
１を印加する様に構成している。また、上記点検
電源１には可変抵抗VR1及びVR2を図示の如く接
続しており、点検時における点検電流ＩT及び点
検電圧ＶTの値を夫々の可変抵抗VR1，VR2によ
つて変化し得る様にしている。継電器７の入力回
路３Ａ，３Ｂは変流器CT、変圧器PT、及びフイ
ルタ回路４によつて構成され、この入力回路３
Ａ，３Ｂの出力V1及びV2を夫々判定部６に導入
して動作判定を行なう。また、この出力V1及び
V2は比較回路８にも導入して、点検時のV1とV2
の値が所定の関係になつているか否かの判定を行
なう。
次に、かかる如く構成した保護継電器の点検方
法について述べる。まず、継電器運用時には接点
X2，X3が閉じており接点X1、及びＸT1〜ＸT4は
開いているため、系統の電流Ｉ及び電圧Ｖが継電
器７の入力回路３Ａ，３Ｂに夫々導入される。そ
して、入力回路３Ａ，３Ｂではこれらが変流器
CT、変圧器PT、及びフイルタ回路４によつて、
それぞれ継電器の動作判定に適した大きさの電気
量に変換される。更に、この入力回路３Ａ，３Ｂ
の出力は判定部６に導入されて継電器の動作判定
が行なわれる。なお、フイルタ回路４は系統の電
流、電圧中に含まれる高調波成分を除去するため
のもので、最近の継電器では多く用いられてい
る。
法について述べる。まず、継電器運用時には接点
X2，X3が閉じており接点X1、及びＸT1〜ＸT4は
開いているため、系統の電流Ｉ及び電圧Ｖが継電
器７の入力回路３Ａ，３Ｂに夫々導入される。そ
して、入力回路３Ａ，３Ｂではこれらが変流器
CT、変圧器PT、及びフイルタ回路４によつて、
それぞれ継電器の動作判定に適した大きさの電気
量に変換される。更に、この入力回路３Ａ，３Ｂ
の出力は判定部６に導入されて継電器の動作判定
が行なわれる。なお、フイルタ回路４は系統の電
流、電圧中に含まれる高調波成分を除去するため
のもので、最近の継電器では多く用いられてい
る。
次に、この継電器７の入力回路３Ａ及び３Ｂが
正常に動作しているか否かの点検を行なう際に
は、接点X1及びＸT1〜ＸT4が閉じて接点X2，X3
が開く。これにより、系統電流Ｉ、電圧Ｖは継電
器７には導入されず点検電源１が継電器７に印加
されることになる。よつて、変流器CTには点検
電源１によつて点検電流ＩTが流れ、これにより
入力回路３Ａの出力にはV1なる値の電圧が発生
する。また、同様に点検電圧ＶTが変圧器PTに印
加されて入力回路３Ｂの出力にはV2なる値の電
圧が発生する。そして、この点検電源１に接続さ
れた各可変抵抗VR1及びVR2の値を変えることに
よつて、上記入力回路出力V1及びV2の値を変化
させることができる。この２つの出力V1及びV2
は、比較回路８に導入されてここで両者の値が比
較される。この比較回路８では、V1とV2の値が
所定の関係にあるか否か、例えば等しいか否かの
判定を行ない、両者の値が等しくない場合には点
検不良出力を送出する。ここでは、V1とV2との
値が等しくなる様に可変抵抗VR1及びVR2を夫々
調整しておく。この様にしておけば、点検時にお
いて入力回路３Ａ及び３Ｂが正常であれば出力
V1とV2の値が等しくなるため、比較回路８から
は点検不良出力は送出されず正常であることが判
定できる。一方、入力回路３Ａ、または３Ｂに何
んらかの不良が発生していれば、点検時に入力回
路３Ａ，３Ｂの出力が変化するのでV1とV2の値
が等しくなくなり、比較回路８からは点検不良出
力を送出して不良であることが判定できる。ま
た、たとえ点検電源１が変動しても、点検電流Ｉ
Tと点検電圧ＶTとは同じ様に変化するため、よつ
て入力回路３Ａ，３Ｂの出力V1とV2も同じ様に
変化し、両者の値の大小関係は変化しないことに
なる。つまり、点検時において点検電源１が変動
しても、入力回路３Ａ，３Ｂが正常であれば入力
回路３Ａ，３Ｂの出力V1とV2の値が等しくなる
ため、比較回路８からは点検不良出力は送出され
ず正常であることが判定できる。そして、入力回
路３Ａまたは３Ｂに不良が発生していれば、V1
とV2の値は等しくなくなるため、点検電源１に
変動が生じても入力回路３Ａ及び３Ｂの不良を検
出することができる。
正常に動作しているか否かの点検を行なう際に
は、接点X1及びＸT1〜ＸT4が閉じて接点X2，X3
が開く。これにより、系統電流Ｉ、電圧Ｖは継電
器７には導入されず点検電源１が継電器７に印加
されることになる。よつて、変流器CTには点検
電源１によつて点検電流ＩTが流れ、これにより
入力回路３Ａの出力にはV1なる値の電圧が発生
する。また、同様に点検電圧ＶTが変圧器PTに印
加されて入力回路３Ｂの出力にはV2なる値の電
圧が発生する。そして、この点検電源１に接続さ
れた各可変抵抗VR1及びVR2の値を変えることに
よつて、上記入力回路出力V1及びV2の値を変化
させることができる。この２つの出力V1及びV2
は、比較回路８に導入されてここで両者の値が比
較される。この比較回路８では、V1とV2の値が
所定の関係にあるか否か、例えば等しいか否かの
判定を行ない、両者の値が等しくない場合には点
検不良出力を送出する。ここでは、V1とV2との
値が等しくなる様に可変抵抗VR1及びVR2を夫々
調整しておく。この様にしておけば、点検時にお
いて入力回路３Ａ及び３Ｂが正常であれば出力
V1とV2の値が等しくなるため、比較回路８から
は点検不良出力は送出されず正常であることが判
定できる。一方、入力回路３Ａ、または３Ｂに何
んらかの不良が発生していれば、点検時に入力回
路３Ａ，３Ｂの出力が変化するのでV1とV2の値
が等しくなくなり、比較回路８からは点検不良出
力を送出して不良であることが判定できる。ま
た、たとえ点検電源１が変動しても、点検電流Ｉ
Tと点検電圧ＶTとは同じ様に変化するため、よつ
て入力回路３Ａ，３Ｂの出力V1とV2も同じ様に
変化し、両者の値の大小関係は変化しないことに
なる。つまり、点検時において点検電源１が変動
しても、入力回路３Ａ，３Ｂが正常であれば入力
回路３Ａ，３Ｂの出力V1とV2の値が等しくなる
ため、比較回路８からは点検不良出力は送出され
ず正常であることが判定できる。そして、入力回
路３Ａまたは３Ｂに不良が発生していれば、V1
とV2の値は等しくなくなるため、点検電源１に
変動が生じても入力回路３Ａ及び３Ｂの不良を検
出することができる。
このように、かかる点検方法とすれば、従来の
様な単なる継電器の動作、不動作による点検とは
異なり、継電器の整定によつて点検電流ＩT、点
検電圧ＶTの値を変える必要がなく、また前述し
た様な多要素形の継電器においても同様の点検を
行ない得るので、入力回路３Ａ，３Ｂの点検を極
めて高精度に行なうことが可能となる。更に、点
検電源１の変動が生じても、上述したように入力
回路３Ａ，３Ｂの点検を高精度に行なうことがで
きその信頼性を大いに向上させることができる。
様な単なる継電器の動作、不動作による点検とは
異なり、継電器の整定によつて点検電流ＩT、点
検電圧ＶTの値を変える必要がなく、また前述し
た様な多要素形の継電器においても同様の点検を
行ない得るので、入力回路３Ａ，３Ｂの点検を極
めて高精度に行なうことが可能となる。更に、点
検電源１の変動が生じても、上述したように入力
回路３Ａ，３Ｂの点検を高精度に行なうことがで
きその信頼性を大いに向上させることができる。
尚、本発明は上記実施例に限られるものではな
く、次のようにしても実施することができるもの
である。
く、次のようにしても実施することができるもの
である。
(1) 上記第４図の説明においては、系統電流Ｉと
点検電流ＩTの切換を接点を用いて行なうよう
にしたものであるが、第５図に示す様に変流器
CTに点検用の巻線を設け、系統電流をキヤン
セルするためのキヤンセルCT９を用いて構成
するようにしてもよい。つまり、点検時には接
点ＸTを開き、ＸT1，ＸT2，ＸT3を閉じること
により、キヤンセルCT９にて系統電流Ｉと点
検電流ＩTとが合成される。そして、この時系
統電流Ｉは点検電流ＩTに対して逆位相にして
流すようにしているため、点検巻線にはＩT−
Ｉの電流が流れる。したがつて、変流器CTで
はＩT−Ｉ＋Ｉ＝ＩTの合成が行なわれるため、
点検電流ＩTのみを流したことと等価になる。
以下、前述と全く同様にして点検を行なうこと
が可能となる。
点検電流ＩTの切換を接点を用いて行なうよう
にしたものであるが、第５図に示す様に変流器
CTに点検用の巻線を設け、系統電流をキヤン
セルするためのキヤンセルCT９を用いて構成
するようにしてもよい。つまり、点検時には接
点ＸTを開き、ＸT1，ＸT2，ＸT3を閉じること
により、キヤンセルCT９にて系統電流Ｉと点
検電流ＩTとが合成される。そして、この時系
統電流Ｉは点検電流ＩTに対して逆位相にして
流すようにしているため、点検巻線にはＩT−
Ｉの電流が流れる。したがつて、変流器CTで
はＩT−Ｉ＋Ｉ＝ＩTの合成が行なわれるため、
点検電流ＩTのみを流したことと等価になる。
以下、前述と全く同様にして点検を行なうこと
が可能となる。
(2) これまでの説明では、判定部６については既
に周知の内容なので特にその説明を行なわなか
つたが、この判定部６としては一般的なアナロ
グ回路による判定部を用いても、或いは、マイ
クロコンピユータ等を用いたデジタル回路によ
る判定部を用いても良い。第６図は、判定部と
してマイクロコンピユータを用いたデジタル保
護継電器による本発明の他の実施例構成を示す
ものである。つまり、系統電流Ｉ、及び電圧Ｖ
は入力回路３Ａ，３Ｂにより適当な大きさの電
気量に変換された後に、アナログ−デジタル変
換器Ａ／Ｄによつてデジタル信号に変換され
る。そして、このデジタルデータがマイクロコ
ンピユータによつて構成された演算処理部
MPUに導入されて、所定の保護演算が行なわ
れる。一方、点検時にはこの入力回路３Ａ，３
Ｂの出力V1及びV2の値が等しいか否かの比較
を行なう様なプログラムにしておけば、前述し
たと全く同様な入力回路３Ａ，３Ｂの点検をソ
フトウエアによつて行なうことができる。ま
た、この場合アナログ−デジタル変換器Ａ／Ｄ
を入力回路３Ａ，３Ｂに含めて考えれば、変換
器CT、変圧器PTからアナログ−デジタル変換
器Ａ／Ｄまでの点検を行ない得ることになる。
に周知の内容なので特にその説明を行なわなか
つたが、この判定部６としては一般的なアナロ
グ回路による判定部を用いても、或いは、マイ
クロコンピユータ等を用いたデジタル回路によ
る判定部を用いても良い。第６図は、判定部と
してマイクロコンピユータを用いたデジタル保
護継電器による本発明の他の実施例構成を示す
ものである。つまり、系統電流Ｉ、及び電圧Ｖ
は入力回路３Ａ，３Ｂにより適当な大きさの電
気量に変換された後に、アナログ−デジタル変
換器Ａ／Ｄによつてデジタル信号に変換され
る。そして、このデジタルデータがマイクロコ
ンピユータによつて構成された演算処理部
MPUに導入されて、所定の保護演算が行なわ
れる。一方、点検時にはこの入力回路３Ａ，３
Ｂの出力V1及びV2の値が等しいか否かの比較
を行なう様なプログラムにしておけば、前述し
たと全く同様な入力回路３Ａ，３Ｂの点検をソ
フトウエアによつて行なうことができる。ま
た、この場合アナログ−デジタル変換器Ａ／Ｄ
を入力回路３Ａ，３Ｂに含めて考えれば、変換
器CT、変圧器PTからアナログ−デジタル変換
器Ａ／Ｄまでの点検を行ない得ることになる。
(3) 第６図の説明では、入力回路３Ａ，３Ｂの点
検をソフトウエアによつて行なうようにした
が、前述の比較回路８を用いて入力回路３Ａ，
３Ｂの出力V1とV2を比較する様にして、ハー
ドウエアによつて点検を行なうようにしても良
いことは明らかである。
検をソフトウエアによつて行なうようにした
が、前述の比較回路８を用いて入力回路３Ａ，
３Ｂの出力V1とV2を比較する様にして、ハー
ドウエアによつて点検を行なうようにしても良
いことは明らかである。
(4) これまでの説明では、継電器の入力電気量と
して電流と電圧の２量を導入する継電器につい
て説明を行なつたものであるが、これに限らず
電流と電流、または電圧と電圧を導入する継電
器についても全く同様な入力回路の点検を行な
い得ることは明らかである。また、２つの電気
量に限らずそれ以上の複数の電気量を導入する
継電器についても、同様に入力回路の点検を行
なうことが可能であることはいうまでもない。
して電流と電圧の２量を導入する継電器につい
て説明を行なつたものであるが、これに限らず
電流と電流、または電圧と電圧を導入する継電
器についても全く同様な入力回路の点検を行な
い得ることは明らかである。また、２つの電気
量に限らずそれ以上の複数の電気量を導入する
継電器についても、同様に入力回路の点検を行
なうことが可能であることはいうまでもない。
(5) これまでの説明では、点検時において説明を
簡単にするために入力回路３Ａ，３Ｂの出力
V1及びV2が等しくなる様に可変抵抗VR1及び
VR2を調整して比較を行なうようにした場合に
ついて述べたものであるが、必ずしも等しくし
ておく必要はない。つまり、出力V1とV2が所
定の比例関係にあり、その比例関係が明らかに
なつていればよい。例えば、点検時にV1＝KV2
となる様にしておき（上記実施例ではＫ＝１の
場合である）、比較回路８では、V1がV2の所定
のＫ倍であるか否かを判定すれば、前述したと
全く同様に高精度に入力回路の点検が可能とな
る。（したがつて、第４図〜第６図における
VR1及びVR2は可変抵抗でなく、固定抵抗ある
いは変成器の様なものであつても良いことは明
らかである。
簡単にするために入力回路３Ａ，３Ｂの出力
V1及びV2が等しくなる様に可変抵抗VR1及び
VR2を調整して比較を行なうようにした場合に
ついて述べたものであるが、必ずしも等しくし
ておく必要はない。つまり、出力V1とV2が所
定の比例関係にあり、その比例関係が明らかに
なつていればよい。例えば、点検時にV1＝KV2
となる様にしておき（上記実施例ではＫ＝１の
場合である）、比較回路８では、V1がV2の所定
のＫ倍であるか否かを判定すれば、前述したと
全く同様に高精度に入力回路の点検が可能とな
る。（したがつて、第４図〜第６図における
VR1及びVR2は可変抵抗でなく、固定抵抗ある
いは変成器の様なものであつても良いことは明
らかである。
その他、本発明はその要旨を変更しない範囲
で、種々に変形して実施することができる。
で、種々に変形して実施することができる。
以上説明した様に本発明によれば、継電器の入
力回路の点検を行なう場合に、継電器の整定や収
納要素によつて点検電源の値を変える必要がな
く、また点検電源の変動が生じても入力回路の点
検を極めて高精度に行なうことが可能となり保護
継電器の信頼度を大幅に向上させることができる
保護継電器の点検方法が提供できる。
力回路の点検を行なう場合に、継電器の整定や収
納要素によつて点検電源の値を変える必要がな
く、また点検電源の変動が生じても入力回路の点
検を極めて高精度に行なうことが可能となり保護
継電器の信頼度を大幅に向上させることができる
保護継電器の点検方法が提供できる。
第１図は距離継電器の構成を示す図、第２図及
び第３図は第１図における特性及び点検方法を説
明するための図、第４図は本発明による保護継電
器の点検方法の一実施例を示す概要構成図、第５
図及び第６図は本発明の他の実施例を示す概要構
成図である。 １……点検電源、３Ａ，３Ｂ……入力回路、４
……フイルタ回路、６……判定部、７……距離継
電器、８……比較回路、９……キヤンセルCT、
CT……変流器、PT……変圧器、X1，X2，X3，
ＸT，ＸT1，ＸT2，ＸT3，ＸT4……接点、VR1，
VR2……可変抵抗、Ａ／Ｄ……アナログ・デジタ
ル変換器。
び第３図は第１図における特性及び点検方法を説
明するための図、第４図は本発明による保護継電
器の点検方法の一実施例を示す概要構成図、第５
図及び第６図は本発明の他の実施例を示す概要構
成図である。 １……点検電源、３Ａ，３Ｂ……入力回路、４
……フイルタ回路、６……判定部、７……距離継
電器、８……比較回路、９……キヤンセルCT、
CT……変流器、PT……変圧器、X1，X2，X3，
ＸT，ＸT1，ＸT2，ＸT3，ＸT4……接点、VR1，
VR2……可変抵抗、Ａ／Ｄ……アナログ・デジタ
ル変換器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 複数の入力回路を有する複入力継電器におい
て、その点検を行なうに際し前記複数の入力回路
に同一点検電源から点検入力を印加し、前記複数
の入力回路の出力の大きさが所定の比例関係にあ
ることを点検するようにして行なう保護継電器の
点検方法。 ２ 交流電流と交流電圧を入力量とした継電器の
入力回路を、特許請求の範囲第１項記載の点検方
法により点検を行なうようにした保護継電器の点
検方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55125764A JPS5752317A (en) | 1980-09-10 | 1980-09-10 | Method of checking protecting relay |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55125764A JPS5752317A (en) | 1980-09-10 | 1980-09-10 | Method of checking protecting relay |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5752317A JPS5752317A (en) | 1982-03-27 |
| JPS6249809B2 true JPS6249809B2 (ja) | 1987-10-21 |
Family
ID=14918239
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP55125764A Granted JPS5752317A (en) | 1980-09-10 | 1980-09-10 | Method of checking protecting relay |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5752317A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59106818A (ja) * | 1982-12-07 | 1984-06-20 | 株式会社東芝 | 保護継電器の点検方法とその装置 |
-
1980
- 1980-09-10 JP JP55125764A patent/JPS5752317A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5752317A (en) | 1982-03-27 |
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