JPS6241643A - 複合周波超音波診断装置 - Google Patents

複合周波超音波診断装置

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JPS6241643A
JPS6241643A JP18128585A JP18128585A JPS6241643A JP S6241643 A JPS6241643 A JP S6241643A JP 18128585 A JP18128585 A JP 18128585A JP 18128585 A JP18128585 A JP 18128585A JP S6241643 A JPS6241643 A JP S6241643A
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JP
Japan
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frequency
doppler
probe
diagnostic apparatus
passband
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JP18128585A
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English (en)
Inventor
康人 竹内
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GE Healthcare Japan Corp
Original Assignee
Yokogawa Medical Systems Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は医用超音波装置に関し、更に詳しくはBモード
イメージング及びパルスドプラの複合装置における信号
採取方式の改良に関する。
(従来の技術) 本質的に独立な2種類の探触子(Bモードイメージング
用とドプラ用の探触子)を強引に1つのプローブ内に収
めたものは別として、木質的に1つの送受波系を成すプ
ローブを用いてBモードイメージングとパルスドプラと
を同時に行おうとした場合、従来の手法によれば両者の
中心周波数は本質的に別々にするわけにはゆかず、与え
られた探触子の通過帯域内にとらざるを得なかった。
実際には、探触子はぜいぜいB/ro;0.7(Bは帯
域幅、foは共1辰の中心周波数)程度にしか製作でき
ず、両「0を離すとしても高々その範囲内であるという
ことである。
現象面からは、イメージングにおいては高分解能が所望
されることから高周波広帯域が要求され、一方パルスド
ブラにおいては繰り返し周波数と観測可能な濃大深度と
から来るナイキストリミットにJ3いて出来る限り高率
のドプラシフト比(即ち視線速度)を曖昧さなく観測可
能なようにそのキャリア周波数を適切な範囲内で可能な
限り低くすることが要求される。
(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、従来の装置ではこの相矛盾する要求を満
たす探触子は実現されておらず、又Bモードイメージン
グとCWドプラとを共存させようとした場合には上記B
/fo≦0.7のシステムでは互いの中心周波数foを
離せないため、時分割的に行う以外は本質的に実現し得
ないという問題があった。
本発明はこのような点に鑑みてなされたもので、その目
的は、イメージング用の中心周波数とパルストアラ用の
中心周波数とを少なくとも2倍以上離すことのできる複
合周波超音波診断装置を実現することにある。
(問題点を解決するための手段) 上記問題点を解決する本発明は、低周波域において中庸
な比帯域幅にて使用可能なパスバンドと中域乃至高域に
わたる周波数領域において広比帯域幅にて使用可能なパ
スバンドとを有する複合周波探触子を有し、前者のパス
バンドにてドプラ計測を行う手段と、後者のパスバンド
にてBモードイメージングを行う手段とを具備したこと
を特徴とするものである。
(実施例) 以下、図面を用いて本発明の実施例を詳細に説明する。
先ず探触子について説明する。第1図は本発明に係る探
触子の一実施例を示ず図である。
図において、1は圧電素子(本実施例ではPZT素板)
で、1a、1bはその電極リードである。
2はソーダガラス、3はトリアセチルロースの整合層で
ある。4はシリコンゴムレンズ(超音波レンズ)である
。PZT素板1の共振特性は、整合層がないとすると、
第2図のようになる。これに整合層2.3を接合して第
3図のような特性となるように形成する。この場合、t
oの方には2層の整合層は影響せず、1枚の不完全な 
1/4波長板に似た働きをする。従って、toの方のピ
ークの幅や高さくQlと変換効率)はPZT素板単独の
場合に等しいと考えてよい。このように形成すると、f
oのピークの方が3fo近傍のなだらがな山よりやや高
めとなり、2fo近辺に谷を有する特性となる。
第4図は探触子の他の実施例を示す図である。
第1図と異なるところはε33の互いに異なる2枚のP
ZT素板11と12を張り合せた点である。
薄い方のPZT素板12を単独で高周波側に 1/2波
長撮動子板となるようにし、2枚合せた厚さでは低周波
(ドアラ用)側で共振するように構成する。PZT素板
12のε33はより小さく、PZT素板11のε33は
より大きい材料で形成すると児かけ工高周波側で電圧感
度を上げることができる。振動子全体としては張り合せ
の界面を放置し両者を直列接続として端面から電気的ア
クセスを行う(り!m面に電極を配設する)。両PZT
月の周波数定数をほぼ同一とし、Tl1−王、2/2と
すれば(T s 1ハP Z T 素k 11 +7)
 Jl ミ、 T12はPZT素板12の厚み)第3図
の特性とほぼ等価になる。ε33の配分により第5図に
示すようにtoと3fo近辺のピーク値を同等にするこ
とができる。
上記は分波特性をPZT素板の共振特性のfoと3fo
に求める手法であるが、整合層(導波層)及びバッキン
グR(反射閤又は吸音材)の一方又は双方の協力により
、単一素板には生じない低域において全体として振動す
るモードで共振を得る手法もある。第6図はそのような
探触子の構造を示すものである。即ち、鉛ガラス2a、
ソーダガラス又は△52S3ガラス2b及びポリスチレ
ン3の3層整合層とし、中高域の特性は適切であるが全
体が同相で振動し最も下のモードで極端なピークを呈す
るような特性(第7図)となるように形成する。各3つ
の層が必要以上に厚すぎ、第3層(ポリスチレン層3)
とシリコンゴムレンズ4(シリコンゴムレンズの音響イ
ンピーダンスはほぼ水従って生体と等価)との間の落差
を大にとるとこのような特性となる。このような製法は
本来は不手際な設計ではあるが本発明の場合にはこれが
好適となる。周波数の配分はほぼ第7図のようになり、
左側の山の部分ではドプラ用、右側の山の部分ではイメ
ージング用に使用されるものとなる。尚PZT素板のf
oはほぼA点のところにある。
第8図は探触子の他の実施例図である。同図の構成は、
圧電素板(単板振動子)の自己の共振周波数「0よりも
更に低い所に探触子としてのパスバンドを生じさせるよ
うに工夫したものである。
PZT素板1はほぼ7.5MHzにfoがあり、整合層
(ソーダガラス3.トリアセチルセルローズ2)は7M
Hzに共振するように形成される。
更にPZT素板1の背面側には、例えばガラス。
アルミナセラミックで成る反射器5及び軽いバッキング
としてのフェライトゴム等で形成された吸音材6が接合
される。この探触子の特徴点は反射器(反射層)5に在
り、これが所望の共振周波数(この場合的3MHz )
において 1/2波長の共振的反射器となり、パスバン
ドを生じせしめる。
しかるに、これが本来の[。(この場合的7.5M+−
12>に悪影響を与えめように、その背面は鋭い凹凸(
ぎざぎざ状)に形成され、約3MH2における反射器と
しての効果の他にその整数倍(3MHzの2,3.・・
・n倍)の周波数における反射能が著しく抑圧されるよ
うになっている。更にこのぎざぎざ端面に吸音材6を接
合することにより高周波での効果を減殺することができ
る。この場合1/2波長となるべき反射層の厚さとは、
その平均厚さのことである。第9図は第8図の変形例で
、単板振動子の背面側に、第10図の機械的等価回路に
示されるスプリング7′とマス8′とに等価な、共振器
を成寸2層7.8を接合したものである。層7はQm 
 (機械的Q)のよい軽い物質、層8は重い物質で形成
される。この2層は、スプリングの作用においてその共
振周波数より高い周波数領域では、その応力は無視でき
、振動子への影響はほとんど生じない。故に、7.5M
H2近辺では単なるエアバッキングと略等価と見なせる
第11図は本発明の複合装置の一実施例を示す構成図で
ある。同図において、10は上記探触子、11は第1の
分波器、12はドプラ用の第2の分波器、13は第1の
パワーアンプ、14は第2のパワーアンプ、15は第1
の受信アンプ、16は第2の受信アンプ、17はCW発
娠器、18は分周器、19は1−リガパルス発生器、2
0はレンジゲート回路、21はドプラ回路、22はイメ
ージング回路、23は信号分析回路、24はスピーカ、
25はディジタルスキャンコンバータ、26は表示装置
である。
第1の分波器11は、送受兼用が可能な受動型のバンド
パスフィルタで、そのパスバンドは約7MHz±1.5
MHzである。第2の分波器12も同様に送受兼用可能
な受動型のバンドパスフィルタで、そのパスバンドは約
3 M Hz±0.5M1−1 zである。
CW発撮器17の出力は分周器18で適宜に分周されト
リがパルス発生器1つの1〜リガ信号となる。トリガパ
ルス発生器19の出力パルスは送波トリガとしてパワー
アンプ13.第1の分波器11を経て探触子に供給され
る。探触子10で得たエコー信号を第1の分波器11及
び受信アンプ15経出でイメージング回路22に導かれ
る。イメージング回路22はこのエコー信号を対数圧縮
し検波し、更に適宜に信号処理され被検体の断層像に対
応した信号に変換される。更にここでビデオ信号に変換
されディジタルスキャンコンバータ25に格納される。
各音線におけるイメージ信号がディジタルスキャンコン
バータ22に格納された後、表示装置26の表示順序に
適した読み出し方式で出力される。
第2のパワーアンプ14にはスイッチSの選択によりC
W発振器17の出力(CW)又はパルス発生器19の出
力(パルス)が入力され、第2の分波器12を通して探
触子10に与えられる。探触子10で受信したドプラ用
の信号は第2の分波器12経出で受信アンプ16に入力
され、その出力はドプラ回路21に与えられる。ドプラ
回路21はCW発振器17のキャリア出力及びレンジゲ
ート回路20の出力(レンジゲート)を参照し、目的深
度における目的周波数に係るドプラ信号を抽出する。ス
ピーカ24ではそのドプラ音をモニタすることができる
。信号分析回路23はドプラ回路より得られた信号を更
に信号処理して目的としたサンプルボリューム中のドプ
ラ信号を周波数分析などして出力する。この分析結果は
ディジタルスキャンコンバータ25に格納され、適宜に
表示装置26に表示される。
このような構成によれば、Bモードイメージング用には
第1の分波器11の回路系を通して送受信が行われ、ド
プラ用には第2の分波器12の回路系を通して送受信が
行われる。本回路系によれば、複周波探触子10に対応
した複周波システムが可能である。Bモードイメージン
グ用とドプラ用とがこの程度に分離されているため、ド
プラシステムとしてはパルスドプラ、CWドプラ兼用が
可能である。
尚、実施例では単−振動子探触子について説明したが、
これに限定されることなく、アレイ探触子の場合も同様
に適用可能である。
(発明の効果) 以上説明したように、本発明によれば、比較的簡単な複
周波探触子とフィルタ分波式の複周波送受信システムを
用゛いることにより、Bモードイメージングとパルスド
プラ又はCWドプラとを独立的に乃至は最適条件を守り
つつ併結することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る複合周波探触子の一実施例の説明
図、第2図はPZTの周波数特性図、第3図、第5図及
び第7図は複合周波探触子の周波数特性図、第4図、第
6図、第8図及び第9図は複合周波探触子の他の実施例
の説明図、第10図は第9図の探触子の機械的等価回路
を示す図、第11図は本発明に係る複合周波超音波診断
装置の一実施例を示す構成図である。 1・・・PZT素板    2,3・・・整合層4・・
・シリコンゴムレンズ 10・・・複合周波探触子 11・・・第1の分波器1
2・・・第2の分波器 13・・・第1のパワーアンプ 14・・・第2のパワーアンプ 15・・・第1の受信アンプ 16・・・第2の受信アンプ 17・・・CW発振器   18・・・分周器1つ・・
・パルス発生器 2o・・・レンジゲート回路 21・・・ドプラ回路 22・・・イメージング回路 23・・・信号分析回路  24・・・スピーカ25・
・・ディジタルスキャンコンバータ26・・・表示装置 第1図 第2図  第3図 第4図 T11 第5図 第6図 第7図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)低周波域において中庸な比帯域幅にて使用可能な
    パスバンドと中域乃至高域にわたる周波数領域において
    広比帯域幅にて使用可能なパスバンドとを有する複合周
    波探触子を有し、前者のパスバンドにてドプラ計測を行
    う手段と、後者のパスバンドにてBモードイメージング
    を行う手段とを具備したことを特徴とする複合周波超音
    波診断装置。
  2. (2)前記複合周波探触子は、厚み共振がf_0で、且
    つその奇数倍においても共振点を呈する圧電素板を用い
    、f_0をドプラ用に3f_0近辺をBモードイメージ
    ング用に用いることができるように形成されたことを特
    徴とする特許請求の範囲第1項記載の複合周波超音波診
    断装置。
  3. (3)前記複合周波探触子は、高周波数にて共振する圧
    電素板に整合層乃至バッキング層が適宜に接合され、高
    域の共振点周辺をBモードイメージング用に使用し、整
    合層乃至バッキング材の接合により生ずる低域の共振点
    近辺をドプラ用に使用できるように形成されたことを特
    徴とする特許請求の範囲第1項記載の複合周波超音波診
    断装置。
JP18128585A 1985-08-19 1985-08-19 複合周波超音波診断装置 Pending JPS6241643A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02136135A (ja) * 1988-11-18 1990-05-24 Toshiba Corp 超音波診断装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5875057A (ja) * 1981-10-30 1983-05-06 Fujitsu Ltd 超音波探触子
JPS59137039A (ja) * 1983-01-28 1984-08-06 株式会社東芝 超音波プロ−ブ
JPS60113598A (ja) * 1983-11-24 1985-06-20 Nec Corp 超音波探触子

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