JPS6238794B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6238794B2 JPS6238794B2 JP11890581A JP11890581A JPS6238794B2 JP S6238794 B2 JPS6238794 B2 JP S6238794B2 JP 11890581 A JP11890581 A JP 11890581A JP 11890581 A JP11890581 A JP 11890581A JP S6238794 B2 JPS6238794 B2 JP S6238794B2
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- JP
- Japan
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- magnetic
- head
- control unit
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- Expired
Links
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 description 9
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 3
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000006247 magnetic powder Substances 0.000 description 2
- 230000009474 immediate action Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B19/00—Driving, starting, stopping record carriers not specifically of filamentary or web form, or of supports therefor; Control thereof; Control of operating function ; Driving both disc and head
- G11B19/02—Control of operating function, e.g. switching from recording to reproducing
- G11B19/04—Arrangements for preventing, inhibiting, or warning against double recording on the same blank or against other recording or reproducing malfunctions
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は磁気記憶装置、特に記憶媒体として円
板状の磁気記憶媒体を回転し、磁気ヘツドがこの
媒体に対して微少空隙を介して移動することによ
り情報の記録、読取を行う磁気記憶装置に関する
ものである。
板状の磁気記憶媒体を回転し、磁気ヘツドがこの
媒体に対して微少空隙を介して移動することによ
り情報の記録、読取を行う磁気記憶装置に関する
ものである。
電子計算機システムの外部記憶装置としては
種々提案されているが、その１つに磁気デイスク
記憶装置がある。かかる磁気デイスク記憶装置は
直接アクセス方式すなわち所望の情報を読み取る
際に端から順番に調べていかなくても、目的のデ
ータを直接取り出すことができるので、磁気テー
プ記憶装置に比べ、すべての情報についてそのア
クセス時間が略一定である。その構成は磁気デイ
スクと呼ばれる円板状の磁気記憶媒体を複数枚集
合してなるデイスクパツクを高速で回転し、かつ
各磁気デイスクに対して磁気ヘツドが微少空隙を
介して対向しながらその径方向に移動することに
よつて、情報の記録・読取が行われる。
種々提案されているが、その１つに磁気デイスク
記憶装置がある。かかる磁気デイスク記憶装置は
直接アクセス方式すなわち所望の情報を読み取る
際に端から順番に調べていかなくても、目的のデ
ータを直接取り出すことができるので、磁気テー
プ記憶装置に比べ、すべての情報についてそのア
クセス時間が略一定である。その構成は磁気デイ
スクと呼ばれる円板状の磁気記憶媒体を複数枚集
合してなるデイスクパツクを高速で回転し、かつ
各磁気デイスクに対して磁気ヘツドが微少空隙を
介して対向しながらその径方向に移動することに
よつて、情報の記録・読取が行われる。
第１図は磁気デイスク記憶装置の概要を示す。
磁気デイスクDSKはスピンドルSPDに固着さ
れ、スピンドルモータSDMによつて定速度回転
される。一方、磁気ヘツドHEDはヘツド駆動部
HDVによつて磁気デイスクDSKの径方向に移動
される。磁気ヘツドHEDは磁気デイスクDSKと
接触することなく微少空隙を介して対向する。デ
バイス制御部DVCはスピンドルモータSDM磁気
ヘツドHEDの移動を制御するとともに、情報の
書込、読取も制御する。そのために位置制御回路
POC、書込読取制御回路RWCを備える。位置制
御回路POCは磁気ヘツドHEDを磁気デイスク
DSK上の所望の位置（トラツクあるいはシリン
ダと言う）に位置決めする。書込読取制御回路
RWCは位置制御回路POCによつて位置決めされ
た位置に情報を記録したりあるいは読み取つたり
するものである。デバイス制御部DVCはチヤネ
ル制御部CHCを介して電子計算機本体（図示せ
ず）に接続され、情報の読み取りは電子計算機本
体からチヤネル制御部CHCに対して読取命令、
アドレス情報を送出することによつて行われる。
チヤネル制御部CHCは読取命令、アドレス情報
を受け取ると、電子計算機本体との制御が切り離
され、独自の制御によつてデバイス制御部DVC
をして情報の読取を行う。磁気ヘツドHEDによ
つて読み取られた情報は書込読取制御回路
RWC、デバイス制御部DVCを介してチヤネル制
御部CHCに転送され、ここにおいて情報の照合
が行われる。照合の方式としては種々の方式が知
られているが、その代表的なものにCRC方式が
ある。CRC方式は情報のチエツク方式として広
く使用されているので、その詳細は省略するが、
本来のデータの他にそのデータと特定の関係を有
するCRCデータをともに記憶せしめておき、読
み取りに際して本来のデータとCRCデータとを
照合することによつて、読取情報の正確さをチエ
ツクするものである。
磁気デイスクDSKはスピンドルSPDに固着さ
れ、スピンドルモータSDMによつて定速度回転
される。一方、磁気ヘツドHEDはヘツド駆動部
HDVによつて磁気デイスクDSKの径方向に移動
される。磁気ヘツドHEDは磁気デイスクDSKと
接触することなく微少空隙を介して対向する。デ
バイス制御部DVCはスピンドルモータSDM磁気
ヘツドHEDの移動を制御するとともに、情報の
書込、読取も制御する。そのために位置制御回路
POC、書込読取制御回路RWCを備える。位置制
御回路POCは磁気ヘツドHEDを磁気デイスク
DSK上の所望の位置（トラツクあるいはシリン
ダと言う）に位置決めする。書込読取制御回路
RWCは位置制御回路POCによつて位置決めされ
た位置に情報を記録したりあるいは読み取つたり
するものである。デバイス制御部DVCはチヤネ
ル制御部CHCを介して電子計算機本体（図示せ
ず）に接続され、情報の読み取りは電子計算機本
体からチヤネル制御部CHCに対して読取命令、
アドレス情報を送出することによつて行われる。
チヤネル制御部CHCは読取命令、アドレス情報
を受け取ると、電子計算機本体との制御が切り離
され、独自の制御によつてデバイス制御部DVC
をして情報の読取を行う。磁気ヘツドHEDによ
つて読み取られた情報は書込読取制御回路
RWC、デバイス制御部DVCを介してチヤネル制
御部CHCに転送され、ここにおいて情報の照合
が行われる。照合の方式としては種々の方式が知
られているが、その代表的なものにCRC方式が
ある。CRC方式は情報のチエツク方式として広
く使用されているので、その詳細は省略するが、
本来のデータの他にそのデータと特定の関係を有
するCRCデータをともに記憶せしめておき、読
み取りに際して本来のデータとCRCデータとを
照合することによつて、読取情報の正確さをチエ
ツクするものである。
このために、チヤネル制御部CHCは照合回路
CHを備えている。計算機本体より読取命令が到
来して読み取られた情報はこの照合回路CHにて
CRCチエツクが行なわれる。照合の結果その読
取情報が正しければその情報を計算機本体に転送
し、１つの情報読取サイクルは終了する。もし
CRCチエツクの結果読取情報が正しくないと判
定された場合、チヤネル制御部CHCはデバイス
制御部DVCに対して同じ領域の情報を再度読み
取るよう指令を発する。もしこのリトライ回数ｍ
が基準値ｎより小さい場合は何回でも読取をトラ
イするが、ｍ＝ｎとなると、その旨の指令がチヤ
ネル制御部CHCから計算機本体に送出され、モ
ニタ用プリンタにエラーメツセージが出力され
る。このとき、デバイス制御部DVCはスピンド
ルモータSDMの回転を継続し、かつ磁気ヘツド
HEDは磁気デイスクDSKとの対向を保持し続け
る。
CHを備えている。計算機本体より読取命令が到
来して読み取られた情報はこの照合回路CHにて
CRCチエツクが行なわれる。照合の結果その読
取情報が正しければその情報を計算機本体に転送
し、１つの情報読取サイクルは終了する。もし
CRCチエツクの結果読取情報が正しくないと判
定された場合、チヤネル制御部CHCはデバイス
制御部DVCに対して同じ領域の情報を再度読み
取るよう指令を発する。もしこのリトライ回数ｍ
が基準値ｎより小さい場合は何回でも読取をトラ
イするが、ｍ＝ｎとなると、その旨の指令がチヤ
ネル制御部CHCから計算機本体に送出され、モ
ニタ用プリンタにエラーメツセージが出力され
る。このとき、デバイス制御部DVCはスピンド
ルモータSDMの回転を継続し、かつ磁気ヘツド
HEDは磁気デイスクDSKとの対向を保持し続け
る。
さて、読取情報の照合の結果、その情報が不正
と判定される要因としては照合回路系、読取回路
系の障害の他に、磁気デイスクDSK、磁気ヘツ
ドHEDの障害がある。すなわち、磁気デイスク
DSKの磁性面のコーテイング不良、ピンホール
の発生、磁気デイスクと磁気ヘツドの接触（これ
をヘツドクラツシユと言う）による磁性面の損傷
等である。これら要因のうちヘツドクラツシユに
よるものは磁性紛の散乱によつてその損傷領域を
他の磁気デイスクまで波及することが考えられる
がコーテイング不良、ピンホールによる障害はそ
のまま処理を実行しても、破損領域の拡大はな
い。そのため、読取情報が不正と判断された場
合、その要因がなんであれ、磁気ヘツドを磁気デ
イスクと対向しない退避位置に強制移動すること
（これをヘツドリトラクトと言う）は得策でな
い。そのために従来はエラーメツセージをオペレ
ータが見て、その時点でヘツドとデイスクの接触
音が生じていると判定された場合に初めてヘツド
リトラクトを行なつていた。この場合オペレータ
がメツセージ出力に対処している間にヘツドクラ
ツシユによる障害が他に波及し、デイスクパツク
全体を使用不能としてしまうこととなる。特にオ
ペレータが直ちに対処できる体制にない場合はこ
の障害が無視できない。
と判定される要因としては照合回路系、読取回路
系の障害の他に、磁気デイスクDSK、磁気ヘツ
ドHEDの障害がある。すなわち、磁気デイスク
DSKの磁性面のコーテイング不良、ピンホール
の発生、磁気デイスクと磁気ヘツドの接触（これ
をヘツドクラツシユと言う）による磁性面の損傷
等である。これら要因のうちヘツドクラツシユに
よるものは磁性紛の散乱によつてその損傷領域を
他の磁気デイスクまで波及することが考えられる
がコーテイング不良、ピンホールによる障害はそ
のまま処理を実行しても、破損領域の拡大はな
い。そのため、読取情報が不正と判断された場
合、その要因がなんであれ、磁気ヘツドを磁気デ
イスクと対向しない退避位置に強制移動すること
（これをヘツドリトラクトと言う）は得策でな
い。そのために従来はエラーメツセージをオペレ
ータが見て、その時点でヘツドとデイスクの接触
音が生じていると判定された場合に初めてヘツド
リトラクトを行なつていた。この場合オペレータ
がメツセージ出力に対処している間にヘツドクラ
ツシユによる障害が他に波及し、デイスクパツク
全体を使用不能としてしまうこととなる。特にオ
ペレータが直ちに対処できる体制にない場合はこ
の障害が無視できない。
本発明はかかる点に鑑みてなされたものであり
読取情報の照合結果その情報が不正と判定された
要因がヘツドクラツシユによるものかあるいは他
の要因によるものかを更に判定し、ヘツドクラツ
シユによるものの場合にはその悪影響が他に波及
するのを未然に防止することを目的としたもので
あり、それは読取情報の照合の結果が不正と判定
された場合に、その情報に隣接する情報を読み取
り照合し、その情報も不正と判定されたとき初め
てヘツドリトラクトすることを特徴とするもので
ある。
読取情報の照合結果その情報が不正と判定された
要因がヘツドクラツシユによるものかあるいは他
の要因によるものかを更に判定し、ヘツドクラツ
シユによるものの場合にはその悪影響が他に波及
するのを未然に防止することを目的としたもので
あり、それは読取情報の照合の結果が不正と判定
された場合に、その情報に隣接する情報を読み取
り照合し、その情報も不正と判定されたとき初め
てヘツドリトラクトすることを特徴とするもので
ある。
以下第３図、第４図に沿つて本発明による磁気
記憶装置を説明する。第３図は本発明による磁気
記憶装置の概要を示す構成図である。第３図にお
いて第１図と同じ構成は同一の参照符号を付して
いる。第１図と異なるのはデバイス制御部DVC
に第１の照合回路CHIを、チヤネル制御部CHC
に第２の照合回路CH２をを有している点であ
る。そして第４図にフローチヤートを示すよう
に、磁気ヘツドHEDによつて読み取られた情報
は前記第１の照合回路CH１，第２の照合回路CH
２にて並行して照合が行なわれる。両方の照合回
路CH１，CH２において照合結果が正しいものと
判定されると、その情報は計算機本体に転送され
読取サイクルは終了する。照合結果が不正と判定
された場合はその回転ｍが基準値ｎと比較され、
ｍ＜ｎの場合は同一の情報を再度読み取り照合さ
れる。ｍ＝ｎの場合はチヤネル制御部CHCはそ
の旨計算機本体に伝達する。これによつて計算機
本体はエラーメツセージを出力するとともに、チ
ヤネル制御部CHCを介してデバイス制御部DVC
にリトライ指令を出力する。デバイス制御部
DVCはリトライ指令を受け取ると、前記不正と
判定された情報が記録されている領域と隣接する
領域の情報の読み取りを行う。この読取情報は今
度は第１の照合回路のみにて照合される。この照
合の結果その情報が正しいと判定された場合はヘ
ツドリトラクトを行うことなく、次の処理に移行
する。すなわちこの場合は前段の情報の乱れはピ
ンホール、コーテイング不良によるものと認識さ
れる。照合回路CH１による照合の結果、隣接す
る領域の情報も不正と判定された場合、初めてヘ
ツドリトラクトが行われる。すなわち、位置制御
回路路POCをして磁気ヘツドHEDを磁気デイス
クDSKと対向しない退避位置まで退避移動させ
る。これと同時にスピンドルモータSDMの回転
も停止せしめる。したがつて磁性粉の散乱による
ヘツドクラツシユの波及が未然に防止されること
となり、デイスクバツクの他のデイスクの情報は
保証される。
記憶装置を説明する。第３図は本発明による磁気
記憶装置の概要を示す構成図である。第３図にお
いて第１図と同じ構成は同一の参照符号を付して
いる。第１図と異なるのはデバイス制御部DVC
に第１の照合回路CHIを、チヤネル制御部CHC
に第２の照合回路CH２をを有している点であ
る。そして第４図にフローチヤートを示すよう
に、磁気ヘツドHEDによつて読み取られた情報
は前記第１の照合回路CH１，第２の照合回路CH
２にて並行して照合が行なわれる。両方の照合回
路CH１，CH２において照合結果が正しいものと
判定されると、その情報は計算機本体に転送され
読取サイクルは終了する。照合結果が不正と判定
された場合はその回転ｍが基準値ｎと比較され、
ｍ＜ｎの場合は同一の情報を再度読み取り照合さ
れる。ｍ＝ｎの場合はチヤネル制御部CHCはそ
の旨計算機本体に伝達する。これによつて計算機
本体はエラーメツセージを出力するとともに、チ
ヤネル制御部CHCを介してデバイス制御部DVC
にリトライ指令を出力する。デバイス制御部
DVCはリトライ指令を受け取ると、前記不正と
判定された情報が記録されている領域と隣接する
領域の情報の読み取りを行う。この読取情報は今
度は第１の照合回路のみにて照合される。この照
合の結果その情報が正しいと判定された場合はヘ
ツドリトラクトを行うことなく、次の処理に移行
する。すなわちこの場合は前段の情報の乱れはピ
ンホール、コーテイング不良によるものと認識さ
れる。照合回路CH１による照合の結果、隣接す
る領域の情報も不正と判定された場合、初めてヘ
ツドリトラクトが行われる。すなわち、位置制御
回路路POCをして磁気ヘツドHEDを磁気デイス
クDSKと対向しない退避位置まで退避移動させ
る。これと同時にスピンドルモータSDMの回転
も停止せしめる。したがつて磁性粉の散乱による
ヘツドクラツシユの波及が未然に防止されること
となり、デイスクバツクの他のデイスクの情報は
保証される。
以上説明したように、本発明によれば読取情報
の照合の結果が不正の場合に直ちにヘツドリトラ
クトすることなく、更にその情報と隣接する領域
の情報を読み取り照合し、その隣接情報も不正と
判定された場合に初めてヘツドリトラクトしたも
のであるから、ヘツドクラツシユが生じたときの
みヘツドリトラクトすることとなり、かつそれが
人手を介することなく自動で行われるのでクラツ
シユによる波及を最小限にすることができる。
の照合の結果が不正の場合に直ちにヘツドリトラ
クトすることなく、更にその情報と隣接する領域
の情報を読み取り照合し、その隣接情報も不正と
判定された場合に初めてヘツドリトラクトしたも
のであるから、ヘツドクラツシユが生じたときの
みヘツドリトラクトすることとなり、かつそれが
人手を介することなく自動で行われるのでクラツ
シユによる波及を最小限にすることができる。
尚、第１の照合回路CH１を設けることなく隣
接情報の照合もチヤネル制御部CHCの照合回路
にて行なつてもよい。
接情報の照合もチヤネル制御部CHCの照合回路
にて行なつてもよい。
第１，２図は従来例であり、第１図は磁気デイ
スク記憶装置の構成を示す概要図、第２図は情報
読取時の手順を示すフローチヤート、第３，４図
は本発明に係り、第３図は磁気デイスク記憶装置
の構成を示す概要図、第４図は情報読取時の手順
を示すフローチヤートである。 図中、DSKは磁気デイスク、HEDは磁気ヘツ
ド、DVCはデバイス制御部、CHCはチヤネル制
御部、CH，CH１，CH２は照合回路を示す。
スク記憶装置の構成を示す概要図、第２図は情報
読取時の手順を示すフローチヤート、第３，４図
は本発明に係り、第３図は磁気デイスク記憶装置
の構成を示す概要図、第４図は情報読取時の手順
を示すフローチヤートである。 図中、DSKは磁気デイスク、HEDは磁気ヘツ
ド、DVCはデバイス制御部、CHCはチヤネル制
御部、CH，CH１，CH２は照合回路を示す。
Claims (1)
- １ 円板状の磁気記憶媒体を回転するとともに、
該媒体と微少空隙を介して対向し、その径方向に
磁気ヘツドを移動することによつて情報の磁気的
な記録あるいは読取を行う磁気記憶装置におい
て、前記磁気ヘツドからの読取情報を照合する情
報照合部を有し、読取情報の照合結果が不正のと
き、該情報が記録されている領域に隣接する領域
の情報を読取照合し、該情報の照合結果が不正の
ときに前記磁気ヘツドを前記媒体と対向しない退
避位置に強制移動することを特徴とした磁気記憶
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11890581A JPS5819765A (ja) | 1981-07-28 | 1981-07-28 | 磁気記憶装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11890581A JPS5819765A (ja) | 1981-07-28 | 1981-07-28 | 磁気記憶装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5819765A JPS5819765A (ja) | 1983-02-04 |
| JPS6238794B2 true JPS6238794B2 (ja) | 1987-08-19 |
Family
ID=14748063
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11890581A Granted JPS5819765A (ja) | 1981-07-28 | 1981-07-28 | 磁気記憶装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5819765A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0339866B2 (ja) * | 1985-10-17 | 1991-06-17 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5872670A (en) * | 1997-02-07 | 1999-02-16 | Quantum Corporation | Methods and apparatus for preventing disk drive damage by parking a transducer during microprocessor failures |
| US7492541B2 (en) * | 2006-03-31 | 2009-02-17 | Panasonic Corporation | Apparatus and method of monitoring hard disk drive |
-
1981
- 1981-07-28 JP JP11890581A patent/JPS5819765A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0339866B2 (ja) * | 1985-10-17 | 1991-06-17 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5819765A (ja) | 1983-02-04 |
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