JPS6238310A - 測距装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は測距装置に関し、特に測距対象からの反射光パ
ルスに基づいて測距結果を得るようにした測距装置、例
えばカメラ等において用いられる測距装置に適用して好
適なものである。

〔従来の技術〕

従来、カメラなどの測距装置として、いわゆる三角測距
手法に基づくものが用いられている。この種の測距装置
は、カメラ本体に設けられた測距光源例えばＬＥＤから
測距用光パルスを測距対象に向けて発射し、測距対象に
おいて反射してカメラ本体に戻ってきた反射光パルスを
、測距光源と並んで基線長だけ離れた位置に配設された
受光素子列に受光し、受光素子列のうち受光位置にある
受光素子において得られた検出信号に基づいて、カメラ
本体から測距対象までの距離を測距するようになされて
いる。

〔発明が解決しようとする問題点〕

ところがこの種の測距装置においては、反射光パルスを
用いて測距動作をすることを原理としているために、受
光素子が反射光パルスを受光する際に、雑音光（例えば
蛍光灯などの照明及びその照明が測距対象及びそれ以外
の物体に反射して発生する反射光）が反射光パルスと共
に受光素子に入射して雑音として検出されるおそれがあ
る。

かかる照明及びその照明による反射光による雑音光を除
去するために、従来カメラ本体の受光部の前面に可視光
除去用フィルタを介挿することにより雑音光を除去した
り、測距光源から発射される測距光パルスとして変調光
を用いる方法が提案されている。

しかし可視光除去用フィルタによって雑音光を除去し得
たとしても、雑音光にはかなりの量の赤外光成分が含ま
れており、この赤外光成分を除去できない問題がある。

また測距光パルスとして変調光を用いた場合には、測距
信号の周波数成分のみを抽出するための回路構成が複雑
になることを避は得ない。特に多数のコンデンサを必要
とするために、測距装置をＩＣ化することが困難になり
、しかも測距時間が長くなる（数１００　（ｍｓ）程度
）ことを避は得ない欠点がある。

本発明は以上の点を考慮してなされたもので、簡易な構
成によって測距対象からの反射光パルスと共に受光手段
に入射する雑音光に周期性がある場合にはこの周期性を
利用して雑音光に基づく雑音を有効に除去し得るように
した測距装置を？Ｅ案しようとするものである。

〔問題点を解決するための手段〕

かかる問題点を解決するため本発明においては、測距光
パルス発生手段２６から発射された測距光パルスＬＤＰ
を測距対象によって反射させ、当該反射光パルスＲＬＰ
を受光手段１２Ａ、１２Ｂ・・・・・・において受光し
、反射光パルスＲＰＬに基づいて測距対象までの距離を
測距する測距装置において、雑音光源から発生される周
期性雑音光パルスＬＮの周期に対応する時間幅をもつ雑
音検出区間Ｔ１を表す第１の時間信号Ｓ２を発生する第
１の時間信号発生手段（１１，４１）と、この第１の時
間信号発生手段（１１，４１）において第１の時間信号
Ｓ２が発生されている間に雑音光パルスＬＮを受光した
とき、雑音除去区間Ｔ２を表す第２の時間信号Ｓ６を発
生する第２の時間信号発生手段（２３，４１）と、第２
の時間信号Ｓ６が発生したとき雑音除去区間Ｔ２が経過
した時点ｔ。

において測距光パルス発生手段２６を駆動して測距光パ
ルスＬＤＰを発生させ、又は第１の時間信号Ｓ２の雑音
検出区間Ｔ１の間に第２の時間信号が発生しなかったと
き、第１の時間信号Ｓ２の雑音検出区間Ｔ１が経過した
時点ｔ４において測距光パルス発生手段２６を駆動して
測距光パルスＬＤＰを発生させる測距光パルス発生制御
手段（２０，３１，４１）とを設けるようにする。

〔作用〕

雑音検出区間ＴＩの間に雑音光パルスＬＮが発生しなか
ったとき、測距光パルス発生制御手段（２０，３１，４
１）は当該雑音検出区間Ｔ１が経過した時点ｔ４におい
て測距光パルスＬＤＰを発生させることにより、測距対
象から反射されてくる反射光パルスＲＬＰに基づいて測
距対象までの距離を測距することができる。

これに対して雑音検出区間Ｔ１の間に雑音光パルスＬＮ
が到来したとき、測距光パルス発生制御手段（２０，３
１４１）は、第２の時間信号Ｓ６を発生させて当該雑音
除去区間Ｔ２が経過した時点ｔ、において測距光パルス
ＬＤＰを発生させる。このとき得られる反射光パルスＲ
ＬＰは、測距光パルスＬＤＰが周期性雑音光パルスＬＮ
の発生直後に発生するようにしたことにより、順次周期
的に発生する雑音光パルスＬＮの間に受光することにな
るので、実用上雑音光パルスＬＮの影響を受けずに反射
光パルスＲＬＰによる測距をなし得る。かくして安定か
つ高い精度で測距できる測距装置を得ることができる。

〔実施例〕

以下図面について本発明の一実施例を詳述する。

第１図は本発明の原理を示すもので、時点Ｌ０において
シャッタボタンが操作されると、初期立上り時間Ｔｏが
経過した時点ｔ１において、雑音検出区間Ｔ１が開始さ
れる。

初期立上り時間ＴＯは、測距回路系が安定するまでに必
要な時間で、測距回路系の電源は、無駄な消費を抑える
ために常時は電源をオフ状態に維持されているのに対し
て、シャックボタンが操作された時点ｔ０において電源
を投入し、その後立上り時間ＴＯの間に測距回路を定常
動作状態に立ち上げるようになされている。

また雑音検出区間Ｔ１は、現在雑音として除去しようと
している螢光灯などの照明雑音及び蛍光灯の光が測距対
象及びそれ以外の物体に反射して生ずる反射光雑音が周
期性光パルスである点に着目して、反射光パルスに雑音
光（照明雑音及び反射光雑音）が重畳したとき、雑音検
出区間Ｔ１の間に当該周期性光パルスでなる雑音光が１
回は発生するような値に予め選定され、かくして反射光
パルスに雑音光が重畳している場合には、必ず雑音検出
区間Ｔ１の間に当該雑音光パルスが混入するようになさ
れている。

因に測距対象の背景にある雑音光源としての照明が蛍光
灯である場合、蛍光灯は、商用電源の周期ごとに点滅す
る際に赤外光を含んだ比較的短い時間の間周期性光雑音
を発生する。従って日本国内について考えれば、関東地
方の商用電源は５０〔１１ｚ）であることから、これに
対応させて例えば５０（Ｈｚ）の２倍の周期すなわち１
０　（ｍｓ）程度の雑音検出区間Ｔ１を選定しておけば
、反射パルス光に照明雑音が重畳している場合には、当
該照明雑音が必ず雑音検出区間Ｔ１の間に発生すること
になる。なお関西地方の商用電源は６０〔■２〕であり
、その周期は８．３　（＋ｍｓ）であるから、この商用
電源によって駆動されている蛍光灯が雑音光源であった
としても、雑音検出区間Ｔ１の間に必ず１回は照明雑音
が発生することになる。

本発明においては、雑音検出区間Ｔ１の間の時点１ｔに
おいて雑音光パルスＬＮが発生した場合には、第１図（
Ｂ）に示すように当該雑音光パルスが発生してから消滅
するまでの雑音区間より僅かに大きい雑音除去区間Ｔ２
が経過した時点ｔ３において第１図（Ｃ）に示すような
測距光パルスＬＤＰを発生させる。

その結果受光素子列には第１図（Ｉ３）に示すように反
射光パルスＲＬＰが到来するが、測距光パルスＬＤＰが
雑音光パルスＬＮがすでに消滅している時点で発生され
ることにより、今回の雑音光パルスＬＮが発注した後、
次の雑音光パルスが発生されるまでの間に反射光パルス
ＲＬＰが戻って来るようにすることができる。従って当
該反射光パルスＲＬＰに基づく検出信号は、商用電源の
周期に基づいて発生する雑音光パルスＬＮの短い時間内
に必ず発生することになり、これにより測距装置は雑音
光パルスＬＮの影響を受けずに測距することができる。

以上は蛍光灯による周期性雑音光パルスが反射光パルス
に重畳している場合について述べたが、雑音光パルスが
存在していない場合には、第１図（Ｅ）に示すように、
測距光パルスＬＤＰを雑音検出区間Ｔ１が終了した時点
ｔ４において発生させる。この結果得られる反射光パル
スＲＬＰ　（第１図（Ｆ））には、雑音光パルスＬＮが
重畳することはないので正しい測距動作を得ることがで
きる。

第２図はかかる動作原理に基づいて構成された本発明に
よる測距装置の第１の実施例を示すもので、この場合測
距装置は、雑音検出区間ＴＩを設定するための第１のタ
イマ１１を有する。この第１のタイマ１１は、モノマル
チバイブレークで構成され、第１図において、立上り時
間ＴＯが経過した時点１．においてカメラ本体側から供
給される測距指令信号Ｓ１によってトリガされ、その出
力端に第１図（Ａ）に示すように雑音検出区間Ｔ１の間
論理「１」レベルに立ち上がる第１の時間信号Ｓ２を送
出する。この時間信号Ｓ２は受光素子列を構成する複数
の受光素子１２Ａ、１２Ｂ・・・・・・を含んでなる受
光回路１３Ａ、１３Ｂ・・・・・・の出力ゲート回路１
４Ａ、１４Ｂ・・・・・・に開制御信号として与えられ
る。

第２図において、受光回路１３Ａ、１３Ｂ・・・・・・
は受光素子１２Ａ、１２Ｂ・・・・・・において反射光
パルスＲＬＰを受光したとき、その検出信号を増幅回路
１５Ａ、１５Ｂ・・・・・・を介して比較回路１６Ａ１
１６Ｂ・・・・・・の非反転入力端に入力し、反転入力
端に供給されている基準信号Ｖえと比較され、反射光パ
ルスＲＬＰを受光したとき比較回路１６Ａ５１６Ｂ・・
・・・・の出力端に論理「１」レベルの検出信号Ｓ３Ａ
、５３Ｂ・・・・・・を発生して出力ゲート回路１４Ａ
、１４Ｂ・・・・・・に与えるようになされている。

かくして受光回路１３Ｎ、１３Ｂ・・・・・・は時間信
号Ｓ２が論理「１」レベルになっている雑音検出区間Ｔ
１の間に受光素子１２Ａ、１２Ｂ・・・・・・から受光
出力が得られたとき、出力ゲート回路１４Ａ、１４Ｂ・
・・・・・から論理「１」レベルの出力信号Ｓ４Ａ、３
４Ｂ・・・・・・を送出する。

このようにして受光回路１３Ａ、１３１３・・・・・・
において検出信号Ｓ３Ａ、３３Ｂ・・・・・・が得られ
たとき、この検出信号Ｓ３Ａ、３３Ｂ・・・・・・は測
距演算回路１７に供給されて測距演算処理される。

受光回路１３Ａ、１３Ｉ３・・・・・・の出力信号Ｓ４
Ａ、３４Ｂ・・・・・・は第１の測距光パルス発生制御
回路２０のオア回路２１を通じてフリップフロップ回路
構成のラッチ回路２２に供給され、そのＱ出力でなるラ
ッチ出力Ｓ５が雑音除去区間設定用タイマ２３にトリガ
信号として与える。雑音除去区間設定用タイマ２３は例
えばモノマルチバイブレークで構成され、ラッチ出力Ｓ
５の論理「０」レベルから「１」レベルへの立上りによ
ってトリガされ、時間信号Ｓ６を送出する。この時間信
号Ｓ６は、第１図（Ｄ）に示すように、雑音除去区間Ｔ
２の間論理「１」レベルに立ち上がる。この時間信号Ｓ
６はインバータ２７によって反転されてオア回路２４に
よって与えられ、この反転信号Ｓ７の立上りによって発
光駆動回路２５をトリガし、これにより例えばＬＥＤで
なる測距光パルス発生素子２６を発光動作させることに
より、所定パルス幅の測距光パルスＬＤＰ　（第１図（
Ｃ））を発生させる。

以上の構成は、雑音検出区間Ｔ１の間に雑音光パルスＬ
Ｎが到来したとき応動動作する回路部分であるが、これ
に加えて第１図の測距装置は雑音検出区間Ｔ１の間に雑
音光パルスＬＮが発生しなかったとき、測距光パルスＬ
ＤＰを発生させるための構成として第２の測距光パルス
発生制御回路３１を有する。この測距光パルス発生制御
回路３１は、雑音検出区間設定用タイマ１１の時間信号
Ｓ２をインバータ３２を通じて第１の入力条件として受
ける２人カアンド回路３３を有し、その第２の入力条件
信号としてラッチ回路２２のラッチ出力Ｓ５をインバー
タ３４を介して受ける。

これにより、雑音検出区間Ｔ１の間にラッチ回路２２が
ラッチ動作しなかったとき（すなわち雑音光パルスＬＮ
が到来しなかったとき）ラッチ出力Ｓ５が論理ｒＯＪレ
ベルを維持する状態にあるので、時間信号Ｓ２が論理「
１」レベルから論理「０」レベルに立ち下がった時、そ
の立下り時点ｔａ　　（第１図）において論理「１」レ
ベルに立ち上がる制御出力Ｓ８をオワ回路２４を介して
発光駆動回路２５に供給し、これにより、測距光パルス
発生素子２６から測距光パルスＬＤＰ　（第１図（Ｅ）
）を発生させる。

第２図の構成において、第１図の時点ｔ０でカメラ本体
のシャッタボタンが操作されると、立上り時間Ｔｏ　（
第１図）が経過した時点ｔ、において、測距指令信号ｓ
ｉが到来する。このとき雑音検出区間設定用タイマ１１
がトリガされて時間信号Ｓ２（第１図（Ａ））が論理「
１」レベルに立ち上がって受光回路１３Ａ、１３１３・
・・・・・の出力ゲート回路１４Ａ、１４Ｂ・・・・・
・を開状態に制御する。

この状態において第１図（Ｂ）について上述したように
、雑音光パルスＬＮが受光素子１２Ａ、１２Ｂ・・・・
・・に到来すれば、これに応じて比較回路１６Ａ、１６
Ｂ・・・・・・の出力端に検出信号Ｓ３Ａ。

３３Ｂ・・・・・・が発生し、この検出信号Ｓ３Ａ、３
３Ｂ・・・・・・が出力ゲート回路１４Ａ、１４Ｂ・・
・・・・を通じ、さらにオワ回路２１を通じてラッチ回
路２２をラッチ動作させる。かくしてラッチ出力Ｓ５が
論理「１」レベルに立ち上がると、その立上りによって
雑音除去区間設定用タイマ２３がトリガされて時間信号
Ｓ６（第１図（Ｄ））が第１の測距光パルス発生制御回
路２０側の出力としてインバータ２７によって反転され
た後オア回路２４を通じて発光駆動回路２５に供給され
る。

これにより測距光パルス発生素子２６は、雑音光パルス
ＬＮが到来した時点１１　　（第１図）から雑音除去区
間Ｔ２だけ経過した時点ｔ３において時間信号Ｓ６が論
理「１」レベルから「０」レベルに立ち下がることによ
り、測距光パルスＬＤＰ（第１図（Ｃ））を発生する。

その結果測距対象から反射してきた反射光パルスＲＬＰ
が受光素子１２Ａ、１２Ｂ・・・・・・のうち測距距離
に対応する受光素子に入射することにより、当該受光回
路１３Ａ、１３Ｂ・・・・・・の比較回路１６Ａ、１６
Ｂ・・・・・・から得られる検出信号Ｓ３Ａ、Ｓ３Ｂ・
・・・・・が測距演算回路１７に与えられることにより
、測距演算が実行される。

これに対して雑音光パルスＬＮが存在しない場合には、
雑音検出区間Ｔ１の間に受光回路１３Ａ、１３Ｂ・・・
・・・の受光素子１２Ａ、１２Ｂ・・・・・・に雑音光
パルスＬＮが到来しないので、雑音検出区間ＴＩが経過
するまでの間ラッチ回路２２はラッチ動作することがな
く、区間Ｔ１が経過した時点ｔ４において時間信号Ｓ２
が論理「０」レベルに立ち下がることにより、受光回路
１３Ａ、１３Ｂ・・・・・・の出力ゲート回路１４Ａ、
１４Ｉ３・・・・・・は閉制御され、かくして第１の測
距光パルス発生制御回路２０から発光駆動回路２５に対
して駆動信号が与えられない。

ところがこの場合には、ラッチ回路２２のラッチ出力Ｓ
５は論理「０」レベルを維持した状態になっているので
、時間信号Ｓ２が時点ｔ４において論理「０」レベルに
立ち下がった時、アンド回路３３の出力端に論理「１」
レベルに立ち上がる制御出力Ｓ８が得られ、この立上り
によって発光駆動回路２５が駆動されて測距光パルス発
生素子２６から測距光パルスＬＤＰが発生され（第１図
（Ｅ））　、かくして受光回路１３Ａ、１３Ｂ・・・・
・・のうち、測距対象までの距離に対応する受光素子１
２Ａ、１２Ｂ・・・・・・に反射光パルスＲＬＰ（第１
図（Ｆ））が到来することにより、その検出信号Ｓ３Ａ
、３３Ｂ・・・・・・に基づいて測距演算回路１７にお
いて測定演算が実行される。

このようにして第２図の構成によれば、測距対象の周囲
に照明があって、雑音光パルスＬＮが到来した場合には
、雑音除去区間Ｔ２だけ経過した時点ｔ、で時間信号ｓ
６に基づいて測距光パルスＬＤＰを発生させるようにし
たことにより、周期性をもつ雑音光パルスの影響を受け
ない区間の間に、測距動作をなし得ることにより、実用
上雑音光の影響を有効に回避しなから測距データを得る
ことができる。

第３図は本発明による測距装置の第２の実施例を示すも
ので、第２図との対応部分に同一符号を付して示すよう
に、受光回路１３Ａ、１３Ｂ・・・・・・の検出信号Ｓ
３Ａ、３３Ｂ・・・・・・をマイクロコンピュータ構成
の中央処理ユニット（ＣＰＵ）４１に受けると共に、発
光駆動回路２５に対してＣＰＵ４１から制御信号Ｓｌｌ
を送出することにより、測距光パルス発生素子２６から
測距光パルスＬＤＰを発生させるようになされている。

ＣＰＵ４１は、第４図の測距処理手順に従って測距デー
タを取り込む。

すなわちＣＰＵ４１はステップＳＰＩにおいて測距プロ
グラムをスタートし、ステップＳＰ２において内蔵する
時間演算用レジスタ４２に雑音検出区間演算値Ｎ１をロ
ードする。

ここで雑音検出区間演算値Ｎ１は、第１図（Ａ）につい
て上述した雑音検出区間Ｔ１をＣＰＵ４１の演算によっ
て計時するために設定される値で、次式 によって表される数値でなる。ここでＴＬはＣＰＵ４１
のループ演算時間を表し、かくして雑音検出区間演算値
Ｎ１は、ＣＰＵ４１が雑音検出区間ＴＩの間にループ演
算するに要するループ演算回数を意味している。

続いてＣＰＵ４１は、ステップＳＰ３に移って受光回路
１’３Ａ、１３Ｂ・・・・・・が検出信号Ｓ３Ａ、Ｓ３
Ｂ・・・・・・を出力してい喝か否か、すなわち雑音光
パルスＬＮがあるか否かの判断をする。ここで否定結果
が得られると、ＣＰＵ４１はステップＳＰ４に移って時
間演算用レジスタ４２の内容Ｒからｒ−ＩＪを減算して
Ｒ−１に設定した後、ステップＳＰ５において時間演算
用レジスタ４２の内容Ｒが０になったか否かの判断をす
る。ここで否定結果が得られるとＣＰＵ４１は上述のス
テップＳＰ３に戻り、かくして１回のループ演算を終了
する。

このように１回のループ演算が終了すると、ＣＰＵ４１
は、ループ演算時間ＴＬだけ時間を計時したことを意味
する。かかるループ演算は、受光回路１３Ａ、１３Ｂ・
・・・・・から雑音光パルスＬＮが得られるまで続けら
れ、従って以下同様にしてＣＰＵ４１はステップ５Ｐ３
−ＳＦ３−３Ｐ５−３Ｐ３の演算ループを通じて時間演
算用レジスタ４２の内容Ｒから繰り返し「−１」演算を
実行して行き、かくして１回のループ演算を繰り返すご
とにその演算時間ＴＬだけ計時動作して行く。

やがて時間演算用レジスタ４２の内容Ｒが０になると、
ＣＰＵ４１はこれをステップＳＰ５において肯定結果を
得ることにより検出し、ステップＳＰ６に移って制御信
号Ｓｌｌを発光駆動回路２５に供給することにより、測
距光パルスＬＤＰを測距光パルス発生素子２６から発生
させた後その反射光パルスＲＬＰを受光回路１３Ａ、１
３Ｂ・・・・・・において受光することにより得られる
検出信号Ｓ３Ａ、３３Ｂ・・・・・・に基づいて測距演
算を実行する。かくしてＣＰＵ４１は、ステップＳＰ８
において当８亥プログラムを終了する。

このようにしてＣＰＵ４１はステップ５Ｐ３−３Ｐ４−
ＳＦ３−３Ｐ３のループによって第１図について上述し
た雑音検出区間Ｔ１を演算し、当該雑音検出区間Ｔ１が
経過した時点ｔ４においてステップＳＰ６、ＳＰ？にお
いて測距光パルスＬＤＰ（第１図（Ｅ））を発生し、そ
の反射光パルスＲＬＰ　（第１図（Ｆ））を受光するこ
とができ、かくして雑音光がないときには、雑音検出区
間Ｔ１の経過後に測距動作を実行し得る。

上述のステップ５Ｐ３−３Ｐ４−３Ｐ５−３Ｐ３の演算
ループを介して区間Ｔ１の計時動作を実行している間に
、ステップＳＰ３において雑音光パルスＬＮが受光回路
１３Ａ、１３Ｂ・・・・・・のいずれか１つに到来した
ことを検出すると、ＣＰＵ４１はステップＳＰ３におい
て肯定結果を得てステップ５ＰＩＩに移って雑音検出フ
ラグＦＬＡＧが論理「０」であるか否かの判断をする。

ここで雑音検出フラグＦＬＡＧは、初期状態においては
論理「０」に設定されており、従ってＣＰＵ４１は当該
プログラムが開始した後、最初の雑音光パルスＬＮが発
生した時、ステップ５ＰＩｌにおいて肯定結果を得て次
のステップ５Ｐ１２に移る。このステップ５Ｐ１２は雑
音検出フラグＦＬＡＧを強制的に論理「１」に設定する
ステップで、かくしてＣＰＵ４１は当該プログラムを開
始した後、雑音光パルスＬＮが基準レベル■１を越えた
最初のタイミングにだけステップ５ＰＩＩにおいて肯定
結果を得ることができ、かつその後の時点においては否
定結果を得ることになる。

ＣＰＵ４１は続くステップ５Ｐ１３において、時間演算
用レジスタ４２の内容Ｒを雑音除去区間演算値Ｎ２に入
れ換える。ここで雑音除去区間演算値Ｎ２は、雑音除去
区間Ｔ２の間にＣＰＵ４　ｔがループ演算することがで
きる演算回数を表す数値で、次式、 により求められる。かくしてＣＰＵ４１がＮ２回だけル
ープ演算を繰り返したとき雑音除去区間Ｔ２を計時でき
るようになされている。

ＣＰＵ４１はステップ５Ｐ１３において時間演算用レジ
スタ４２を雑音除去区間演算値Ｎ２に設定し終わると、
続いて上述のステップＳＰ４に移ってステップ５Ｐ４−
３Ｐ５−３Ｐ３−ＳＰＩ　１−３Ｐ４−３Ｐ５の演算ル
ープによって時間演算用レジスタ４２の内容を「−１」
ずつ減算して行くようなループ演算を実行する。このこ
とはＣＰＵ４１が雑音除去区間Ｔ２の時間を計時してい
る状態にあることを意味しており、やがてステップＳＰ
５において肯定結果が得られたとき、ステップＳＰ６に
おいて測距光パルスＬＤＰを発生し、続いてステップＳ
Ｐ７において反射光パルスを取り込んで測距演算を実行
する。かくしてＣＰＵ４１はステップＳＰ８において当
該プログラムを終了する。

このようにしてＣＰＵ４１は、雑音検出区間Ｔ１の間に
雑音光パルスＬＮが到来したときには、時間演算用レジ
スタ４２に強制的に雑音除去区間演算値Ｎ２を設定する
ことによって計時時間をＴ１からＴ２に切り換える。そ
の結果雑音除去区間Ｔ２が経過した時点ｔｓ　　（第１
図）において、測距光パルスＬＤＰを発生させ（第１図
（Ｃ））、その反射光パルスＲＬＰ　（第１図（Ｂ））
に基づいて測距演算をすることができる。

ここで第１図について上述したように、雑音除去区間Ｔ
２の間に受光回路１３Ａ、１３Ｂ・・・・・・に到来す
る雑音光パルスＬＮは消滅するので、時間Ｔ２経過した
時点ｔ、直後に到来する反射光パルスＲＬＰには雑音光
パルスＬＮの影響が生じないことにより、雑音光が存在
していたとしても、その影響を受けずに測距結果を得る
ことができる。

なお上述においては、時間信号発生手段としてタイマ１
１．２３の計時動作、又はＣＰＵ４１のループ演算時間
ＴＬを利用するようにしたが、これに限らず種々の構成
のものを適用しても良い。

また雑音光として測距対象の周囲にある蛍光灯などの照
明雑音及びその蛍光灯の光が測距対象及びそれ以外の物
体に反射して生ずる反射光雑音を除去するようにした実
施例について述べたが、雑音光としてはこれに限らず要
は、周期性雑音光パルスを発生する光源が測距対象の周
囲にある場合に広く適用し得る。

さらに上述の実施例においては測距方法として、三角測
距手法を用いた場合の実施例について述べたが、本発明
はこれに限らず、測距対象から反射して戻ってくる反射
光パルスに基づいて測距対象までの距離を測距する場合
に広く適用し得る。

〔発明の効果〕

以上のように本発明によれば、測距対象の周囲にたとえ
雑音光源があっても、雑音光が周期性パルスの性質をも
っているものであれば、実用上その影響を受けないで測
距動作をなし得る測距装置を容易に得ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の原理を示す信号波形図、第２図は本発
明による測距装置の一実施例を示すブロック図、第３図
は本発明の他の実施例を示すブロック図、第４図は第３
図の動作を示すフローチャートである。 １１・・・・・・雑音検出区間設定用タイマ、１２Ａ、
１２Ｉ３・・・・・・受光素子、１３Ａ、１３Ｂ・・・
・・・受光口　−路、１−７・・・・・・測距演算回路
、２０・・・・・・測距光パルス発生制御回路、２５・
・・・・・発光駆動回路、２６・・・・・・測距光パル
ス発光素子、３１・・・・・・測距光パルス発生制御回
路、４１・・・・・・ＣＰＵ、４２・・・・・・時間演
算用レジスタ。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 測距光パルス発生手段から発射された測距光パルスを測
   距対象によつて反射させ、当該反射光パルスを受光手段
   において受光し、上記反射光パルスに基づいて上記測距
   対象までの距離を測距する測距装置において、 雑音光源から発生される周期性雑音光パルスの周期に対
   応する時間幅をもつ雑音検出区間を表す第１の時間信号
   を発生する第１の時間信号発生手段と、 上記第１の時間信号発生手段において上記第１の時間信
   号が発生されている間に上記受光手段が上記雑音光パル
   スを受光したとき、雑音除去区間を表す第２の時間信号
   を発生する第２の時間信号発生手段と、 上記第１の時間信号の上記雑音検出区間の間に上記雑音
   光パルスを受けたとき、上記第２の時間信号を発生して
   当該雑音除去区間が経過した時点において上記測距光パ
   ルス発生手段を駆動して上記測距光パルスを発生させ、
   又は上記第１の時間信号の上記雑音検出区間の間に上記
   第２の時間信号が発生しなかつたとき、上記第１の時間
   信号の上記雑音検出区間が経過した時点において上記測
   距光パルス発生手段を駆動して上記測距光パルスを発生
   させる測距光パルス発生制御手段と を具えることを特徴とする測距装置。