JPS623658A - 超音波による力学的異方性測定用試料ホルダ− - Google Patents
超音波による力学的異方性測定用試料ホルダ−Info
- Publication number
- JPS623658A JPS623658A JP60143185A JP14318585A JPS623658A JP S623658 A JPS623658 A JP S623658A JP 60143185 A JP60143185 A JP 60143185A JP 14318585 A JP14318585 A JP 14318585A JP S623658 A JPS623658 A JP S623658A
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- JP
- Japan
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- sample
- anisotropy
- holder
- sets
- rotates
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- Pending
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（ａ）〔発明の技術分野〕
本発明は、材料の異方性測定用試料ホルダーに係り、さ
らに詳しくは液体中にそう人した試料中に超音波を透過
させ、特性を調べる系で、適宜に設定した試料中への超
音波入射角のもとで、試料を面内で回転する異方性測定
用試料ホルダーに関する。
らに詳しくは液体中にそう人した試料中に超音波を透過
させ、特性を調べる系で、適宜に設定した試料中への超
音波入射角のもとで、試料を面内で回転する異方性測定
用試料ホルダーに関する。
（ｂ）〔従来の技術〕
従来、超ぎ波による液体中における物体の応力の測定方
法（特開昭５６−２６２５５）があるが、異方性る。本
発明は材料の異方性測定用試料ホルダーであり、材料の
異方性測定を目的とする。
法（特開昭５６−２６２５５）があるが、異方性る。本
発明は材料の異方性測定用試料ホルダーであり、材料の
異方性測定を目的とする。
（ｄ）〔発明の構成〕
液中に試料をそう入し、試料中に超音波を透過させ、試
料の特性を調べる系があるが９本発明は。
料の特性を調べる系があるが９本発明は。
振動子の焦点距離等に応じて試料位置を平行に微動する
機構と、超音・波の試料中への入射角を適宜に設定する
機構と、設定した入射角のもとて試料を試料面内で回転
し、任意の角度に設定する機構を有する超音波による力
学的異方性測定用試料ホルダーである。ここで焦点距離
等とは、凹面振動子を用いる場合は焦点距離を示し、焦
点距離が無限大の平面振動子においては測定が容易な距
離を示す。
機構と、超音・波の試料中への入射角を適宜に設定する
機構と、設定した入射角のもとて試料を試料面内で回転
し、任意の角度に設定する機構を有する超音波による力
学的異方性測定用試料ホルダーである。ここで焦点距離
等とは、凹面振動子を用いる場合は焦点距離を示し、焦
点距離が無限大の平面振動子においては測定が容易な距
離を示す。
（ｅ）〔発明の作用〕
上記（ｄ）に述べた試料位置を平行に移動する機構は、
振動子の焦点距離等に応じて、試料位置と振動子間隔を
任意に設定する作用をもつ。超音波の試料中への入射角
を適宜に設定する機構は。
振動子の焦点距離等に応じて、試料位置と振動子間隔を
任意に設定する作用をもつ。超音波の試料中への入射角
を適宜に設定する機構は。
モード変換により試料中に横波を伝播させる作用をもつ
。設定した入射角のもとて試料を試料面内で回転し、任
意の角度に設定する機構は、試料の固定方向による音速
変化をみるためのもので、試料の異方性測定の作用をも
つ。
。設定した入射角のもとて試料を試料面内で回転し、任
意の角度に設定する機構は、試料の固定方向による音速
変化をみるためのもので、試料の異方性測定の作用をも
つ。
（ｆ）〔発明の実施例〕
以上本発明を図面によって説明する。第１図は牟伺明の
一実施例で試料の異方性を測定する。同図コ苧ｊおいて
、平行移動台１は振動子の焦点距離環−ｑＥ’ｉ冴’じ
て試料位置をマイクロスクリュー２によっ波の試料中へ
の入射角を適宜に設定し、モード変換によって試料中に
横波を伝播させる。試料ホルダー７は、異方性測定用試
料を固定し、試料ホルダー保持部４をガイドとして試料
面内で回転する。
一実施例で試料の異方性を測定する。同図コ苧ｊおいて
、平行移動台１は振動子の焦点距離環−ｑＥ’ｉ冴’じ
て試料位置をマイクロスクリュー２によっ波の試料中へ
の入射角を適宜に設定し、モード変換によって試料中に
横波を伝播させる。試料ホルダー７は、異方性測定用試
料を固定し、試料ホルダー保持部４をガイドとして試料
面内で回転する。
さらに、試料ホルダー保持部４に刻んだ基準線を用いて
、試料ホルダー７に刻んだ目盛によって。
、試料ホルダー７に刻んだ目盛によって。
試料を任意の角度に設定する。
本発明の異方性測定用試料ホルダーを用いる測定用セル
の構成を第２図によって説明する。液槽８には水等の液
体を入れる。送１言振動子９及び受信振動子１０は超音
波を送受信する。マイクロスクリュー１１は送信振動子
と受１言振動子の間隔を任意に設定する。コネクタ１２
．１３はそれぞれ送信用と受信用のケーブルをつなぐた
めに用いる。平行移動台１は振動子の位置に応じて試料
位置を移動する。回転角目盛６は超音波の試料中への入
射角を設定する。平行度調整ノブ１４は、送信振動子９
と受信振動子１０の平行度を調整する。異方性測定用試
料ホルダー７は、上述したように、試料面内で試料を回
転し、任意の角度に設定する。
の構成を第２図によって説明する。液槽８には水等の液
体を入れる。送１言振動子９及び受信振動子１０は超音
波を送受信する。マイクロスクリュー１１は送信振動子
と受１言振動子の間隔を任意に設定する。コネクタ１２
．１３はそれぞれ送信用と受信用のケーブルをつなぐた
めに用いる。平行移動台１は振動子の位置に応じて試料
位置を移動する。回転角目盛６は超音波の試料中への入
射角を設定する。平行度調整ノブ１４は、送信振動子９
と受信振動子１０の平行度を調整する。異方性測定用試
料ホルダー７は、上述したように、試料面内で試料を回
転し、任意の角度に設定する。
本発明の異方性測定用試料ホルダーを用いる測定用セル
を含む測定系全体の一例のブロック図を第３図に示す。
を含む測定系全体の一例のブロック図を第３図に示す。
初期パルス発生器１５は電気パルスを発生する。パルス
発生器１６はトリが信号によって超音波発生用パルスを
発生する。送信振動子９加える。カウンター２０はシン
グアラウンド周期を測定し、記録部２１に信号を送る。
発生器１６はトリが信号によって超音波発生用パルスを
発生する。送信振動子９加える。カウンター２０はシン
グアラウンド周期を測定し、記録部２１に信号を送る。
（ｇ）〔発明の効果〕
本発明は上述したように、モード変換による超音波横波
を用いて、非接触で材料の異方性を測定することができ
るものである。従って２種々の材料の異方性の定量化が
可能になると考えられる。
を用いて、非接触で材料の異方性を測定することができ
るものである。従って２種々の材料の異方性の定量化が
可能になると考えられる。
第１図は本発明の異方性測定用試料ボルダ−を示す斜視
図、第２図は異方性測定用試料ボルダ−を含む測定用セ
ルを示す斜視図、第３図は測定系全体を示すブロック図
である。１中手行移動台２・・・マイクロスクリュー
３・・・回転ノブ ４・・・試料ホルダー保持部 ５，
６・・・回転角目盛 ７・・・試料ホルダー 指定代理人 第１図 第２図
図、第２図は異方性測定用試料ボルダ−を含む測定用セ
ルを示す斜視図、第３図は測定系全体を示すブロック図
である。１中手行移動台２・・・マイクロスクリュー
３・・・回転ノブ ４・・・試料ホルダー保持部 ５，
６・・・回転角目盛 ７・・・試料ホルダー 指定代理人 第１図 第２図
Claims (1)
- 液中に試料をそう入し、試料中に超音波を透過させ、試
料の特性を調べる系において使用するためのホルダーで
あって、振動子の焦点距離等に応じて試料位置を平行に
微動する機構と、超音波の試料中への入射角を適宜に設
定する機構と、設定した入射角のもとで、試料を試料面
内で回転し、任意の角度に設定する機構とを備えたこと
を特徴とする超音波による力学的異方性測定用試料ホル
ダー。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60143185A JPS623658A (ja) | 1985-06-28 | 1985-06-28 | 超音波による力学的異方性測定用試料ホルダ− |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60143185A JPS623658A (ja) | 1985-06-28 | 1985-06-28 | 超音波による力学的異方性測定用試料ホルダ− |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS623658A true JPS623658A (ja) | 1987-01-09 |
Family
ID=15332854
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60143185A Pending JPS623658A (ja) | 1985-06-28 | 1985-06-28 | 超音波による力学的異方性測定用試料ホルダ− |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS623658A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS589063A (ja) * | 1981-07-08 | 1983-01-19 | Noritoshi Nakabachi | 超音波顕微鏡 |
-
1985
- 1985-06-28 JP JP60143185A patent/JPS623658A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS589063A (ja) * | 1981-07-08 | 1983-01-19 | Noritoshi Nakabachi | 超音波顕微鏡 |
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