JPH03289560A - 表面波を用いた測定における入射角の調整方法 - Google Patents
表面波を用いた測定における入射角の調整方法Info
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- JPH03289560A JPH03289560A JP2089058A JP8905890A JPH03289560A JP H03289560 A JPH03289560 A JP H03289560A JP 2089058 A JP2089058 A JP 2089058A JP 8905890 A JP8905890 A JP 8905890A JP H03289560 A JPH03289560 A JP H03289560A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、表面きずの検出や各種寸法の測定あるいは材
質の測定などに表面波を用いる場合の入射角の調整方法
に関する。
質の測定などに表面波を用いる場合の入射角の調整方法
に関する。
〈従来の技術〉
表面波はレーリー(Rayleigh)波とも称される
物体の表面層を伝播する波動であり、そのエネルギーの
90%以上が表面から1波長の深さまでに局在している
。この性質を利用して各種物体の表面きずの検出、ある
いは結晶粒度などの材質の測定などに利用されている。
物体の表面層を伝播する波動であり、そのエネルギーの
90%以上が表面から1波長の深さまでに局在している
。この性質を利用して各種物体の表面きずの検出、ある
いは結晶粒度などの材質の測定などに利用されている。
また、物体の角で反射する性質を利用して物体の寸法の
測定に利用されるなどその利用用途の多い波動である。
測定に利用されるなどその利用用途の多い波動である。
−船釣に、この表面波は、屈折の法則を利用して物体の
表面に送受信される。すなわち、その原理を第5図に示
すが、被検査物体1として水などの液2の中に水平に置
かれた平面状物体IAの表面Sの点Pにその法&’jl
Vに対して、角度θだけ傾けて配置した超音波振動子3
から超音波Bを送信する。
表面に送受信される。すなわち、その原理を第5図に示
すが、被検査物体1として水などの液2の中に水平に置
かれた平面状物体IAの表面Sの点Pにその法&’jl
Vに対して、角度θだけ傾けて配置した超音波振動子3
から超音波Bを送信する。
このとき、入射角θが下記(1)式
0式%(
ここで、Co z液中での超音波の速度C9:表面波の
速度 を満足すると、表面波Rは最大の変換効率で送信される
。なお、表面波Rの受信は全く逆の過程においてなされ
る。
速度 を満足すると、表面波Rは最大の変換効率で送信される
。なお、表面波Rの受信は全く逆の過程においてなされ
る。
ここで、第5図は液2中に浸漬した被検査物体1の場合
について表面波Rの送受信を示したが、この他例えばタ
イヤ型超音波探触子を用いた表面波Rの送受信、あるい
はアクリル樹脂などのクサビを用いた表面波Rの送受信
の原理も同様である。
について表面波Rの送受信を示したが、この他例えばタ
イヤ型超音波探触子を用いた表面波Rの送受信、あるい
はアクリル樹脂などのクサビを用いた表面波Rの送受信
の原理も同様である。
このような表面波Rを用いた測定において高い精度を確
保するためには、表面波RをSN比を高くして送受信す
ることが必要であって、具体的には前出(1)式を正確
に満足する入射角θで被検査物体1に向けて超音波Bを
送受信することが必要である。この入射角θの調整は、
前記したクサビによる表面波の送受信を除いて、例えば
文献[白岩ら、板バネ材の超音波探傷(非破壊検査第2
1巻第9号、P、572)Jに示されるような方法を用
いると、人工きずあるいは物体の端面からの反射エコー
を利用して実施される。すなわち、人工きずあるいは物
体の端面に向けて表面波を送受信して、これらからの反
射エコー高さを観測して、この高さが最大となるように
入射角θを調整するようにすれば、前記(1)式を満足
させることができる。
保するためには、表面波RをSN比を高くして送受信す
ることが必要であって、具体的には前出(1)式を正確
に満足する入射角θで被検査物体1に向けて超音波Bを
送受信することが必要である。この入射角θの調整は、
前記したクサビによる表面波の送受信を除いて、例えば
文献[白岩ら、板バネ材の超音波探傷(非破壊検査第2
1巻第9号、P、572)Jに示されるような方法を用
いると、人工きずあるいは物体の端面からの反射エコー
を利用して実施される。すなわち、人工きずあるいは物
体の端面に向けて表面波を送受信して、これらからの反
射エコー高さを観測して、この高さが最大となるように
入射角θを調整するようにすれば、前記(1)式を満足
させることができる。
なお、クサビを用いる表面波の送受信の場合は上記した
ような調整を行うことは困難であり、特に実際の表面波
の速度がクサビの角度の設計時に想定した速度からずれ
ているような場合は、最大の変換効率で表面波を送受信
することができないのである。
ような調整を行うことは困難であり、特に実際の表面波
の速度がクサビの角度の設計時に想定した速度からずれ
ているような場合は、最大の変換効率で表面波を送受信
することができないのである。
〈発明が解決しようとする課題〉
しかしながら、前記した入射角θの調整方法には下記の
ような問題を包含している。
ような問題を包含している。
■ 実際の測定対象となる物体には人工きすを加工でき
ない場合がほとんどであり、端面などからの反射エコー
を利用して入射角θを調整することになるが、端面の形
状によっては、明瞭な反射エコーが得られないことがあ
る。
ない場合がほとんどであり、端面などからの反射エコー
を利用して入射角θを調整することになるが、端面の形
状によっては、明瞭な反射エコーが得られないことがあ
る。
■ 例えばパイプ等のような円筒状の物体あるいは円柱
状の物体の円周方向に表面波を送受信して測定を行なう
場合には、端面がないから入射角θの調整に利用可能な
反射エコーが何ら存在せず、入射角θの1整は困難であ
る。
状の物体の円周方向に表面波を送受信して測定を行なう
場合には、端面がないから入射角θの調整に利用可能な
反射エコーが何ら存在せず、入射角θの1整は困難であ
る。
■ 上記■および■の場合のいずれも、予め想定される
入射角θ。に入射角θを設定するようにして測定を行う
ことも考えられるが、同じような物体の間でも表面波の
速度が変化することがあり、いつも一定の入射角θ。で
は測定する物体によって測定感度が変化してしまう。
入射角θ。に入射角θを設定するようにして測定を行う
ことも考えられるが、同じような物体の間でも表面波の
速度が変化することがあり、いつも一定の入射角θ。で
は測定する物体によって測定感度が変化してしまう。
また円柱・円筒系の物体では、第6図に示すように、超
音波振動子3の位置ずれが起こり易(、円形物体IBの
頂点Tに向け、超音波Bを送信するように超音波振動子
3の位置を設定して、実際には超音波Bの入射点が異な
っているとき、図中の垂直軸■(頂点Tにおける法線に
平行)と円形物体IBの実際の超音波入射点Pにおける
法線Cとがずれて十分な感度で表面波を送受信できない
ことがある。
音波振動子3の位置ずれが起こり易(、円形物体IBの
頂点Tに向け、超音波Bを送信するように超音波振動子
3の位置を設定して、実際には超音波Bの入射点が異な
っているとき、図中の垂直軸■(頂点Tにおける法線に
平行)と円形物体IBの実際の超音波入射点Pにおける
法線Cとがずれて十分な感度で表面波を送受信できない
ことがある。
■ 近年の鋳造、成型あるいは加工などの技術の進歩に
より、円筒・円柱以外の形状の、部分によって変化する
曲率を有する物体も増加しているが、このような曲率を
有する物体の任意の箇所に表面波を送受信するとき、通
常、物体表面への超音波の入射点を正確に知ることがで
きないため、形状データ等から入射角θを求めることが
困難である。
より、円筒・円柱以外の形状の、部分によって変化する
曲率を有する物体も増加しているが、このような曲率を
有する物体の任意の箇所に表面波を送受信するとき、通
常、物体表面への超音波の入射点を正確に知ることがで
きないため、形状データ等から入射角θを求めることが
困難である。
このような事情から、特に大量の物体を表面波によって
自動測定するような場合には、入射角θの調整が大きな
問題となっている。
自動測定するような場合には、入射角θの調整が大きな
問題となっている。
本発明は、上記のような事情に鑑みてなされたものであ
って、表面波を用いた測定において、入射角度調整に必
要な人工きずあるいは端面からの反射エコーが得られな
い物体の測定あるいは曲率が部分的に変化している物体
の測定においても、最大の変換効率で表面波を送受信し
得る自動化が容易な入射角の調整方法を捷供することを
目的とする。
って、表面波を用いた測定において、入射角度調整に必
要な人工きずあるいは端面からの反射エコーが得られな
い物体の測定あるいは曲率が部分的に変化している物体
の測定においても、最大の変換効率で表面波を送受信し
得る自動化が容易な入射角の調整方法を捷供することを
目的とする。
く課題を解決するための手段〉
本発明は、表面波を用いた物体の測定におい”C1入射
角度を変化させながら物体の表面に向けて超音波を送信
し、物体の表面層の組織および表面性杖によって生ずる
表面波の後方散乱波を受信して検波した後その振幅を積
分し、この積分値が最大となる角度に入射角度を設定す
ることを特徴とする表面波を用いた測定における入射角
の調整方法である。
角度を変化させながら物体の表面に向けて超音波を送信
し、物体の表面層の組織および表面性杖によって生ずる
表面波の後方散乱波を受信して検波した後その振幅を積
分し、この積分値が最大となる角度に入射角度を設定す
ることを特徴とする表面波を用いた測定における入射角
の調整方法である。
〈作用〉
表面波を物体の表面に送受信すると、表面波は伝播の過
程において結晶粒界あるいは表面粗さ(表面の微小な凹
凸)などによって散乱され、丁度伝播方向に対して反対
の方向に散乱された波動が後方°散乱波として超音波送
受信子に受信される。
程において結晶粒界あるいは表面粗さ(表面の微小な凹
凸)などによって散乱され、丁度伝播方向に対して反対
の方向に散乱された波動が後方°散乱波として超音波送
受信子に受信される。
この後方散乱波は表面波が伝播途上で結晶粒径あるいは
表面粗さなどに応じた一定の割合にて散乱されたもので
あるから、その振幅は伝播する表面波の振幅に比例した
ものとなる。したがって、入射角θを変化させつつ、こ
の後方散乱波の振幅を検出することによって、原理的に
は、最も伝播する表面波の振幅が大きくなる入射角θ9
を求めることができる。
表面粗さなどに応じた一定の割合にて散乱されたもので
あるから、その振幅は伝播する表面波の振幅に比例した
ものとなる。したがって、入射角θを変化させつつ、こ
の後方散乱波の振幅を検出することによって、原理的に
は、最も伝播する表面波の振幅が大きくなる入射角θ9
を求めることができる。
しかし、後方散乱波は振幅が微小であり、超音波送受信
子に接続された受信増幅回路の増幅度を高くすることに
よってはじめて観測が可能となり、この感度では後方散
乱波の振幅に重畳される超音波送受信系の電気ノイズお
よび外来性の突発ノイズも無視はできない振幅を持つよ
うになり、単にこの波動の振幅を観測するだけでは正確
に入射角θをθイに一致させることは困難であるから、
積分回路を用いて増幅・検波後の後方散乱波の振幅を積
分し、その積分値を後方散乱波の振幅として検出するよ
うにすればよい。
子に接続された受信増幅回路の増幅度を高くすることに
よってはじめて観測が可能となり、この感度では後方散
乱波の振幅に重畳される超音波送受信系の電気ノイズお
よび外来性の突発ノイズも無視はできない振幅を持つよ
うになり、単にこの波動の振幅を観測するだけでは正確
に入射角θをθイに一致させることは困難であるから、
積分回路を用いて増幅・検波後の後方散乱波の振幅を積
分し、その積分値を後方散乱波の振幅として検出するよ
うにすればよい。
なお、超音波送受信系の電気ノイズはホワイトノイズで
あるため、積分によって平均されると積分値に対し一定
の大きさのバイアス成分となり、繰返し周期的に行われ
る超音波の送受信間でその大きさは変化しない。
あるため、積分によって平均されると積分値に対し一定
の大きさのバイアス成分となり、繰返し周期的に行われ
る超音波の送受信間でその大きさは変化しない。
また、外来性の突発ノイズも積分値への寄与は、このノ
イズの継続時間が短いため無視できる程度となる。
イズの継続時間が短いため無視できる程度となる。
このようにして本発明によれば、ノイズの干渉なしに後
方散乱波の振幅を検出することができ、後方散乱波の振
幅が最大となる角度θ9に入射角を設定することができ
る。
方散乱波の振幅を検出することができ、後方散乱波の振
幅が最大となる角度θ9に入射角を設定することができ
る。
〈実施例〉
以下に本発明の実施例について、図面を参照して説明す
る。
る。
第1図は、本発明方法に係る第1の実施例を一部断面を
含んで示すブロック図である。
含んで示すブロック図である。
°図において、表面波を送受信する超音波振動子3は、
液2の充填されたタイヤ型超音波探触子4に内蔵され、
振動子ホルダ5を介してパルスモータ6に支持される。
液2の充填されたタイヤ型超音波探触子4に内蔵され、
振動子ホルダ5を介してパルスモータ6に支持される。
そして、モータ6の軸に取付けられたギヤ7が円弧状の
ガイドレール8のラックギア9と噛み合って移動自在と
され、これによって超音波ビームBの入射角θが変化す
る。このタイヤ型超音波探触子4は、水などの適当な接
触媒質を介して測定対象の鋼FiICの表面Sに押し当
てられる。
ガイドレール8のラックギア9と噛み合って移動自在と
され、これによって超音波ビームBの入射角θが変化す
る。このタイヤ型超音波探触子4は、水などの適当な接
触媒質を介して測定対象の鋼FiICの表面Sに押し当
てられる。
電気パルス送信回路10にはクロック回路11が内蔵さ
れており、一定の時間間隔をおいてこの電気パルス送信
回路10から電気パルスが送信されて超音波振動子3に
印加され、超音波振動子3から超音波ビームBが送信さ
れる。
れており、一定の時間間隔をおいてこの電気パルス送信
回路10から電気パルスが送信されて超音波振動子3に
印加され、超音波振動子3から超音波ビームBが送信さ
れる。
送信された超音波ビームBは綱板ICの表面Sに達する
と、屈折の法則により表面波に変換されて鋼板ICの表
面Sを伝播し、結晶粒界あるいは表面の凹凸により散乱
され、伝播してきた方向と逆の方向に散乱された成分が
後方散乱波として超音波振動子3に戻って受信され、受
信増幅回路12により適当に増幅される。
と、屈折の法則により表面波に変換されて鋼板ICの表
面Sを伝播し、結晶粒界あるいは表面の凹凸により散乱
され、伝播してきた方向と逆の方向に散乱された成分が
後方散乱波として超音波振動子3に戻って受信され、受
信増幅回路12により適当に増幅される。
受信増幅回路12にて増幅され、さらに検波回路13に
て検波された信号はゲート回路14に出力され、ゲート
回路14においては受信信号のうちから後方散乱波のみ
がとり出されて積分回路15に出力され、後方散乱波の
振幅が積分される。積分回路15で積分されたアナログ
量は、A/D変換回路16によりディジタル値に変換さ
れてマイクロコンピュータなどの演算制御装置17に出
力される。このようにして、送信された表面波の振幅に
比例した値が演算制御装置17によって記憶される。
て検波された信号はゲート回路14に出力され、ゲート
回路14においては受信信号のうちから後方散乱波のみ
がとり出されて積分回路15に出力され、後方散乱波の
振幅が積分される。積分回路15で積分されたアナログ
量は、A/D変換回路16によりディジタル値に変換さ
れてマイクロコンピュータなどの演算制御装置17に出
力される。このようにして、送信された表面波の振幅に
比例した値が演算制御装置17によって記憶される。
そして、演算制御装置17はパルス信号をドライブ回路
18を介してパルスモータ6に出力し、超音波振動子3
から送信される超音波ビームBの入射角θを、所定の角
度θ、からθ、(ただしθ、〈θ□)まで、所定の間隔
Δθずつ変化させ、それぞれの角度における後方散乱波
の振幅の積分値を検出し、メモリに記憶する。
18を介してパルスモータ6に出力し、超音波振動子3
から送信される超音波ビームBの入射角θを、所定の角
度θ、からθ、(ただしθ、〈θ□)まで、所定の間隔
Δθずつ変化させ、それぞれの角度における後方散乱波
の振幅の積分値を検出し、メモリに記憶する。
一連の測定の終了後、演算制御装置17は、この積分値
が最大となる角度θ、を求め、パルス信号をパルスモー
タ6に出力することにより、超音波振動子3を移動させ
て超音波ビームBの入射角θをθ8に一致させる。この
ようにして、屈折を利用して表面波を送受信する場合の
入射角を最適に設定し、送受信される表面波の振幅を最
大とすることができる。
が最大となる角度θ、を求め、パルス信号をパルスモー
タ6に出力することにより、超音波振動子3を移動させ
て超音波ビームBの入射角θをθ8に一致させる。この
ようにして、屈折を利用して表面波を送受信する場合の
入射角を最適に設定し、送受信される表面波の振幅を最
大とすることができる。
第2図は、この第1の実施例での装置を用いて、W−鋼
板を測定対象として入射角θを変化させながら後方散乱
波の振幅の積分値を求めた本発明法の結果と、同じ厚鋼
板に貫通孔を加工して入射角θを変化させながら貫通孔
からの反射エコー高さを測定した従来法の結果を対比し
て示したものであ図から明らかなように、両者には良好
な一致が認められ、後方散乱波の振幅の積分値から表面
波を最も変換効率よく送受信できる角度に入射角θを設
定できることがわかる。
板を測定対象として入射角θを変化させながら後方散乱
波の振幅の積分値を求めた本発明法の結果と、同じ厚鋼
板に貫通孔を加工して入射角θを変化させながら貫通孔
からの反射エコー高さを測定した従来法の結果を対比し
て示したものであ図から明らかなように、両者には良好
な一致が認められ、後方散乱波の振幅の積分値から表面
波を最も変換効率よく送受信できる角度に入射角θを設
定できることがわかる。
また、第1表は、数多くの厚鋼板を用いて、人工きすか
らの反射エコーを利用して求めた従来法による表面波の
送受信変換効率が最大となる入射角度θ。と、本発明法
で求めた入射角度θ8とを対比して示したものである。
らの反射エコーを利用して求めた従来法による表面波の
送受信変換効率が最大となる入射角度θ。と、本発明法
で求めた入射角度θ8とを対比して示したものである。
第1表かられかるように、両者の入射角θ、とθ、は±
0、loの精度でよく一致しており、人工きすからの反
射エコーを利用する従来法の代りに本発明法が十分利用
可能であるといえる。
0、loの精度でよく一致しており、人工きすからの反
射エコーを利用する従来法の代りに本発明法が十分利用
可能であるといえる。
第1表
〔実施例■]
第3図は、本発明方法に係る第2の実施例を一部断面を
含んで示すブロック図であり、鋼管IDを測定対象とし
たものである。
含んで示すブロック図であり、鋼管IDを測定対象とし
たものである。
図に示すように、表面波を送受信するための超音波振動
子3を内蔵したタイヤ型超音波探触子4は、適当な接触
媒質を介して測定対象の鋼管IDに押し当てられている
。後方散乱波の振幅の積分方法が異なる点を除いて、各
構成要素の機能および動作は第1の実施例と全く同一な
ので説明は省略する。
子3を内蔵したタイヤ型超音波探触子4は、適当な接触
媒質を介して測定対象の鋼管IDに押し当てられている
。後方散乱波の振幅の積分方法が異なる点を除いて、各
構成要素の機能および動作は第1の実施例と全く同一な
ので説明は省略する。
この第2の実施例においては、高速A/D変喚回路20
および積算回路21を用いて後方散乱波の振幅の積分を
行う、すなわち、受信増幅回路12にて適当に増幅され
、検波回路13にて検波された信号が、直接、高速A/
D変換回路20に入力され、遅延回路19からのトリガ
パルスが入力された直後から、表面波信号の周波数の2
倍以上のサンプリング周波数で所定回数連続的にA/D
変換を行い、この結果を積算回路21に出力し、積“算
回路21では順次送られてくるディジタル値を加算する
。この一連の過程によって積算回路21には後方散乱波
の振幅の積算値が記録され、所定回数のA/D変換およ
び加算が終了した後、この積算値は演算制御装置I7に
送られる。
および積算回路21を用いて後方散乱波の振幅の積分を
行う、すなわち、受信増幅回路12にて適当に増幅され
、検波回路13にて検波された信号が、直接、高速A/
D変換回路20に入力され、遅延回路19からのトリガ
パルスが入力された直後から、表面波信号の周波数の2
倍以上のサンプリング周波数で所定回数連続的にA/D
変換を行い、この結果を積算回路21に出力し、積“算
回路21では順次送られてくるディジタル値を加算する
。この一連の過程によって積算回路21には後方散乱波
の振幅の積算値が記録され、所定回数のA/D変換およ
び加算が終了した後、この積算値は演算制御装置I7に
送られる。
なお、遅延回路19は後方散乱波のみをA/D変換する
ため、クロック回路11からの同期信号に遅延をかけて
A/D変換を開始するためのトリガバルスを発生ずる回
路であり、またクロック回路IIから積算回路21に入
力されている同期信号は、積算回路21における積算値
をゼロの初期状態にリセットするために用いられる。
ため、クロック回路11からの同期信号に遅延をかけて
A/D変換を開始するためのトリガバルスを発生ずる回
路であり、またクロック回路IIから積算回路21に入
力されている同期信号は、積算回路21における積算値
をゼロの初期状態にリセットするために用いられる。
第4図は、この第2の実施例での装置を用いて、大径鋼
管を測定対象として入射角θを変化させながら後方散乱
波の振幅の積分値を求めた本発明法の結果と、同じ大径
鋼管に貫通孔を加工して入射角θを変化させながら貫通
孔からの反射エコー高さを測定した従来法の結果とを対
比して示したものである0図から明らかなように、両者
には良好な一致が認められる。
管を測定対象として入射角θを変化させながら後方散乱
波の振幅の積分値を求めた本発明法の結果と、同じ大径
鋼管に貫通孔を加工して入射角θを変化させながら貫通
孔からの反射エコー高さを測定した従来法の結果とを対
比して示したものである0図から明らかなように、両者
には良好な一致が認められる。
また、第2表は、数多くの大径鋼管を用いて人工きすか
らの反射エコーを利用して求めた従来法による表面波の
送受信変換効率が最大となる入射角度θ、と、本発明方
法で求めた入射角度θ9とを対比して示したものである
が両者の入射角θ、。
らの反射エコーを利用して求めた従来法による表面波の
送受信変換効率が最大となる入射角度θ、と、本発明方
法で求めた入射角度θ9とを対比して示したものである
が両者の入射角θ、。
θ8は±0.l°の精度で良好に一致していることがわ
かる。
かる。
第2表
〈発明の効果〉
以上説明したように、本発明によれば表面波を用いた測
定において、表面波を最も変換効率よく送受信するため
の入射角の設定を人工きずおよび端面などからの反射エ
コーを全く利用しないで実施できるので、表面きずの検
出、各種寸法の測定、あるいは材質の測定など、表面波
を用いた各種の製品および素材の測定に有効に利用する
ことができる。
定において、表面波を最も変換効率よく送受信するため
の入射角の設定を人工きずおよび端面などからの反射エ
コーを全く利用しないで実施できるので、表面きずの検
出、各種寸法の測定、あるいは材質の測定など、表面波
を用いた各種の製品および素材の測定に有効に利用する
ことができる。
また、従来法に必須とされた人工きずの加工工程を省略
することができるから、貴重な素材のスクラップ化を防
止することができ、かつ測定が素材の形状に依存せずに
容易となるなど多くの優れた効果を有する。
することができるから、貴重な素材のスクラップ化を防
止することができ、かつ測定が素材の形状に依存せずに
容易となるなど多くの優れた効果を有する。
第1図は、本発明方法に係る第1の実施例を一部断面を
含んで示すブロック図、第2図は、厚鋼板を測定対象と
したときの入射角と後方散乱波積分値および人工きずか
らの反射エコー高さとの関係を示す特性図、第3図は、
本発明方法に係る第2の実施例を一部断面を含んで示す
ブロック図、第4図は、大径鋼管を測定対象としたとき
の入射角と後方散乱波積分値および人工きすからの反射
エコー高さとの関係を示す特性図、第5図は、表面波の
被検材への送受信方法を説明する図、第6図は、表面波
の円柱状物体への送受信について説明する図である。 1・・・被検査物体、 1B・・・円形物体、 ID・・・鋼管、 3・・・超音波振動子、 4・・・タイヤ型超音波探触子、 5・・・振動子ホルダ、 6・・・モータ、7・・・ギ
ヤ、 8・・・ガイドレール、9・・・ラッ
クギア、 IO・・・電気パルス送信回路11・・・
クロック回路、 12・・・受信増幅回路、13・・・
検波回路、 14・・・ゲート回路、15・・・積
分回路、 1G・・・A/D変換回路、17・・・
演算制御装置、 18・・・ドライブ回路、ID・・・
遅延回路、 20・・・高速A/D変換回路、21
・・・積算回路。 1A・・・平板状物体、 IC・・・鋼板、 2・・・液、
含んで示すブロック図、第2図は、厚鋼板を測定対象と
したときの入射角と後方散乱波積分値および人工きずか
らの反射エコー高さとの関係を示す特性図、第3図は、
本発明方法に係る第2の実施例を一部断面を含んで示す
ブロック図、第4図は、大径鋼管を測定対象としたとき
の入射角と後方散乱波積分値および人工きすからの反射
エコー高さとの関係を示す特性図、第5図は、表面波の
被検材への送受信方法を説明する図、第6図は、表面波
の円柱状物体への送受信について説明する図である。 1・・・被検査物体、 1B・・・円形物体、 ID・・・鋼管、 3・・・超音波振動子、 4・・・タイヤ型超音波探触子、 5・・・振動子ホルダ、 6・・・モータ、7・・・ギ
ヤ、 8・・・ガイドレール、9・・・ラッ
クギア、 IO・・・電気パルス送信回路11・・・
クロック回路、 12・・・受信増幅回路、13・・・
検波回路、 14・・・ゲート回路、15・・・積
分回路、 1G・・・A/D変換回路、17・・・
演算制御装置、 18・・・ドライブ回路、ID・・・
遅延回路、 20・・・高速A/D変換回路、21
・・・積算回路。 1A・・・平板状物体、 IC・・・鋼板、 2・・・液、
Claims (1)
- 表面波を用いた物体の測定において、入射角度を変化
させながら物体の表面に向けて超音波を送信し、物体の
表面層の組織および表面性状によって生ずる表面波の後
方散乱波を受信して検波した後その振幅を積分し、この
積分値が最大となる角度に入射角度を設定することを特
徴とする表面波を用いた測定における入射角の調整方法
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2089058A JPH03289560A (ja) | 1990-04-05 | 1990-04-05 | 表面波を用いた測定における入射角の調整方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2089058A JPH03289560A (ja) | 1990-04-05 | 1990-04-05 | 表面波を用いた測定における入射角の調整方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03289560A true JPH03289560A (ja) | 1991-12-19 |
Family
ID=13960256
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2089058A Pending JPH03289560A (ja) | 1990-04-05 | 1990-04-05 | 表面波を用いた測定における入射角の調整方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03289560A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006242942A (ja) * | 2005-02-03 | 2006-09-14 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | 液浸探傷装置、局部液浸探傷装置および液浸探傷方法 |
JP2010054497A (ja) * | 2008-07-31 | 2010-03-11 | Mitsubishi Electric Corp | 超音波探傷の感度設定方法および超音波探傷装置 |
-
1990
- 1990-04-05 JP JP2089058A patent/JPH03289560A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006242942A (ja) * | 2005-02-03 | 2006-09-14 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | 液浸探傷装置、局部液浸探傷装置および液浸探傷方法 |
JP2010054497A (ja) * | 2008-07-31 | 2010-03-11 | Mitsubishi Electric Corp | 超音波探傷の感度設定方法および超音波探傷装置 |
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