JPS62297703A - 接触検知プロ−ブ - Google Patents

接触検知プロ−ブ

Info

Publication number
JPS62297703A
JPS62297703A JP62091112A JP9111287A JPS62297703A JP S62297703 A JPS62297703 A JP S62297703A JP 62091112 A JP62091112 A JP 62091112A JP 9111287 A JP9111287 A JP 9111287A JP S62297703 A JPS62297703 A JP S62297703A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
contact
probe
sensing
stylus
signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP62091112A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2539821B2 (ja
Inventor
ジョージ ロイド ピーター
ディビッド ウィルソン
スティーヴン イアン ノーマン グレゴリッグ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Renishaw PLC
Original Assignee
Renishaw PLC
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from GB868609350A external-priority patent/GB8609350D0/en
Priority claimed from GB868630836A external-priority patent/GB8630836D0/en
Application filed by Renishaw PLC filed Critical Renishaw PLC
Publication of JPS62297703A publication Critical patent/JPS62297703A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2539821B2 publication Critical patent/JP2539821B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/002Constructional details of contacts for gauges actuating one or more contacts
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/004Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring coordinates of points
    • G01B5/008Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring coordinates of points using coordinate measuring machines
    • G01B5/012Contact-making feeler heads therefor

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は加工片の寸法を測定するための装置において使
用する接触検知プローブに関するものである。
[従来の技術] 一般に、接触検知プローブは機械に接続された第1の固
定部分を有する。この機械により固定部分を支持して測
定すべき加工片に対してこの固定部分を移動させる。こ
のプローブは、加工片に係合するようになされたスタイ
ラスを有する可動部分を含む。支持手段を設けて、可動
部分を固定部分における休止位置に支持し、スタイラス
が加工、片に係合するとぎに可動部分を休止位置から変
位させる。検知手段を設けてかかる係合を検知し、およ
び上述の機械に設けられて固定部分の位置を決定するた
めの測定システムに送出すべき信号を発生させる。
スタイラスの加工片との接触を圧電センサによって検知
するようにし、その圧電センサの出力から前記信号を発
生させる電気回路を設けた接触検知プローブは知られて
いる。かかる接触検知プローブの例は英国特許明細古筆
1,586,052号および2.049,198号なら
びに本願人の係属中の国際特許出願であってWO861
03829号として公開された出願に示されている。
これら公知のプローブは、スタイラスの物理的変位を検
知するプローブよりも感度が増大している。その理由は
、スタイラスの加工片との初期接触によってトリガーさ
れた信号を発生させることができるからである。
[発明が解決しようとする問題点] 圧電センサの特性上、圧電センサはスタイラスが加工片
と接触するときにそのスタイラスに伝えられる鋭い加速
すなわち衝撃によってトリガー信号を発生する。このこ
とは、ある最小の速度で機械がプローブを加工片に対し
て駆動することにより、スタイラスを加速して加工片と
接触させるようにすることを意味し、この最小速度より
低い速度においてはトリガー信号は発生しない。従つて
、スタイラスが加工片と接触した後に、プローブより機
械を停止させる信号が発生せず、機械がプローブを加工
片に向けて駆動し続けるときには、機械またはプローブ
が破損されるかもしれないという問題点かある。
プローブにおける重要な要件は、スタイラスが休止位置
からどのように変位してもその後に休止位置に戻ること
、およびプローブがその休止位置に着座しているか否か
についてプローブが示すことである。
これら要件はスタイラスがその休止位置に着座したこと
を検知し、あるいはスタイラスがその休止位置から変位
したことを検知する少なくとも1つの他の電気回路を設
けることによって満足することかできる。
このようなプローブには次のような問題点がある。これ
ら2つの電気回路に電源を供給しおよびプローブ本体か
ら機械にあるいは機械に対して無線伝送を行うための伝
送ユニットに2つの信号を供給するためには、ただ1つ
の検知回路しか持たないプローブに比較して、プローブ
本体に更に別の電気的接続が必要となる。このことは、
2つの検知回路を持つプローブは1つの検知回路を持つ
プローブと互換性か無いことを意味する。この問題点は
、スタイラス接触センサが圧電センサであるかあるいは
他の種類のセンサ、例えば容量性、誘導性あるいはピエ
ゾ抵抗型のセンサであるかに応じて生じる。
そこで、本発明の目的は、このような問題点を解決した
接触検知プローブを提供することにある。
E問題点を解決するだめの手段J このような目的を達成するために、本発明プローブは、
その特許請求の範囲に記載したように、プローブのスタ
イラスがその休止位置から変位したときに信号を発生す
る手段に接続された第1の電気的接続線、スタイラスが
最初に加工片に接触したときに信号を発生するスタイラ
ス接触センサに接続された第2の電気的接続線、および
前記電気的接続線の全てが接続され、プローブの外部に
対する接続を行うことができ、それによりプローブに対
する電力の供給および前記信号の受信を行うただ2つの
端子を有する電気回路を備える。
すなわち、本発明は、加工片の寸法を測定するための装
置において用いられる接触検知プローブにおいて、プロ
ーブは:装置に取付けるためのハウジングと、ハウジン
グ内に設番プられ、測定動作中加工片の表面に係合可能
なスタイラスに接続可能な可動部材と、可動部材を休止
位置においてハウジングに支持する支持手段と、可動部
材とハウジングとの間に配置されたバイアス手段であっ
て、スタイラスか加工片に係合するとぎにバイアス手段
に抗して可動部材のハウジングに対する変位を許可しつ
つ可動部材を支持手段の休止位置に向けて駆動するバイ
アス手段と、スタイラスの加工片に対する初期接触を検
知してそれに応答する信号を第1の電気的接続を介して
取出す第1検知手段と、可動部材の休止位置における支
持および休止位置からの変位を検知し、それを示す電気
的信号を第2の電気的接続を介して取出す第2の検知手
段と、第1および第2の電気的接続に接続され、プロー
ブの外部に対する接続を行うことのできる、ただ2つの
端子および第1および第2の検知手段からの信号を2つ
の端子を介して送出するための手段を有する電気的回路
とを具えたことを特徴とする。
[作 用] 本発明プローブの1つの利点は、このプローブに対して
ただ2つの外部接続線しか必要としないので、機械ある
いは無線伝送ユニットに対してただ2つの接続線しか持
たない他のプローブとも互換性かあるということである
本発明プローブの他の利点は、支持手段からの信号が、
プローブスタイラスが加工片と初期接触したとぎに圧電
センサが信号を発生し損なったときに機蔵に対するトリ
ガー信号として作用するということである。支持手段か
らの信号はスタイラスがその休止位置に再着座したこと
をも示す。
[実施例1 以下に図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する
第1図および第2図を参照するに、符号1で総称された
本発明プローブは第1の固定部分すなわちハウジング2
を有する。このハウジング2はかかるプローブを被測定
加工片4に対して移動させるための(それ自体公知の)
機械ギヤリッジ3に固着される。
キャリッジ3は、コンピュータ6の制御のもとに、機械
のトラック5上を移動可能である。光−電子システム7
によってキャリッジ3のトラック5に沿っての瞬時位置
を読取り、そしてその読取値をカウンタ8に供給する。
このカウンタ8は機械の位置を連続的に表示する。プロ
ーブ1が加工片4と接触したとNにこのプローブ1から
取出されたセンサ信号をインターフェースユニット9を
介してシステム7に接続し、それによりこのシステム7
に指示を与えて、センサ信号を受信したときのキャリッ
ジ3の位置の測定値を既知の形態でコンピュータ6のス
トアIOに転送する。従って、測定動作は、キャリッジ
3を移動させてスタイラス16が加工片4と係合するよ
うにし、およびストア10の内容を読出すことを伴う。
なお、トラツク5自体を他のトラックに取付けてプロー
ブ1を三次元移動させるようにしてもよい。あるいはま
た、加工片4を可動機械テーブルに取付けることもでき
る。これらのいずれも図面には示していないが、同業者
にとってよく知られていることである。
プローブ1は更にスタイラスホルタ15を有する第2の
可動部分14を有する。このスタイラスボルダ15には
スタイラス16を固着する。スタイラス16は測定動作
の間にキャリッジ3によって加工片4と係合させられる
ようになる自由端17を有する。
それ自体公知の運動機構的支持部材18によって、可動
部分と固定部分との間の相対的移動を可能としながらそ
の可動部分を固定部分上に支持する。
この支持部材18はスタイラスI6の軸の周りに等間隔
に配置された3つの位置においてハウジング2およびホ
ルダ15にそれぞれ設けられた対向する座素子19およ
び20によって形成される。第2図に示す支持部材18
の具体例では、座素子19は一対のボールを有し、座素
子20はスタイラスボルダ15から放射状に点在しボー
ル19と係合するシリンダを有する。部分2と14との
間に配置されたばね21によって部分】4を支持部材1
8上の休止位置(これは図示されている位置である)に
押圧する。部分14は、スタイラス16が加工片4と係
合したときに休止位置からある制限された量だけ変位可
能であり、それによりプローブ1と加工片4との間の衝
突による破損を防止するようにする。ばね21は、プロ
ーブ1か加工片4から離れてその変位力が消滅したとき
に部分14を休止位置に復帰させる。ボール座19はハ
ウジング2から電気的に絶縁され、そして第2図に示さ
れているように、これらボール座19は導線13によっ
て直列に電気的に結線されている。従って、ボール19
の多対は、それに関連するシリンダ20と共に電気的ス
イッチを形成する。このスイッチは、スタイラスホルダ
15が休止位置にあるときに閉成され、スタイラスI6
が加工片4と接触するように変位することによって開放
される。ボール座19から信号処理電子回路24への接
続は電気的接続線25および26によって行われ、それ
ら接続線25および26によって、スタイラス16の変
位が生したとぎの検知信号およびスタイラス16がその
休止位置に復帰し測定サイクルか引続ぎ進むことを示す
再着座信号の双方を供給する。」二連した支持部材18
は自由度5の移動、すなわち水平方向の直交軸(×およ
びy軸)に沿フて力か印加されることによる傾斜および
垂直軸(+z軸)に沿っての力の印加による上方向への
移動を伴ってスタイラス16を支持することかてきるの
みである。しかし、スタイラスか垂直$II(−z軸)
に沿って下方にも移動することかでき、それにより完全
に6方向の動作を行うことができるプローブも知られて
おり、本発明はこのようなプローブに対しても簡単に適
用することかできる。
ばね21は圧力バット22を介して部分14に作用する
。この圧力パット22は円錐状の端部な有し、その端部
によりこのパット22を部分14の中央部分に形成した
対応するくぼみ14八内に支持する。くぼみ14八けい
かなるj内当な形態とすることもでき、例えばこのくぼ
み14Aは円形のくぼみあるいはより大ぎい円61E角
の円錐座とすることができる。
パット22は圧電センサ22Aを有し、この圧電センサ
22Aを適切に配置して、スタイラス16が加工片4と
係合させられたときに生じる圧電効果を検知し、そして
センサ出力信号を発生し、この信号を、後述するように
、信号処理電子回路24に供給する。
第3図を参照するに、圧電センサ22八はバッド22の
上側部分22Bと底側部分22Gとの間に介挿された平
坦な円形状のセラミック素子である。圧電効果はよく知
られており、結晶にある圧力か加えられたときにその結
晶がある電圧を発生する能力として表現される。上側部
分22Bはばね21を取付けるためのカラーとして作用
する。従って、ばね21は、スタイラスホルダ15を支
持部材18に押付ける弾性力を発生ずる機能に加えて、
圧電素子22への上向きの移動に対して降伏抵抗を与え
て圧力波により圧縮をその内部に発生させて検知信号な
発生ずることができるようにする。電気的接続線32お
よび33によって圧電センサ22への上側および底側表
面に接続を行って検知信号を信号処理電子回路24に取
出す。中央圧力パット34および環状圧力パット35を
設りることによって圧電センサ22への効率は高められ
る。他の配置(図示せず)においては、圧電センサ22
八をスタイラスホルダ15の」二側表面上に直接に取付
けてもよい。この場合、ばね21の力はカラー22B上
の円錐状端部を介して、平坦に形成されおよびセンサの
上側に配置された部分22C上に直接に伝達される。
ばね21とスタイラスホルダ15との間で圧電センサ2
2八は種々の位置に配置することができ、圧力パットを
適当に配置してセンサにより発生する信号を最適なもの
とすることができる。その可能な配置のいくつかは、例
えば上述した国際特許出願第W086103829号に
開示されている。あるいはまた、センサをスタイラス1
6に配置することもてぎる。いくつかの他の実施例にお
いては、センサからの電気的接続線の一方をばね21を
介して信号処理電子回路24に接続し、第2のスプリン
グを設けてそれにより第2の接続を形成するようにして
もよい。
圧電センサは衝撃あるいは加速に対して非常に感度が高
く、スタイラスが加工片と初期接触したときに電圧出力
を発生ずる。しかし、例えは小さな穴の内径を測定する
場合、スタイラスが加工片に極めてゆっくり駆動され、
そして接触時に生しる衝撃が非常に小さいために圧電セ
ンサによってほとんど検知かなされない場合も起こり得
る。このような状態ては、機械はプローブを加工片に向
けて駆動し続り、それによりスタイラスを変位させてポ
ール座19から検知信号を発生させるようにする。従っ
て、この検知信号は機械、プローブあるいは加工片の破
損を防止するためのフェイルセイフ信号として用いられ
るのみならず、圧電センサが信号を発生しないような速
度で機械が動作しているときに、精度は高くないが、そ
のプローブが測定の読取りを行うことができるようにす
ることができる。
プローブの2つの検知配置、すなわち圧電センサおよび
ボール座検知の配置によって得られた情報の全てを、そ
のプローブを他のプローブと交換可能にすることを阻止
するさらに他の結線を行うことなしに、利用するために
は、本発明では、信号処理電子回路24に、検知信号を
簡単かつ効果的な形態で結合し、およびただ2つの外部
電気接続線のみをプローブに接続することしか必要でな
い電気回路を設ける。
上述したプローブ1の信号処理電子回路24において用
いられる電気的回路の一例を第4図に示す。この電気的
回路ては、プローブ1の2つの検知配置を並列に接続し
、そして2つの端子61および62に接続してプローブ
1に電力を供給し、およびプローブ1の出力を受信する
ようにする。
座検知配置については、接続線39を端子81に接続し
、接続線38を高抵抗値の抵抗40を介して端子62に
接続することにより、ボール19およびシリンダ20に
よるスイッチが閉成されるときに端子61と62との間
が完全に短絡されないようにする。
圧電センサ22Aについては、接続線32を端子62に
接続し、接続線33を増幅器41を介して端子61に接
続する。この増幅器41は、センサ信号を増幅してプロ
ーブ1とインターフェースユニット9との間に必要とさ
れるケーブル引廻しを通してそのセンサ信号を駆動する
と共に、そのケーブルに沿っての信号対雑音比を改善す
るために設ける。この増幅器41は高域通過フィルタと
しても作用する。
この増幅器41の出力をコンデンサ42を介して端子6
1に交流結合する。スタイラス16が加工片に接触した
ときに圧電センサ22八により発生ずる信号は短い共振
パルスであり、増幅器41の通過帯をその共振周波数と
両立するように選択することによって、センサ22Aに
より発生し機械に及ぼされる電気的ノイズおよびその他
の振動の大部分をセンサ信号から除去することができる
ようにする。
プローブ1に対する電力は、機械の電源からインターフ
ェース9を通して供給され、そして電圧Vsの電源線か
らプルアップ抵抗43を通して一定の直流電圧として端
子61に供給される。
この回路は次のように動作する。座素子19および20
か休止位置にある間は、端子61と62の間には座およ
び抵抗40を介して(そして一部は増幅器41を介して
)一定の直流電流が流れる。しかし、圧電センサ22^
のいかなる励起もない場合には、交流電流はこの装置を
通して流れない。
プローブ1のスタイラス16が加工片に十分に接触して
圧電センサ22八により信号が発生させられるようにな
ったとき、交流センサ信号は端子61において直流電流
に結合される。インターフェース9における減結合コン
デンサ44によって直流電流に対する交流の付加を検知
し、およびインターフェース9における関連する回路に
よってコンデンサからの出力を処理して機械を停止して
測定の読取を行うための信号を機械に送出するようにす
る。座素子のいずれか1つが変位してその座における電
気的接触が遮断されるようになると、端子61と62の
間に開放回路が形成され、そして端子61の電圧は電源
電圧にまで増加する。この電圧変化をインターフェース
ユニット9ではそれ自体公知の方法で検知し、そしてそ
のインターフェース回路により機械に対する送出を処理
する信号を発生させる。
このように、インターフェースユニット9は2つの端子
61と62との間に生じる異なる電圧に応動して、圧電
センサ22八がトリガーされたかあるいはスタイラス1
6が変位したかに応じて機械に適切な信号を送る。イン
ターフェースユニット9からの2つの信号は、機械に個
別に送給していずれがいずれの信号であるかを明確にす
るようにすることもできれば、あるいはまた、これら2
つの信号をインターフェース回路において組合せてこれ
とは別に処理信号を発生させて機械に対していずれの検
知配置がその信号を発生させたかを識別するようにする
こともできる。さらに加えて、スタイラス16の変位信
号が受信された後に、インターフェースユニット9は、
もとの直流電圧が端子61に復帰するまで機械によるそ
れ以上の測定動作を禁止するように構成することもでき
る。適切なインターフエース回路は本願人の共に継続中
の英国特許出願第8621243号に記述しである。
電気的回路の他の例を第5図に示す。第5図においては
、プローブ1の2つの検知配置を直列に接続する。この
回路およびインターフェースユニット9においては抵抗
40を除いて第4図の回路の素子の全てか含まれており
、同一の参照符号なf−Jずものとする。
この回路の動作は次のとおりである。座素子19および
20が休止位置にある間、直流電流は端子61から接続
線39およびポール19およびシリンタ20を介して端
子62に流れる。座素子19および20において電気的
接触が遮断されたとすると、端子61と62との間の直
流電圧のレベルは上側と同しように変化する。
プローブlのスタイラス16が加工片4と接触して圧電
センサ22^によって信号が発生させられるようになる
と、交流信号が端子61とB2との間にコンデンサ42
により結合される。先に説明したように、これら変化は
インターフェースユニット9において検出されて適切な
信号が機械に供給されるようにすることかできる。上述
した直列接続回路のひとつの欠点は、座素子において電
気的接触が遮断される度毎に増幅器41がON、OFF
されるということである。
第4図および第5図の回路は座素子19および2゜のス
イッチングか接点バウンシングの影響を受けるときには
欠点を被りやすい。接点バウンシングか圧電センサ22
への出力の周波数と同一範囲内の周波数において生じる
とすると、この接点バウンシングもまたインターフェー
ス回路におけるコンデンサ44を通過するので、圧電セ
ンサ信号を座素子のスイッチングにより生起した信号か
ら区別することか難しいことになる。この問題点を克服
した、プローブ1における電気的配置の実際的回路の回
路図を第6図に示す。
第6図を参照するに、圧電センサ22八からの信号を:
111幅器4】によって増幅する。この増幅器4】け電
界効果トランジスタTI、抵抗旧、R2およびコンデン
サCIからなる。この増幅器4Iは座素子I9および2
0の開放を検出するための検出回路70と並列に設けら
れる。
回路70は定電流源72を有する。この定電流源72は
電界効果トランジスタT2および抵抗R3より構成され
、座素子】9および20を通して通常は定電流を供給す
る。しかし、座素子19および20が開放すると、この
定電流は座素子19および20と並列に配置されている
コンデンサC2の充電を開始する。その結果、シリコン
制御整流器(SCR)T3のゲート入力端子74におい
て上昇する傾斜電圧が現われる。
5CRT3のトリガーしぎい値電圧はゼナーダイオード
DIおよび抵抗R4によって設定される。素子19およ
び20が完全に開放されたとすると、コンデンサC2の
端子間の傾斜電圧は電極74における電圧がこのトリガ
ーしきい値電圧に達するまで上昇し続のる。しかし、接
点バウンシングが生じたときには、その接点バウンシン
グ中に座素子19および20が実効的に再び閉成される
ことにより、コンデンサC2の放電が行われるようにな
る。その結果、素子19および20が完全に開放される
まで、トリガーしきい値には到達せす、そして5CII
T3は接点バウンシングに応動しない。
コンデンサC2の端子間における傾斜電圧がトリガーし
きい値に到達すると、 5CnT3は直ちに完全に導通
するようになり、接続線76の電圧をゼナーダイオード
Diのしきい値電圧よりも約1ボルト高い電圧にまで低
下させる。上述したように、プローブ1の端子61には
インターフェースユニット9の低抵抗値の抵抗43(第
6図には示されていない)を通して充電がなされる。ラ
イン76の電圧が5CRT3によって低下させられると
、インターフェースユニット9におけるこの抵抗43の
端子間電圧は増加し、その電圧は慣例の方法により容易
に検出される(但し、第4図および第5図の配置に比較
して、5CRT3は座素子19および20からの18号
を反転させる作用を示すことに注意されたい)。
座素子19および20が再び閉成すると、5CRT3の
ゲート電極74は大地端子62に短緒される。その結果
、5CRT3はターンオフし、その結果、ライン76の
電圧は直ちに再び上昇し、プローブ1が満足に着座し、
次の測定の準備が完了した旨の信号を伝える。
増幅器41八を経て取出された圧電センサ22八からの
交流信号はライン76に沿って端子61にもイ共給され
る。この交流信号は上述したようにインターフェースユ
ニット9において検知可能である。接点が開放している
かあるいは閉成しているかとは無関係に、この交流信号
は座素子】9および20に応動して検知回路70により
得られた直流レベルに重畳される。
ダイオード対D2を検知回路70と直列にしてライン7
6に設ける。別のダイオード対D3を増幅器41に直列
に配置する。これらダイオード対D2およびD3により
これら信号の直流レベルを調整して現在使用中のプロー
ブ1をインターフェースユニット9に接続されるかもし
れない他のプローブから容易に識別できるようにする。
さらに加えて、これらダイオード対によって、偶発的に
生じる電流の反転を阻止する。
第6図の回路の更に他の利点は、コンデンサC2を5C
RT3のトリカー電圧までの充電が常にある最少の時間
長(例えは172〜3ミリ秒)で行われるということで
ある。これは、上述したN14中の英国特許出願第86
21243号に記述されている回路、すなわちスタイラ
ス16の加工片4との初期接触かソフトであって、圧電
センサ22Aからの交流信号か検出されないので、イン
ターフェースユニット9は座素子1gおよび20の開放
にのみ応動する場合に、その旨を表示する回路の動作に
役立つ。この回路は圧電センサ信号と座からの信号との
間の時間遅れを利用する。コンデンサC2の充電による
固有の時間遅れによれば、これら2つの信号の間には常
に最小の時間遅れが確実に得られ、この最少の時間遅れ
は容易に検出される。
このようにして、このプローブは、座素子19および2
0かそれらの休止位置から変位することによって生しる
フェイルセイフ信号を確保しながら、スタイラス16の
加工片4との初期接触に基づいてより一層敏感な信号を
発生させることができ、しかもその電気回路には2つの
端子しかないにもかかわらず、しかもこの電気回路によ
れは機械あるいは機械に対するインターフェースユニッ
トによって双方の信号が正しく解釈されおよび機能でき
るようになる。従って、このプローブ1けたた1つの検
知システムしか持たない他のプローブと互換性があり、
その場合に機械あるいはインターフェースユニットの電
子回路に対して僅かな変更しか要求しない。
上述した本発明の実施例では圧電センサを用いた場合の
みを示した。しかし、電子回路に対して僅かな変更を加
えるのみで、スタイラスと加工片との初期接触の検知は
、座からの信号と識別される信号を発生することのでき
るピエゾ抵抗素子。
容量素子または話導素子によって行うことかできる。本
発明の好適例においては、電子回路24に含まれる増幅
器41およびそれに関連するコンデンサ42はプローブ
1本体に収納される。スペースか限られている場合ある
いはその他の理由で好都合であれば、信号処理電子回路
24のある部分あるいは全てを、プローブ1内から取り
除いて、プローブ1の外部であるかこのプローブ1のそ
ばに別個に設けることもてきる。従って、プローブ1内
に設ける回路としての最低限必要なものはセンサ22八
およびその接続線32および33.座素子19に対する
接続線38および39.および圧電センサの場合にはそ
のセンサの端子間に並列に接続される抵抗40である。
直列接続の実施例においては、かかる抵抗は直流電流が
プローブ1に流れるようにするのに必要であり、並列接
続の実施例においては、かかる抵抗は座素子19および
20がそれらの休止位置にあるときにセンサの端子間が
短絡されるのを防ぐために必要である。
第7図はこの配置を示し、2つのプローブ端子61およ
び62においては、圧電センサがその信号を発生すると
きにはその電源電圧に対して交流が付加され、あるいは
座素子19および20が変位したとぎにはその直流レベ
ルが変化する。プローブ端子61.62における電圧の
これら変動は増幅器41によりて検知され、さらにイン
ターフェースユニット9に送出される。
第7図の回路配置は圧電検知素子を用いるプローブ1に
おいて更に改良を行うことかでき、プローブ1内の圧電
検知素子を交流電源て励振して、この圧電検知素子か接
続されているスタイラスホルダ15を振動させることか
できる。スタイラス16の変位か座検知配置によって検
出された後てあって、しかもスタイラス16がその休止
位置に戻ったとぎに再着座信号か受信されなかったとき
に、この振動を加えることができる。このことは、座の
間に汚れか付着したり、あるいは可動部品にお4Jる摩
擦に起因して座素子19および20に適正な機械的接触
がなされなかった場合、あるいは機械的な着座が良好に
行われたにもかかわらず座において十分な電気的接触が
再びなされなかった場合に生じる。
交流電源は連続的にあるいは間欠的に付勢されてスタイ
ラスホルタ15を振動させ、それにより座における良好
な機械的および電気的接触が再びなされるようにする。
交流電源からの信号の周波数および振幅は、可動部品の
振動の周波数に依存して、再着座を助けるのに最も好ま
しい値に選択することができる。
第7図においてかかる交流電源は電子的スイッチ51を
介して端子61に接続されている発振器50として示さ
れている。これにより2つの端子の配置は保たれている
。しかし、他の解決策としては、1つまたは2つ以上の
追加の導線に沿って交流電圧を供給することか挙げられ
る。この場合にはプローブ1の回路の設剖を一層柔軟に
行うことができる。
[発明の効果] 本発明プローブの1つの利点は、このプローブに対して
たた2つの外部接続線しか必要としないのて、機械ある
いは無線伝送ユニットに対してたた2つの接続線しか持
たない他のプローブとも互換性があるということである
本発明プローブの他の利点は、支持手段からの信号が、
プローブスタイラスが加工片と初期接触したとぎに圧電
センサが信号を発生し損なったときに機械に対するトリ
ガー信号として作用するということである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明接触検知プローブの一実施例を示す部分
断面立面図、 第2図は第1図の線II −11におりる断面図、第3
図は第1図示のプローブの圧電検知素子の配置の一実施
例を示す拡大図、 第4図は第1図示のプローブに対する電気接続の配置の
一実施例を示す回路図、 第5図および第6図は第1図示のプローブに対する電気
接続の配置の他の二実施例を示す回路図、 第7図は本発明の更に他の実施例を示す回路図である。 1・・・プローブ、 2・・・ハウジング、 3・・・機械キャリッジ、 4・・・加工片、 5・・・トラック・ 6・・・コンピュータ、 7・・・光−電子システム、 8・・・カウンタ、 9・・・インターフェースユニット、 lO・・・ストア、 14・・・可動部、 15・・・スタイラスホルダ、 16・・・スタイラス、 17・・・自由端、 18・・・運動機構的支持部材、 19・・・ボール(座素子)、 20・・・シリンダ(座素子)、 21・・・ばね、 22・・・圧力バット、 22八・・・圧電センサ、 22B・・・カラー、 22C・・・底部、 24・・・信号処理電子回路、 25.26・・・電気接続線、 32.33・・・電気的接続線、 34・・・中央圧力パッド、 35・・・環状圧力パッド、 38.39・・・電気的接続線、 40.43・・・抵抗、 41・・・増幅器、 42・・・コンデンサ、 44・・・コンデンサ、 61.62・・・プローブ端子、 50・・・発振器、 51・・・電子スイッチ、 70・・・検知回路、 72・・・定電流源、 74・・・ゲート電極、 76・・・接続ライン、 TI 、T2・・・電界効果トランジスタ、T3・・・
シリコン制御整流器、 Di・・・ゼナーダイオード、 C2,C3・・・直列接続ダイオード、R1〜R4・・
・抵抗、 C1,C2…コンデンサ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)加工片の寸法を測定するための装置において用いら
    れる接触検知プローブにおいて、前記プローブは: 前記装置に取付けるためのハウジングと、 該ハウジング内に設けられ、測定動作中加工片の表面に
    係合可能なスタイラスに接続可能な可動部材と、 該可動部材を休止位置において前記ハウジングに支持す
    る支持手段と、 前記可動部材と前記ハウジングとの間に配置されたバイ
    アス手段であって、前記スタイラスが加工片に係合する
    ときに当該バイアス手段に抗して前記可動部材の前記ハ
    ウジングに対する変位を許可しつつ前記可動部材を前記
    支持手段の前記休止位置に向けて駆動するバイアス手段
    と、 前記スタイラスの加工片に対する初期接触を検知してそ
    れに応答する信号を第1の電気的接続を介して取出す第
    1検知手段と、 前記可動部材の前記休止位置における支持および前記休
    止位置からの変位を検知し、それを示す電気的信号を第
    2の電気的接続を介して取出す第2の検知手段と、 前記第1および第2の電気的接続に接続さ れ、前記プローブの外部に対する接続を行うことのでき
    る、ただ2つの端子および前記第1および第2の検知手
    段からの前記信号を当該2つの端子を介して送出するた
    めの手段を有する電気的回路と を具えたことを特徴とする接触検知プローブ。 2)特許請求の範囲第1項記載の接触検知プローブにお
    いて、前記第1検知手段は圧電素子を具えたことを特徴
    とする接触検知プローブ。 3)特許請求の範囲第1項または第2項記載の接触検知
    プローブにおいて、前記第1検知手段は増幅器を含むこ
    とを特徴とする接触検知プローブ。 4)特許請求の範囲第1項ないし第3項のいずれかの項
    に記載の接触検知プローブにおいて、前記第2検知手段
    は前記可動部材および前記ハウジングに対向する電気的
    接点を有し、該対向する接点により前記支持手段を構成
    したことを特徴とする接触検知プローブ。 5)特許請求の範囲第4項記載の接触検知プローブにお
    いて、前記対向する電気的接点に対して並列に配置され
    た電流通路にコンデンサを設け、前記接点が開放される
    ときに前記コンデンサを充電するようにしたことを特徴
    とする接触検知プローブ。 6)特許請求の範囲第1項ないし第5項のいずれかの項
    に記載の接触検知プローブにおいて、前記第1および第
    2検知手段は前記電気的回路において互いに直列に接続
    されたことを特徴とする接触検知プローブ。 7)特許請求の範囲第1項ないし第5項のいずれかの項
    に記載の接触検知プローブにおいて、前記第1および第
    2検知手段は前記電気的回路において互いに並列に接続
    されたことを特徴とする接触検知プローブ。 8)特許請求の範囲第1項ないし第7項のいずれかの項
    に記載の接触検知プローブにおいて、前記2つの端子か
    ら前記検知手段に電力を供給するように前記電気的回路
    を配置したことを特徴とする接触検知プローブ。 9)特許請求の範囲第1項ないし第7項のいずれかの項
    に記載の接触検知プローブにおいて、当該プローブの外
    部に配置された外部回路と組合され、該外部回路は前記
    2つの端子に接続され、前記外部回路は前記第1および
    第2検知手段からの信号を識別するための手段を含むこ
    とを特徴とする接触検知プローブ。 10)特許請求の範囲第8項記載の接触検知プローブに
    おいて、当該プローブの外部に配置された外部回路と組
    合され、該外部回路は前記2つの端子に接続され、前記
    外部回路は前記第1および第2検知手段からの信号を識
    別するための手段と、前記電力を前記検知手段に供給す
    るための電源とを含むことを特徴とする接触検知プロー
    ブ。
JP62091112A 1986-04-17 1987-04-15 接触検知プロ−ブ Expired - Fee Related JP2539821B2 (ja)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB868609350A GB8609350D0 (en) 1986-04-17 1986-04-17 Contact-sensing probe
GB8609350 1986-04-17
GB8630836 1986-12-24
GB868630836A GB8630836D0 (en) 1986-12-24 1986-12-24 Contact-sensing probe

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS62297703A true JPS62297703A (ja) 1987-12-24
JP2539821B2 JP2539821B2 (ja) 1996-10-02

Family

ID=26290639

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62091112A Expired - Fee Related JP2539821B2 (ja) 1986-04-17 1987-04-15 接触検知プロ−ブ

Country Status (4)

Country Link
US (1) US4769919A (ja)
EP (1) EP0242710B1 (ja)
JP (1) JP2539821B2 (ja)
DE (1) DE3763885D1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013545093A (ja) * 2010-10-29 2013-12-19 マーポス、ソチエタ、ペル、アツィオーニ 接触式プローブ及び関連する検査方法
JP2013545092A (ja) * 2010-10-29 2013-12-19 マーポス、ソチエタ、ペル、アツィオーニ 圧電センサ及び断熱部を備えた接触式プローブ

Families Citing this family (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4882848A (en) * 1987-07-30 1989-11-28 Carl-Zeiss-Stiftung, Heidenheim/Brenz Probe head for a coordinate-measuring instrument
GB8728500D0 (en) * 1987-12-05 1988-01-13 Renishaw Plc Position sensing probe
GB8729632D0 (en) * 1987-12-18 1988-02-03 Renishaw Plc Workpiece inspection
DE3831975A1 (de) * 1988-04-12 1989-10-26 Wegu Messtechnik Piezogesteuerter dynamischer tastkopf
DE3824548A1 (de) * 1988-07-20 1990-01-25 Zeiss Carl Fa Verfahren und einrichtung fuer den betrieb eines tastkopfes vom schaltenden typ
GB8909357D0 (en) * 1989-04-25 1989-06-14 Renishaw Plc Position determining apparatus
GB8920447D0 (en) * 1989-09-09 1989-10-25 Renishaw Plc Method and apparatus of datuming a coordinate positioning machine
FR2673468A1 (fr) * 1991-02-28 1992-09-04 Renishaw Plc Circuit de conditionnement de signaux pour sonde a declenchement.
DE69323289T3 (de) 1992-12-24 2003-04-24 Renishaw Plc Tastsonde und Signalverarbeitungsschaltung dafür
GB9305687D0 (en) * 1993-03-19 1993-05-05 Renishaw Metrology Ltd A signal processing for trigger probe
GB9415338D0 (en) * 1994-07-29 1994-09-21 Renishaw Plc Trigger probe circuit
JP3990744B2 (ja) * 1995-09-08 2007-10-17 キヤノン株式会社 電子機器及びその制御方法
EP0764827B2 (en) * 1995-09-25 2005-05-04 Mitutoyo Corporation Touch probe
US6044571A (en) * 1997-08-13 2000-04-04 Climax Portable Machine Tools, Inc. Bore measurement apparatus and method
US6150832A (en) * 1998-03-27 2000-11-21 Solid State Measurements, Inc. Noncontact capacitance measuring device
US6708420B1 (en) * 1999-01-06 2004-03-23 Patrick M. Flanagan Piezoelectric touch probe
US6553682B1 (en) * 1999-03-15 2003-04-29 Paradyne Touch probe
DE19929557B4 (de) * 1999-06-18 2006-01-19 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Verfahren und Schaltkreis zur Einstellung einer Schaltschwelle eines Tastschalters
JP3763124B2 (ja) * 2001-05-31 2006-04-05 株式会社ミツトヨ タッチ信号プローブの信号処理装置および信号処理方法
ATE462952T1 (de) * 2001-09-05 2010-04-15 Renishaw Plc Sondenansteuerung
CA2414250A1 (en) 2001-12-21 2003-06-21 Magna International Inc. Electronic measuring device
DE102005015890B4 (de) * 2005-02-24 2007-05-03 Wolfgang Madlener Tastfühler
US20090139313A1 (en) * 2007-12-03 2009-06-04 David Patrick Fromm Time-Tagged Data for Atomic Force Microscopy
CN103528490B (zh) * 2013-11-05 2016-04-06 无锡市迈日机器制造有限公司 大量程亚微米级高精度气电转换器
US9250055B2 (en) * 2014-05-09 2016-02-02 Mitutoyo Corporation High speed contact detector for measurement sensors

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4994370A (ja) * 1972-09-21 1974-09-07
JPS5866801A (ja) * 1981-10-16 1983-04-21 Futaba Corp 接触式センサ

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4153998A (en) * 1972-09-21 1979-05-15 Rolls-Royce (1971) Limited Probes
GB1568053A (en) * 1975-10-04 1980-05-21 Rolls Royce Contactsensing probe
GB1589297A (en) * 1976-12-24 1981-05-13 Rolls Royce Probe for use in measuring apparatus
DE2712181C3 (de) * 1977-03-19 1981-01-22 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Tastsystem
GB2025073B (en) * 1978-07-07 1982-12-15 Rolls Royce Apparatus for monitoring the state of an electrical circiut
US4339714A (en) * 1978-07-07 1982-07-13 Rolls Royce Limited Probe having passive means transmitting an output signal by reactive coupling
GB2049198B (en) * 1979-05-01 1983-03-30 Renishaw Electrical Ltd Probe for use in measuring apparatus
US4443946A (en) * 1980-07-01 1984-04-24 Renishaw Electrical Limited Probe for measuring workpieces
JPS5844302A (ja) * 1981-06-30 1983-03-15 レニショウ パブリック リミテッド カンパニー 測定プロ−ブ
DE3210711C2 (de) * 1982-03-24 1986-11-13 Dr.-Ing. Höfler Meßgerätebau GmbH, 7505 Ettlingen Mehrkoordinatentaster mit einstellbarer Meßkraft zum Abtasten von mehrdimensionalen, stillstehenden Gegenständen
GB8409091D0 (en) * 1984-04-09 1984-05-16 Renishaw Plc Probe for measuring workpieces
DE3417991A1 (de) * 1984-05-15 1985-11-21 Mauser-Werke Oberndorf Gmbh, 7238 Oberndorf Tastkopf einer messmaschine
GB8431746D0 (en) * 1984-12-17 1985-01-30 Renishaw Plc Contact-sensing probe

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4994370A (ja) * 1972-09-21 1974-09-07
JPS5866801A (ja) * 1981-10-16 1983-04-21 Futaba Corp 接触式センサ

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013545093A (ja) * 2010-10-29 2013-12-19 マーポス、ソチエタ、ペル、アツィオーニ 接触式プローブ及び関連する検査方法
JP2013545092A (ja) * 2010-10-29 2013-12-19 マーポス、ソチエタ、ペル、アツィオーニ 圧電センサ及び断熱部を備えた接触式プローブ
KR20140066969A (ko) * 2010-10-29 2014-06-03 마포스 쏘시에타 페르 아지오니 압전 센서 및 단열부를 갖는 터치 프로브
KR101876900B1 (ko) * 2010-10-29 2018-07-10 마포스 쏘시에타 페르 아지오니 압전 센서 및 단열부를 갖는 터치 프로브

Also Published As

Publication number Publication date
US4769919A (en) 1988-09-13
DE3763885D1 (de) 1990-08-30
EP0242710B1 (en) 1990-07-25
JP2539821B2 (ja) 1996-10-02
EP0242710A3 (en) 1988-03-30
EP0242710A2 (en) 1987-10-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS62297703A (ja) 接触検知プロ−ブ
EP0205528B1 (en) Contact-sensing probe
EP0070108B1 (en) Improvements in probes for measuring apparatus
CN108204783B (zh) 包括数字信号通信的用于坐标测量机的触控探针
JP2647881B2 (ja) 信号処理回路
EP0605140A1 (en) Touch probe and signal processing circuit therefor
GB0102324D0 (en) Capacitance type displacement responsive device and a suspension system for a displacement responsive device
JP2539824B2 (ja) 測定装置
US4679332A (en) Sensor device for a machine for measuring conductive parts mounted on a measurement table
US4280205A (en) Ultrasonic fork height measuring apparatus
CN101198836B (zh) 带有定向变化检测装置的接触探针
EP0420305B1 (en) Signal processing for contact-sensing probe
JPH0354768B2 (ja)
JP4701394B2 (ja) 材質識別装置
US4092683A (en) Dual-mode demodulator for movement of a servo head
KR100530747B1 (ko) 정확한 와이어 본딩을 위한 캐필러리 구동 장치
JPH055442Y2 (ja)
KR100562412B1 (ko) 와이어 본딩 상태를 모니터링하는 회로
CN114013952A (zh) 一种带有传感器监测的振动盘装置
JPS5999365A (ja) センサ装置
CN1084974A (zh) 运动方向识别传感器
JPS6395096A (ja) 洗濯機等の水位検知装置
JPH08210805A (ja) 接触センサー
JP2008203220A (ja) 硬度及び湿潤度識別装置
JPS5835821A (ja) タツチセンサ

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees