JPS62291665A - 電子写真感光体の製造方法 - Google Patents
電子写真感光体の製造方法Info
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- JPS62291665A JPS62291665A JP13698286A JP13698286A JPS62291665A JP S62291665 A JPS62291665 A JP S62291665A JP 13698286 A JP13698286 A JP 13698286A JP 13698286 A JP13698286 A JP 13698286A JP S62291665 A JPS62291665 A JP S62291665A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
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- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G5/00—Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
- G03G5/02—Charge-receiving layers
- G03G5/04—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
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- G03G5/08214—Silicon-based
- G03G5/08278—Depositing methods
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
3、発明の詳細な説明
〈産業上の利用分訝〉
本発明はアモルファスシリコンを用いた電子写真感光体
の製造方法に関するものである。
の製造方法に関するものである。
〈従来の技術〉
現在、実用化されている電子写真感光体は、アモルファ
スセレン(a−Se)やアモルファスセレン砒R(a
AS2S e3 ) 等のセレン系材料、硫化カド
ミウム粉末を有機樹脂中((分肢した樹脂分散型材料、
有機系材料等に大きく分けることができる。しかし、こ
れらのいずれの材料も公害等の理由から、代替材料の開
発が望まれ、近年では上記感光体材料に変わってアモル
ファスシリコンc以下、a−Siという)が注目を集め
ている。
スセレン(a−Se)やアモルファスセレン砒R(a
AS2S e3 ) 等のセレン系材料、硫化カド
ミウム粉末を有機樹脂中((分肢した樹脂分散型材料、
有機系材料等に大きく分けることができる。しかし、こ
れらのいずれの材料も公害等の理由から、代替材料の開
発が望まれ、近年では上記感光体材料に変わってアモル
ファスシリコンc以下、a−Siという)が注目を集め
ている。
a−3iは、従来の電子写真材料と異なって無公害であ
り、且つ、高い光感度を有し、さらζてビッカース強度
が1500−2000kg−mm2と非常に硬い等、多
くの潰れた特性を有しているため、理、想的な感光材料
と考えられている。電子写真感光体材料は、基本的に高
い帯電保持能と高い光、盛宴の両者を兼ね備えているこ
表が要求される0a−8iの高い光感度(浸れた光導重
性)を有効に利用するために、現在では表面及び基体側
に電気的ブロッキング層を設けて帯電の保持を図る構造
が一般的となっている。このようにして、a−3iを用
いて電子写真感光体として良好な基本的特性を得ること
ができる。
り、且つ、高い光感度を有し、さらζてビッカース強度
が1500−2000kg−mm2と非常に硬い等、多
くの潰れた特性を有しているため、理、想的な感光材料
と考えられている。電子写真感光体材料は、基本的に高
い帯電保持能と高い光、盛宴の両者を兼ね備えているこ
表が要求される0a−8iの高い光感度(浸れた光導重
性)を有効に利用するために、現在では表面及び基体側
に電気的ブロッキング層を設けて帯電の保持を図る構造
が一般的となっている。このようにして、a−3iを用
いて電子写真感光体として良好な基本的特性を得ること
ができる。
〈発明が解決しようとする問題点〉
しかしながら、a−8iを用いた電子写真感光体は、最
終的な特性ておいて未だ不充分な問題が存在する。その
ひとつは、コピー上に現れる白斑である。これまでの電
子写真感光体の場合、コピー上の白斑(以下、画像白斑
という)は、通常、絶縁破壊によるものと考えられてい
る。しかし、a−3iの場合、絶縁破壊によるものの他
4/C,膜の異常成長が原因となる画像白斑が存在する
。こめ膜の異常成長はほとんどが基体(アルミニウムド
ラム)上の付着異物が原因であり、膜の表面では粒状の
突起となる。このような膜の異常成長による粒状突起は
、感光体として使用の初期にあるいは繰り返して使用の
後に画像白斑を発生させる。
終的な特性ておいて未だ不充分な問題が存在する。その
ひとつは、コピー上に現れる白斑である。これまでの電
子写真感光体の場合、コピー上の白斑(以下、画像白斑
という)は、通常、絶縁破壊によるものと考えられてい
る。しかし、a−3iの場合、絶縁破壊によるものの他
4/C,膜の異常成長が原因となる画像白斑が存在する
。こめ膜の異常成長はほとんどが基体(アルミニウムド
ラム)上の付着異物が原因であり、膜の表面では粒状の
突起となる。このような膜の異常成長による粒状突起は
、感光体として使用の初期にあるいは繰り返して使用の
後に画像白斑を発生させる。
電子写真においては一部分でも画像白斑が存在すれば実
用上問題であるため、感光体の膜の粒状突起が生じない
ようにすることが重要になる。さらに、この膜の粒状突
起は、これまでの他の感光体材料にはみられないa−8
i独特のものであるため、a−3i電子写真感光体の実
用化において取りmまねばならない最も重要な課題のひ
とつであると考えられる。現在では、膜の粒状突起を少
なくするために、基体表面の清浄化及び成膜真空槽内の
清浄化を行ない、極力異常成長の原因となる付着異物を
少なくしているが、必ずしも充分とは言えない。
用上問題であるため、感光体の膜の粒状突起が生じない
ようにすることが重要になる。さらに、この膜の粒状突
起は、これまでの他の感光体材料にはみられないa−8
i独特のものであるため、a−3i電子写真感光体の実
用化において取りmまねばならない最も重要な課題のひ
とつであると考えられる。現在では、膜の粒状突起を少
なくするために、基体表面の清浄化及び成膜真空槽内の
清浄化を行ない、極力異常成長の原因となる付着異物を
少なくしているが、必ずしも充分とは言えない。
上記のように、画像白斑てなる粒状突起の原因は、アル
ミニウムドラム上の付着異物であるが、この付着異物は
アルミニウムドラムの切削、洗浄。
ミニウムドラム上の付着異物であるが、この付着異物は
アルミニウムドラムの切削、洗浄。
成膜反応槽内装着、真空排気等の各工程において付着す
る。この点に関し、各工程における異物の発生状況を調
べ、付着異物を分析した結果、シリコン系化合物が含ま
れていることが判明した。
る。この点に関し、各工程における異物の発生状況を調
べ、付着異物を分析した結果、シリコン系化合物が含ま
れていることが判明した。
一方、半導体プラズマプロセスの技術(Cおいて、シリ
コン系化合物はフッ化炭素系ガスによるプラズマエツチ
ングが可能であることが知られている。
コン系化合物はフッ化炭素系ガスによるプラズマエツチ
ングが可能であることが知られている。
本出願人は上記の点に鑑みて、先に特願昭61−375
66として、フッ化炭素系ガスによるプラズマエツチン
グによりアルミニウムドラム上の付着異物を除去するこ
とにより、良好な特性を有するa−8tを主体とする感
光体を得るようにした「電子写真感光体の製造方法」を
提案している。
66として、フッ化炭素系ガスによるプラズマエツチン
グによりアルミニウムドラム上の付着異物を除去するこ
とにより、良好な特性を有するa−8tを主体とする感
光体を得るようにした「電子写真感光体の製造方法」を
提案している。
本出願人が先に提案した方法にしたがって、フッ化炭素
系ガスだよるプラズマエツチングを行なえば、導電性基
体であるアルミニウムドラム表面のシリコン系化合物か
らなる付着異物を除去することが出来るが、その後、種
々検討した結果、その油の問題が生じる場合があること
が判明した。
系ガスだよるプラズマエツチングを行なえば、導電性基
体であるアルミニウムドラム表面のシリコン系化合物か
らなる付着異物を除去することが出来るが、その後、種
々検討した結果、その油の問題が生じる場合があること
が判明した。
即ち、真空槽内壁がエツチングガスによるプラズマださ
らされて反応生成物が生じ、付着異物の新たな発生源と
なる可能性がある。例えば、真空槽内壁がSUS材(F
e、 Cr、 Ni )で形成されている場合、フッ化
炭素系ガスのプラズマにさらされて白緑色の吻状の生成
物(Fe、 Cr+ Ni+ F の化合物)が生じ、
その後の真空槽内の排気等によってアルミニウムドラム
表面に付着し、感光体膜に粒状突起の生じる原因となる
。
らされて反応生成物が生じ、付着異物の新たな発生源と
なる可能性がある。例えば、真空槽内壁がSUS材(F
e、 Cr、 Ni )で形成されている場合、フッ化
炭素系ガスのプラズマにさらされて白緑色の吻状の生成
物(Fe、 Cr+ Ni+ F の化合物)が生じ、
その後の真空槽内の排気等によってアルミニウムドラム
表面に付着し、感光体膜に粒状突起の生じる原因となる
。
本発明は上記の点に鑑みて創案されたものであ)、本出
願人が先に提案した方法を改善し、画像白斑の原因とな
る膜欠陥のない、信頼性のより高い電子写真感光体の製
造方法を提供することを目的としている。
願人が先に提案した方法を改善し、画像白斑の原因とな
る膜欠陥のない、信頼性のより高い電子写真感光体の製
造方法を提供することを目的としている。
く問題点を解決するための手段及び作用〉上記の目的を
達成するため、本発明の電子写真感光体の製造方法は、
アモルファスシリコンを主体とした電子写真感光体の製
造工程において、第1の真空槽内に少なくとも炭素(C
)とフッ素(jとを含むフッ化炭素系ガスを導入し、高
周波電界を印加することによって得られるグロー放電プ
ラズマ中に導電性基体上蘭をさらした後、この導電性基
室 体を真空\中で移動し、異なる第2の真空槽内でこの導
電性基体上てアモルファスシリコンを主体とする感光層
を堆積するように構成している。
達成するため、本発明の電子写真感光体の製造方法は、
アモルファスシリコンを主体とした電子写真感光体の製
造工程において、第1の真空槽内に少なくとも炭素(C
)とフッ素(jとを含むフッ化炭素系ガスを導入し、高
周波電界を印加することによって得られるグロー放電プ
ラズマ中に導電性基体上蘭をさらした後、この導電性基
室 体を真空\中で移動し、異なる第2の真空槽内でこの導
電性基体上てアモルファスシリコンを主体とする感光層
を堆積するように構成している。
即ち、本発明による電子写真感光体の製造方法において
は、導電性基体となるアルミニウムドラムを\第1の真
空槽内でフン化炭素系ガスによるグロー放電プラズマに
さらした後、真空室中で移動し、異なる第2の真空槽内
でアモルファスシリコンを主体とする感光層を堆積する
ことを特徴とするものであり、プラズマエツチングa了
e、X空室中でアルミニウムドラムを移動し、清浄な異
なる第2の真空槽内でa−8iの堆積を行、会うことに
より、真空槽内壁とフッ化炭素系ガスのプラズマとの相
互作用の結果生じる反応生成物がアルミニウムドラムに
付着することを防止して、膜の粒状突起の発生を未然に
防止している。
は、導電性基体となるアルミニウムドラムを\第1の真
空槽内でフン化炭素系ガスによるグロー放電プラズマに
さらした後、真空室中で移動し、異なる第2の真空槽内
でアモルファスシリコンを主体とする感光層を堆積する
ことを特徴とするものであり、プラズマエツチングa了
e、X空室中でアルミニウムドラムを移動し、清浄な異
なる第2の真空槽内でa−8iの堆積を行、会うことに
より、真空槽内壁とフッ化炭素系ガスのプラズマとの相
互作用の結果生じる反応生成物がアルミニウムドラムに
付着することを防止して、膜の粒状突起の発生を未然に
防止している。
まだ、本発明の実施態様として、プラズマエツチングを
行なう第1の真空槽の内壁は反応生成物の生じにぐいア
ルミニウムで構成するように成している。
行なう第1の真空槽の内壁は反応生成物の生じにぐいア
ルミニウムで構成するように成している。
なお、本発明は電子写真感光体の製造だけでなく、前述
した付着異物が特性劣化を引き起こすa−3iデバイス
全般に適用できるものである〇〈実施例〉 次に具体的に実施例をあげて本発明を説明する。
した付着異物が特性劣化を引き起こすa−3iデバイス
全般に適用できるものである〇〈実施例〉 次に具体的に実施例をあげて本発明を説明する。
第1図は、本発明を実施する際に用いられる製造装置の
概略構造例を示す模式図である。
概略構造例を示す模式図である。
第1図において、入口弁1及び出口弁2を備えた真空室
は仕切弁3によって第1の真空槽4及び第2の真空槽5
に区分されており、搬送機構6によって、基体11が第
1の真空槽4から第2の真空槽5へ仕切弁3を介して移
送し得るように構成されている。なお、7及び8はそれ
ぞれ第1の真空槽4ヘエツチングガスを導入する導入管
及び第2の真空槽5へ反応ガスを導入する導入管であり
、また9及び10はそれぞれ第1の真空槽4及び第2の
真空槽5に取付けられた真空ポンプである。
は仕切弁3によって第1の真空槽4及び第2の真空槽5
に区分されており、搬送機構6によって、基体11が第
1の真空槽4から第2の真空槽5へ仕切弁3を介して移
送し得るように構成されている。なお、7及び8はそれ
ぞれ第1の真空槽4ヘエツチングガスを導入する導入管
及び第2の真空槽5へ反応ガスを導入する導入管であり
、また9及び10はそれぞれ第1の真空槽4及び第2の
真空槽5に取付けられた真空ポンプである。
実施例1
a−Siを主体とする電子写真感光体を作製する基体1
1として、表面粗度0.3〜O,Q5/1mのアルミニ
ウムドラムを用いる。このアルミニウムドラムを、洗浄
工程を経た後、プラズマエツチングを行なう内壁がアル
ミニウムで形成された第1の真空槽4内((大口弁1を
介して装Nし、槽4内を真空ポンプ9により真空(例え
ば10”” torr )に排気する。エツチング装置
としては存置結合型装置を用い、アルミニウムドラムを
接地電位とし、対向電極に13.56 MHzの高周波
電力をインピーダンス整合回路を通して印加する。エツ
チングガスとしてCF4を導入管7よりマスフローコン
トローラを通して流量を制御しながら第1の真空槽4へ
導入する。
1として、表面粗度0.3〜O,Q5/1mのアルミニ
ウムドラムを用いる。このアルミニウムドラムを、洗浄
工程を経た後、プラズマエツチングを行なう内壁がアル
ミニウムで形成された第1の真空槽4内((大口弁1を
介して装Nし、槽4内を真空ポンプ9により真空(例え
ば10”” torr )に排気する。エツチング装置
としては存置結合型装置を用い、アルミニウムドラムを
接地電位とし、対向電極に13.56 MHzの高周波
電力をインピーダンス整合回路を通して印加する。エツ
チングガスとしてCF4を導入管7よりマスフローコン
トローラを通して流量を制御しながら第1の真空槽4へ
導入する。
第1の真空槽4内(C設置されたアルミニウムドラムは
、200〜250℃に保持する。
、200〜250℃に保持する。
プラズマエツチング条件を表−1に示す。
表−1
上記の条件でエツチングを行ったアルミニウムドラムを
X空室中で移動し、仕切弁3を介して異なる第2の真空
槽5内に装着し、反応ガスを導入してプラズマCVD法
によりa−3iを主体とする感光層を従来公知の成膜条
件で堆積する。
X空室中で移動し、仕切弁3を介して異なる第2の真空
槽5内に装着し、反応ガスを導入してプラズマCVD法
によりa−3iを主体とする感光層を従来公知の成膜条
件で堆積する。
a−8tを主体とする電子写真感光体の断面構造を第2
図に示す。第2図において、11は基体、12は基体側
ブロッキング層、13は光導電層、14は表面ブロッキ
ング層である13表面ブロッキング層14ば、表面保護
層の機能をもち、a−8iK窒素または炭素を添加した
バンドギャップの大きい膜(膜厚0005〜0.1μm
)を用いる。基体側ブロッキング層12は、基体11か
らの電荷の注入を阻止するために、a−8iにホウ素ま
たi/i IJンを添加した1〜3)tmの層を用いる
場合と、バンドギャップの大きいa−8iNxまたua
−8iCxを用いる場合とがあり、このa −S i
N xまたはa−3iCxを用いる場合は、0.005
−0.1μmの厚さとする。a−8iを主体とする光導
電層13ば、窒素、リン、ホウ素を適宜添加し、それら
の濃度分布は電子写真特性を向上させるために最適化さ
れる。
図に示す。第2図において、11は基体、12は基体側
ブロッキング層、13は光導電層、14は表面ブロッキ
ング層である13表面ブロッキング層14ば、表面保護
層の機能をもち、a−8iK窒素または炭素を添加した
バンドギャップの大きい膜(膜厚0005〜0.1μm
)を用いる。基体側ブロッキング層12は、基体11か
らの電荷の注入を阻止するために、a−8iにホウ素ま
たi/i IJンを添加した1〜3)tmの層を用いる
場合と、バンドギャップの大きいa−8iNxまたua
−8iCxを用いる場合とがあり、このa −S i
N xまたはa−3iCxを用いる場合は、0.005
−0.1μmの厚さとする。a−8iを主体とする光導
電層13ば、窒素、リン、ホウ素を適宜添加し、それら
の濃度分布は電子写真特性を向上させるために最適化さ
れる。
この方法で作製したa−8i高感光の特性は表−2の通
りである。
りである。
表−2
このようにして作製したa−3i悪感光を複写機(で装
着し、実写試験を行った結果、鮮明で良好な画質が得ら
れた。さらに、)・−フトーン原稿で画像白斑の評価を
行なった結果、画像白斑は全く見られなかった。
着し、実写試験を行った結果、鮮明で良好な画質が得ら
れた。さらに、)・−フトーン原稿で画像白斑の評価を
行なった結果、画像白斑は全く見られなかった。
比較例
上述の実施例と特性を比較するため、以下の条件でa−
3i悪感光を作製した1、尚本比較例(でおけるa−8
iを主体とする感光層の堆7積条件は上記実施例と同じ
である。
3i悪感光を作製した1、尚本比較例(でおけるa−8
iを主体とする感光層の堆7積条件は上記実施例と同じ
である。
(I) プラズマエツチング工程なしフッ化炭素系ガ
スによるプラズマエツチングを行わずに、a−8i高感
光を作製した。このようにして作製したa−8i高感光
の電気的特性は、上記実施例とほぼ同じであった。しか
しながら、複写機に装着して実写試験を行った結果、画
像白斑が見られ、満足できる特性ではなかった。
スによるプラズマエツチングを行わずに、a−8i高感
光を作製した。このようにして作製したa−8i高感光
の電気的特性は、上記実施例とほぼ同じであった。しか
しながら、複写機に装着して実写試験を行った結果、画
像白斑が見られ、満足できる特性ではなかった。
(II) プラズマエツチングとa−8i膜堆、債を
同一反応槽で行った場合。
同一反応槽で行った場合。
フッ化炭素系ガス(でよるプラズマエツチングを行った
後、同一の真空槽内でa−8iを主体とする感光層を堆
積した。このようにして作製したa−3i悪感光の電気
的特性は、上記実施例とほぼ同じであったが、複写機に
装着して実写試験を行った結果、やはり′bずかながら
画像白斑が存在し満足できる特性ではなかった。
後、同一の真空槽内でa−8iを主体とする感光層を堆
積した。このようにして作製したa−3i悪感光の電気
的特性は、上記実施例とほぼ同じであったが、複写機に
装着して実写試験を行った結果、やはり′bずかながら
画像白斑が存在し満足できる特性ではなかった。
実施例2
fI) プラズマエツチングの際の高周波電力密度及
びエツチング時間をパラメータとし、その他:・寸上述
の実施例1と同じ製造方法でa−3i悪感光を作製した
。このよってして作製したa −3i悪感光を複写機に
装着し1.実写試1@を行なって画像白斑に着目して評
価し、表−3に示す結果を得た。なお、表−3において
、Xは画像白斑または画質の荒れがあることを示し、○
は面像白斑が無く、鮮明で良好な画質が得られたことを
示す。
びエツチング時間をパラメータとし、その他:・寸上述
の実施例1と同じ製造方法でa−3i悪感光を作製した
。このよってして作製したa −3i悪感光を複写機に
装着し1.実写試1@を行なって画像白斑に着目して評
価し、表−3に示す結果を得た。なお、表−3において
、Xは画像白斑または画質の荒れがあることを示し、○
は面像白斑が無く、鮮明で良好な画質が得られたことを
示す。
表−3
この評価結果から、画像白斑が無く鮮明で良好な画質が
得られるために、エツチングを行なう幅広い適正条件が
存在することが分る。
得られるために、エツチングを行なう幅広い適正条件が
存在することが分る。
(II) CF4ガス以外のフッ化炭素系ガスを用い
てエツチングを行った場合。
てエツチングを行った場合。
CF4ガス以外((、C2F6.03FA、CHF3
。
。
CH2F 2 、 CH3p ガスを用いて上記実施
例と同様の実験を行った。それぞれのガスについてエツ
チングの適正条件を求めて製造を行なって、画像白斑の
全くない良好な画質が得られるa −3i悪感光が作製
できた。
例と同様の実験を行った。それぞれのガスについてエツ
チングの適正条件を求めて製造を行なって、画像白斑の
全くない良好な画質が得られるa −3i悪感光が作製
できた。
〈発明の効果〉
以上説明したようだ1本発明によれば、a−Si感光体
を作製するための導電性基体(アルミニウムドラム)を
、フッ化炭素系ガスてよるプラズマしてさらした後、真
空室中で移動させて、異なる第2の真空槽内でa−3i
を主体とする感光、署を堆積することにより、基体上の
付着異物を除去することができ、その結果として、a−
8i高感光の膜お異常成長を防止して画□□□白斑の発
生を減少させ、複写機の画質を高めることができる0
を作製するための導電性基体(アルミニウムドラム)を
、フッ化炭素系ガスてよるプラズマしてさらした後、真
空室中で移動させて、異なる第2の真空槽内でa−3i
を主体とする感光、署を堆積することにより、基体上の
付着異物を除去することができ、その結果として、a−
8i高感光の膜お異常成長を防止して画□□□白斑の発
生を減少させ、複写機の画質を高めることができる0
第1図は本発明の製造方法に用いられる製造装置の概略
構造を模式的に示した図、第2図1d本発明の製造方法
によって作製されたアモルファスシリコン感光体の感光
膜の構造を模式的に示した図である。 3・・・仕切弁、 4・・・第1の真空槽、 5・
・・第2の真空槽、 6・・・搬送機構、 7・・
・エツチングガス導入管、 8・・・反応ガス導入
管、11・・・基体、 12・・光導電層。 代理人 弁理士 杉 山 股 至(他1名)第1[4 第2図
構造を模式的に示した図、第2図1d本発明の製造方法
によって作製されたアモルファスシリコン感光体の感光
膜の構造を模式的に示した図である。 3・・・仕切弁、 4・・・第1の真空槽、 5・
・・第2の真空槽、 6・・・搬送機構、 7・・
・エツチングガス導入管、 8・・・反応ガス導入
管、11・・・基体、 12・・光導電層。 代理人 弁理士 杉 山 股 至(他1名)第1[4 第2図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、アモルファスシリコンを主体とした電子写真感光体
の製造工程において、 第1の真空槽内に少なくとも炭素(C)とフッ素(F)
とを含むフッ化炭素系ガスを導入し、高周波電界を印加
することによって得られるグロー放電プラズマ中に導電
性基体表面をさらした後、該導電性基体を真空室中で移
動し、異なる第2の真空槽内で該導電性基体上にアモル
ファスシリコンを主体とする感光層を堆積することを特
徴とする電子写真感光体の製造方法。 2、前記第1の真空槽はその内壁をアルミニウムを主成
分として構成していることを特徴とする特許請求の範囲
第1項記載の電子写真感光体の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13698286A JPS62291665A (ja) | 1986-06-11 | 1986-06-11 | 電子写真感光体の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13698286A JPS62291665A (ja) | 1986-06-11 | 1986-06-11 | 電子写真感光体の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62291665A true JPS62291665A (ja) | 1987-12-18 |
Family
ID=15188004
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13698286A Pending JPS62291665A (ja) | 1986-06-11 | 1986-06-11 | 電子写真感光体の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62291665A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014005530A (ja) * | 2012-05-30 | 2014-01-16 | Canon Inc | 堆積膜形成方法および電子写真感光体の製造方法 |
-
1986
- 1986-06-11 JP JP13698286A patent/JPS62291665A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014005530A (ja) * | 2012-05-30 | 2014-01-16 | Canon Inc | 堆積膜形成方法および電子写真感光体の製造方法 |
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