JPS6228759A - Photosensitive body - Google Patents

Photosensitive body

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Publication number
JPS6228759A
JPS6228759A JP16875585A JP16875585A JPS6228759A JP S6228759 A JPS6228759 A JP S6228759A JP 16875585 A JP16875585 A JP 16875585A JP 16875585 A JP16875585 A JP 16875585A JP S6228759 A JPS6228759 A JP S6228759A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
photoreceptor
contg
intermediate layer
carbon
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP16875585A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshihide Fujimaki
藤巻 義英
Eiichi Sakai
坂井 栄一
Toshiki Yamazaki
山崎 敏規
Hiroyuki Nomori
野守 弘之
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Konica Minolta Inc
Original Assignee
Konica Minolta Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Konica Minolta Inc filed Critical Konica Minolta Inc
Priority to JP16875585A priority Critical patent/JPS6228759A/en
Publication of JPS6228759A publication Critical patent/JPS6228759A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G5/00Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
    • G03G5/02Charge-receiving layers
    • G03G5/04Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
    • G03G5/08Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
    • G03G5/082Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
    • G03G5/08214Silicon-based
    • G03G5/0825Silicon-based comprising five or six silicon-based layers

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Photoreceptors In Electrophotography (AREA)

Abstract

PURPOSE:To improve the mechanical and the optical properties and the stability of the titled body by laminating the prescribed layers composed of such as a specific amorphous hydrogenated silicon (a-Si:H) etc. respectively. CONSTITUTION:An electric charge blocking layer 44 composed of a-Si:H contg. at least one kind atom selected from a carbon, a nitrogen, and an oxygen atoms, an electric charge transfer layer 42 composed of a-Si:H contg. the carbon atom and an electric charge generating layer 43 composed of a-Si:H are laminated on a substrate 41. And the intermediate layer 46 composed of a-Si:H contg. at least one kind atom selected from the carbon, the nitrogen and the oxygen atoms and dopped with the group IIIa or Va element of the periodic table, and the surface reforming layer 45 contg. large amounts of atom is laminated on the substrate 41 to form the photosensitive body 39. By providing the layers 45 and 46, the mechanical strength of the titled body becomes large. The adhesive property, the anti-fatigue property against a light and the anti-chemical stability of the layers 45 and 43 are improved. The effects as prescribed above are obtd. by merely using a fluorinated silicon or by jointly using the fluorinated silicon and the prescribed silicon.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

イ、産業上の利用分野 本発明は感光体、例えば電子写真感光体に関するもので
ある。 口、従来技術 従来、電子写真感光体として、Se又はSeにAs 、
Te 、Sb等をドープした感光体、ZnOやCdSを
樹脂バインダーに分散させた感光体等が知られている。 しかしながらこれらの感光体は、環境汚染性、熱的安定
性、機械的強度の点で問題がある。 一方、アモルファスシリコン(a−sDをRhとして用
いた電子写真感光体が近年になって提案されている。a
−3iは、5i−3iの結合手が切れたいわゆるダング
リングボンドを有しており、この欠陥に起因してエネル
ギーギャップ内に多くの局在準位が存在する。このため
に、熱励起担体のホッピング伝導が生じて暗抵抗が小さ
く、また光励起担体が局在準位にトラップされて光伝導
性が悪くなっている。そこで、上記欠陥を水素原子(H
)で補償してSiにHを結合させることによって、ダン
グリングボンドを埋めることが行われる。 このようなアモルファス水素化シリコン(以下、a−8
i:Hと称する。)の暗所での抵抗率は、108〜10
9Ω−cmであって、アモルファスSeと比較すれば約
1万分の1も低い。従って、a−3t:F工の単層から
なる感光体は表面電位の暗減衰速度が大きく、初期帯電
電位が低いという問題点を有している。 しかし、他方では、可視及び赤外領域の光を照射すると
抵抗率が大きく減少するため、感光体の感光層として極
めて優れた特性を有している。 第8図には、上記のa−5i:Hを母材としたa−3i
系感光体9を組込んだ電子写真複写機が示されている。 この複写機によれば、キャビネット1の上部には、原稿
2を載せるガラス製原稿載置台3と、原稿2を覆うプラ
テンカバー4とが配されている。原稿台3の下方では、
光源5及び第1反射用ミラー6を具備した第1ミラーユ
ニツト7からなる光学走査台が図面左右方向へ直線移動
可能に設けられており、原稿走査点と感光体との光路長
を一定にするための第2ミラーユニツト20が第1ミラ
ーユニツトの速度に応じて移動し、原稿台3側からの反
射光がレンズ21、反射用ミラー8を介して像担持体と
しての感光体ドラム9上へスリット状に入射するように
なっている。ドラム9の周囲には、コロナ帯電器10、
現像器11、転写部12、分離部13、クリーニング部
14が夫々配置されており、給紙箱15から各給紙ロー
ラー16.17を経て送られる複写紙18はドラム9の
トナー像の転写後に更に定着部19で定着され、トレイ
35へ排紙される。定着部19では、ヒーター22を内
臓した加熱ローラー23と圧着ローラー24との間に現
像済みの複写紙を通して定着操作を行なう。 しかしながら、a−3i:Hを表面とする感光体は、長
期に亘って大気や湿気に曝されることによる影響、コロ
ナ放電で生成される化学種の影響等の如き表面の化学的
安定性に関して、これまで十分な検討がなされていない
。例えば1力月以上放置したものは湿気の影響を受け、
受容電位が著しく低下することが分っている。一方、ア
モルファス水素化炭化シリコン(以下、a−3iC:H
と称する。)について、その製法や存在が“Ph1l。 Mag、 Vol、 35” (1978)等に記載さ
れており、その特性として、耐熱性や表面硬度が高いこ
と、a−3t:Hと比較して高い暗所抵抗率(10′2
〜10′3Ω−cm)を有すること、炭素量により光学
的エネルギーギャップが1.6〜2.8eVの範囲に亘
って変化すること等が知られている。但、炭素の含有に
よりバンドギャップが拡がるために長波長感度が不良と
なるという欠点がある。 こうしたa=sic:Hとa−3i:Hとを組合せた電
子写真感光体は例えば特開昭55−127083号公報
において提案されている。これによれば、a−3i:H
層を電荷発生(光導電)層とし、この電荷発生層下にa
−3iC:H層を設け、上層のa−3t:Hにより広い
波長域での光感度を得、かつaSi:H層とへテロ接合
を形成する下層のa−3iC:Hにより帯電電位の向上
を図っている。しかしながら、aSisH層の暗減衰を
゛充分に防止できず、帯電電位はなお不充分であって実
用性のあるものとはならない上に、表面にa−3i  
:HIiJが存在していることにより化学的安定性や機
械的強度、耐熱性等が不良となる。 一方、特開昭57−17952号公報には、a  Si
:Hからなる電荷発生層上に第1のa−5iC:H層を
中間層として形成し、裏面上(支持体電極側)に第2の
a−3iC: H層を形成している。 また、この公知技術に関連したものとして、実開昭57
−23543号公報にみられる如く、上記の電荷発生層
と上記第1及び第2のa−3iC:H層との間に傾斜層
(a−5it−X  CX  :H)を設け、この傾斜
層においてa−3i:H側でX=oとし、a−5iC:
H層側でX=0.5とした感光体が知られている。 しかしながら、上記の公知の感光体について本発明者が
検討を加えたところ、中間層を設けたことによる効果は
特に連続繰返し使用において、それ程発揮されないこと
が判明した。即ち、20〜30万回の連続ランニング時
に表面のa  SiC層が7〜8万回程度で機械的に損
傷され、これに起因する白スジや白ポチが画像欠陥とし
て生じるため、耐剛性が充分ではない。しかも、繰返し
使用時の耐光疲労が生じ、画像流れも生じる上に、電気
的・光学的特性が常時安定せず、使用環境(温度、湿度
)による影響を無視できない。また、中間層と電荷発生
層との接着性も更に改善する必要がある。 ハ1発明の目的 本発明の目的は、中間層と電荷発生層との接着性に優れ
、機械的損傷に強くかつ耐剛性に優れている上に、画像
流れのない安定な画質が得られ、繰返し使用時の光疲労
が少なく、残留電位も低く、かつ特性が使用環境(温度
、湿度)によらずに安定している感光体を提供すること
にある。 二8発明の構成及びその作用効果 即ち、本発明は、炭素原子、窒素原子及び酸素原子のう
−・ちの少なくと;アモルファス水素化及び/又はフン
素化シリコンからなる電荷プロ・ノキング層と:炭素原
子を含有するアフッ素化シリコンからなる電荷発生層と
;周期表第ma族又は第Va族元素がドープされかつ炭
素原子、窒素原子及び酸素原子のうちの少なくと;アモ
ルファス水素化及び/又はフッ素化シリコンからなる中
間層と;炭素原子、窒素原子及び酸素原子のうちの少な
くとも1種を前記中間層よりも多く含有するアモルファ
ス水素化及び/又はフッ素化シリコンからなる中間層と
が順次積層されてなる感光体に係るものである。 本発明によれば、中間層は炭素、窒素及び酸素の少なく
とも1つの原子を含有しているために、機械的損傷に対
して強くなり、白スジ発生等による画質の劣化がなく、
耐剛性が優れたものとなる。また、本発明においては、
中間層と電荷発生層との間に不純物ドープド中間層を設
けているので、中間層と電荷発生層との接着性が向上す
る。また、中間層と中間層とを電荷発生層上に設けてい
るので、上記に加えて、繰返し使用時の耐光疲労に優れ
、また画像流れもな(、 残留電位も低下し、電気的・光学的特性が常時安定化し
て使用環境に影響を受けないことが確認されている。 ホ、実施例 以下、本発明を実施例について詳細に説明する。 第1図は、本実施例による正帯電用のa−3i系電子写
真感光体39を示すものである。この感光体39はAI
等のドラム状導電性支持基板41上に、周期表第Va族
元素(例えばリン)がヘビードープされかつC,N及び
0の少なくとも1つを含有するa−3t:H(これをa
 −S 1(C)(N)(0):Hと表わす。)からな
るN゛型電荷ブロッキングFJ44と、周期表第1ff
a族元素(例えばホウ素)がライトドープされて真性化
されかっCを含有するa−3i:H(これをa−3iC
:Hと表わす。)からなる電荷輸送層42と、a−3i
:Hからなる電荷発生N(不純物ドーピングなし又は真
性化されたもの)43と、周期表第Ha族又は第Va族
元゛素がヘビードープされたP゛型又はN0型であって
、C,N、Oの少なくとも1つを含有するアモルファス
水素化シリコンからなる中間層46と、周期表第ma族
又は第Va族元素がドープされてP型又はN型或いは真
性化(若しくは不純物ドーピングなしの)されかつN、
C及び0の少なくとも1つを含有するアモルファス水素
化シリコン(これをa −S 1(C)(N)(0):
 Hと表わす。)からなる中間層45とが積層された構
造がらなっている。 電荷発生層43は暗所抵抗率ρ。と光照射時の抵抗率ρ
Lとの比が電子写真感光体として充分大きく光感度(特
に可視及び赤外領域の光に対するもの)が良好である。 なお、上記の各層の炭素原子含有量は0〜70%の範囲
では、第2図に示す如くに光学的エネルギーギャップ(
Eg、opt)とほぼ直線的な関係があるので、炭素原
子含有量を光学的エネルギーギャップに置き換えて規定
することができる。 また、a−3iC:Hは、炭素原子含有量を適切に選択
すれば、第3図の曲線aのように比抵抗の上昇、帯電電
位保持能の向上という顕著な作用効果が得られる。即ち
、第3図に曲線aで示すように、炭素原子含有量が30
〜90%のa−3iC:Hを用いた場合、その比抵抗は
炭素含有量に従って変化し、IQIZΩ−cm以上にな
る。 上記の傾向は、炭素に代えてN又は0を含むa−3iN
 : H,a−5iO: Hについても同様である。 上記のフ45は感光体の表面を改質してa−3i系悪感
光を実用的に優れたものとするために必須不可欠なもの
である。即ち、表面での電荷保持と、光照射による表面
電位の減衰という電子写真感光体としての基本的な動作
を可能とするものである。 従って、帯電、光減衰の繰返し特性が非常に安定となり
、長期間(例えば1力月以上)放置しておいても良好な
電位特性を再現できる。これに反し、a−3i:Hを表
面とした感光体の場合には、湿気、大気、オゾン雰囲気
等の影響を受は易く、電位特性の経時変化が著しくなる
。 また、層45は表面硬度が高いために、現像、転写、ク
リーニング等の工程における耐摩耗性があり、更に耐熱
性も良いことから粘着転写等の如(熱を付与するプロセ
スを適用することができる。 上記のような優れた効果を総合的に奏するためには、層
45の組成を選択することが重要である。 即ち、炭素原子を含有する場合、Si +C=100a
tomic%(以下、atomic%を単に%で表わす
。)としたとき1%≦(C)590%、更には10%≦
(C)670%であることが望ましい。このC含有量に
よって上記した比抵抗が所望の値となり、かつ光学的エ
ネルギーギャップがほぼ2.5 eV以上となり、可視
及び赤外光に対しいわゆる光学的に透明な窓効果により
照射光はa−3i:H層(電荷発生層)43に到達し易
くなる。しかし、C含有量が1%以下では、機械的損傷
等の欠点が生じ、かつ比抵抗が所望の値以下となり易く
、がっ一部分の光は表面層45に吸収され、感光体の光
感度が低下し易くなる。また、C含有量が90%を越え
ると層の炭素量が多くなり、半導体特性が失われ易い上
にa−3iC:H膜をグロー放電法で形成するときの堆
積速度が低下し易いので、C含有量は90%以下とする
のがよい、同様に、窒素又は酸素を含有する層4Sの場
合、1%≦(N)590%(更にはlO%≦〔N357
0%)がよく、0%く 〔o)670%(更には5%≦
〔03530%)がよい。 帯電能を向上させる為には、表面改質N45を高抵抗化
してもよい。その為には中間層を真性化しても良い。 正又は負帯電使用に於いて、中間層がら中間層中への電
子又は正孔の注入を容易にし、残留電位を極小化する為
には、中間層をP又はN型としてもよい。 各場合の不純物ドープ量(後述のグロー放電分解時)は
次の通りであってよい。 真性化: Bz)Is/5iHi  2〜50  容量
ppmP型 : BJ6/5iH450〜1000〃N
型 : PHz /5iHa  1〜100Q   ”
また、層45はa−3iC○、a−3iNOs a−5
iO1a  5iOz等からなっていてよく、その膜厚
を400人≦t≦5000人の範囲内(特に400人゛
≦t<2000人に選択することも重要である。即ち、
その膜厚が5000人を越える場合には、残留電位vR
が高くなりすぎかつ光感度の低下も生じ、a−3i系悪
感光としての良好な特性を失い易い。また、膜厚を40
0人未満とした場合には、トンネル効果によって電荷が
表面上に帯電されなくなるため、暗減衰の増大や光感度
の低下が生じてしまう。 中間N46は、感度の向上、残留電位の低下、中間層の
接着性の向上及び画像の安定化の為に設置する。 上記特性改善の為には、P又はN型化する必要がある。 不純物ドープ量は(PH:l 〕/ (SiHa )=
1〜1ooo <好ましくは10〜500)容量ppm
、(BzH6)/ (SiH4)=10〜1000 (
好ましくは50〜500)容量ppmとしてよい。 中間層46のC,N、、C含有量は、 0<(C)510%、 0<(N)510%、 0<(0)55%とするのがよい。 この中間層の膜厚は50〜5000人とするのがよいが
、5000人を越えると上記したと同様の現象が生じ易
<、50人未満では中間層としての効果が乏しくなる。 電荷発生層43については、帯電能を向上する為には、
電荷発生層の高抵抗化を図ってもよい。その為には、電
荷発生層を真性化しても良い。この真性化には、B、H
,/5tH4= 1〜20容量ppmとするのがよい。 また、電荷発生層は1〜10μm、好ましくは5〜7μ
Iとするのがよい。電荷発生層43が1μm未満である
と光感度が充分でなく、また10μmを越えると残留電
位が上昇し、実用上不充分である。 電荷輸送層42については、帯電能、感度を最適化する
為には、必要に応じて真性化してもよい。 真性化の為のドープ量は、(BzH6)/ (SiHi
 )−2〜20容量ppmが最適である。但し、上記値
はC濃度に依存する為、必ずしも上記値に限定されるも
のではない。電荷輸送層の膜厚は10〜30μlとする
のがよい。また、電荷輸送層の組成は、1%く 〔C〕
 530%、好ましくは10%≦ (C) 530%が
よい。 また、上記電荷ブロッキング層44は、基板41からの
ホールの注入を充分に防ぎ、感度、帯電能の向上のため
には、必要に応じて周期表第Va族元素(例えばリン)
をグロー放電分解でドープして、真性化、更にはN型(
更にはN°型)化する。ブロッキング層の組成によって
、次のようにドーピング量を制御する。 a−3iC又はa−3iCO:真性化BzHb/5in
42〜20容1ppmN型(N ” )Pl(+/5i
n41〜1000  〃a−SiN又はa−SiNO:
真性化BJb/5iH41〜2000  ”N型(N 
” )Plh/Sit+41〜2000〃ブロッキング
層はSin、Sing等の化合物でもよい。 また、フ゛ロッキング層44は膜厚500人〜2μ冒が
よい。500人未満であるとブロッキング効果が弱く、
また2μ■を越えると電荷輸送能が悪くなり易い。 ブロッキング層44の組成については、次のようにする
のが望ましい。即ち、1%〈〔03590%、好ましく
は10%≦(C) 570%とし、1%く 〔N369
0%、好ましくは10%く 〔N〕 570%とし、0
%≦
B. Industrial Application Field The present invention relates to a photoreceptor, for example, an electrophotographic photoreceptor. Conventional technology Conventionally, as an electrophotographic photoreceptor, Se or As in Se,
Photoreceptors doped with Te, Sb, etc., photoreceptors in which ZnO or CdS is dispersed in a resin binder, and the like are known. However, these photoreceptors have problems in terms of environmental pollution, thermal stability, and mechanical strength. On the other hand, electrophotographic photoreceptors using amorphous silicon (a-sD as Rh) have been proposed in recent years.a
-3i has a so-called dangling bond in which the bond of 5i-3i is broken, and many localized levels exist within the energy gap due to this defect. For this reason, hopping conduction of thermally excited carriers occurs, resulting in a small dark resistance, and photoexcited carriers are trapped in localized levels, resulting in poor photoconductivity. Therefore, the above defects are replaced by hydrogen atoms (H
) to bond H to Si to fill the dangling bonds. Such amorphous hydrogenated silicon (hereinafter referred to as a-8
It is called i:H. ) has a resistivity in the dark of 108 to 10
9 Ω-cm, which is about 1/10,000 times lower than that of amorphous Se. Therefore, a photoreceptor made of a single layer of a-3t:F has problems in that the dark decay rate of the surface potential is high and the initial charging potential is low. However, on the other hand, when irradiated with light in the visible and infrared regions, the resistivity is greatly reduced, so it has extremely excellent properties as a photosensitive layer of a photoreceptor. Figure 8 shows a-3i with the above a-5i:H as the base material.
An electrophotographic copying machine incorporating a system photoreceptor 9 is shown. According to this copying machine, a glass document mounting table 3 on which a document 2 is placed and a platen cover 4 that covers the document 2 are disposed in the upper part of a cabinet 1. Below the document table 3,
An optical scanning table consisting of a first mirror unit 7 equipped with a light source 5 and a first reflecting mirror 6 is provided so as to be movable linearly in the left-right direction of the drawing, and the optical path length between the document scanning point and the photoreceptor is kept constant. The second mirror unit 20 moves according to the speed of the first mirror unit, and the reflected light from the document table 3 passes through the lens 21 and the reflection mirror 8 onto the photosensitive drum 9 as an image carrier. The light enters in a slit shape. Around the drum 9, a corona charger 10,
A developing device 11, a transfer section 12, a separation section 13, and a cleaning section 14 are arranged, and the copy paper 18 fed from the paper feed box 15 via each paper feed roller 16, 17 is further processed after the toner image on the drum 9 is transferred. The image is fixed by the fixing unit 19 and then ejected to the tray 35. In the fixing section 19, the developed copy paper is passed between a heating roller 23 containing a heater 22 and a pressure roller 24 to perform a fixing operation. However, photoreceptors with a-3i:H surfaces are susceptible to surface chemical stability, such as the effects of long-term exposure to the atmosphere or moisture, and the effects of chemical species generated by corona discharge. , has not been sufficiently investigated so far. For example, items that have been left for more than a month will be affected by moisture.
It is known that the receptor potential is significantly reduced. On the other hand, amorphous hydrogenated silicon carbide (hereinafter a-3iC:H
It is called. ), its manufacturing method and existence are described in "Ph1l. Mag, Vol. 35" (1978), etc., and its characteristics include high heat resistance and surface hardness, and a Dark resistivity (10'2
~10'3 Ω-cm), and that the optical energy gap changes over a range of 1.6 to 2.8 eV depending on the amount of carbon. However, there is a drawback that the long wavelength sensitivity becomes poor due to the widening of the band gap due to the inclusion of carbon. An electrophotographic photoreceptor combining such a=sic:H and a-3i:H has been proposed, for example, in Japanese Patent Laid-Open No. 127083/1983. According to this, a-3i:H
The layer is a charge generation (photoconductive) layer, and below this charge generation layer is a
-3iC:H layer is provided, the upper layer a-3t:H provides photosensitivity in a wide wavelength range, and the lower layer a-3iC:H forming a heterojunction with the aSi:H layer improves the charging potential. We are trying to However, the dark decay of the aSisH layer cannot be sufficiently prevented, and the charging potential is still insufficient to be of practical use.
: The presence of HIiJ causes poor chemical stability, mechanical strength, heat resistance, etc. On the other hand, in Japanese Patent Application Laid-open No. 57-17952, a Si
A first a-5iC:H layer is formed as an intermediate layer on the charge generation layer made of :H, and a second a-3iC:H layer is formed on the back surface (support electrode side). In addition, as related to this known technology,
As seen in Japanese Patent No. 23543, a gradient layer (a-5it-X CX:H) is provided between the charge generation layer and the first and second a-3iC:H layers, and the gradient layer In a-3i:H side, X=o, a-5iC:
A photoreceptor in which X=0.5 on the H layer side is known. However, when the present inventor conducted a study on the above-mentioned known photoreceptor, it was found that the effect of providing the intermediate layer is not so great, especially in continuous repeated use. That is, during continuous running of 200,000 to 300,000 times, the a-SiC layer on the surface is mechanically damaged after about 70,000 to 80,000 times, and this causes white streaks and white spots as image defects, so the rigidity resistance is sufficient. isn't it. Furthermore, light resistance fatigue occurs during repeated use, image blurring occurs, and the electrical and optical characteristics are not always stable, and the effects of the use environment (temperature, humidity) cannot be ignored. It is also necessary to further improve the adhesion between the intermediate layer and the charge generation layer. C1 Object of the invention The object of the invention is to provide excellent adhesion between the intermediate layer and the charge generation layer, resistance to mechanical damage, excellent rigidity resistance, and stable image quality without image deletion. It is an object of the present invention to provide a photoreceptor which has little optical fatigue during repeated use, has a low residual potential, and whose characteristics are stable regardless of the usage environment (temperature, humidity). 28 Structure of the invention and its effects, namely, the present invention provides a charge pro-noking layer consisting of at least one of carbon atoms, nitrogen atoms, and oxygen atoms; amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon; a charge generation layer made of fluorinated silicon containing carbon atoms; doped with an element of group Ma or group Va of the periodic table and at least one of carbon atoms, nitrogen atoms and oxygen atoms; amorphous hydrogenation and/or An intermediate layer made of fluorinated silicon; and an intermediate layer made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon containing more at least one of carbon atoms, nitrogen atoms, and oxygen atoms than the intermediate layer are laminated in sequence. This relates to a photoreceptor. According to the present invention, since the intermediate layer contains at least one atom of carbon, nitrogen, and oxygen, it is resistant to mechanical damage, and there is no deterioration in image quality due to white streaks, etc.
It has excellent rigidity. Furthermore, in the present invention,
Since the impurity-doped intermediate layer is provided between the intermediate layer and the charge generation layer, the adhesion between the intermediate layer and the charge generation layer is improved. In addition, since the intermediate layer and intermediate layer are provided on the charge generation layer, in addition to the above, it has excellent resistance to light fatigue during repeated use, and there is no image fading (residual potential is also reduced, and electrical and optical It has been confirmed that the electrostatic properties are always stable and are not affected by the usage environment. E. Examples The present invention will be explained in detail with reference to examples below. This shows an a-3i electrophotographic photoreceptor 39.This photoreceptor 39 is an AI
A-3t:H (which is heavily doped with a Group Va element of the periodic table (for example, phosphorus) and contains at least one of C, N, and 0) is placed on a drum-shaped conductive support substrate 41 such as
-S 1(C)(N)(0):H. ) and the 1st ff of the periodic table.
A group a element (e.g. boron) is lightly doped to make it intrinsic.
: Represented as H. ), and a-3i
: A charge-generating N (without impurity doping or made intrinsic) consisting of H 43, and a P type or N0 type heavily doped with an element of group Ha or group Va of the periodic table, and C,N , an intermediate layer 46 made of amorphous hydrogenated silicon containing at least one of O, and doped with an element of Group Ma or Group Va of the periodic table to be P-type or N-type or intrinsic (or without impurity doping). And N,
Amorphous hydrogenated silicon containing at least one of C and 0 (this is a-S 1(C)(N)(0):
It is expressed as H. ) and a layered intermediate layer 45. The charge generation layer 43 has a dark resistivity ρ. and resistivity ρ during light irradiation
The ratio to L is sufficiently large as an electrophotographic photoreceptor, and the photosensitivity (particularly to light in the visible and infrared regions) is good. In addition, when the carbon atom content of each of the above layers is in the range of 0 to 70%, the optical energy gap (
Since there is a substantially linear relationship with Eg, opt), the carbon atom content can be defined by replacing it with the optical energy gap. In addition, if the carbon atom content of a-3iC:H is appropriately selected, remarkable effects such as an increase in specific resistance and an improvement in charging potential holding ability can be obtained as shown by curve a in FIG. 3. That is, as shown by curve a in FIG. 3, when the carbon atom content is 30
When ~90% a-3iC:H is used, its resistivity varies with carbon content and is greater than or equal to IQIZΩ-cm. The above tendency is that a-3iN containing N or 0 instead of carbon
: H, a-5iO: The same applies to H. The above-mentioned film 45 is indispensable for modifying the surface of the photoreceptor and making the a-3i-based photosensitive material practically excellent. That is, it enables the basic operations of an electrophotographic photoreceptor, such as charge retention on the surface and attenuation of the surface potential due to light irradiation. Therefore, the repetitive characteristics of charging and optical attenuation become very stable, and good potential characteristics can be reproduced even if left for a long period of time (for example, one month or more). On the other hand, in the case of a photoreceptor having a-3i:H as its surface, it is easily affected by humidity, air, ozone atmosphere, etc., and the potential characteristics change significantly over time. In addition, since the layer 45 has a high surface hardness, it has abrasion resistance during processes such as development, transfer, and cleaning, and also has good heat resistance, so it is possible to apply heat-applying processes such as adhesive transfer. In order to comprehensively achieve the above excellent effects, it is important to select the composition of the layer 45. That is, when containing carbon atoms, Si + C = 100a
When atomic% (hereinafter, atomic% is simply expressed as %), 1%≦(C)590%, furthermore 10%≦
(C) Desirably 670%. Due to this C content, the above-mentioned resistivity becomes the desired value, and the optical energy gap becomes approximately 2.5 eV or more, and the irradiated light becomes a- 3i: It becomes easier to reach the H layer (charge generation layer) 43. However, if the C content is 1% or less, disadvantages such as mechanical damage occur, and the specific resistance tends to fall below a desired value, and a portion of the light is absorbed by the surface layer 45, reducing the photosensitivity of the photoreceptor. It becomes easier to decrease. In addition, if the C content exceeds 90%, the amount of carbon in the layer increases, and semiconductor properties are likely to be lost, and the deposition rate when forming an a-3iC:H film by a glow discharge method is likely to decrease. The C content is preferably 90% or less. Similarly, in the case of the layer 4S containing nitrogen or oxygen, 1%≦(N)590% (furthermore, 1O%≦[N357
0%) is better, 0% less [o) 670% (even 5%≦
[03530%] is good. In order to improve the charging ability, the surface-modified N45 may be made to have a high resistance. For this purpose, the intermediate layer may be made intrinsic. In positively or negatively charged use, the intermediate layer may be of P or N type in order to facilitate the injection of electrons or holes into the intermediate layer and to minimize the residual potential. The amount of impurity doped in each case (at the time of glow discharge decomposition described later) may be as follows. Intrinsic: Bz)Is/5iHi 2~50 Capacity ppmP type: BJ6/5iH450~1000N
Type: PHz /5iHa 1~100Q”
Moreover, the layer 45 is a-3iC○, a-3iNOs a-5
It is also important to select the film thickness within the range of 400≦t≦5000 (particularly 400≦t<2000. That is,
If the film thickness exceeds 5000, the residual potential vR
becomes too high and also causes a decrease in photosensitivity, tending to lose good characteristics as an a-3i type photosensitive photosensitive material. Also, the film thickness was increased to 40
If the number is less than 0, charges will not be charged on the surface due to the tunneling effect, resulting in an increase in dark decay and a decrease in photosensitivity. The intermediate N46 is provided to improve sensitivity, reduce residual potential, improve adhesion of the intermediate layer, and stabilize the image. In order to improve the above characteristics, it is necessary to make it P or N type. The impurity doping amount is (PH:l)/(SiHa)=
1-1ooo <preferably 10-500) Capacity ppm
, (BzH6)/(SiH4)=10~1000 (
Preferably, the volume may be 50 to 500 ppm. The content of C, N, and C in the intermediate layer 46 is preferably 0<(C)510%, 0<(N)510%, and 0<(0)55%. The thickness of this intermediate layer is preferably 50 to 5,000 people, but if it exceeds 5,000 people, the same phenomenon as described above is likely to occur, and if it is less than 50 people, the effect as an intermediate layer will be poor. Regarding the charge generation layer 43, in order to improve the charging ability,
The resistance of the charge generation layer may be increased. For this purpose, the charge generation layer may be made intrinsic. For this intrinsicization, B, H
,/5tH4=1 to 20 ppm by volume. Further, the charge generation layer has a thickness of 1 to 10 μm, preferably 5 to 7 μm.
It is better to set it as I. If the thickness of the charge generation layer 43 is less than 1 μm, the photosensitivity will not be sufficient, and if it exceeds 10 μm, the residual potential will increase, which is insufficient for practical use. The charge transport layer 42 may be made intrinsic as necessary in order to optimize charging ability and sensitivity. The doping amount for making it intrinsic is (BzH6)/(SiHi
)-2 to 20 ppm by volume is optimal. However, since the above value depends on the C concentration, it is not necessarily limited to the above value. The thickness of the charge transport layer is preferably 10 to 30 μl. In addition, the composition of the charge transport layer is 1% [C]
530%, preferably 10%≦(C) 530%. In addition, the charge blocking layer 44 may be made of elements of Group Va of the periodic table (for example, phosphorus), if necessary, to sufficiently prevent the injection of holes from the substrate 41 and to improve sensitivity and charging ability.
is doped by glow discharge decomposition to make it intrinsic, and further to N-type (
Furthermore, it becomes N° type). The doping amount is controlled by the composition of the blocking layer as follows. a-3iC or a-3iCO: Intrinsic BzHb/5in
42 to 20 volumes 1 ppm N-type (N”) Pl (+/5i
n41~1000 a-SiN or a-SiNO:
Intrinsic BJb/5iH41~2000 ”N type (N
) Plh/Sit+41 to 2000 The blocking layer may be a compound such as Sin or Sing. Also, the blocking layer 44 preferably has a thickness of 500 to 2 μm. If it is less than 500 μm, the blocking effect is weak;
Moreover, if it exceeds 2μ, the charge transport ability tends to deteriorate. The composition of the blocking layer 44 is preferably as follows. That is, 1%〈〔03590%, preferably 10%≦(C) 570%, and 1% [N369
0%, preferably 10% [N] 570%, 0
%≦

〔0〕≦70%、好ましくはO%≦[0]≦70%, preferably O%≦

〔0〕≦30%
とするのがよい。 なお、上記の各層は水素を含有することが必要である。 特に、電荷発生層43中の水素含有量は、ダングリング
ボンドを補償して光導電性及び電荷保持性を向上させる
ために必須不可欠であって、10〜30%であるのが望
ましい。この含有量範囲は中間層45、ブロッキング層
44及び電荷輸送層42も同様である。また、導電型を
制御するための不純物として、P型化のためにボロン以
外にもA1、Ga、In、T1等の周期表ma族元素を
使用できる。N型化のためにはリン以外にも、AS%s
b等の周期表第Va族元素を使用できる。 次に、上記した感光体(例えばドラム状)の製造方法及
びその装置(グロー放電装置)を第4図について説明す
る。 この装置51の真空槽52内ではドラム状の基板41が
垂直に回転可能にセントされ、ヒーター55で基板41
を内側から所定温度に加熱し得るようになっている。基
板41に対向してその周囲に、ガス導出口53付きの円
筒状高周波電極57が配され、基板41との間に高周波
電源56によりグロー放電が生ぜしめられる。なお、図
中の62はSiH4又はガス状シリコン化合物の供給源
、63はCHa等の炭化水素ガスの供給源、64はNZ
等の窒素化合物ガスの供給源、65は02等の酸素化合
物ガスの供給源、66はAr等のキャリアガス供給源、
67は不純物ガス(例えばBzHb>供給源、68は各
流量計である。このグロー放電装置において、まず支持
体である例えばAl基板41の表面を清浄化した後に真
空槽52内に配置し、真空槽52内のガス圧が1O−6
T orrとなるように調節して排気し、かつ基板41
を所定温度、特に100〜350℃(望ましくは150
〜300℃)に加熱保持する。次いで、高純度の不活性
ガスをキャリアガスとして、S i Ha又はガス状シ
リコン化合物、CH4、N2.02等を適宜真空槽52
内に導入し、例えば0.01〜10Torrの反応圧下
で高周波電源56により高周波電圧(例えば13.56
 MHz )を印加する。これによって、上記各反応ガ
スを電極57と基板41との間でグロー放電分解し、N
”型a  SiC:H,、i型a−3iC: H,a−
3i: H% P ”又はN゛型a 5iCQ: H,
a−3iCO: Hを上記の層44.42.43.46
.45として基板上に連続的に(即ち、例えば第1図の
例に対応して)堆積させる。 上記製造方法においては、支持体上にa−3t系の層を
製膜する工程で支持体温度を100〜350℃としてい
るので、感光体の膜質(特に電気的特性)を良くするこ
とができる。 なお、上記a−3i系感光体感光層の形成時において、
ダングリングボンドを補償するためには、上記したHの
かわりに、或いはHと併用してフッ素をS i F 4
等の形で導入し、a  St  : F %a−3t 
 :H:F%  a−3iN:F。 a−3iN:H:FSa−3iC:F。 a−3iC:H:Fとすることもできる。この場合のフ
ッ素量は0.5〜10%が望ましい。 なお、上記の製造方法はグロー放電分解法によるもので
あるが、これ以外にも、スパッタリング法、イオンブレ
ーティング法や、水素放電管で活性化又はイオン化され
た水素導入下でSiを蒸発させる方法(特に、本出願人
による特開昭56−78413号゛(特願昭54−15
2455号)の方法)等によっても上記感光体の製造が
可能である。 以下、本発明を具体的な実施例について説明する。 グロー放電分解法により、ドラム状Al支持体上に第1
図の構造の電子写真感光体を作製した。 即ち、まず支持体である、例えば平滑な表面を持つドラ
ム状Af基板41の表面を清浄化した後に、第4図の真
空槽52内に配置し、真空槽52内のガス圧が10−”
Torrとなるように調節して排気し、かつ基板41を
所定温度、とくに100〜350℃(望ましくは150
〜300℃)に加熱保持する。次いで、高純度のArガ
スをキャリアガスとして導入し、0.5 Torrの背
圧のもとで周波数13.56 MHzの高周波電力を印
加し、10分間の予備放電を行った。 次いで、S i HaとPH3からなる反応ガスを導入
し、流量比1 : 1 : 1 :  (1,5Xl0
−3)の(Ar+SiH4+CH4又はN z + P
 H3)混合ガスをグロー放電分解することにより、電
荷ブロッキング機能を担うN“型のa−3iC:H層4
4とa−3iC: H電荷輸送層42とを6μm/hr
の堆積速度で順次所定厚さに製膜した。引き続き、PH
1及びCH4を供給停止し、SiH4を放電分解し、厚
さ5μmのa−3irH層43を形成した。引続いて、
不純物ガスの流量比を変化させてグロー放電分解し、膜
厚も変化させた中間層46を形成し、更にa−3iCO
: H又はa−3iNO:H表面保護層45を更に設け
、電子写真感光体を完成させた。比較例として、中間層
のない感光体を作成した。 こうして作成された感光体の構成をまとめると次の通り
であった。 (1)1中間層: a−3iNO: H又はa−3iC
O: H (2)、中間層:ドープ量、膜厚変化(第5図参照)(
3)、a−3i  :H電荷発生層:膜厚=5μm(4
)、a −SiC: H電荷輸送層:膜厚=15μmC
含有量=11% (5)、a−SiC: H又はa−3iN:H電荷ブロ
ッキング層: 膜厚=0.5μm C含有量=11% (6)、支持体:A2シリンダー(鏡面研磨仕上げ)次
に上記の各感光体を使用して各種のテストを次のように
行なった。 里二左主殉度 第6図に示すように、感光体39面に垂直に当てた0、
3 Rダイヤ針70に荷重Wを加え、感光体をモーター
71で回転させ、傷をつける。次に、電子写真複写機U
−Bix1600  (小西六写真工業社製)改造機に
て画像出しを行ない、何gの荷重から画像に白スジが現
われるかで、その感光体の引っかき強度(g)とする。 璽象流並 温度33℃、相対湿度80%の環境下で、感光体を電子
写真複写機U −B ix 4500(小西六写真工業
社製)改造機内に24時間順応させた後、現像剤、紙、
ブレードとは非接触で1000コピーの空回しを行った
後、画像出しを行ない、以下の基阜で画像流れの程度を
判定した。 ◎:画画像れが全くなく、5.5ポイントの英字や細線
の再現性が良い。 0:5.5ポイントの英字がやや太くなる。 △:5.5ポイントの英字がつぶれて読みづらい。 X:5,5ポイントの英字判読不能。 留−位Vi  (V) U  Bix2500改造機を使った電位測定で、40
0r+mにピークをもつ除電光301 ux・secを
照射した後も残っている感光体表面電位。 十里l望ヱLユXと U −B ix 2500改造機(小西六写真工業■製
)を用い、感光体流れ込み電流200μA、露光なしの
条件で360SX型電位計(トレック社製)で測定した
現像直前の表面電位。 半減露  E2/1(lux−sec)上記の装置を用
い、グイクロイックミラー(元帥光学社製)により像露
光波長のうち620nm以上の長波長成分をシャープカ
ットし、表面電位を500■から250■に半減するの
に必要な露光量。 結果を第7図にまとめて示した。この結果から、本発明
に基いて感光体を作成すれば、電子写真用として各性能
に優れた感光体が得られることが分かる。
[0]≦30%
It is better to Note that each of the above layers needs to contain hydrogen. In particular, the hydrogen content in the charge generation layer 43 is essential to compensate for dangling bonds and improve photoconductivity and charge retention, and is preferably 10 to 30%. This content range also applies to the intermediate layer 45, blocking layer 44, and charge transport layer 42. Further, as an impurity for controlling the conductivity type, in addition to boron, elements of the ma group of the periodic table such as A1, Ga, In, and T1 can be used to make the conductivity type P-type. In addition to phosphorus, for N-type conversion, AS%s
Group Va elements of the periodic table, such as B, can be used. Next, a method for manufacturing the above-mentioned photoreceptor (for example, drum-shaped) and an apparatus therefor (glow discharge apparatus) will be explained with reference to FIG. A drum-shaped substrate 41 is vertically rotatably placed in a vacuum chamber 52 of this device 51, and a heater 55 is used to rotate the substrate 41.
can be heated to a predetermined temperature from the inside. A cylindrical high frequency electrode 57 with a gas outlet 53 is disposed around and facing the substrate 41, and a glow discharge is generated between the electrode 57 and the substrate 41 by a high frequency power source 56. In addition, 62 in the figure is a supply source of SiH4 or a gaseous silicon compound, 63 is a supply source of hydrocarbon gas such as CHa, and 64 is a supply source of NZ
65 is a supply source of oxygen compound gas such as 02, 66 is a carrier gas supply source such as Ar,
Reference numeral 67 indicates an impurity gas (for example, BzHb> supply source, and 68 indicates each flow meter. In this glow discharge device, first, the surface of a support, for example, an Al substrate 41, is cleaned, and then placed in a vacuum chamber 52, and The gas pressure in the tank 52 is 1O-6
The substrate 41 is evacuated and adjusted so that the
at a predetermined temperature, especially 100 to 350°C (preferably 150°C)
-300°C). Next, using a high-purity inert gas as a carrier gas, S i Ha or a gaseous silicon compound, CH4, N2.
A high frequency voltage (for example, 13.56
MHz) is applied. As a result, each of the above reaction gases is decomposed by glow discharge between the electrode 57 and the substrate 41, and N
"Type a SiC: H,, i type a-3iC: H, a-
3i: H% P” or N゛ type a 5iCQ: H,
a-3iCO: H above layer 44.42.43.46
.. 45 (i.e., eg, corresponding to the example of FIG. 1). In the above manufacturing method, the support temperature is set at 100 to 350°C in the step of forming the a-3t layer on the support, so the film quality (especially electrical properties) of the photoreceptor can be improved. . In addition, when forming the above a-3i photoreceptor photosensitive layer,
In order to compensate for dangling bonds, it is necessary to use fluorine instead of the above-mentioned H or in combination with H.
etc., a St : F %a-3t
:H:F% a-3iN:F. a-3iN:H:FSa-3iC:F. It can also be a-3iC:H:F. In this case, the amount of fluorine is preferably 0.5 to 10%. The above manufacturing method is based on the glow discharge decomposition method, but there are also sputtering methods, ion blating methods, and methods in which Si is evaporated while introducing activated or ionized hydrogen in a hydrogen discharge tube. (In particular, Japanese Patent Application Laid-Open No. 56-78413 (Patent Application No. 54-15) filed by the present applicant)
The above photoreceptor can also be manufactured by the method of No. 2455). Hereinafter, the present invention will be described with reference to specific examples. By glow discharge decomposition method, the first
An electrophotographic photoreceptor having the structure shown in the figure was manufactured. That is, first, after cleaning the surface of a support, for example, a drum-shaped Af substrate 41 having a smooth surface, it is placed in a vacuum chamber 52 shown in FIG. 4, and the gas pressure in the vacuum chamber 52 is set to 10.
Torr, and exhaust the air, and keep the substrate 41 at a predetermined temperature, particularly 100 to 350°C (preferably 150°C).
-300°C). Next, high-purity Ar gas was introduced as a carrier gas, high-frequency power with a frequency of 13.56 MHz was applied under a back pressure of 0.5 Torr, and preliminary discharge was performed for 10 minutes. Next, a reaction gas consisting of S i Ha and PH3 was introduced, and the flow rate ratio was 1:1:1:(1,5Xl0
-3) (Ar+SiH4+CH4 or N z + P
H3) N" type a-3iC:H layer 4 that plays a charge blocking function by decomposing the mixed gas by glow discharge
4 and a-3iC: H charge transport layer 42 at 6 μm/hr
The films were sequentially formed to a predetermined thickness at a deposition rate of . Continuing, PH
The supply of 1 and CH4 was stopped, and SiH4 was decomposed by discharge to form an a-3irH layer 43 with a thickness of 5 μm. Subsequently,
Glow discharge decomposition is performed by changing the flow rate ratio of impurity gas, an intermediate layer 46 with a changed film thickness is formed, and a-3iCO is further decomposed by glow discharge.
:H or a-3iNO:H surface protective layer 45 was further provided to complete the electrophotographic photoreceptor. As a comparative example, a photoreceptor without an intermediate layer was created. The structure of the photoreceptor thus produced was summarized as follows. (1) 1 intermediate layer: a-3iNO: H or a-3iC
O: H (2), intermediate layer: doping amount, film thickness change (see Figure 5) (
3), a-3i: H charge generation layer: film thickness = 5 μm (4
), a -SiC: H charge transport layer: film thickness = 15 μmC
Content = 11% (5), a-SiC: H or a-3iN:H charge blocking layer: Film thickness = 0.5 μm C content = 11% (6), Support: A2 cylinder (mirror polished finish) Next, various tests were conducted using each of the photoreceptors described above as follows. As shown in Figure 6, the 0,
3 Apply a load W to the R diamond needle 70 and rotate the photoreceptor with the motor 71 to scratch it. Next, the electrophotographic copying machine U
- Image is produced using a modified Bix1600 (manufactured by Konishiroku Photo Industry Co., Ltd.), and the scratch strength (g) of the photoreceptor is determined by the load at which white streaks appear on the image. After acclimatizing the photoreceptor in a modified electrophotographic copying machine U-Bix 4500 (manufactured by Konishiroku Photo Industry Co., Ltd.) for 24 hours in an environment with a typical temperature of 33°C and a relative humidity of 80%, the developer, paper,
After 1000 copies were made without contact with the blade, an image was produced and the degree of image blurring was determined based on the following criteria. ◎: There is no image blurring, and the reproducibility of 5.5-point alphabetic characters and thin lines is good. 0: 5.5 point letters become slightly thicker. △: 5.5 point letters are crushed and difficult to read. X: 5.5 point English letters are illegible. Retention position Vi (V) U By measuring the potential using a modified Bix2500, 40
The surface potential of the photoreceptor that remains even after being irradiated with static eliminating light 301 ux·sec having a peak at 0r+m. Development was measured with a 360SX type electrometer (manufactured by Trek) using a modified U-Bix 2500 machine (manufactured by Konishi Roku Photo Industries Ltd.) with a photoconductor inflow current of 200 μA and no exposure. The previous surface potential. Half-exposure E2/1 (lux-sec) Using the above device, sharply cut the long wavelength component of 620 nm or more of the image exposure wavelength using a guichroic mirror (manufactured by Genshui Kogaku Co., Ltd.), and reduce the surface potential from 500 to 250 ■The amount of exposure required to reduce the amount of light by half. The results are summarized in Figure 7. From these results, it can be seen that if a photoreceptor is produced based on the present invention, a photoreceptor excellent in each performance for electrophotography can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図〜第7図は本発明の実施例を示すものであって、 第1図はa−3i系感光体のfri面図、第2図はa−
3iCの光学的エネルギーギャップをしめずグラフ、 第3図はa−3iCO比抵抗を示すグラフ、第4図はグ
ロー放電装置の概略断面図、第5図は各感光体の層構成
を示す表、 第6図は引っかき強度試験機の概略図、第7図は各感光
体の特性を示す表、 である。 第8図は従来の電子写真複写機の概略断面図である。 なお、図面に示された符号において、 39−−−−−−−・−a−3i系感光体4 t−−−
−−−−−−−一支持体(基板)42・−・・−・−・
−電荷輸送層 43・−・−・−電荷発生層 44−・・−・−・−N 荷7”ロッキング層45−・
−−−−−−・・中間層46 −−−−−・・−中間層 である。 代理人 弁理士 逢 坂   宏 第2図 a−9i+−xCx:Hx 第3図 第6図 第4図
1 to 7 show examples of the present invention, in which FIG. 1 is a fri view of an a-3i photoreceptor, and FIG. 2 is an a-3i photoreceptor.
A graph showing the optical energy gap of 3iC, Fig. 3 is a graph showing the a-3iCO resistivity, Fig. 4 is a schematic cross-sectional view of the glow discharge device, Fig. 5 is a table showing the layer structure of each photoreceptor, FIG. 6 is a schematic diagram of a scratch strength tester, and FIG. 7 is a table showing the characteristics of each photoreceptor. FIG. 8 is a schematic sectional view of a conventional electrophotographic copying machine. In addition, in the reference numerals shown in the drawings, 39----------a-3i-based photoreceptor 4
−−−−−−−One support (substrate) 42・−・・−・−・
-Charge transport layer 43--Charge generation layer 44--N Load 7'' Locking layer 45--
--------...Middle layer 46 --------...Middle layer. Agent Patent Attorney Hiroshi Aisaka Figure 2 a-9i+-xCx:Hx Figure 3 Figure 6 Figure 4

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1、炭素原子、窒素原子及び酸素原子のうちの少なくと
も1種を含有するアモルファス水素化及び/又はフッ素
化シリコンからなる電荷ブロッキング層と;炭素原子を
含有するアモルファス水素化及び/又はフッ素化シリコ
ンからなる電荷輸送層と;アモルファス水素化及び/又
はフッ素化シリコンからなる電荷発生層と;周期表第I
IIa族又は第Va族元素がドープされかつ炭素原子、窒
素原子及び酸素原子のうちの少なくとも1種を含有する
アモルファス水素化及び/又はフッ素化シリコンからな
る中間層と;炭素原子、窒素原子及び酸素原子のうちの
少なくとも1種を前記中間層よりも多く含有するアモル
ファス水素化及び/又はフッ素化シリコンからなる表面
改質層とが順次積層されてなる感光体。
1. A charge blocking layer made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon containing at least one of carbon atoms, nitrogen atoms and oxygen atoms; and a charge blocking layer made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon containing carbon atoms; a charge transport layer consisting of; a charge generation layer consisting of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon;
an intermediate layer consisting of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon doped with a group IIa or group Va element and containing at least one of carbon atoms, nitrogen atoms and oxygen atoms; carbon atoms, nitrogen atoms and oxygen atoms; A photoreceptor comprising a surface-modified layer made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon containing at least one type of atoms in a larger amount than the intermediate layer.
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JP16875585A JPS6228759A (en) 1985-07-30 1985-07-30 Photosensitive body

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JPS6228759A true JPS6228759A (en) 1987-02-06

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63121057A (en) * 1986-11-08 1988-05-25 Kyocera Corp Electrophotographic sensitive body
JPS63135951A (en) * 1986-11-26 1988-06-08 Kyocera Corp Electrophotographic sensitive body
JPH06305236A (en) * 1992-05-25 1994-11-01 Norio Watanabe Thermosetting transfer mark

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