JPS6228752A - Photosensitive body - Google Patents

Photosensitive body

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Publication number
JPS6228752A
JPS6228752A JP16874885A JP16874885A JPS6228752A JP S6228752 A JPS6228752 A JP S6228752A JP 16874885 A JP16874885 A JP 16874885A JP 16874885 A JP16874885 A JP 16874885A JP S6228752 A JPS6228752 A JP S6228752A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
photoreceptor
contg
silicon
intermediate layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP16874885A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshihide Fujimaki
藤巻 義英
Eiichi Sakai
坂井 栄一
Toshiki Yamazaki
山崎 敏規
Hiroyuki Nomori
野守 弘之
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Konica Minolta Inc
Original Assignee
Konica Minolta Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Konica Minolta Inc filed Critical Konica Minolta Inc
Priority to JP16874885A priority Critical patent/JPS6228752A/en
Publication of JPS6228752A publication Critical patent/JPS6228752A/en
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G5/00Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
    • G03G5/02Charge-receiving layers
    • G03G5/04Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
    • G03G5/08Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
    • G03G5/082Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
    • G03G5/08214Silicon-based
    • G03G5/0825Silicon-based comprising five or six silicon-based layers

Abstract

PURPOSE:To improve the mechanical and the optical properties and the stability of the titled body by laminating the prescribed layers composed of such as a specific amorphous hydrogenated silicon (a-Si:H) etc. respectively. CONSTITUTION:An electric charge blocking layer 44 composed of a-Si:H contg. >=1 kind atoms selected from a carbon, nitrogen, and an oxygen atoms, and an electric charge transfer layer 42 composed of a-Si:H contg. the nitrogen atom and an electric charge generating layer 43 composed of a-Si:H are laminated on a substrate 41. And the first intermediate layer 47 composed of a-Si:H and dopped with the group IIIa or Va element of the periodic table, the second intermediate layer 46 composed of a-Si:H contg. at least one kind atom selected from the carbon, the nitrogen and the oxygen atoms and the surface reforming layer 45 composed of a-Si:H contg. large amounts of the atom are laminated on the substrate 41 to form the photosensitive body 39. By providing the layers 45-47, the mechanical strength of the titled body becomes large. The adhesive property, the anti-fatigue property against a light and the anti-chemical stability of the layers 45 and 43 are improved. The effects as prescribed above are obtd. by merely using a fluorinated silicon or by jointly using the fluorinated silicon and the prescribed silicon.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

イ、産業上の利用分野 本発明は感光体、例えば電子写真感光体に関するもので
ある。 口、従来技術 従来、電子写真感光体として、Se又はSeにA S 
% T e 、、 S b等をドープした感光体、Zn
OやCdSを樹脂バインダーに分散させた感光体等が知
られている。しかしながらこれらの感光体は、環境汚染
性、熱的安定性、機械的強度の点で問題がある。 一方、アモルファスシリコン(a−3i)を母体として
用いた電子写真感光体が近年になって提案されている。 a−3tは、5t−3iの結合手が切れたいわゆるダン
グリングボンドを有しており、この欠陥に起因してエネ
ルギーギャップ内に多くの局在準位が存在する。このた
めに、熱励起担体のポツピング伝導が生じて暗抵抗が小
さく、また光励起担体が局在準位にトラップされて光伝
導性が悪くなっている。そこで、上記欠陥を水素原子(
■])で補償してSiにHを結合させることによって、
ダングリングボンドを埋めることが行われる。 このようなアモルファス水素化シリコン(以下、a−3
i:Hと称する。)の暗所での抵抗率は、108〜10
9Ω−■であって、アモルファスSeと比較すれば約1
万分の1も低い。従って、a−3i:Hの単層からなる
感光体は表面電位の暗減衰速度が太き(、初期帯電電位
が低いという問題点を有している。 しかし、他方では、可視及び赤外領域の光を照射すると
抵抗率が大きく減少するため、感光体の感光層として掻
めて優れた特性を有している。 第8図には、上記のa−3i:Hを母材としたa−3i
系感光体9を組込んだ電子写真複写機が示されている。 この複写機によれば、キャビネット1の上部には、原稿
2を載せるガラス製原稿載置台3と、原稿2を覆うプラ
テンカバー4とが配されている。原稿台3の下方では、
光源5及び第1反射用ミラー6を具備した第1ミラーユ
ニツト7からなる光学走査台が図面左右方向へ直線移動
可能に設けられており、原稿走査点と感光体との光路長
を一定にするための第2弯ラーユニソト20が第1ミラ
ーユニツトの速度に応じて移動し、原稿台3側からの反
射光がレンズ21、反射用ミラー8を介して像担持体と
しての感光体ドラムS上へスリット状に入射するように
なっている。ドラム9の周囲には、コロナ帯電器10、
現像器11、転写部12、分離部13、クリーニング部
14が夫々配置されており、給紙箱15から各給紙ロー
ラー16.17を経て送られる複写紙18はドラム9の
トナー像の転写後に更に定着部19で定着され、トレイ
35へ排紙される。定着部19では、ヒーター22を内
臓した加熱ローラー23と圧着ローラー24との間に現
像済みの複写紙を通して定着操作を行なう。 しかしながら、a−3t:Hを表面とする感光体は、長
期に亘って大気や湿気に曝されることによる影響、コロ
ナ放電で生成される化学種の影響等の如き表面の化学的
安定性に関して、これまで十分な検討がなされていない
。例えば1力月以上放置したものは湿気の影響を受け、
受容電位が著しく低下することが分っている。一方、ア
モルファス水素化炭化シリコン(以下、a−3iC:H
と称する。)について、その製法や存在が“Ph1l。 Mag、 Vol、35”(1978)等に記載されて
おり、その特性として、耐熱性や表面硬度が高いこと、
a−3i :Hと比較して高い暗所抵抗率(10′2〜
10′3Ω−cm)を有すること、炭素量により光学的
エネルギーギャップが1.6〜2.8eVの範囲に亘っ
て変化すること等が知られている。但、炭素の含有によ
りハンドギヤツブが拡がるために長波長感度が不良とな
るという欠点がある。 こうしたa−3iC:Hとa−3i:Hとを組合せた電
子写真感光体は例えば特開昭55−127083号公報
において提案されている。これによれば、a−3isH
層を電荷発生(光導電)層とし、この電荷発生層下にa
−3iC:H層を設け、上層のa−3i:Hにより広い
波長域での光感度を得、かつa−3i:H層とへテロ接
合を形成する下層のa−3iC:Hにより帯電電位の向
上を図っている。しかしながら、a−3i:H層の暗減
衰を充分に防止できず、帯電電位はなお不充分であって
実用性のあるものとはならない上に、表面にa−3i:
HJiが存在していることにより化学的安定性や機械的
強度、耐熱性等が不良となる。 一方、特開昭57−17952号公報には、a−3i:
Hからなる電荷発生層上に第1のa−3iC:H層を表
面改質層として形成し、裏面上(支持体電極側)に第2
のa−3iC:H層を形成している。 また、この公知技術に関連したものとして、実開昭57
−23543号公報にみられる如(、上記の電荷発生層
と上記第1及び第2のa −S i Cs H層との間
に傾斜N(a −S i 、−xCx : H)を設け
、この傾斜層においてa−3i:H側でX=0とし、a
−3iC:H層側でX=0.5とした感光体が知られて
いる。 しかしながら、上記の公知の感光体について本発明者が
検討を加えたところ、表面改質層を設けたことによる効
果は特に連続繰返し使用において、それ程発揮されない
ことが判明した。即ち、20〜30万回の連続ランニン
グ時に表面のa−3iC層が7〜8万回程度で機械的に
t員傷され、これに起因する白スジや白ポチが画像欠陥
として生じるため、耐剛性が充分ではない。しかも、繰
返し使用時の耐光疲労が生じ、画像流れも生じる上に、
電気的・光学的特性が常時安定せず、使用環境(温度、
湿度)による影響を無視できない。また、表面改質層と
電荷発生層との接着性も更に改善する必要がある。 ハ0発明の目的 本発明の目的は、表面改質層と電荷発生層との接着性に
優れ、機械的損傷に強くかつ耐剛性に優れている上に、
画像流れのない安定な画質が得られ、繰返し使用時の光
疲労が少なく、残留電位も低く、かつ特性が使用環境(
温度、湿度)によらずに安定している感光体を提供する
ことにある。 二0発明の構成及びその作用効果 即ち、本発明は、炭素原子、窒素原子及び酸素原子のう
ちの少なくとも1種を含有するアモルファス水素化及び
/又はフッ素化シリコンからなる電荷ブロッキング層と
;窒素原子ylり17を含有するアモルファス水素化及
び/又はフッ素化と;周期表第IIIa族又は第Va族
元素がドープされかつアモルファス水素化及び/又はフ
・ノ素化シリコンからなる第1中間層と;炭素原子、窒
素原子及び酸素原子のうちの少なくとも1種を含有する
アモルファス水素化及び/又はフッ素化シリコンからな
る第2中間層と;炭素原子、窒素原子及び酸素原子のう
ちの少なくとも1種を前記第2中間層よりも多く含有す
るアモルファス水素化及び/又はフッ素化シリコンから
なる表面改質層とが順次積層されてなる感光体に係るも
のである。 本発明によれば、表面改質層は炭素、窒素及び酸素の少
なくとも1つの原子を含有している上に、この層下に第
2及び第1中間層を設けているために、機械的損傷に対
して強くなり、白スジ発生等による画質の劣化がなく、
耐剛性が優れたものとなる。また、本発明においては、
表面改質層と電荷発生層との間に第1及び第2中間層を
設けているので、表面改質層と電荷発生層との接着性が
向上する。また、表面改質層と中間層とを電荷発生層上
に設けているので、上記に加えて、繰返し使用時の耐光
疲労に優れ、また画像流れもなく、残留電位も低下し、
電気的・光学的特性が常時安定化して使用環境に影響を
受けないことが確認されている。 ホ、実施例 以下、本発明を実施例について詳細に説明する。 第1図は、本実施例による正帯電用のa−3i系電子写
真感光体3Sを示すものである。この感光体39はA1
等のドラム状導電性支持基板41上に、周期表第Va族
元素(例えばリン)がヘビードープされかつC,N及び
0の少なくとも1つを含有するa−3i:H(これをa
−3i(C)(N)(0):Hと表わす。)からなるN
°型電荷プロフキング層44と、周期表第ff1a族元
素(例えばホウ素)がライトドープされて真性化されか
つNを含有するa−3i:H(これをa−3iN:Hと
表わす。)からなる電荷輸送層42と、a−3i:Hか
らなる電荷発生層(不純物ドーピングなし又は真性化さ
れたもの)43と、周期表第■a族又は第Va族元素が
ヘビードープされたP゛型又はN′″型アモルファス水
素化シリコンからなる第1中間N47と、周期表第nI
a族又は第Va族元素がドープされてP型又はN型或い
は真性化(若しくは不純物ドーピングなしの)されかつ
N、C及びOの少なくとも1つを含有するアモルファス
水素化シリコン(これをa−3i  (C)(N)(0
):Hと表わす。)からなる第2中間jW46と、周期
表第1[[a族又は第Va族元素がドープされてP型又
はN型或いは真性化(若しくはドーピングなし)されか
つa−3i  (C)  (N)  (0):Hからな
る表面改質層45とが積層された構造からなっている。 電荷発生層43は暗所抵抗率ρ。 と光照射時の抵抗率ρ、との比が電子写真感光体として
充分大きく光感度(特に可視及び赤外領域の光に対する
もの)が良好である。 なお、上記の各層の炭素原子含有量は0〜70%の範囲
では、第2図に示す如(に光学的エネルギーギヤ・7プ
(Eg、 opt)とほぼ直線的な関係があるので、炭
素原子含有量を光学的エネルギーギャップに置き換えて
規定することができる。 また、a−3iC:Hは、炭素原子含有量を適切に選択
すれば、第3図の曲線aのように比抵抗の上昇、帯電電
位保持能の向上という顕著な作用効果が得られる。即ち
、第3図に曲線aで示すように、炭素原子含有量が30
〜90%のa−3iC:Hを用いた場合、その比抵抗は
炭素含有量に従って変化し、10′2Ω−(2)以上に
なる。 上記の傾向は、炭素に代えてN又は0を含むa−3iN
:H,a−3iO:Hについても同様である。 上記の層45は感光体の表面を改質してa−3i系悪感
光を実用的に優れたものとするために必須不可欠なもの
である。即ち、表面での電荷保持と、光照射による表面
電位の減衰という電子写真感光体としての基本的な動作
を可能とするものである。 従って、帯電、光減衰の繰返し特性が非常に安定となり
、長期間(例えば1力月以上)放置しておいても良好な
電位特性を再現できる。これに反し、a−3i:Hを表
面とした感光体の場合には、湿気、大気、オゾン雰囲気
等の影響を受は易く、電位特性の経時変化が著しくなる
。 また、層45は表面硬度が高いために、現像、転写、ク
リーニング等の工程における耐摩耗性があり、更に耐熱
性も良いことから粘着転写等の如く熱を付与するプロセ
スを適用することができる。 上記のような優れた効果を総合的に奏するためには、層
45の組成を選択することが重要である。 即ち、炭素原子を含有する場合、Si+C=100at
omic%(以下、atomic%を単に%で表わす。 )としたとき1%≦(C)590%、更には10%≦(
C)570%であることが望ましい。このC含有量によ
って上記した比抵抗が所望の値となり、かつ光学的エネ
ルギーギャップがほぼ2.5eV以上となり、可視及び
赤外光に対しいわゆる光学的に透明な窓効果により照射
光はa−3i:H層(電荷発生層)43に到達し易くな
る。しかし、C含有量が1%以下では、機械的損傷等の
欠点が生じ、かつ比抵抗が所望の値以下となり易く、か
つ一部分の光は表面層45に吸収され、感光体の光感度
が低下し易くなる。また、C含有量が90%を越えると
層の炭素量が多くなり、半導体特性が失われ易い上にa
−3iC:H膜をグロー放電法で形成するときの堆積速
度が低下し易いので、C含有量は90%以下とするのが
よい。同様に、窒素又は酸素を含有する層45の場合、
1%≦(N)590%(更には10%≦(N)570%
)がよく、0%く
B. Industrial Application Field The present invention relates to a photoreceptor, for example, an electrophotographic photoreceptor. Conventional technology Conventionally, as an electrophotographic photoreceptor, Se or Se has A S
Photoreceptor doped with % T e , S b etc., Zn
Photoreceptors in which O or CdS is dispersed in a resin binder are known. However, these photoreceptors have problems in terms of environmental pollution, thermal stability, and mechanical strength. On the other hand, electrophotographic photoreceptors using amorphous silicon (a-3i) as a matrix have been proposed in recent years. a-3t has a so-called dangling bond in which the bond of 5t-3i is broken, and many localized levels exist within the energy gap due to this defect. For this reason, popping conduction of thermally excited carriers occurs, resulting in a small dark resistance, and photoexcited carriers are trapped in localized levels, resulting in poor photoconductivity. Therefore, we replaced the above defects with hydrogen atoms (
■]) By compensating and bonding H to Si,
Filling of dangling bonds is performed. Such amorphous hydrogenated silicon (hereinafter referred to as a-3
It is called i:H. ) has a resistivity in the dark of 108 to 10
9Ω-■, which is about 1 compared to amorphous Se.
It's even lower than 1/10,000. Therefore, a photoreceptor consisting of a single layer of a-3i:H has the problem of a fast dark decay rate of surface potential (low initial charging potential). When irradiated with light of -3i
An electrophotographic copying machine incorporating a system photoreceptor 9 is shown. According to this copying machine, a glass document mounting table 3 on which a document 2 is placed and a platen cover 4 that covers the document 2 are disposed in the upper part of a cabinet 1. Below the document table 3,
An optical scanning table consisting of a first mirror unit 7 equipped with a light source 5 and a first reflecting mirror 6 is provided so as to be movable linearly in the left-right direction of the drawing, and the optical path length between the document scanning point and the photoreceptor is kept constant. The second curler unit 20 moves according to the speed of the first mirror unit, and the reflected light from the document table 3 passes through the lens 21 and the reflection mirror 8 onto the photosensitive drum S as an image carrier. The light enters in a slit shape. Around the drum 9, a corona charger 10,
A developing device 11, a transfer section 12, a separation section 13, and a cleaning section 14 are arranged, and the copy paper 18 fed from the paper feed box 15 via each paper feed roller 16, 17 is further processed after the toner image on the drum 9 is transferred. The image is fixed by the fixing unit 19 and then ejected to the tray 35. In the fixing section 19, the developed copy paper is passed between a heating roller 23 containing a heater 22 and a pressure roller 24 to perform a fixing operation. However, photoreceptors with a-3t:H surfaces are susceptible to surface chemical stability, such as the effects of long-term exposure to the atmosphere and moisture, and the effects of chemical species generated by corona discharge. , has not been sufficiently investigated so far. For example, items that have been left for more than a month will be affected by moisture.
It is known that the receptor potential is significantly reduced. On the other hand, amorphous hydrogenated silicon carbide (hereinafter a-3iC:H
It is called. ), its manufacturing method and existence are described in "Ph1l. Mag, Vol. 35" (1978), etc., and its characteristics include high heat resistance and surface hardness,
a-3i: High dark resistivity (10'2~
It is known that the optical energy gap varies over a range of 1.6 to 2.8 eV depending on the amount of carbon. However, there is a drawback that the long wavelength sensitivity is poor because the hand gear knob expands due to the carbon content. An electrophotographic photoreceptor combining such a-3iC:H and a-3i:H has been proposed, for example, in Japanese Patent Application Laid-Open No. 127083/1983. According to this, a-3isH
The layer is a charge generation (photoconductive) layer, and below this charge generation layer is a
-3iC:H layer is provided, the upper layer a-3i:H provides photosensitivity in a wide wavelength range, and the lower layer a-3iC:H forming a heterojunction with the a-3i:H layer has a charged potential. We are working to improve this. However, the dark decay of the a-3i:H layer cannot be sufficiently prevented, and the charging potential is still insufficient to be practical.
The presence of HJi causes poor chemical stability, mechanical strength, heat resistance, etc. On the other hand, JP-A-57-17952 discloses a-3i:
A first a-3iC:H layer is formed as a surface modification layer on the charge generation layer made of H, and a second a-3iC:H layer is formed on the back surface (support electrode side).
a-3iC:H layer is formed. In addition, as related to this known technology,
As seen in Japanese Patent No. 23543, a slope N(a-S i , -xCx : H) is provided between the charge generation layer and the first and second a-S i Cs H layers, In this graded layer, X=0 on the a-3i:H side, and a
-3iC: A photoreceptor in which X=0.5 on the H layer side is known. However, when the present inventor conducted a study on the above-mentioned known photoreceptor, it was found that the effect of providing the surface modification layer is not so pronounced, especially in continuous repeated use. That is, during continuous running of 200,000 to 300,000 times, the a-3iC layer on the surface is mechanically damaged by about 70,000 to 80,000 times, and white streaks and white spots caused by this occur as image defects, so the durability is low. Rigidity is not sufficient. In addition, light resistance fatigue occurs during repeated use, and image blurring occurs.
The electrical and optical characteristics are not always stable, and the usage environment (temperature,
The influence of humidity) cannot be ignored. Furthermore, it is necessary to further improve the adhesion between the surface modified layer and the charge generation layer. The object of the present invention is to provide excellent adhesion between a surface modified layer and a charge generation layer, strong resistance to mechanical damage, and excellent rigidity resistance.
Stable image quality without image blurring is obtained, there is little optical fatigue during repeated use, the residual potential is low, and the characteristics are compatible with the usage environment (
The purpose of the present invention is to provide a photoreceptor that is stable regardless of temperature and humidity. 20 Structure of the invention and its effects, that is, the present invention provides a charge blocking layer made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon containing at least one of carbon atoms, nitrogen atoms, and oxygen atoms; an amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon containing yl-17; a first intermediate layer doped with an element of group IIIa or group Va of the periodic table and made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon; a second intermediate layer made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon containing at least one of carbon atoms, nitrogen atoms, and oxygen atoms; The present invention relates to a photoreceptor in which a surface-modified layer made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon containing a larger amount than the second intermediate layer is sequentially laminated. According to the present invention, the surface-modified layer contains at least one atom of carbon, nitrogen, and oxygen, and the second and first intermediate layers are provided below this layer, so that mechanical damage There is no deterioration in image quality due to white streaks, etc.
It has excellent rigidity. Furthermore, in the present invention,
Since the first and second intermediate layers are provided between the surface modified layer and the charge generation layer, the adhesion between the surface modified layer and the charge generation layer is improved. In addition, since the surface modification layer and intermediate layer are provided on the charge generation layer, in addition to the above, it has excellent light fatigue resistance during repeated use, has no image fading, and has low residual potential.
It has been confirmed that the electrical and optical characteristics are always stable and are not affected by the usage environment. E. Examples Hereinafter, the present invention will be explained in detail with reference to examples. FIG. 1 shows an a-3i electrophotographic photoreceptor 3S for positive charging according to this embodiment. This photoreceptor 39 is A1
A-3i:H (which is heavily doped with a Group Va element of the periodic table (for example, phosphorus) and contains at least one of C, N, and 0) is placed on a drum-shaped conductive support substrate 41 such as
−3i(C)(N)(0):H. ) consisting of N
° type charge profking layer 44 and a-3i:H (hereinafter referred to as a-3iN:H) which is light-doped with an element of group ff1a of the periodic table (for example, boron) to become intrinsic and contains N. A charge transport layer 42 made of a-3i:H, a charge generation layer 43 made of a-3i:H (without impurity doping or made intrinsic), and a P-type or A first intermediate N47 made of N''' type amorphous hydrogenated silicon and nI of the periodic table.
Amorphous hydrogenated silicon doped with a group A or group Va element to make it P-type, N-type, or intrinsic (or without impurity doping) and containing at least one of N, C, and O (this is called a-3i (C) (N) (0
): Represented as H. ), and a-3i (C) (N) which is doped with a group A or Va group element and becomes P-type or N-type or intrinsic (or without doping) and a-3i (C) (N) It has a structure in which a surface modified layer 45 made of (0):H is laminated. The charge generation layer 43 has a dark resistivity ρ. The ratio of resistivity ρ when irradiated with light is sufficiently large as an electrophotographic photoreceptor, and the photosensitivity (particularly to light in the visible and infrared regions) is good. In addition, in the range of 0 to 70%, the carbon atom content of each of the above layers has a nearly linear relationship with the optical energy gear (Eg, opt) as shown in Figure 2. The a-3iC:H can be defined by replacing the atomic content with the optical energy gap.Also, if the carbon atom content is appropriately selected, the specific resistance will increase as shown in curve a in Figure 3. , a remarkable effect of improving the charging potential holding ability can be obtained. That is, as shown by curve a in FIG. 3, when the carbon atom content is 30
When ~90% a-3iC:H is used, its resistivity varies with carbon content and is greater than 10'2 Ω-(2). The above tendency is that a-3iN containing N or 0 instead of carbon
The same applies to :H, a-3iO:H. The above-mentioned layer 45 is indispensable for modifying the surface of the photoreceptor and making the a-3i-based photoresistance practically excellent. That is, it enables the basic operations of an electrophotographic photoreceptor, such as charge retention on the surface and attenuation of the surface potential due to light irradiation. Therefore, the repetitive characteristics of charging and optical attenuation become very stable, and good potential characteristics can be reproduced even if left for a long period of time (for example, one month or more). On the other hand, in the case of a photoreceptor having a-3i:H as its surface, it is easily affected by humidity, air, ozone atmosphere, etc., and the potential characteristics change significantly over time. In addition, since the layer 45 has a high surface hardness, it has abrasion resistance during processes such as development, transfer, and cleaning, and also has good heat resistance, so a process that applies heat such as adhesive transfer can be applied. . In order to comprehensively achieve the excellent effects described above, it is important to select the composition of the layer 45. That is, when containing carbon atoms, Si+C=100at
When omic% (hereinafter, atomic% is simply expressed as %), 1%≦(C)590%, furthermore 10%≦(
C) Desirably 570%. Due to this C content, the above-mentioned resistivity becomes the desired value, and the optical energy gap becomes approximately 2.5 eV or more, and the irradiated light is a-3i due to the so-called optically transparent window effect for visible and infrared light. : It becomes easier to reach the H layer (charge generation layer) 43. However, if the C content is 1% or less, disadvantages such as mechanical damage occur, and the specific resistance tends to fall below a desired value, and part of the light is absorbed by the surface layer 45, reducing the photosensitivity of the photoreceptor. It becomes easier to do. Furthermore, if the C content exceeds 90%, the amount of carbon in the layer increases, and semiconductor properties are likely to be lost, and a
-3iC: Since the deposition rate when forming the H film by the glow discharge method tends to decrease, the C content is preferably 90% or less. Similarly, in the case of layer 45 containing nitrogen or oxygen,
1%≦(N)590% (furthermore, 10%≦(N)570%
) is good, 0%

〔0〕≦70%(更には5%≦[0]≦70% (even 5%≦

〔0〕
≦30%)がよい。 帯電能を向上させる為には、表面改質層45を高抵抗化
してもよい。その為には表面改質層を真性化しても良い
。 正又は負帯電使用に於いて、中間層から表面改質層中へ
の電子又は正孔の注入を容易にし、残留電位を極小化す
る為には、表面改質層をP又はN型としてもよい。 各場合の不純物ドープ量(後述のグロー放電分解時)は
次の通りであってよい。 真性化: BzHb/S i H42〜50容量ppI
I+P型: B z Hb/ S i Ha  50〜
1000容itppmN型: P H3/ S i H
a   1〜1000容量ppmまた、層45はa−3
iCO3a−3iN、a−3iO1a−3i02等から
なっていてよく、その膜厚を400人≦t≦5000人
の範囲内(特に400人≦t≦2000人に選択するこ
とも重要である。即ち、その膜厚が5000人を越える
場合には、残留電位vRが高くなりすぎかっ光感度の低
下も生じ、a−3i系悪感光としての良好な特性を失い
易い。 また、膜厚を400人未満とした場合には、トンネル効
果によって電荷が表面上に帯電されなくなるため、暗減
衰の増大や光感度の低下が生じてしまう。 第2中間層46については、残留電位低下の為には、電
荷発生層からの電荷の注入の可能とするのに中間層をP
又はN型としてもよい。導電型制御の為のドーピング量
は表面改質層と同じでよい。 また、C,N、0の含有量は層45のそれよりも少なく
する。即ち、Q<(C)610%、0<(N)610%
、0<(0)≦5%とするのがよい。 この中間層の膜厚は50〜5000人とするのがよいが
、5000人を越えると上記したと同様の現象が生じ易
く、50人未満では中間層としての効果が乏しくなる。 好ましくは、100Å以上、1000Å以下とするのが
良い。 第1中間層47は感度の向上、残留電位の低下、表面改
質層、中間層46の接着性の向上及び画像の安定化の為
に設置する。 中間層47は、上記特性改善の為には、P又はN型化す
る必要がある。不純物ドープ量は(PH3)/ (S 
i H4) = 1〜1000 (好ましくは10〜5
00)容量ppm、CBZH&) / (S i Ha
) =10〜1000(好ましくは50〜500)容量
pp+++としてよい。 この中間層の膜厚は50〜5000人とするのがよいが
、5000人を越えると上記したと同様の現象が生じ易
<、50人未満では中間層としての効果が乏しくなる。 電荷発生層43については、帯電能を向上する為には、
電荷発生層の高抵抗化を図ってもよい。 その為には、電荷発生層を真性化しても良い。この真性
化には、B Z Hb/ S iH4= 1〜20容量
ppmとするのがよい。 また、電荷発生層は1〜10μm、好ましくは5〜7μ
mとするのがよい。電荷発生層43が1μm未満である
と光感度が充分でなく、また10μmを越えると残留電
位が上昇し、実用上不充分である。 電荷輸送層42については、帯電能、感度を最適化する
為には、真性化してもよい。真性化の為のドープ量は、
(B2H6)/ (S i H4)= 1〜2000 
 容量ppmが最適である。但し、上記値はC濃度に依
存する為、必ずしも上記値に限定されるものではない。 電荷輸送層の膜厚は10〜30μmとするのがよい。ま
た、電荷輸送層の組成は、1%く〔N〕≦30%、好ま
しくは10%≦(N)530%がよい。 また、上記電荷ブロッキング層44は、基板41からの
ホールの注入を充分に防ぎ、感度、帯電能の向上のため
には、必要に応じて周期表第Va族元素(例えばリン)
をグロー放電分解でドープして、真性化、更にはN型(
更にはN°型)化する。 ブロッキング層の組成によって、次のようにドーピング
量を制御する。 a−3iC又はa−3iCO: 真性化 BZH6/S i H<    2〜20容f
fippmN型(Nつ P H,+/ S i Ha 
  1 ”’1000容量ppIIIa−5iN又はa
−3iNO: 真性化 BzHb/ S i H41〜2000200
0容量ppN”) P H3/ S i H41〜20
00〃ブロッキング層は、SiO,5i02等の化合物
でもよい。 また、ブロッキング層44は膜厚500 人〜2μmが
よい。500人未満であるとブロッキング効果が弱く、
また2μmを越えると電荷輸送能が悪くなり易い。 ブロッキングN44の組成については、次のようにする
のが望ましい。即ち、1%〈〔03590%、好ましく
はlO%≦(C) 570%とし、1%く(N)590
%、好ましくは10%く〔N3570%とし、0%≦ 
[0]
≦30%) is good. In order to improve the charging ability, the surface modified layer 45 may have a high resistance. For this purpose, the surface modified layer may be made intrinsic. When used with positive or negative charging, in order to facilitate the injection of electrons or holes from the intermediate layer into the surface-modified layer and to minimize the residual potential, the surface-modified layer may be of P or N type. good. The amount of impurity doped in each case (at the time of glow discharge decomposition described later) may be as follows. Intrinsicization: BzHb/S i H42-50 Capacity ppI
I+P type: Bz Hb/S i Ha 50~
1000 volume itppm N type: P H3/S i H
a 1 to 1000 ppm, and the layer 45 is a-3
It may be composed of iCO3a-3iN, a-3iO1a-3i02, etc., and it is also important to select the film thickness within the range of 400 people≦t≦5000 people (especially 400 people≦t≦2000 people. That is, If the film thickness exceeds 5000 mm, the residual potential vR becomes too high and the photosensitivity decreases, making it easy to lose the good characteristics of the a-3i type photosensitive. In this case, charges are no longer charged on the surface due to the tunnel effect, resulting in an increase in dark decay and a decrease in photosensitivity.As for the second intermediate layer 46, in order to reduce the residual potential, The intermediate layer is made of P to enable charge injection from the generation layer.
Or it may be N type. The doping amount for controlling the conductivity type may be the same as that for the surface modification layer. Further, the content of C, N, and 0 is made smaller than that of the layer 45. That is, Q<(C)610%, 0<(N)610%
, 0<(0)≦5%. The thickness of this intermediate layer is preferably 50 to 5,000 people, but if it exceeds 5,000 people, the same phenomenon as described above tends to occur, and if it is less than 50 people, the effect as an intermediate layer becomes poor. Preferably, the thickness is 100 Å or more and 1000 Å or less. The first intermediate layer 47 is provided to improve sensitivity, reduce residual potential, improve the adhesion of the surface modification layer and intermediate layer 46, and stabilize the image. The intermediate layer 47 needs to be of P or N type in order to improve the above characteristics. The impurity doping amount is (PH3)/(S
i H4) = 1 to 1000 (preferably 10 to 5
00) Capacity ppm, CBZH &) / (S i Ha
) = 10 to 1000 (preferably 50 to 500) capacity pp+++. The thickness of this intermediate layer is preferably 50 to 5,000 people, but if it exceeds 5,000 people, the same phenomenon as described above is likely to occur, and if it is less than 50 people, the effect as an intermediate layer will be poor. Regarding the charge generation layer 43, in order to improve the charging ability,
The resistance of the charge generation layer may be increased. For this purpose, the charge generation layer may be made intrinsic. For this purpose, it is preferable that BZHb/SiH4=1 to 20 ppm by volume. Further, the charge generation layer has a thickness of 1 to 10 μm, preferably 5 to 7 μm.
It is better to set it to m. If the thickness of the charge generation layer 43 is less than 1 μm, the photosensitivity will not be sufficient, and if it exceeds 10 μm, the residual potential will increase, which is insufficient for practical use. The charge transport layer 42 may be made intrinsic in order to optimize charging ability and sensitivity. The doping amount for making it intrinsic is
(B2H6)/(S i H4)= 1~2000
Capacity ppm is optimal. However, since the above value depends on the C concentration, it is not necessarily limited to the above value. The thickness of the charge transport layer is preferably 10 to 30 μm. The composition of the charge transport layer is preferably 1% (N)≦30%, preferably 10%≦(N)530%. In addition, the charge blocking layer 44 may be made of elements of Group Va of the periodic table (for example, phosphorus), if necessary, to sufficiently prevent hole injection from the substrate 41 and to improve sensitivity and charging ability.
is doped by glow discharge decomposition to make it intrinsic, and further to N-type (
Furthermore, it becomes N° type). The doping amount is controlled by the composition of the blocking layer as follows. a-3iC or a-3iCO: Intrinsic BZH6/S i H< 2-20 volume f
fippmN type (N P H, +/ S i Ha
1"'1000 capacity ppIIIa-5iN or a
-3iNO: Intrinsic BzHb/S i H41~2000200
0 capacity ppN”) P H3/S i H41~20
00 The blocking layer may be a compound such as SiO, 5i02, etc. Further, the thickness of the blocking layer 44 is preferably 500 μm to 2 μm. If there are fewer than 500 people, the blocking effect will be weak.
Further, if the thickness exceeds 2 μm, the charge transport ability tends to deteriorate. The composition of blocking N44 is preferably as follows. That is, 1%<[03590%, preferably lO%≦(C)570%, and 1%
%, preferably 10% [N3570%, 0%≦

〔0〕 570%、好ましくは0%≦ (0)530%
とするのがよい。 なお、上記の各層は水素を含有することが必要である。 特に、電荷発生層43中の水素含有量は、ダングリング
ボンドを補償して光導電性及び電荷保持性を向上させる
ために必須不可欠であって、10〜30%であるのが望
ましい。この含有量範囲は表面改質層45、ブロッキン
グ層44及び電荷輸送層42も同様である。また、導電
型を制御するための不純物として、P型化のためにポロ
ン以外にもAN、Ga、I nXT(1等の周期表第I
IIa族元素を使用できる。N型化のためにはリン以外
にも、As、Sb等の周期表第Va族元素を使用できる
。 次に、上記した感光体(例えばドラム状)の製造方法及
びその装置(グロー放電装置)を第4図について説明す
る。 この装置51の真空槽52内ではドラム状の基板41が
垂直に回転可能にセットされ、ヒーター55で基板41
を内側から所定温度に加熱し得るようになっている。基
板41に対向してその周囲に、ガス薄出口53付きの円
筒状高周波電極57が配され、基板41との間に高周波
電源56によりグロー放電が生ぜしめられる。なお、図
中の62はSiH4又はガス状シリコン化合物の供給源
、63はCHa等の炭化水素ガスの供給源、64はN2
等の窒素化合物ガスの供給源、65は02等の酸素化合
物ガスの供給源、66はAr等のキャリアガス供給源、
67は不純物ガス(例えばB、Ha)供給源、68は各
流量計である。このグロー放電装置において、まず支持
体である例えばAl基板41の表面を清浄化した後に真
空槽52内に配置し、真空槽52内のガス圧が10− 
”Torrとなるように調節して排気し、かつ基板41
を所定温度、特に100〜350℃(望ましくは150
〜300℃)に加熱保持する。次いで、高純度の不活性
ガスをキャリアガスとして、SiH,又はガス状シリコ
ン化合物、CH4、N2、O□等を適宜真空槽52内に
導入し、例えば0.01〜10Torrの反応圧下で高
周波電源56により高周波電圧(例えば13.56 M
Hz)を印加する。これによって、上記各反応ガスを電
極57と基板41との間でグロー放電分解し、N゛型a
3iC:HSi型a−3iN:H,a−3i:H,P”
又はN+型a−3i : Hs a−3ic。 : HSa−3ico : Hを上記の層44.42.
43.47.46.45として基板上に連続的に(即ち
、例えば第1図の例に対応して)堆積させる。 上記製造方法においては、支持体上にa−3t系の層を
製膜する工程で支持体温度を100〜350℃としてい
るので、感光体の膜質(特に電気的特性)を良くするこ
とができる。 なお、上記a−3i系感光体感光層の形成時において、
ダングリングボンドを補償するためには、上記したHの
かわりに、或いはHと併用してフッ素をSiF、等の形
で導入し、a−3i:F、a−5t  :H:F、  
a−3iN:F、  a−3tN:H:F、、a−3i
C:F、a−5iC:H:Fとすることもできる。この
場合のフッ素量は0.5〜10%が望ましい。 なお、上記の製造方法はグロー放電分解法によるもので
あるが、これ以外にも、スパッタリング法、イオンブレ
ーティング法や、水素放電管で活性化又はイオン化され
た水素導入下でSiを蒸発させる方法(特に、本出願人
による特開昭56−78413号(特願昭54−152
455号)の方法)等によっても上記感光体の製造が可
能である。 以下、本発明を具体的な実施例について説明する。 グロー放電分解法により、ドラム状AIl支持体上に第
1図の構造の電子写真感光体を作製した。 即ち、まず支持体である、例えば平滑な表面を持つドラ
ム状A1基板41の表面を清浄化した後に、第4図の真
空槽52内に配置し、真空槽52内のガス圧が10−6
Torrとなるように調節して排気し、かつ基板41を
所定温度、特に100〜350℃(望ましくは150〜
300°C)に加熱保持する。次いで、高純度のArガ
スをキャリアガスとして導入し、Q、5 Torrの背
圧のもとて周波数13.56 Mllzの高周波電力を
印加し、10分間の予備放電を行った。次いで、S i
HaとPH,からなる反応ガスを導入し、流量比1 :
 1 : 1 :  (1,5Xl0−”)の(A r
 + S i Ha + CHa又はNZ+PH+1)
ン昆合ガスをグロー放電分解することにより、電荷プロ
フキング機能を担うN゛型のa−8iC:H層44とa
−3iN:H電荷輸送層42とを5μm/hrの堆積速
度で順次所定厚さに製膜した。引き続き、PH3及びC
H,を供給停止し、SiH4を放電分解し、厚さ5μm
のa−3i:H層43を形成した。引き続いて、不純物
ガスの流量比を変化させてグロー放電分解し、膜厚も変
化させた中間層47を形成し、更にa−3iCO:H又
はa−5iNO:H中間層46、表面保護層45を更に
こうして作成された感光体の構成をまとめると次の通り
であった。 (1)0表面改質層:a−3iNO:H又はa−3iC
○:H (2)、中間層:ドープ量、膜厚変化(第5図参照)(
3)。a−3i:H電荷発生層:膜厚−5μm(41,
a−3iN : H電荷輸送層:膜厚=15μmN含有
量=11% (51,a−3iC:H又はa−3i N : H電荷
ブロッキング層:膜厚=0.5μm炭素含有量−12% (6)、支持体:Aβシリンダー(鏡面研磨仕上げ)次
に上記の各感光体を使用して各種のテストを次のように
行なった。 ■ユ之工孜皮 第6図に示すように、感光体39面に垂直に当てた0、
3Rダイヤ針70に荷重Wを加え、感光体をモータ71
で回転させ、傷をつける。次に、電子写真複写機U −
B ix 1600(小西六写真工業社製)改造機にて
画像出しを行ない、何gの荷重から画像に白スジが現わ
れるかで、その感光体の引っかき強度(g)とする。 ill共 起度33℃、相対湿度80%の環境下で、感光体を電子
写真複写機U  Bix 4500(小西六写真工業社
製)改造機内に24時間順応させた後、現像剤、紙、ブ
レードとは非接触で1000コピーの空回しを行った後
、画像出しを行ない、以下の基準で画像流れの程度を判
定した。 ◎−画画像流が全くなく、5.5ポイントの英字や細線
の再現性が良い。 ○:5.5ポイントの英字がやや太くなる。 △:5.5ポイントの英字がつぶれて読みづらい。 x:5,5ポイントの英字判読不能。 残留電位v、I (V) U −B ix 2500改造機を使った電位測定で、
400nmにピークをもつ除電光301! ux−se
cを照射した後も残っている感光体表面電位。 滞」■■Lと1二0リ− U −B ix 2500改造機(小西六写真工業0菊
製)を用い、感光体流れ込み電流200μA、露光なし
の条件で360 SX型電位計(トレック社製)で測定
した現像直前の表面電位。 半減   E!/S (Aux−sec)上記の装置を
用い、ダイクロインクミラー(元帥光学社製)により像
露光波長のうち620nm以上の長波長成分をシャープ
カットし、表面電位を500Vから250■に半減する
のに必要な露光量。 (露光量は550−1型光量計(EG andC;社製
)にて測定) 結果を第7図にまとめて示した。この結果から、本発明
に基づいて感光体を作成すれば、電子写真用として各性
能に優れた感光体が得られることが分る。
[0] 570%, preferably 0%≦ (0)530%
It is better to Note that each of the above layers needs to contain hydrogen. In particular, the hydrogen content in the charge generation layer 43 is essential to compensate for dangling bonds and improve photoconductivity and charge retention, and is preferably 10 to 30%. This content range also applies to the surface modification layer 45, blocking layer 44, and charge transport layer 42. In addition, as impurities for controlling the conductivity type, in addition to poron, AN, Ga, I nXT (I
Group IIa elements can be used. In addition to phosphorus, elements of Group Va of the periodic table, such as As and Sb, can be used for N-type formation. Next, a method for manufacturing the above-mentioned photoreceptor (for example, drum-shaped) and an apparatus therefor (glow discharge apparatus) will be explained with reference to FIG. A drum-shaped substrate 41 is set rotatably vertically in a vacuum chamber 52 of this device 51, and a heater 55 is used to rotate the substrate 41.
can be heated to a predetermined temperature from the inside. A cylindrical high frequency electrode 57 with a thin gas outlet 53 is disposed around and facing the substrate 41, and a glow discharge is generated between the electrode 57 and the substrate 41 by a high frequency power source 56. In addition, 62 in the figure is a supply source of SiH4 or a gaseous silicon compound, 63 is a supply source of hydrocarbon gas such as CHa, and 64 is a N2
65 is a supply source of oxygen compound gas such as 02, 66 is a carrier gas supply source such as Ar,
67 is an impurity gas (eg, B, Ha) supply source, and 68 is each flow meter. In this glow discharge device, first, the surface of a support, for example, an Al substrate 41, is cleaned and then placed in a vacuum chamber 52, and the gas pressure in the vacuum chamber 52 is set to 10-
"Torr" and exhaust the air, and the substrate 41
at a predetermined temperature, especially 100 to 350°C (preferably 150°C)
-300°C). Next, using a high-purity inert gas as a carrier gas, SiH or a gaseous silicon compound, CH4, N2, O□, etc. are appropriately introduced into the vacuum chamber 52, and a high-frequency power source is applied under a reaction pressure of, for example, 0.01 to 10 Torr. 56 to a high frequency voltage (e.g. 13.56 M
Hz) is applied. As a result, each of the above-mentioned reaction gases is decomposed by glow discharge between the electrode 57 and the substrate 41, and the N-type a
3iC:HSi type a-3iN:H, a-3i:H,P”
or N+ type a-3i: Hs a-3ic. : HSa-3ico : H in the above layer 44.42.
43, 47, 46, 45 on the substrate successively (i.e. corresponding to the example of FIG. 1, for example). In the above manufacturing method, the support temperature is set at 100 to 350°C in the step of forming the a-3t layer on the support, so the film quality (especially electrical properties) of the photoreceptor can be improved. . In addition, when forming the above a-3i photoreceptor photosensitive layer,
In order to compensate for dangling bonds, fluorine is introduced in the form of SiF, etc. in place of the above H or in combination with H, and a-3i:F, a-5t:H:F,
a-3iN:F, a-3tN:H:F,, a-3i
It can also be C:F, a-5iC:H:F. In this case, the amount of fluorine is preferably 0.5 to 10%. The above manufacturing method is based on the glow discharge decomposition method, but there are also sputtering methods, ion blating methods, and methods in which Si is evaporated while introducing activated or ionized hydrogen in a hydrogen discharge tube. (In particular, Japanese Patent Application Laid-Open No. 56-78413 (Patent Application No. 54-152) filed by the present applicant)
The above photoreceptor can also be manufactured by the method of No. 455). Hereinafter, the present invention will be described with reference to specific examples. An electrophotographic photoreceptor having the structure shown in FIG. 1 was prepared on a drum-shaped Al support by glow discharge decomposition. That is, first, after cleaning the surface of a support, for example, a drum-shaped A1 substrate 41 having a smooth surface, it is placed in a vacuum chamber 52 shown in FIG.
Torr, and exhaust the air, and keep the substrate 41 at a predetermined temperature, particularly 100 to 350°C (preferably 150 to 350°C).
Heat and hold at 300°C. Next, high-purity Ar gas was introduced as a carrier gas, and high-frequency power with a frequency of 13.56 Mllz was applied under a back pressure of Q, 5 Torr to perform a preliminary discharge for 10 minutes. Then, S i
A reaction gas consisting of Ha and PH was introduced, and the flow rate ratio was 1:
1: 1: (1,5Xl0-”) of (A r
+ S i Ha + CHa or NZ+PH+1)
By glow discharge decomposition of the condensation gas, the N-type a-8iC:H layer 44 and a
-3iN:H charge transport layer 42 was sequentially formed to a predetermined thickness at a deposition rate of 5 μm/hr. Continuing, PH3 and C
The supply of H, was stopped, SiH4 was decomposed by discharge, and the thickness was 5 μm.
a-3i: H layer 43 was formed. Subsequently, glow discharge decomposition is performed by changing the flow rate ratio of the impurity gas, and an intermediate layer 47 with a varying thickness is formed, and further a-3iCO:H or a-5iNO:H intermediate layer 46 and surface protective layer 45 are formed. Furthermore, the structure of the photoreceptor thus prepared was summarized as follows. (1) 0 surface modification layer: a-3iNO:H or a-3iC
○: H (2), intermediate layer: doping amount, film thickness change (see Figure 5) (
3). a-3i: H charge generation layer: film thickness -5 μm (41,
a-3iN:H charge transport layer: film thickness = 15 μm N content = 11% (51, a-3iC: H or a-3i N: H charge blocking layer: film thickness = 0.5 μm carbon content - 12% ( 6) Support: Aβ cylinder (mirror polished finish) Next, various tests were conducted using each of the above photoreceptors as shown in Figure 6. 0 applied perpendicularly to the 39th surface of the body,
A load W is applied to the 3R diamond needle 70, and the photoreceptor is moved by the motor 71.
Rotate it with and scratch it. Next, the electrophotographic copying machine U-
An image is produced using a modified B ix 1600 (manufactured by Konishiroku Photo Industry Co., Ltd.), and the scratch strength (g) of the photoreceptor is determined by the load at which white streaks appear on the image. After acclimatizing the photoreceptor in a modified electrophotographic copying machine U Bix 4500 (manufactured by Konishiroku Photo Industry Co., Ltd.) for 24 hours in an environment with a co-occurrence degree of 33°C and a relative humidity of 80%, the developer, paper, and blade were removed. After 1000 copies were made without contact with the paper, an image was printed and the degree of image blurring was determined based on the following criteria. ◎ - There is no image flow at all, and the reproducibility of 5.5 point English letters and thin lines is good. ○: 5.5 point alphabetic characters are slightly thicker. △: 5.5 point letters are crushed and difficult to read. x: 5.5 point English letters are illegible. Residual potential v, I (V) U -B ix Potential measurement using a modified 2500 machine,
Static elimination light 301 with a peak at 400nm! ux-se
The surface potential of the photoreceptor that remains after irradiation with c. A 360 SX type electrometer (manufactured by Trek) was used with a photoconductor inflow current of 200 μA and no exposure using a 2500 modified machine (manufactured by Konishi Roku Photo Industry 0 Kiku) and a 120-lead ) Surface potential measured just before development. Half E! /S (Aux-sec) Using the above device, the long wavelength component of 620 nm or more of the image exposure wavelength is sharply cut using a dichroic ink mirror (manufactured by Genshu Kogaku Co., Ltd.), and the surface potential is halved from 500 V to 250 ■. amount of exposure required for. (The exposure amount was measured using a 550-1 photometer (manufactured by EG and C)) The results are summarized in FIG. 7. These results show that if a photoreceptor is produced based on the present invention, a photoreceptor with excellent performance for electrophotography can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図〜第7図は本発明の実施例を示すものであって、 第1図はa−3i系怒光体の〆断面図、第2図はa−3
iCの光学的エネルギーギヤ。 プを示すグラフ、 第3図はa−3iCO比抵抗を示すグラフ、第4図はグ
ロー放電装置の概略断面図、第5図は各感光体の層構成
を示す表、 第6図は引っかき強度試験機の概略図、第7図は各感光
体の特性を示す表、 である。 第8図は従来の電子写真複写機の概略断面図である。 なお、図面に示された符号において、 39−−−−−−−−一−−a −S i系感光体41
−・・−・・−−−−−−一支持体(基板)42−−−
−−−一・−電荷輸送層 43−−一・−−−−−−一電荷発生層44−−−−−
−・・・・・−電荷ブロッキング層45−m−−−・−
・−・−表面改質層46.47−−−−−・−・・・・
・中間層である。 代理人 弁理士  逢 坂  宏 第2図 a−9it−xCx:HX 第3図 炭本含有量(atomic%ン 第6図
1 to 7 show embodiments of the present invention.
iC optical energy gear. Figure 3 is a graph showing the a-3iCO resistivity, Figure 4 is a schematic cross-sectional view of the glow discharge device, Figure 5 is a table showing the layer structure of each photoreceptor, Figure 6 is the scratch strength. FIG. 7 is a schematic diagram of the testing machine and a table showing the characteristics of each photoreceptor. FIG. 8 is a schematic sectional view of a conventional electrophotographic copying machine. In addition, in the reference numerals shown in the drawings, 39-------1--a-Si-based photoreceptor 41
−・・−・・−−−−−One support (substrate) 42−−−
---1.-Charge transport layer 43--1.-----Charge generation layer 44--
---Charge blocking layer 45-m----
・−・−Surface modified layer 46.47−−−−−・−・・・
・Middle class. Agent Patent Attorney Hiroshi Aisaka Figure 2 a-9it-xCx:HX Figure 3 Coal content (atomic%) Figure 6

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、炭素原子、窒素原子及び酸素原子のうちの少なくと
も1種を含有するアモルファス水素化及び/又はフッ素
化シリコンからなる電荷ブロッキング層と;窒素原子を
含有するアモル ファス水素化及び/又はフッ素化シリコンからなる電荷
輸送層と;アモルファス水素化及び/又は/フッ素化シ
リコンからなる電荷発生層と;周期表第IIIa族又は第
Va族元素がドープされかつアモルファス水素化及び/
又はフッ素化シリコンからなる第1中間層と:炭素原子
、窒素原子及び酸素原子のうちの少なくとも1種を含有
するアモルファス水素化及び/又はフッ素化シリコンか
らなる第2中間層と;炭素原子、窒素原子及び酸素原子
のうちの少なくとも1種を前記第2中間層よりも多く含
有するアモルファス水素化及び/又はフッ素化シリコン
からなる表面改質層とが順次積層されてなる感光体。
[Claims] 1. A charge blocking layer made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon containing at least one of carbon atoms, nitrogen atoms, and oxygen atoms; a charge transport layer made of fluorinated silicon; a charge generation layer made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon; doped with a group IIIa or Va element of the periodic table and amorphous hydrogenated and/or
or a first intermediate layer made of fluorinated silicon; and a second intermediate layer made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon containing at least one of carbon atoms, nitrogen atoms, and oxygen atoms; carbon atoms, nitrogen atoms; A photoreceptor comprising a surface-modified layer made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon containing more at least one of atoms and oxygen atoms than the second intermediate layer.
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