JPS61294454A - Photosensitive body - Google Patents

Photosensitive body

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Publication number
JPS61294454A
JPS61294454A JP13650385A JP13650385A JPS61294454A JP S61294454 A JPS61294454 A JP S61294454A JP 13650385 A JP13650385 A JP 13650385A JP 13650385 A JP13650385 A JP 13650385A JP S61294454 A JPS61294454 A JP S61294454A
Authority
JP
Japan
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layer
atoms
electric charge
photoreceptor
type
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP13650385A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshihide Fujimaki
藤巻 義英
Eiichi Sakai
坂井 栄一
Toshiki Yamazaki
山崎 敏規
Hiroyuki Nomori
野守 弘之
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Konica Minolta Inc
Original Assignee
Konica Minolta Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Konica Minolta Inc filed Critical Konica Minolta Inc
Priority to JP13650385A priority Critical patent/JPS61294454A/en
Publication of JPS61294454A publication Critical patent/JPS61294454A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G5/00Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
    • G03G5/02Charge-receiving layers
    • G03G5/04Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
    • G03G5/08Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
    • G03G5/082Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
    • G03G5/08214Silicon-based
    • G03G5/0825Silicon-based comprising five or six silicon-based layers

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Photoreceptors In Electrophotography (AREA)

Abstract

PURPOSE:To obtain a stable picture quality having a less tendency for an image flow by laminating each specific an electric charge blocking layer, an electric charge transfer layer, an electric charge generating layer, an intermediate layer and a surface reforming layer in order on a substrate. CONSTITUTION:The photosensitive body 39 is laminated the N<+> type electric charge blocking layer 44 composed of a-Si:H which is heavily doped with an element belonging to the group Va of the periodic table of the element, and contains one of the atoms of C, N, and O, and the electric charge transfer layer 42 composed of a-Si:H which is made an intrinsic, by lightly doping it with an element belonging to the group IIIa of the periodic table of the element, and contains atoms C and O in order on the drum shaped conductive substrate 41 composed of Al. The titled body is constituted by laminating the electric charge generating layer 43 composed of a-Si:H the intermediate layer 46 composed of a P<+> or N<+> type amorphous hydrogenated silicon which is heavily doped with an element belonging to the group IIIa or Va of the periodic table of the element, and the surface reforming layer 45 composed of an amorphous hydrogenated silicon which is made to a P-type or an N-type or an intrinsic by doping it with an element belonging to the group IIIa or Va of the periodic table of the element, and contains one of atoms of N, C and O atoms.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

イ、産業上の利用分野 本発明は感光体、例えば電子写真感光体に関するもので
ある。 口、従来技術 従来、電子写真感光体として、Se又はSeにA S 
% T e SS b等をドープした感光体、ZnOや
CdSを樹脂バインダーに分散させた感光体等が知られ
ている。しかしながらこれらの感光体は、環境汚染性、
熱的安定性、機械的強度の点で問題がある。 一方、アモルファスシリコン(a−3i)を母体として
用いた電子写真感光体が近年になって提案されている。 a−3tは、S i −3iの結合手が切れたいわゆる
ダングリングボンドを有しており、この欠陥に起因して
エネルギーギャップ内に多くの局在準位が存在する。こ
のために、熱励起担体のホッピング伝導が生じて暗抵抗
か小さく、また光励起担体が局在準位にトラップされて
光伝導性が悪くなっている。そこで、上記欠陥を水素原
子(H)で補償してSiにHを結合させることによって
、ダングリングボンドを埋めることが行われる。 このようなアモルファス水素化シリコン(以下、a−3
t:Hと称する。)の暗所での抵抗率は、108〜10
9Ω−国であって、アモルファスSeと比較すれば約1
万分の1も低い。従って、a−3i:Hの単層からなる
感光体は表面電位の暗減衰速度が大きく、初期帯電電位
が低いという問題点を有している。 しかし、他方では、可視及び赤外領域の光を照射すると
抵抗率が太き(減少するため、感光体の感光層として極
めて優れた特性を有している。 第8図には、上記のa−3t:Hを母材としたa−3i
系感光体9を組込んだ電子写真複写機が示されている。 この複写機によれば、キャビネット1の上部には、原稿
2を載せるガラス製原稿載置台3と、原稿2を覆うプラ
テンカバー4とが配されている。原稿台3の下方では、
光源5及び第1反射用ミラー6を具備した第1ミラーユ
ニツト7からなる光学走査台が図面左右方向へ直線移動
可能に設けられており、原稿走査点と感光体との光路長
を一定にするための第2ミラーユニツト20が第1ミラ
ーユニツトの速度に応じて移動し、原稿台3側からの反
射光がレンズ21、反射用ミラー8を介して像担持体と
しての感光体ドラム9上へスリット状に入射するように
なっている。ドラム9の周囲には、コロナ帯電器10、
現像器11、転写部12、分離部13、クリーニング部
14が夫々配置されており、給紙箱15から各給紙ロー
ラー16.17を経て送られる複写紙18はドラム9の
トナー像の転写後に更に定着部19で定着され、トレイ
35へ排紙される。定着部19では、ヒーター22を内
臓した加熱ローラー23を圧着ローラー24との間に現
像済みの複写紙を通して定着操作を行う。 しかしながら、a−3i:Hを表面とする感光体は、長
期に亘って大気や湿気に曝されることによる影響、コロ
ナ放電で生成される化学種の影響等の如き表面の化学的
安定性に関して、これまで充分な検討がなされていない
。例えば1力月以上放置したものは湿気の影響を受け、
受容電位が著しく低下することが分っている。一方、ア
モルファス水素化炭化シリコン(以下、a−3iC:H
と称する。)について、その製法や存在が’ Ph11
.Mag、Vol、 35″ (1978)等に記載さ
れており、その特性として、耐熱性や表面硬度が高いこ
と、a−5t:Hと比較して高い暗所抵抗率(1012
〜1013Ω−cm)を有すること、炭素量により光学
的エネルギーギャップが1.6〜2.8eVの範囲に亘
って変化すること等が知られている。但し、炭素の含有
によりバンドギャップが拡がるために長波長感度が不良
となるという欠点がある。 こうしたa−3iC:Hとa−3i:Hとを組合せた電
子写真感光体は例えば特開昭55−127083号公報
において提案されている。これによれば、a−3i:H
層を電荷発生(光導電)層とし、この電荷発生層下にa
−3iCsH層を設け、上層のa−3i:Hにより広い
波長域での光感度を得、かつa−3i:)(層とへテロ
接合を形成する下層のa−3iC:Hにより帯電電位の
向上を図っている。しかしながら、a−3i:HJii
の暗減衰を充分に防止できず、帯電電位はなお不充分で
あって実用性のあるものとはならない上に、表面にa−
3i:H層が存在していることにより化学的安定性や機
械的強度、耐熱性等が不良となる。 一方、特開昭57−17952号公報には、a−8i:
Hからなる電荷発生層上に第1のa−3iC:HNを表
面改質層として形成し、裏面上(支持体電極側)に第2
のa−3iC:H層を形成している。 また、この公知技術に関連したものとして、実開昭57
−23543号公報にみられる如く、上記の電荷発生層
と上記第1及び第2のa−3iC:H層との間に傾斜i
i (a−3i 1−xCx : H)を設け、この傾
斜層においてa−3isH側でX=0とし、a−3iC
:H層側でX=0.5とした感光体が知られている。 しかしながら、上記の公知の感光体について本発明者が
検討を加えたところ、表面改質層を設けたことによる効
果は特に連続繰返し使用において、それ程発揮されない
ことが判明した。即ち、20〜30万回の連続ランニン
グ時に表面のa−3iC層が7〜8万回程度で機械的に
損傷され、これに起因する白スジや白ポチが画像欠陥と
して生じるため、耐剛性が充分ではない。しかも、繰返
し使用時の耐光疲労が生じ、画像流れも生じる上に、電
気的・光学的特性が常時安定せず、使用環境(温度、湿
度)による影響を無視できない。また、表面改質層と電
荷発生層との接着性も更に改善する必要がある。 ハ、発明の目的 本発明の目的は、表面改質層と電荷発生層との接着性に
優れ、機械的損傷に強くかつ耐刷性に優れている上に、
画像流れのない安定な画質が得られ、繰返し使用時の光
疲労が少なく、残留電位も低く、かつ特性が使用環境(
温度、湿度)によらずに安定している感光体を提供する
ことにある。 二、発明の構成及びその作用効果 即ち、本発明は、炭素原子、窒素原子及び酸素原子のう
ちの少な(とも1つを含有するアモルファス水素化及び
/又はフッ素化シリコンからなる電荷ブロッキング層と
;炭素原子及び酸素原子を含有するアモルファス水素化
及び/又はフッ素化シリコンからなる電荷輸送層と;ア
モルファス水素化及び/フッ素化シリコンからなる電荷
発生層と;周期表第ma族又は第Va族元素がドープさ
れかつアモルファス水素化及び/又はフッ素化シリコン
からなる中間層と;炭素原子、窒素原子及び酸素原子の
うちの少な(とも1つを含有しかつアモルファス水素化
及び/又はフッ素化シリコンからなる表面改質層とが順
次積層されてなる感光体に係るものである。 本発明によれば、表面改質層は炭素、窒素及び酸素の少
なくとも1つの原子を含有しているために、機械的損傷
に対して強くなり、白スジ発生等による画質の劣化がな
(、耐剛性が優れたものとなる。また、本発明において
は、表面改質層と電荷発生層との間に不純物ドープド中
間層を設けているので、表面改質層と電荷発生層との接
着性が向上する。また、表面改質層と中間層とを電荷発
生層上に設けているので、上記に加えて、繰返し使用時
の耐光疲労に優れ、また画像流れもなく、残留電位も低
下し、電気的・光学的特性が常時安定化して使用環境に
影響を受けないことが確認されている。 ホ、実施例 以下、本発明を実施例について詳細に説明する。 第1図は、本実施例による正帯電用のa−3t系電子写
真感光体39を示すものである。この感光体39はA1
等のドラム状導電性支持基板41上に、周期表第Va族
元素(例えばリン)がヘビードープされかつC,N及び
Oの少なくとも1つを含有するa−8i:)((これを
a−3i(C)(N)(0):)(と表す。)からなる
N+型重電荷ブロッキング層44、周期表第ma族元素
(例えばホウ素)がライトドープされて真性化されかつ
C及びOを含有するa−3t:H(これをa−3i C
o : Hと表す、)からなる電荷輸送層42と、a−
5t:Hからなる電荷発生層(不純物ドーピングなし又
は真性化されたもの)43と、周期表第■a族又は第V
a族元素がヘビードープされたP+型又はギ型アモルフ
ァス水素化シリコンからなる中間N46と、周期表第m
a族又は第Va族元素がドープされてP型又はN型或い
は真性化(若シ<は不純物ドーピングなしの)されかつ
N、C及びOの少なくとも1つを含有するアモルファス
水素化シリコン(これをa−3i  (C)  (N)
(0):Hと表す。)からなる表面改質層45とが積層
された構造からなっている。電荷発生層43は暗所抵抗
率ρpと光照射時の抵抗率ρしとの比が電子写真感光体
として充分大きく光感度【特に可視及び赤外領域の光に
対するもの)が良好である。 なお、上記の各層の炭素原子含有量は0〜70%の範囲
では、第2図に示す如くに光学的エネルギーギャップ(
E g、 opt )とほぼ直線的な関係があるので、
炭素原子含有量を光学的エネルギーギャップに置き換え
て規定することができる。 また、a−3iC:Hは、炭素原子含有量を適切に選択
すれば、第3図の曲線aのように比抵抗の上昇、帯電電
位保持能の向上という顕著な作用効果が得られる。即ち
、第3図に曲線aで示すように、炭素原子含有量が30
〜90%のa−5iC:Hを用いた場合、その比抵抗は
炭素含有量に従って変化し、101aΩ−0以上になる
。 上記の傾向は、炭素に代えてN又はOを含むa−3iN
:H,a−3iO:Hについても同様である。 上記の層45は感光体の表面を改質してa−3i系感光
体を実用的に優れたものとするために必須不可欠なもの
である。即ち、表面での電荷保持と、光照射による表面
電位の減衰という電子写真感光体としての基本的な動作
を可能とするものである。 従って、帯電、光減衰の繰返し特性が非常に安定となり
、長期間(例えば1力月以上)放置しておいても良好な
電位特性を再現できる。これに反し、a−5t:Hを表
面とした感光体の場合には、湿気、大気、オゾン雰囲気
等の影響を受は易く、電位特性の経時変化が著しくなる
。 また、層45は表面硬度が高いために、現像、転写、ク
リーニング等の工程における耐摩耗性があり、更に耐熱
性も良いことから粘着転写等の如く熱を付与するプロセ
スを適用することができる。 上記のような優れた効果を総合的に奏するためには、層
45の組成を選択することが重要である。 即ち、炭素原子を含有する場合、Si+C=100at
omic%(以下、atomic%を単に%で表す。)
としたとき1%≦(C)690%、更には10%≦(C
)570%であることが望ましい。このC含有量によっ
て上記した比抵抗が所望の値となり、かつ光学的エネル
ギーギャップがほぼ2.5eV以上となり、可視及び赤
外光に対しいわゆる光学的に透明な窓効果により照射光
はa−3i:H層(電荷発生層)43に到達し易くなる
。しかし、C含有量が1%以下では、機械的損傷等の欠
点が生じ、かつ比抵抗が所望の値以下となり易(、かつ
一部分の光は表面層45に吸収され、感光体の光感度が
低下し易くなる。また、C含有量が90%を越えると層
の炭素量が多くなり、半導体特性が失われ易い上にa−
3iC:H膜をグロー放電法で形成するときの堆積速度
が低下し易いので、C含有量は90%以下とするのがよ
い。同様に、窒素又は酸素を含有する層45の場合、1
%≦(N)690%(更にはIO%s (N) 570
%)がよく、0%< (0) 570%(更には5%≦
B. Industrial Application Field The present invention relates to a photoreceptor, for example, an electrophotographic photoreceptor. Conventional technology Conventionally, as an electrophotographic photoreceptor, Se or Se has A S
Photoreceptors doped with % T e SS b and the like, photoreceptors in which ZnO or CdS is dispersed in a resin binder, and the like are known. However, these photoreceptors are environmentally polluting and
There are problems with thermal stability and mechanical strength. On the other hand, electrophotographic photoreceptors using amorphous silicon (a-3i) as a matrix have been proposed in recent years. a-3t has a so-called dangling bond in which the bond of Si-3i is broken, and many localized levels exist within the energy gap due to this defect. For this reason, hopping conduction of thermally excited carriers occurs, resulting in a small dark resistance, and photoexcited carriers are trapped in localized levels, resulting in poor photoconductivity. Therefore, the dangling bonds are filled by compensating the defects with hydrogen atoms (H) and bonding H to Si. Such amorphous hydrogenated silicon (hereinafter referred to as a-3
It is called t:H. ) has a resistivity in the dark of 108 to 10
9Ω - country, about 1 compared to amorphous Se
It's even lower than 1/10,000. Therefore, a photoreceptor made of a single layer of a-3i:H has problems in that the dark decay rate of the surface potential is high and the initial charging potential is low. However, on the other hand, when irradiated with light in the visible and infrared regions, the resistivity increases (decreases), so it has extremely excellent characteristics as a photosensitive layer of a photoreceptor. -3t: a-3i with H as base material
An electrophotographic copying machine incorporating a system photoreceptor 9 is shown. According to this copying machine, a glass document mounting table 3 on which a document 2 is placed and a platen cover 4 that covers the document 2 are disposed in the upper part of a cabinet 1. Below the document table 3,
An optical scanning table consisting of a first mirror unit 7 equipped with a light source 5 and a first reflecting mirror 6 is provided so as to be movable linearly in the left-right direction of the drawing, and the optical path length between the document scanning point and the photoreceptor is kept constant. The second mirror unit 20 moves according to the speed of the first mirror unit, and the reflected light from the document table 3 passes through the lens 21 and the reflection mirror 8 onto the photosensitive drum 9 as an image carrier. The light enters in a slit shape. Around the drum 9, a corona charger 10,
A developing device 11, a transfer section 12, a separation section 13, and a cleaning section 14 are arranged, and the copy paper 18 fed from the paper feed box 15 via each paper feed roller 16, 17 is further processed after the toner image on the drum 9 is transferred. The image is fixed by the fixing unit 19 and then ejected to the tray 35. In the fixing section 19, a fixing operation is performed by passing the developed copy paper between a heating roller 23 having a built-in heater 22 and a pressure roller 24. However, photoreceptors with a-3i:H surfaces are susceptible to surface chemical stability, such as the effects of long-term exposure to the atmosphere or moisture, and the effects of chemical species generated by corona discharge. , has not been sufficiently investigated so far. For example, items that have been left for more than a month will be affected by moisture.
It is known that the receptor potential is significantly reduced. On the other hand, amorphous hydrogenated silicon carbide (hereinafter a-3iC:H
It is called. ), its manufacturing method and existence are 'Ph11
.. Mag, Vol. 35'' (1978), etc., and its characteristics include high heat resistance and surface hardness, and a high dark resistivity (1012
~1013 Ω-cm), and that the optical energy gap changes over a range of 1.6 to 2.8 eV depending on the amount of carbon. However, there is a drawback that the long wavelength sensitivity becomes poor due to the widening of the band gap due to the inclusion of carbon. An electrophotographic photoreceptor combining such a-3iC:H and a-3i:H has been proposed, for example, in Japanese Patent Application Laid-Open No. 127083/1983. According to this, a-3i:H
The layer is a charge generation (photoconductive) layer, and below this charge generation layer is a
-3iCsH layer is provided, the upper layer a-3i:H provides photosensitivity in a wide wavelength range, and the lower layer a-3iC:H forming a heterojunction with the a-3i:) layer reduces the charging potential. However, a-3i: HJii
dark decay cannot be sufficiently prevented, and the charging potential is still insufficient to be of practical use.
3i: The presence of the H layer results in poor chemical stability, mechanical strength, heat resistance, etc. On the other hand, JP-A-57-17952 discloses a-8i:
A first a-3iC:HN is formed as a surface modification layer on the charge generation layer made of H, and a second a-3iC:HN is formed on the back surface (support electrode side).
a-3iC:H layer is formed. In addition, as related to this known technology,
As seen in Japanese Patent No. 23543, an inclined i
i (a-3i 1-xCx : H), and in this gradient layer, X=0 on the a-3isH side, and a-3iC
: A photoreceptor in which X=0.5 on the H layer side is known. However, when the present inventor conducted a study on the above-mentioned known photoreceptor, it was found that the effect of providing the surface modification layer is not so pronounced, especially in continuous repeated use. That is, during continuous running of 200,000 to 300,000 times, the a-3iC layer on the surface is mechanically damaged after about 70,000 to 80,000 times, and this causes white streaks and white spots as image defects, resulting in poor rigidity. Not enough. Furthermore, light resistance fatigue occurs during repeated use, image blurring occurs, and the electrical and optical characteristics are not always stable, and the effects of the use environment (temperature, humidity) cannot be ignored. Furthermore, it is necessary to further improve the adhesion between the surface modified layer and the charge generation layer. C. Object of the Invention The object of the present invention is to provide excellent adhesion between the surface modification layer and the charge generation layer, resistance to mechanical damage, and excellent printing durability.
Stable image quality without image blurring is obtained, there is little optical fatigue during repeated use, the residual potential is low, and the characteristics are compatible with the usage environment (
The purpose of the present invention is to provide a photoreceptor that is stable regardless of temperature and humidity. 2. Structure of the invention and its effects, that is, the present invention provides a charge blocking layer made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon containing at least one of carbon atoms, nitrogen atoms, and oxygen atoms; a charge transport layer made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon containing carbon atoms and oxygen atoms; a charge generation layer made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon; an element of group Ma or group Va of the periodic table; an intermediate layer doped and consisting of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon; a surface containing few (all one) of carbon, nitrogen and oxygen atoms and consisting of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon; According to the present invention, since the surface modified layer contains at least one atom of carbon, nitrogen, and oxygen, it is resistant to mechanical damage. The present invention also uses an impurity-doped intermediate layer between the surface modification layer and the charge generation layer. This improves the adhesion between the surface modified layer and the charge generation layer.Also, since the surface modified layer and the intermediate layer are provided on the charge generation layer, in addition to the above, the adhesiveness between the surface modified layer and the charge generation layer is improved. It has been confirmed that it has excellent resistance to light fatigue during use, has no image blurring, has low residual potential, and has stable electrical and optical properties at all times and is unaffected by the environment in which it is used. The present invention will be described in detail with reference to embodiments. Fig. 1 shows an a-3t electrophotographic photoreceptor 39 for positive charging according to the present embodiment. This photoreceptor 39 has an A1
a-8i:) ((a-3i An N+ type heavy charge blocking layer 44 consisting of (C) (N) (0): a-3t:H (this is a-3i C
a charge transport layer 42 consisting of a
A charge generation layer (without impurity doping or made intrinsic) 43 made of 5t:H, and a charge generation layer 43 made of H, Group IV a or V of the periodic table.
Intermediate N46 consisting of P+ type or Gi type amorphous hydrogenated silicon heavily doped with group a elements, and
Amorphous hydrogenated silicon doped with a group A or group Va element to make it P-type, N-type, or intrinsic (without impurity doping) and containing at least one of N, C, and O. a-3i (C) (N)
(0): Represented as H. ) and a surface-modified layer 45 that is laminated. The charge generation layer 43 has a ratio of resistivity ρ in the dark to resistivity ρ during light irradiation that is sufficiently large as an electrophotographic photoreceptor, and has good photosensitivity (particularly to light in the visible and infrared regions). In addition, when the carbon atom content of each of the above layers is in the range of 0 to 70%, the optical energy gap (
Since there is an almost linear relationship with E g, opt),
It can be defined by replacing the carbon atom content with the optical energy gap. In addition, if the carbon atom content of a-3iC:H is appropriately selected, remarkable effects such as an increase in specific resistance and an improvement in charging potential holding ability can be obtained as shown by curve a in FIG. 3. That is, as shown by curve a in FIG. 3, when the carbon atom content is 30
When ~90% a-5iC:H is used, its resistivity varies according to the carbon content and is greater than or equal to 101 aΩ-0. The above tendency is that a-3iN containing N or O instead of carbon
The same applies to :H, a-3iO:H. The above layer 45 is essential for modifying the surface of the photoreceptor and making the a-3i photoreceptor practically superior. That is, it enables the basic operations of an electrophotographic photoreceptor, such as charge retention on the surface and attenuation of the surface potential due to light irradiation. Therefore, the repetitive characteristics of charging and optical attenuation become very stable, and good potential characteristics can be reproduced even if left for a long period of time (for example, one month or more). On the other hand, in the case of a photoreceptor having a-5t:H as a surface, it is easily affected by humidity, air, ozone atmosphere, etc., and the potential characteristics change significantly over time. In addition, since the layer 45 has a high surface hardness, it has abrasion resistance during processes such as development, transfer, and cleaning, and also has good heat resistance, so a process that applies heat such as adhesive transfer can be applied. . In order to comprehensively achieve the excellent effects described above, it is important to select the composition of the layer 45. That is, when containing carbon atoms, Si+C=100at
omic% (hereinafter, atomic% is simply expressed as %)
When 1%≦(C)690%, furthermore 10%≦(C
) 570% is desirable. Due to this C content, the above-mentioned resistivity becomes the desired value, and the optical energy gap becomes approximately 2.5 eV or more, and the irradiated light is a-3i due to the so-called optically transparent window effect for visible and infrared light. : It becomes easier to reach the H layer (charge generation layer) 43. However, if the C content is 1% or less, disadvantages such as mechanical damage occur, and the specific resistance tends to fall below the desired value (and a portion of the light is absorbed by the surface layer 45, reducing the photosensitivity of the photoreceptor. Furthermore, if the C content exceeds 90%, the amount of carbon in the layer increases, and semiconductor properties are likely to be lost, and a-
Since the deposition rate when forming a 3iC:H film by a glow discharge method tends to decrease, the C content is preferably 90% or less. Similarly, for a layer 45 containing nitrogen or oxygen, 1
%≦(N)690% (furthermore IO%s (N) 570
%) is good, 0%< (0) 570% (even 5%≦

〔0〕≦30%)がよい。 帯電能を向上させるためには、表面改質層45を高抵抗
化してもよい。そのためには表面改質層を真性化しても
よい。 正又は負帯電使用に於いて、中間層から表面改質層中へ
の電子又は正孔の注入を容易にし、残留電位を極小化す
るためには、表面改質層をP又はN型としてもよい。各
場合の不純物ドープ量(後述のグロー放電分解時)は次
の通りであってよい。 真性化: P型: N型: PH3/SiH+   1〜1000 (好ましくは5
0〜500)容量Ppm (S i N O: H(F
)。 s i co : H(Fl共通) また、層45はa−3iCO,a−3iNO1a−3t
o、、a−3ioz等からなっていてよく、その膜厚を
400人≦t≦5000人の範囲内(特に400人≦t
≦2000人に選択することも重要である。 即ち、その膜厚が5000人を越える場合には、残留電
位VRが高くなりすぎかつ光感度の低下も生じ、a−3
i系感光体としての良好な特性を失い易い。 ま、た、膜厚を400人未満とした場合には、トンネル
効果によって電荷が表面上に帯電されなくなるため、暗
減衰の増大や光感度の低下が生じてしま電荷発生層から
の電荷の注入の可能とするのに中間層をP又はN型とし
てもよい。導電型制御のためのドーピング量は表面改質
層と同じでよい。 この中間層の膜厚は50〜5000人とするのがよいが
、5000人を越えると上記したと同様の現象が生じ易
<、50人未満では中間層としての効果が乏しくなる。 好ましくは、100Å以上、1000Å以下とするのが
よい。 電荷発生IW43については、帯電能を向上するために
は、電荷発生層の高抵抗化を図ってもよい。 その為には、電荷発生層を真性化してもよい。この真性
化には、BzHs/SiH+=1〜20容量ppraと
するのがよい。 また、電荷発生層は1〜10μm、好ましくは5〜7μ
mとするのがよい。電荷発生1it43が1μm未満で
あると光感度が充分でなく、また10μmを越えると残
留電位が上昇し、実用上不充分である。 電荷輸送[42については、帯電能、感度を最適化する
ためには、必要に応じて真性化してよい。 真性化のためのドープ量は、(B2H6)/(SiH+
)=1〜20容量ppmが最適である。但し、上記値は
C濃度に依存するため、必ずしも上記値に限定されるも
のではない。電荷輸送層の膜厚は10〜308mとする
のがよい。また、電荷輸送層の組成は、1%〈〔C〕≦
30%、好ましくは10%≦ (C)  530%がよ
く、0%く 〔O〕 610%、好ましくは0%く〔0
〕≦1%がよい。 また、上記電荷ブロッキング層44は、基板41からの
ホールの注入を充分に防ぎ、感度、帯電能の向上のため
には、必要に応じて周期表第Va族元素(例えばリン)
をグロー放電分解でドープして、真性化、更にはN型(
更にはぐ型)化する。 ブロッキング層の組成によって、次のようにドーピング
量を制御する。 a−3iC又はa−3iCO: 真性化 B2Hs/5iH42〜20容量pp+aN型
(N’)PH3/S 1H41〜1000容量ppma
−3iN又はa−3iNO: 真性化 B 2 Hs/S i H41〜2000容量
ppmN型(N’) P H3/ S i H41〜2
000〃ブロッキング層は、SiO,5iOz等の化合
物でもよい。 また、ブロッキング層44は膜厚500人〜2μmがよ
い。500人未満であるとブロッキング効果が弱く、ま
た2μmを越えると電荷輸送能が悪くなり易い。 ブロッキング層44の組成については、次のようにする
のが望ましい。即ち、1%〈〔03590%、好ましく
は10%≦(C) 570%とし、1%く 〔N359
0%、好ましくは10%く 〔N1570%とし、0%
≦(0)570%、好ましくは0%≦
[0]≦30%). In order to improve the charging ability, the surface modified layer 45 may have a high resistance. For this purpose, the surface modified layer may be made intrinsic. In positively or negatively charged use, in order to facilitate the injection of electrons or holes from the intermediate layer into the surface-modified layer and to minimize the residual potential, the surface-modified layer may be of P or N type. good. The amount of impurity doped in each case (at the time of glow discharge decomposition described later) may be as follows. Intrinsicization: P type: N type: PH3/SiH+ 1 to 1000 (preferably 5
0-500) Capacity Ppm (S i N O: H(F
). s i co: H (common to Fl) In addition, the layer 45 is a-3iCO, a-3iNO1a-3t
o, , a-3ioz, etc., and the film thickness is within the range of 400 people ≦ t ≦ 5000 people (especially 400 people ≦ t
It is also important to select ≦2000 people. That is, if the film thickness exceeds 5000, the residual potential VR becomes too high and the photosensitivity decreases, resulting in a-3
It is easy to lose the good characteristics as an i-type photoreceptor. Furthermore, if the film thickness is less than 400 mm, charges will no longer be charged on the surface due to the tunnel effect, resulting in increased dark decay and decreased photosensitivity. To enable this, the intermediate layer may be of P or N type. The doping amount for controlling the conductivity type may be the same as that for the surface modification layer. The thickness of this intermediate layer is preferably 50 to 5,000 people, but if it exceeds 5,000 people, the same phenomenon as described above is likely to occur, and if it is less than 50 people, the effect as an intermediate layer will be poor. Preferably, the thickness is 100 Å or more and 1000 Å or less. Regarding the charge generation IW 43, in order to improve the charging ability, the resistance of the charge generation layer may be increased. For this purpose, the charge generation layer may be made intrinsic. For this purpose, it is preferable to set the capacity to BzHs/SiH+=1 to 20 ppra. Further, the charge generation layer has a thickness of 1 to 10 μm, preferably 5 to 7 μm.
It is better to set it to m. If the charge generation 1it43 is less than 1 μm, the photosensitivity will not be sufficient, and if it exceeds 10 μm, the residual potential will increase, which is insufficient for practical use. Regarding charge transport [42], in order to optimize chargeability and sensitivity, it may be made intrinsic as necessary. The doping amount for making it intrinsic is (B2H6)/(SiH+
)=1 to 20 ppm by volume is optimal. However, since the above value depends on the C concentration, it is not necessarily limited to the above value. The thickness of the charge transport layer is preferably 10 to 308 m. In addition, the composition of the charge transport layer is 1% <[C]≦
30%, preferably 10%≦ (C) 530% is good, 0% [O] 610%, preferably 0% [0
]≦1% is good. In addition, the charge blocking layer 44 may be made of elements of Group Va of the periodic table (for example, phosphorus), if necessary, to sufficiently prevent hole injection from the substrate 41 and to improve sensitivity and charging ability.
is doped by glow discharge decomposition to make it intrinsic, and further to N-type (
Furthermore, it becomes a crawling type). The doping amount is controlled by the composition of the blocking layer as follows. a-3iC or a-3iCO: Intrinsic B2Hs/5iH42~20 capacity pp+aN type (N') PH3/S 1H41~1000 capacity ppma
-3iN or a-3iNO: Intrinsic B 2 Hs/S i H41~2000 ppm N type (N') P H3/S i H41~2
000 The blocking layer may be a compound such as SiO or 5iOz. Further, the thickness of the blocking layer 44 is preferably 500 μm to 2 μm. If it is less than 500, the blocking effect will be weak, and if it exceeds 2 μm, the charge transport ability will tend to deteriorate. The composition of the blocking layer 44 is preferably as follows. That is, 1%〈〔03590%, preferably 10%≦(C) 570%, and 1% [N359
0%, preferably 10% [N1570%, 0%
≦(0)570%, preferably 0%≦

〔0〕≦30%と
するのがよい。 なお、上記の各層は水素を含有することが必要である。 特に、電荷発生層43中の水素含有量は、ダングリング
ボンドを補償して光導電性及び電荷保持性を向上させる
ために必須不可欠であって、10〜30%であるのが望
ましい。この含有量範囲は表面改質層45、ブロッキン
グ層44及び電荷輸送層42も同様である。また、ブロ
ッキング層44の導電型を制御するための不純物として
、P型化のためにボロン以外にもAl、Ga、I n 
% 71等の周期表ma族元素を使用できる。N型化の
ためにはリン以外にも、A s s S b等の周期表
第Va族元素を使用できる。 次に、上記した感光体(例えばドラム状)の製造方法及
びその装置(グロー放電装置)を第4図について説明す
る。 この装置51の真空槽52内ではドラム状の基板41が
垂直に回転可能にセットされ、ヒーター55で基板41
を内側から所定温度に加熱し得るようになっている。基
板41に対向してその周囲に、ガス導出口53付きの円
筒状高周波電極57が配され、基板41との間に高周波
電源56によりグロー放電が生ぜしめられる。なお、図
中の62はSiH4又はガス状シリコン化合物の供給源
、63はCH4等の炭化水素ガスの供給源、64はN2
等の窒素化合物ガスの供給源、65は02等の酸素化合
物ガスの供給源、66はAr等のキャリアガス供給源、
67は不純物ガス(例えばB2Hβ)供給源、68は各
流量計である。このグロー放電装置において、まず支持
体である例えばAl基板41の表面を清浄化した後に真
空槽52内に配置し、真空槽52内のガス圧が1O−6
Torrとなるように調節して排気し、かつ基板41を
所定温度、特に100〜350℃(望ましくは150〜
300℃)に加熱保持する。次いで、高純度の不活性ガ
スをキャリアガスとして、SiH4又はガス状シリコン
化合物、CH4、N2.02等を適宜真空槽52内に導
入し、例えば0.01〜1QTorrの反応圧下で高周
波電源56により高周波電圧(例えば13.56 MH
z)を印加する。これによって、上記各反応ガスを電極
57と基板41との間でグロー放電分解し、N+型a−
3iC:HsA型a−3iCO: H%  a  S 
i: H%  P”又はN禰a  S s : H−。 a−3iC:Hを上記の層44.42.43.46.4
5として基板上に連続的に(即ち、例えば第1図の例に
対応して)堆積させる。 上記製造方法においては、支持体上にa−3i系の層を
製膜する工程で支持体温度を100〜350℃としてい
るので、感光体の膜質(特に電気的特性)を良くするこ
とができる。 なお、上記a−3t系感光体の各層の形成時において、
ダングリングボンドを補償するためには、上記したHの
かわりに、或いはHと併用してフッ素をsiF、等の形
で導入し、a  S i: F %a−3i  :H:
F、a−3iN:F、、a−3iN:H:F、   a
−3iC:F、   a−3iC:H:Fとすることも
できる。この場合のフン素置は0.5〜10%が望まし
い。 なお、上記の製造方法はグロー放電分解法によるもので
あるが、これ以外にも、スパッタリング法、イオンブレ
ーティング法や、水素放電管で活性化又はイオン化され
た水素導入下でSiを蒸発させる方法(特に、本出願人
による特開昭56−78413号(特願昭54−152
455号)の方法)等によっても上記感光体の製造が可
能である。 以下、本発明を具体的な実施例について説明する。 グロー放電分解法により、ドラム状Al支持体上に第1
図の構造の電子写真感光体を作製した。 即ち、まず支持体である、例えば平滑な表面を持つドラ
ム状Al基板41の表面を清浄化した後に、第4図の真
空槽52内に配置し、真空槽52内のガス圧が1O−6
Torrとなるように調節して排気し、かつ基板41を
所定温度、とくに100〜350℃(望ましくは150
〜300℃)に加熱保持する。次いで、高純度のArガ
スをキャリアガスとして導入し、0.5 Torrの背
圧のもとて周波数13.56 MHzの高周波電力を印
加し、10分間の予備放電を行った。次いで、S i 
H4とPH3からなる反応ガスを導入し、流量比1 :
 1 : 1 :  (1,5Xl0−3)の(Ar+
SiH++CH+又はN2+PH3)混合ガスをグロー
放電分解することによりミ電荷ブロッキング機能を担う
N+Wのa−3iC:HIM44とa−3iCO:H電
荷輸送層42とを6μm/ h rの堆積速度で順次所
定厚さに製膜した。引き続き、BAH,及びCH4を供
給停止し、SiH4を放電分解し、厚さ5μmのa−3
t:)(層43を形成した。引き続いて、不純物ガスの
流量比を変化させてグロー放電分解し、膜厚も変化させ
た中間層46を形成し、更ニB 2 Hs / S f
 H4=1009量ppmとしてa−3iCO:H又は
a−3i No : H表面保護rN45を更に設け、
電子写真感光体を完成させた。比較例として、中間層の
ない感光体を作成した。 こうして作成された感光体の構成をまとめると次の通り
であった。 (1)1表面改質層: a−3iNO:H2N、ta−
3iCO:H(2)、中間層:ドープ量、膜厚変化(第
5図参照)(3)、a−3i:H電荷発生層:膜厚−5
μm(4)、  a−3ico : H電荷輸送層:膜
厚=15μmC含有量=12% 0含有量= 1000100 0pp、  a−3i C: H又はa−3iN:H電
荷ブロッキング層:膜厚=0.5μm炭素含有量=12
% (6)、支持体:AI!シリンダー(鏡面研摩仕上げ)
次に上記の各感光体を使用して各種のテストを次のよう
に行った。 1ユ左工強度 第6図に示すように、感光体39面に垂直に当てた0、
3Rダイヤ針70に荷重Wを加え、感光体をモータ71
で回転させ、傷仕つける。次に、電子写真複写機U−B
ix1600  (小西六写真工業社製)改造機にて画
像出しを行い、何gの荷重から画像に白スジが現れるか
で、その感光体の引っかき強度(g)とする。 l像汲並 温度33℃、相対湿度80%の環境下で、感光体を電子
写真複写機U−Bix4500  (小西六写真工業社
M)改造機内に24時間順応させた後、現像剤、紙、ブ
レードとは非接触で1000コピーの空回しを行った後
、画像出しを行い、以下の基準で画像流れの程度を判定
した。 ■=画像流れが全くなく、5.5ポイントの英字や細線
の再現性が良い。 0:5.5ポイントの英字がやや太くなる。 △:5.5ポイントの英字がつぶれて読みづらい。 X:5.5ポイントの英字判読不能。 亡vFLv U −B ix 2500改造機を使った電位測定で、
400nmにピークをもつ除電光301ux−seeを
照射した後も残っている感光体表面電位。 11里皿ヱ土ユヱと U −B ix 2500改造機(小西六写真工業■製
)を用い、感光体流れ込み電流200μA、i光なしの
条件で360SX型電位計(トレック社製)で測定した
現像直前の表面電位。 ”’     E’  (lux =sec上記の装置
を用い、グイクロイックミラー(光体光学社製)により
像露光波長のうち620nm以上の長波長成分をシャー
プカットし、表面電位を500Vから250 Vに半減
するのに必要な露光量。(露光量は550−1型光量計
(EG andG社製)にて測定) 結果を第7図にまとめて示した。この結果から、本発明
に基づいて感光体を作成すれば、電子写真用として各性
能に優れた感光体が得られることが分かる。
It is preferable that [0]≦30%. Note that each of the above layers needs to contain hydrogen. In particular, the hydrogen content in the charge generation layer 43 is essential to compensate for dangling bonds and improve photoconductivity and charge retention, and is preferably 10 to 30%. This content range also applies to the surface modification layer 45, blocking layer 44, and charge transport layer 42. Further, as an impurity for controlling the conductivity type of the blocking layer 44, in addition to boron, Al, Ga, In
% 71 etc. can be used. In addition to phosphorus, Group Va elements of the periodic table, such as A s s S b, can be used for N-type formation. Next, a method for manufacturing the above-mentioned photoreceptor (for example, drum-shaped) and an apparatus therefor (glow discharge apparatus) will be explained with reference to FIG. A drum-shaped substrate 41 is set rotatably vertically in a vacuum chamber 52 of this device 51, and a heater 55 is used to rotate the substrate 41.
can be heated to a predetermined temperature from the inside. A cylindrical high frequency electrode 57 with a gas outlet 53 is disposed around and facing the substrate 41, and a glow discharge is generated between the electrode 57 and the substrate 41 by a high frequency power source 56. In addition, 62 in the figure is a supply source of SiH4 or a gaseous silicon compound, 63 is a supply source of hydrocarbon gas such as CH4, and 64 is a supply source of N2.
65 is a supply source of oxygen compound gas such as 02, 66 is a carrier gas supply source such as Ar,
67 is an impurity gas (for example, B2Hβ) supply source, and 68 is each flow meter. In this glow discharge device, first, the surface of a support, for example, an Al substrate 41, is cleaned and then placed in a vacuum chamber 52, so that the gas pressure in the vacuum chamber 52 is 1O-6.
Torr, and exhaust the air, and keep the substrate 41 at a predetermined temperature, particularly 100 to 350°C (preferably 150 to 350°C).
Heat and maintain at 300°C. Next, using a high-purity inert gas as a carrier gas, SiH4 or a gaseous silicon compound, CH4, N2.02, etc. are appropriately introduced into the vacuum chamber 52, and the high-frequency power source 56 is used under a reaction pressure of, for example, 0.01 to 1 QTorr. High frequency voltage (e.g. 13.56 MH
z) is applied. As a result, each of the above reaction gases is decomposed by glow discharge between the electrode 57 and the substrate 41, and the N+ type a-
3iC: HsA type a-3iCO: H% a S
i: H% P" or Nne a S s: H-. a-3iC:H above layer 44.42.43.46.4
5 in succession (i.e., corresponding to the example of FIG. 1, for example). In the above manufacturing method, the support temperature is set at 100 to 350°C in the step of forming the a-3i layer on the support, so the film quality (especially electrical properties) of the photoreceptor can be improved. . In addition, when forming each layer of the above a-3t photoreceptor,
In order to compensate for dangling bonds, fluorine is introduced in the form of siF, etc., in place of the above-mentioned H or in combination with H, and a Si:F%a-3i:H:
F, a-3iN:F,, a-3iN:H:F, a
-3iC:F, a-3iC:H:F can also be used. In this case, the fecal content is preferably 0.5 to 10%. The above manufacturing method is based on the glow discharge decomposition method, but there are also sputtering methods, ion blating methods, and methods in which Si is evaporated while introducing activated or ionized hydrogen in a hydrogen discharge tube. (In particular, Japanese Patent Application Laid-Open No. 56-78413 (Patent Application No. 54-152) filed by the present applicant)
The above photoreceptor can also be manufactured by the method of No. 455). Hereinafter, the present invention will be described with reference to specific examples. By glow discharge decomposition method, the first
An electrophotographic photoreceptor having the structure shown in the figure was manufactured. That is, first, after cleaning the surface of a support, for example, a drum-shaped Al substrate 41 having a smooth surface, it is placed in a vacuum chamber 52 shown in FIG.
Torr, and exhaust the air, and keep the substrate 41 at a predetermined temperature, particularly 100 to 350°C (preferably 150°C).
-300°C). Next, high-purity Ar gas was introduced as a carrier gas, high-frequency power with a frequency of 13.56 MHz was applied under a back pressure of 0.5 Torr, and preliminary discharge was performed for 10 minutes. Then, S i
A reaction gas consisting of H4 and PH3 was introduced, and the flow rate ratio was 1:
1: 1: (Ar+ of (1,5Xl0-3)
By glow discharge decomposition of SiH++CH+ or N2+PH3) mixed gas, N+W a-3iC:HIM44 and a-3iCO:H charge transport layer 42, which play a charge blocking function, are sequentially deposited to a predetermined thickness at a deposition rate of 6 μm/hr. A film was formed. Subsequently, the supply of BAH and CH4 was stopped, SiH4 was decomposed by discharge, and a-3 with a thickness of 5 μm was formed.
t:) (Layer 43 was formed.Subsequently, the flow rate ratio of impurity gas was changed to perform glow discharge decomposition, and the intermediate layer 46 whose film thickness was also changed was formed, and further B 2 Hs / S f
Further providing a-3iCO:H or a-3i No:H surface protection rN45 with H4 = 1009 ppm,
Completed an electrophotographic photoreceptor. As a comparative example, a photoreceptor without an intermediate layer was prepared. The structure of the photoreceptor thus produced was summarized as follows. (1) 1 surface modified layer: a-3iNO:H2N, ta-
3iCO:H (2), intermediate layer: doping amount, film thickness change (see Figure 5) (3), a-3i:H charge generation layer: film thickness -5
μm(4), a-3ico: H charge transport layer: Thickness = 15 μm C content = 12% 0 content = 1000100 0pp, a-3i C: H or a-3iN:H charge blocking layer: Thickness = 0 .5μm carbon content = 12
% (6), Support: AI! Cylinder (mirror polished finish)
Next, various tests were conducted using each of the photoreceptors described above as follows. 1 unit left hand strength As shown in Figure 6, 0,
A load W is applied to the 3R diamond needle 70, and the photoreceptor is moved by the motor 71.
Rotate it and make a wound. Next, the electrophotographic copying machine U-B
An image is produced using a modified machine ix1600 (manufactured by Konishiroku Photo Industry Co., Ltd.), and the scratch strength (g) of the photoreceptor is determined by the load at which a white streak appears on the image. After acclimatizing the photoconductor in a modified electrophotographic copying machine U-Bix 4500 (Konishiroku Photo Industry Co., Ltd.) for 24 hours in an environment with a temperature of 33°C and a relative humidity of 80%, the developer, paper, After 1000 copies were made without contact with the blade, an image was produced, and the degree of image blurring was determined based on the following criteria. ■=There is no image blurring at all, and the reproducibility of 5.5-point alphabetic characters and thin lines is good. 0: 5.5 point letters become slightly thicker. △: 5.5 point letters are crushed and difficult to read. X: 5.5 points of unreadable letters. By measuring the potential using a modified VFLv U-Bix 2500,
The surface potential of the photoreceptor that remains even after being irradiated with static eliminating light 301ux-see having a peak at 400 nm. Measured with a 360SX type electrometer (manufactured by Trek) using a 11-plate Eto Yue and a U-Bix 2500 modified machine (manufactured by Konishi Roku Photo Industry ■), with a photoconductor inflow current of 200 μA and no i-light. Surface potential just before development. ``'E' (lux = sec) Using the above device, sharply cut the long wavelength component of 620 nm or more of the image exposure wavelength using a gicroic mirror (manufactured by Kotai Kogaku Co., Ltd.), and change the surface potential from 500 V to 250 V. The amount of exposure required to reduce the amount of light by half. (The amount of exposure was measured using a 550-1 photometer (manufactured by EG and G). The results are summarized in Figure 7. From these results, it can be seen that It can be seen that if the body is prepared, a photoreceptor with excellent performance for electrophotography can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図〜第7図は本発明の実施例を示すものであって、 第1図はa−3i系感光体の各断面図、第2図はa−3
iCの光学的エネルギーギヤツブを示すグラフ、 第3図はa−3iCO比抵抗を示すグラフ、第4図はグ
ロー放電装置の概略断面図、第5図は各感光体の層構成
を示す表、 第6図は引っかき強度試験機の概略図、第7図は各感光
体の特性を示す表 である。 第8図は従来の電子写真複写機の概略断面図である。 なお、図面に示された符号において、 39・・・・・・・・・a−3i系感光体41・・・・
・・・・・支持体(基板)42・・・・・・・・・電荷
輸送層 43・・・・・・・・・電荷発生層 44・・・・・・・・・電荷ブロッキング層45・・・
・・・・・・表面改質層 46・・・・・・・・・中間層 である。
1 to 7 show examples of the present invention, in which FIG. 1 is a sectional view of an a-3i photoreceptor, and FIG. 2 is an a-3i photoreceptor.
A graph showing the optical energy gear of iC, FIG. 3 is a graph showing the a-3iCO resistivity, FIG. 4 is a schematic cross-sectional view of the glow discharge device, and FIG. 5 is a table showing the layer structure of each photoreceptor. FIG. 6 is a schematic diagram of a scratch strength tester, and FIG. 7 is a table showing the characteristics of each photoreceptor. FIG. 8 is a schematic sectional view of a conventional electrophotographic copying machine. In addition, in the symbols shown in the drawings, 39...a-3i type photoreceptor 41...
...Support (substrate) 42 ...Charge transport layer 43 ...Charge generation layer 44 ...Charge blocking layer 45 ...
. . . Surface modified layer 46 . . . Intermediate layer.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1、炭素原子、窒素原子及び酸素原子のうちの少なくと
も1つを含有するアモルファス水素化及び/又はフッ素
化シリコンからなる電荷ブロッキング層と;炭素原子及
び酸素原子を含有するアモルファス水素化及び/又はフ
ッ素化シリコンからなる電荷輸送層と;アモルファス水
素化及び/フッ素化シリコンからなる電荷発生層と;周
期表第IIIa族又は第Va族元素がドープされかつアモ
ルファス水素化及び/又はフッ素化シリコンからなる中
間層と;炭素原子、窒素原子及び酸素原子のうちの少な
くとも1つを含有しかつアモルファス水素化及び/又は
フッ素化シリコンからなる表面改質層とが順次積層され
てなる感光体。
1. A charge blocking layer made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon containing at least one of carbon atoms, nitrogen atoms and oxygen atoms; amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon containing carbon atoms and oxygen atoms; a charge transport layer made of hydrogenated and/or fluorinated silicon; a charge generation layer made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon; and an intermediate layer doped with a Group IIIa or Va element of the periodic table and made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon. and a surface-modified layer containing at least one of carbon atoms, nitrogen atoms, and oxygen atoms and made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon, which are sequentially laminated.
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