JPS6228754A - Photosensitive body - Google Patents

Photosensitive body

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Publication number
JPS6228754A
JPS6228754A JP16875085A JP16875085A JPS6228754A JP S6228754 A JPS6228754 A JP S6228754A JP 16875085 A JP16875085 A JP 16875085A JP 16875085 A JP16875085 A JP 16875085A JP S6228754 A JPS6228754 A JP S6228754A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
photoreceptor
silicon
oxygen atoms
contg
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP16875085A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshihide Fujimaki
藤巻 義英
Eiichi Sakai
坂井 栄一
Toshiki Yamazaki
山崎 敏規
Hiroyuki Nomori
野守 弘之
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Konica Minolta Inc
Original Assignee
Konica Minolta Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Konica Minolta Inc filed Critical Konica Minolta Inc
Priority to JP16875085A priority Critical patent/JPS6228754A/en
Publication of JPS6228754A publication Critical patent/JPS6228754A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G5/00Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
    • G03G5/02Charge-receiving layers
    • G03G5/04Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
    • G03G5/08Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
    • G03G5/082Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
    • G03G5/08214Silicon-based
    • G03G5/0825Silicon-based comprising five or six silicon-based layers

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Photoreceptors In Electrophotography (AREA)

Abstract

PURPOSE:To improve the mechanical and the optical properties and the stability of the titled body by laminating the prescribed layers composed of such as a specific amorphous hydrogenated silicon (a-Si:H) etc. respectively. CONSTITUTION:An electric charge blocking layer 44 composed of a-Si:H contg. at least one kind atom selected from a carbon, a nitrogen, and an oxygen atoms, and heavily dopped with the group IIIa element of the periodic table, an electric charge transfer layer 42 composed of a-Si:H contg. the nitrogen and the oxygen atoms and an electric charge generating layer 43 composed of a-Si:H are laminated on a substrate 41. And the intermediate layer 46 composed of a-Si:H contg. at least one kind atom selected from the carbon, the nitrogen and the oxygen atoms and dopped with the group IIIa or Va element of the periodic table, and the surface reforming layer 45 composed of a-Si:H contg. large amounts of the atom are laminated on the substrate 41 to form the photosensitive body 39. By providing the layers 45 and 46, the mechanical strength of the titled body becomes large. The adhesive property, the anti-fatigue property against a light and the anti-chemical stability of the layers 45 and 43 are improved. The effects as prescribed above are obtd. by merely using a fluorinated silicon or by jointly using the fluorinated silicon and the prescribed silicon.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

イ、産業上の利用分野 本発明は感光体、例えば電子写真感光体に関するもので
ある。 口、従来技術 従来、電子写真感光体として、Se又はSeにA s 
1T e −、S b等をドープした感光体、ZnOや
CdSを樹脂バインダーに分散させた感光体等が知られ
ている。しかしながらこれらの感光体は、環境汚染性、
熱的安定性、機械的強度の点で問題がある。 一方、アモルファスシリコン(a−3i)をi体として
用いた電子写真感光体が近年になって提案されている。 a−3tは、5i−3iの結合手が切れたいわゆるダン
グリングボンドを有しており、この欠陥に起因してエネ
ルギーギャップ内に多くの局在準位が存在する。このた
めに、熱励起担体のホッピング伝導が生じて暗抵抗が小
さく、また光励起担体が局在準位にトラップされて光伝
導性が悪くなっている。そこで、上記欠陥を水素原子(
H)で補償してSiにHを結合させることによって、ダ
ングリングボンドを埋めることが行われる。 このようなアモルファス水素化シリコン(以下、a−3
i:Hと称する。)の暗所での抵抗率は、108〜10
”Ω−■であって、アモルファスSeと比較すれば約1
万分の1も低い。従って、a−3t:Hの単層からなる
感光体は表面電位の暗減衰速度が太き(、初期帯電電位
が低いという問題点を有している。 しかし、他方では、可視及び赤外領域の光を照射すると
抵抗、率が大きく減少するため、感光体の感光層として
極めて優れた特性を有している。 第8図には、上記のa−3t:Hを母材としたa−3i
系感光体9を組込んだ電子写真複写機が示されている。 この複写機によれば、キャビネット1の上部には、原稿
2を載せるガラス製原稿載置台3と、原稿2を覆うプラ
テンカバー4とが配されている。原稿台3の下方では、
光源5及び第1反射用ミラー6を具備した第1ミラーユ
ニツト7からなる光学走査台が図面左右方向へ直線移動
可能に設けられており、原稿走査点と感光体との光路長
を一定にするための第2ミラーユニツト20が第1ミラ
ーユニツトの速度に応じて移動し、原稿台3側からの反
射光がレンズ21、反射用ミラー8を介して像担持体と
しての感光体ドラム9上へスリット状に入射するように
なっている。ドラム9の周囲には、コロナ帯電器10、
現像器11、転写部12、分離部13、クリーニング部
14が夫々配置されており、袷祇箱15から各給紙ロー
ラー16.17を経て送られる複写紙18はドラム9の
トナー像の転写後に更に定着部19で定着され、トレイ
35へ排紙される。定着部19では、ヒーター22を内
臓した加熱ローラー23と圧着ローラー24との間に現
像済みの複写紙を通して定着操作を行なう。 しかしながら、a−3i:Hを表面とする感光体は、長
期に亘って大気や湿気に曝されることによる影響、コロ
ナ放電で生成される化学種の影響等の如き表面の化学的
安定性に関して、これまで十分な検討がなされていない
。例えば1力月以上放置したものは湿気の影響を受け、
受容電位が著しく低下することが分っている。一方、ア
モルファス水素化炭化シリコン(以下、a−3iC:H
と称する。)について、その製法や存在が” Ph11
.  Mag、 Vol、 35″ (197B)等に
記載されており、その特性として、耐熱性や表面硬度が
高いこと、a−3t:Hと比較して高い暗所抵抗率(1
0”−io”Ω−cI11)を有すること、炭素量によ
り光学的エネルギーギャップが1.6〜2.8eVの範
囲に亘って変化すること等が知られている。 但、炭素の含有によりバンドギャップが拡がるために長
波長感度が不良となるという欠点がある。 こうしたa−3iC:Hとa−3i:Hとを組合せた電
子写真感光体は例えば特開昭55−127083号公報
において提案されている。これによれば、a−3isH
層を電荷発生(光導電)Nとし、この電荷発生層下にa
−3iCsH層を設け、上層のa−3i:Hにより広い
波長域での光感度を得、かつa−3isH層とへテロ接
合を形成する下層のa−3iC:Hにより帯電電位の向
上を図っている。しかしながら、a−3i:H層の暗減
衰を充分に防止できず、帯電電位はなお不充分であって
実用性のあるものとはならない上に、表面にa−5t:
H5が存在していることにより化学的安定性や機械的強
度、耐熱性等が不良となる。 一方、特開昭57−17952号公報には、a−3i:
Hからなる電荷発生層上に第1のa−5iC:H層を表
面改質層として形成し、裏面上(支持体電極側)に第2
のa  SiC:l(層を形成している。 また、この公知技術に関連したものとして、実開昭57
−23543号公報にみられる如く、上記の電荷発生層
と上記第1及び第2のa−3iCsH層との間に傾斜層
(a  5it−x Cx  :H)を設け、この傾斜
層においてa−3t:H側でX−0とし、a−3iC:
H層側でX=0.5とした感光体が知られている。 しかしながら、上記の公知の感光体について本発明者が
検討を加えたところ、表面改質層を設けたことによる効
果は特に連続繰返し使用において、それ程発揮されない
ことが判明した。即ち、20〜30万回の連続ランニン
グ時に表面のa−3iC層が7〜8万回程度で機械的に
損傷され、これに起因する白スジや白ポチが画像欠陥と
して生じるため、耐剛性が充分ではない。しかも、繰返
し使用時の耐光疲労が生じ、画像流れも生じる上に、電
気的・光学的特性が常時安定せず、使用環境(?A度、
湿度)による影響を無視できない。また、表面改質層と
電荷発生層との接着性も更に改善する必要がある。 ハ1発明の目的 本発明の目的は、表面改質層と電荷発生層との接着性に
優れ、機械的損傷に強くかつ耐剛性に優れている上に、
画像流れのない安定な画質が得られ、繰返し使用時の光
疲労が少なく、残留電位も低く、かつ特性が使用環境(
温度、湿度)によらずに安定している感光体を提供する
ことにある。 二〇発明の構成及びその作用効果 即ち、本発明は、周期表第IIIa族元素がヘビードー
プされかつ炭素原子、窒素原子及び酸素原子のうちの少
なくとも1種を含有するアモルファス水素化及び/又は
フッ素化シリコンからなる電荷ブロッキング層と;窒素
原子及び酸素原子を含有するアモルファス水素化及び/
又はフッ素化シリ周期表第IIIa族又は第Va族元素
がドープされがつ炭素原子、窒素原子及び酸素原子のう
ちの少なくとも1種を含有するアモルファス水素化及び
/又はフッ素化シリコンからなる中間層と;炭素原子、
窒素原子及び酸素原子のうちの少なくとも1種を前記中
間層よりも多く含有するアモルファス水素化及び/又は
フッ素化シリコンからなる表面改質層とが順次積層され
てなる感光体に係るものである。 本発明によれば、表面改質層は炭素、窒素及び酸素の少
なくとも1つの原子を含有しているために、機械的損傷
に対して強くなり、白スジ発生等による画質の劣化がな
く、耐剛性が優れたものとなる。また、本発明において
は、表面改質層と電荷発生層との間に不純物ドープド中
間層を設けているので、表面改質層と電荷発生層との接
着性が向上する。 また、表面改質層と中間層とを電荷発生層上に設けてい
るので、上記に加えて、繰返し使用時の耐光疲労に優れ
、また画像流れもなく、残留電位も低下し、電気的・光
学的特性が常時安定化して使用環境に影響を受けないこ
とが確認されている。 ホ、実施例 以下、本発明を実施例について詳細に説明する。 第1図は、本実施例による正帯電用のa−3i系電子写
真感光体39を示すものである。この感光体39はAn
等のドラム状導電性支持基板41上に、周期表第III
a族元素(例えばホウ素)がヘビードープされかつC,
、N及び0の少なくとも1つを含有するa−8i:)(
(これをa −S i  (C)(N)(0):Hと表
わす。)からなるP+型電荷プロフキング層44と、周
期表第111a族元素(例えばホウ素)がライトドープ
されて真性化されかつN及びOを含有するa−3i:H
(これをa−3iNO:Hと表わす。)からなる電荷輸
送層42と、a−3i:Hからなる電荷発生N(不純物
ドーピングなし又は真性化されたもの)43と、周期表
第IIIa族又は第Va族元素がヘビードープされたP
?型又はN“型であってC,N、0の少なくとも1つを
含有するアモルファス水素化シリコンからなる中間層4
6と、周期表第TfIa族又は第Va族元素がドープさ
れてP型又はN型或いは真性化(若しくは不純物ドーピ
ングなしの)されかっN、C及び0の少なくとも1つを
含有するアモルファス水素化シリコン(これをa −S
 i  (C)(N)(0):Hと表わす。)からなる
表面改質層45とが積層された構造からなっている。電
荷光)JEJ43は暗所抵抗率ρ、と光照射時の抵抗率
ρ、との比が電子写真感光体として充分大きく光感度(
特に可視及び赤外領域の光に対するもの)が良好である
。 なお、上記の各層の炭素原子含有量は0〜70%の範囲
では、第2図に示す如くに光学的エネルギーギャップ(
Eg、opt)とほぼ直線的な関係があるので、炭素原
子含有量を光学的エネルギーギャップに置き換えて規定
することができる。 また、a−3iC:Hは、炭素原子含有量を適切に選択
すれば、第3図の曲線aのように比抵抗の上昇、帯電電
位保持能の向上という顕著な作用効果が得られる。即ち
、第3図に曲線aで示すように、炭素原子含有量が30
〜90%のa −S i C: Hを用いた場合、その
比抵抗は炭素含有量に従って変化し、10′2Ω−1以
上になる。 上記の傾向は、炭素に代えてN又はOを含むa−3iN
:H,a−3iO:Hについても同様である。 上記の層45は感光体の表面を改質してa−3i系悪感
光を実用的に優れたものとするために必須不可欠なもの
である。即ち、表面での電荷保持と、光照射による表面
電位の減衰という電子写真感光体としての基本的な動作
を可能とするものである。 従って、帯電、光減衰の繰返し特性が非常に安定となり
、長期間(例えば1力月以上)放置しておいても良好な
電位特性を再現できる。これに反し、a−3i:Hを表
面とした感光体の場合には、湿気、大気、オゾン雰囲気
等の影響を受は易く、電位特性の経時変化が著しくなる
。 また、層45は表面硬度が高いために、現像、転写、ク
リーニング等の工程における耐摩耗性があり、更に耐熱
性も良いことから粘着転写等の如く熱を付与するプロセ
スを適用することができる。 上記のような優れた効果を総合的に奏するためには、層
45の組成を選択することが重要である。 即ち、炭素原子を含有する場合、Si+C=100at
omic%(以下、atomic%を単に%で表わす。 )としたとき1%≦〔03590%、更には10%≦〔
03570%であることが望ましい。このC含有量によ
って上記した比抵抗が所望の値となり、かつ光学的エネ
ルギーギャップがほぼ2.5eV以上となり、可視及び
赤外光に対しいわゆる光学的に透明な窓効果により照射
光はa−3i:H層(電荷発生層)43に到達し易くな
る。しかし、C含有量が1%以下では、機械的損傷等の
欠点が生じ、かつ比抵抗が所望の値以下となり易く、か
つ一部分の光は表面層45に吸収され、感光体の光感度
が低下し易くなる。また、C含有量が90%を越えると
層の炭素量が多くなり、半導体特性が失われ易い上にa
−5iC:H膜をグロー放電法で形成するときの堆積速
度が低下し易いので、C含有量は90%以下とするのが
よい。 同様に、窒素又は酸素を含有する層45の場合、1%≦
(N)590%、(更には10%≦(N)570%)が
よく、0%〈
B. Industrial Application Field The present invention relates to a photoreceptor, for example, an electrophotographic photoreceptor. Conventional technology Conventionally, as an electrophotographic photoreceptor, Se or Se has A s
Photoreceptors doped with 1Te-, Sb, etc., photoreceptors in which ZnO or CdS is dispersed in a resin binder, and the like are known. However, these photoreceptors are environmentally polluting and
There are problems with thermal stability and mechanical strength. On the other hand, electrophotographic photoreceptors using amorphous silicon (a-3i) as an i-form have been proposed in recent years. a-3t has a so-called dangling bond in which the 5i-3i bond is broken, and many localized levels exist within the energy gap due to this defect. For this reason, hopping conduction of thermally excited carriers occurs, resulting in a small dark resistance, and photoexcited carriers are trapped in localized levels, resulting in poor photoconductivity. Therefore, we replaced the above defects with hydrogen atoms (
The dangling bonds are filled by bonding H to Si by compensating with H). Such amorphous hydrogenated silicon (hereinafter referred to as a-3
It is called i:H. ) has a resistivity in the dark of 108 to 10
”Ω-■, which is about 1 compared to amorphous Se.
It's even lower than 1/10,000. Therefore, a photoreceptor consisting of a single layer of a-3t:H has the problem of a fast dark decay rate of surface potential (low initial charging potential). When irradiated with light of 3i
An electrophotographic copying machine incorporating a system photoreceptor 9 is shown. According to this copying machine, a glass document mounting table 3 on which a document 2 is placed and a platen cover 4 that covers the document 2 are disposed in the upper part of a cabinet 1. Below the document table 3,
An optical scanning table consisting of a first mirror unit 7 equipped with a light source 5 and a first reflecting mirror 6 is provided so as to be movable linearly in the left-right direction of the drawing, and the optical path length between the document scanning point and the photoreceptor is kept constant. The second mirror unit 20 moves according to the speed of the first mirror unit, and the reflected light from the document table 3 passes through the lens 21 and the reflection mirror 8 onto the photosensitive drum 9 as an image carrier. The light enters in a slit shape. Around the drum 9, a corona charger 10,
A developing device 11, a transfer section 12, a separating section 13, and a cleaning section 14 are arranged, and the copy paper 18 fed from the folding box 15 through the paper feed rollers 16 and 17 is processed after the toner image on the drum 9 is transferred. Further, the sheet is fixed in the fixing section 19 and is discharged to the tray 35. In the fixing section 19, the developed copy paper is passed between a heating roller 23 containing a heater 22 and a pressure roller 24 to perform a fixing operation. However, photoreceptors with a-3i:H surfaces are susceptible to surface chemical stability, such as the effects of long-term exposure to the atmosphere or moisture, and the effects of chemical species generated by corona discharge. , has not been sufficiently investigated so far. For example, items that have been left for more than a month will be affected by moisture.
It is known that the receptor potential is significantly reduced. On the other hand, amorphous hydrogenated silicon carbide (hereinafter a-3iC:H
It is called. ), its manufacturing method and existence” Ph11
.. Mag, Vol. 35'' (197B), etc., and its characteristics include high heat resistance and surface hardness, and a high dark resistivity (1
It is known that the optical energy gap changes over a range of 1.6 to 2.8 eV depending on the amount of carbon. However, there is a drawback that the long wavelength sensitivity becomes poor due to the widening of the band gap due to the inclusion of carbon. An electrophotographic photoreceptor combining such a-3iC:H and a-3i:H has been proposed, for example, in Japanese Patent Application Laid-Open No. 127083/1983. According to this, a-3isH
The layer is charge-generating (photoconductive) N, and below this charge-generating layer is a
-3iCsH layer is provided, the upper layer a-3i:H provides photosensitivity in a wide wavelength range, and the lower layer a-3iC:H forming a heterojunction with the a-3isH layer improves the charging potential. ing. However, the dark decay of the a-3i:H layer cannot be sufficiently prevented, and the charging potential is still insufficient to be practical.
The presence of H5 causes poor chemical stability, mechanical strength, heat resistance, etc. On the other hand, JP-A-57-17952 discloses a-3i:
A first a-5iC:H layer is formed as a surface modification layer on the charge generation layer made of H, and a second a-5iC:H layer is formed on the back surface (support electrode side).
A SiC:l (forming a layer).In addition, as related to this known technology,
As seen in Japanese Patent No. 23543, a gradient layer (a 5it-x Cx :H) is provided between the charge generation layer and the first and second a-3iCsH layers, and in this gradient layer, a- 3t: X-0 on the H side, a-3iC:
A photoreceptor in which X=0.5 on the H layer side is known. However, when the present inventor conducted a study on the above-mentioned known photoreceptor, it was found that the effect of providing the surface modification layer is not so pronounced, especially in continuous repeated use. That is, during continuous running of 200,000 to 300,000 times, the a-3iC layer on the surface is mechanically damaged after about 70,000 to 80,000 times, and this causes white streaks and white spots as image defects, resulting in poor rigidity. Not enough. Moreover, light resistance fatigue occurs during repeated use, image blurring occurs, and electrical and optical characteristics are not always stable, and the usage environment (?A degree,
The influence of humidity) cannot be ignored. Furthermore, it is necessary to further improve the adhesion between the surface modified layer and the charge generation layer. C1 Object of the invention The object of the invention is to provide excellent adhesion between the surface modification layer and the charge generation layer, resistance to mechanical damage, and excellent rigidity resistance.
Stable image quality without image blurring is obtained, there is little optical fatigue during repeated use, the residual potential is low, and the characteristics are compatible with the usage environment (
The purpose of the present invention is to provide a photoreceptor that is stable regardless of temperature and humidity. 20 Structure of the invention and its effects, that is, the present invention provides an amorphous hydrogenated and/or fluorinated amorphous material heavily doped with a Group IIIa element of the periodic table and containing at least one of carbon atoms, nitrogen atoms, and oxygen atoms. a charge blocking layer made of silicon; an amorphous hydrogenated layer containing nitrogen atoms and oxygen atoms;
or an intermediate layer made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon containing at least one of carbon atoms, nitrogen atoms, and oxygen atoms doped with a group IIIa or group Va element of the periodic table; ; carbon atom,
The present invention relates to a photoreceptor in which surface-modified layers made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon containing at least one of nitrogen atoms and oxygen atoms in a larger amount than the intermediate layer are sequentially laminated. According to the present invention, since the surface modified layer contains at least one atom of carbon, nitrogen, and oxygen, it is resistant to mechanical damage, and there is no deterioration in image quality due to white streaks, etc., and it is resistant to It has excellent rigidity. Further, in the present invention, since the impurity-doped intermediate layer is provided between the surface modified layer and the charge generation layer, the adhesion between the surface modified layer and the charge generation layer is improved. Furthermore, since the surface modification layer and intermediate layer are provided on the charge generation layer, in addition to the above, it has excellent resistance to light fatigue during repeated use, no image fading, low residual potential, and electrical resistance. It has been confirmed that the optical properties are always stable and unaffected by the usage environment. E. Examples Hereinafter, the present invention will be explained in detail with reference to examples. FIG. 1 shows an a-3i electrophotographic photoreceptor 39 for positive charging according to this embodiment. This photoreceptor 39 is An
On a drum-shaped conductive support substrate 41 such as
A group A element (e.g. boron) is heavily doped and C,
a-8i containing at least one of , N and 0:)(
(This is expressed as a-S i (C)(N)(0):H).) The P+ type charge profking layer 44 is light-doped with an element of group 111a of the periodic table (for example, boron) and is made intrinsic. a-3i:H containing N and O
(this is expressed as a-3iNO:H), a charge-generating layer 43 made of a-3i:H (without impurity doping or made intrinsic), and P heavily doped with group Va elements
? intermediate layer 4 made of amorphous hydrogenated silicon of type or N" type and containing at least one of C, N, and 0;
6, and an amorphous hydrogenated silicon doped with an element of Group TfIa or Group Va of the periodic table and made P-type or N-type or intrinsic (or without impurity doping) and containing at least one of N, C, and 0. (This is a −S
Expressed as i (C) (N) (0):H. ) and a surface-modified layer 45 that is laminated. JEJ43 has a sufficiently large ratio of resistivity ρ in the dark and resistivity ρ during light irradiation as an electrophotographic photoreceptor, and has photosensitivity (
Particularly good against light in the visible and infrared regions). In addition, when the carbon atom content of each of the above layers is in the range of 0 to 70%, the optical energy gap (
Since there is a substantially linear relationship with Eg, opt), the carbon atom content can be defined by replacing it with the optical energy gap. In addition, if the carbon atom content of a-3iC:H is appropriately selected, remarkable effects such as an increase in specific resistance and an improvement in charging potential holding ability can be obtained as shown by curve a in FIG. 3. That is, as shown by curve a in FIG. 3, when the carbon atom content is 30
When ~90% a-S i C:H is used, its resistivity varies with carbon content and is greater than 10'2 Ω-1. The above tendency is that a-3iN containing N or O instead of carbon
The same applies to :H, a-3iO:H. The above-mentioned layer 45 is indispensable for modifying the surface of the photoreceptor and making the a-3i-based photoresistance practically excellent. That is, it enables the basic operations of an electrophotographic photoreceptor, such as charge retention on the surface and attenuation of the surface potential due to light irradiation. Therefore, the repetitive characteristics of charging and optical attenuation become very stable, and good potential characteristics can be reproduced even if left for a long period of time (for example, one month or more). On the other hand, in the case of a photoreceptor having a-3i:H as its surface, it is easily affected by humidity, air, ozone atmosphere, etc., and the potential characteristics change significantly over time. In addition, since the layer 45 has a high surface hardness, it has abrasion resistance during processes such as development, transfer, and cleaning, and also has good heat resistance, so a process that applies heat such as adhesive transfer can be applied. . In order to comprehensively achieve the excellent effects described above, it is important to select the composition of the layer 45. That is, when containing carbon atoms, Si+C=100at
When omic% (hereinafter, atomic% is simply expressed as %), 1%≦[03590%, furthermore 10%≦
03570% is desirable. Due to this C content, the above-mentioned resistivity becomes the desired value, and the optical energy gap becomes approximately 2.5 eV or more, and the irradiated light is a-3i due to the so-called optically transparent window effect for visible and infrared light. : It becomes easier to reach the H layer (charge generation layer) 43. However, if the C content is 1% or less, disadvantages such as mechanical damage occur, and the specific resistance tends to fall below a desired value, and part of the light is absorbed by the surface layer 45, reducing the photosensitivity of the photoreceptor. It becomes easier to do. Furthermore, if the C content exceeds 90%, the amount of carbon in the layer increases, and semiconductor properties are likely to be lost, and a
-5iC: Since the deposition rate when forming the H film by the glow discharge method tends to decrease, the C content is preferably 90% or less. Similarly, in the case of layer 45 containing nitrogen or oxygen, 1%≦
(N)590% (furthermore, 10%≦(N)570%) is good, and 0%<

〔0〕≦70%(更には5%≦[0]≦70% (even 5%≦

〔0〕≦3
0%)がよい。 帯電能を向上させる為には、表面改質層45を高抵抗化
してもよい。その為には表面改質層を真性化しても良い
。 正又は負帯電使用に於いて、中間層から表面改質層中へ
の電子又は正孔の注入を容易にし、残留電位を極小化す
る為には、表面改質層をP又はN型としてもよい。 各場合の不純物ドープ量(後述のグロー放電分解時)は
次の通りであってよい。 真性化: B2 Hb / S i H42〜50容量
ppmP 型:B2 Hb /5iH450〜1000
〃N 型: PHi /S iHn    1〜100
0〃また、層45はa−3iCO1a−3iNO1a−
3iO,a−3ioz等からなっていてよく、その膜厚
を400人≦t≦5000人の範囲内(特に400人≦
t<2000人に選択することも重要である。 即ち、その膜厚が5000人を越える場合には、残留電
位■7が高くなりすぎかつ光感度の低下も生じ、a−3
i系悪感光としての良好な特性を失い易い。 また、膜厚を400人未満とした場合には、トンネル効
果によって電荷が表面上に帯電されなくなるため、暗減
衰の増大や光感度の低下が生じてしまう。 中間層46は、感度の向上、残留電位の低下、表面改質
層の接着性の向上及び画像の安定化の為に設置する。 上記特性改善の為には、P又はN型化する必要がある。 不純物ドープ量はCP Hz :l / (S i H
4)=1〜1000 (好ましくは10〜500)容量
ppm、(Bz Hb ) / (S i H4) =
10〜1000 (好ましくは50〜500)容量pp
mとしてよい。 中間層46のC,N、C含有量は、 0く〔00510%、0く〔83510%、0<(0)
≦5%とするのがよい。 この中間層の膜厚は50〜5000人とするのがよいが
、5000人を越えると上記したと同様の現象が生じ易
く、50人未満では中間層としての効果が乏しくなる。 電荷発生層43については、帯電能を向上する為には、
電荷発生層の高抵抗化を図ってもよい。その為には、電
荷発生層を真性化しても良い。この真性化には、Bz 
Hb /S i H4= 1〜20容量ppmとするの
がよい。 また、電荷発生層は1〜10μm、好ましくは、5〜7
μmとするのがよい。電荷発生層43が1μm未満であ
ると光感度が充分でなく、また10μmを越えると残留
電位が上昇し、実用上不充分である。 電荷輸送層42については、帯電能、感度を最適化する
為には、真性化する必要がある。真性化の為のドープ量
は、CBZ H6:l / (S i H4) =1〜
2000容量ppmが最適である。但し、上記値はN 
rM度に依存する為、必ずしも上記値に限定されるもの
ではない。電荷輸送層のnり厚は10〜30μmとする
のがよい。 また、電荷輸送層の組成は、1%く〔N9530%、好
ましくはio%≦CN〕 530%がよく、0%< [
0) 51.0%、好ましくは0%<〔0)≦2がよい
。 また、上記電荷ブロンキング層44は、基板41がらの
電子の注入を充分に防ぎ、感度、帯電能の向上のために
は、周期表第IIIa族元素(例えばボロン)をグロー
放電分解でドープして、P型(更にはP+型)化する。 ブロンキング層の組成によって、次のようにドーピング
量を制御する。 a−5iC又はa−3iCO: P型(P ” ) ; Bz Hb / S r H4
20〜5000容Wkppm a−3iN又はa−3iNO: P型(Pヤ)  ; Bz Hb / S I Ha2
000〜5000容Wk p p mブロッキング層は
Sin、5in2等の化合物でもよい。 また、フ′ロッキング層44は膜厚500人〜2μmが
よい。500人未満であるとブロッキング効果が弱く、
また2μmを越えると電荷輸送能が悪くなり易い。 ブロッキング層44の組成については、次のようにする
のが望ましい。即ち、1%く〔03690%、好ましく
は10%≦(C)570%とし、1%く 〔N〕 59
0%、好ましくは10%〈 〔N3570%とし、0%
[0]≦3
0%) is better. In order to improve the charging ability, the surface modified layer 45 may have a high resistance. For this purpose, the surface modified layer may be made intrinsic. When used with positive or negative charging, in order to facilitate the injection of electrons or holes from the intermediate layer into the surface-modified layer and to minimize the residual potential, the surface-modified layer may be of P or N type. good. The amount of impurity doped in each case (at the time of glow discharge decomposition described later) may be as follows. Intrinsic: B2 Hb / Si H42-50 Capacity ppmP Type: B2 Hb /5iH450-1000
〃N type: PHi /S iHn 1-100
0 Also, the layer 45 is a-3iCO1a-3iNO1a-
3iO, a-3ioz, etc., and the film thickness is within the range of 400≦t≦5000 (especially 400≦
It is also important to select t<2000 people. That is, if the film thickness exceeds 5,000 layers, the residual potential (7) becomes too high and the photosensitivity decreases, resulting in a-3.
It is easy to lose the good characteristics of i-type bad sensitivity. Furthermore, if the film thickness is less than 400, charges will not be charged on the surface due to the tunnel effect, resulting in an increase in dark decay and a decrease in photosensitivity. The intermediate layer 46 is provided to improve sensitivity, reduce residual potential, improve adhesion of the surface modified layer, and stabilize images. In order to improve the above characteristics, it is necessary to make it P or N type. The amount of impurity doping is CP Hz:l/(S i H
4) = 1-1000 (preferably 10-500) capacity ppm, (Bz Hb) / (S i H4) =
10-1000 (preferably 50-500) Capacity pp
It may be set as m. The C, N, and C contents of the intermediate layer 46 are 0ku [00510%, 0ku [83510%, 0<(0)
It is preferable to set it to ≦5%. The thickness of this intermediate layer is preferably 50 to 5,000 people, but if it exceeds 5,000 people, the same phenomenon as described above tends to occur, and if it is less than 50 people, the effect as an intermediate layer becomes poor. Regarding the charge generation layer 43, in order to improve the charging ability,
The resistance of the charge generation layer may be increased. For this purpose, the charge generation layer may be made intrinsic. For this intrinsicization, Bz
It is preferable that Hb/S i H4 = 1 to 20 ppm by volume. Further, the charge generation layer has a thickness of 1 to 10 μm, preferably 5 to 7 μm.
It is preferable to set it to μm. If the thickness of the charge generation layer 43 is less than 1 μm, the photosensitivity will not be sufficient, and if it exceeds 10 μm, the residual potential will increase, which is insufficient for practical use. Regarding the charge transport layer 42, it is necessary to make it intrinsic in order to optimize charging ability and sensitivity. The doping amount for making it intrinsic is CBZ H6:l/(S i H4) = 1~
2000 capacitance ppm is optimal. However, the above value is N
Since it depends on the rM degree, it is not necessarily limited to the above value. The thickness of the charge transport layer is preferably 10 to 30 μm. The composition of the charge transport layer is preferably 1% [N9530%, preferably io%≦CN]530%, and 0%<[
0) 51.0%, preferably 0%<[0)≦2. Further, in order to sufficiently prevent electron injection from the substrate 41 and to improve sensitivity and charging ability, the charge bronking layer 44 is doped with an element of group IIIa of the periodic table (for example, boron) by glow discharge decomposition. It becomes P type (and P+ type). The doping amount is controlled as follows depending on the composition of the bronking layer. a-5iC or a-3iCO: P type (P”); Bz Hb / S r H4
20-5000 volume Wkppm a-3iN or a-3iNO: P type (Pya); Bz Hb / SI Ha2
000-5000 volume Wk p p m The blocking layer may be a compound such as Sin, 5in2, etc. The flocking layer 44 preferably has a thickness of 500 to 2 .mu.m. If there are fewer than 500 people, the blocking effect will be weak.
Further, if the thickness exceeds 2 μm, the charge transport ability tends to deteriorate. The composition of the blocking layer 44 is preferably as follows. That is, 1% [03690%, preferably 10%≦(C)570%, and 1% [N] 59
0%, preferably 10% < [N3570%, 0%

〔0〕≦70%、好ましくは0%≦[0]≦70%, preferably 0%≦

〔0〕≦30%と
するのがよい。 なお、上記の各層は水素を含有することが必要である。 特に、電荷発生層43中の水素含有量は、ダングリング
ボンドを補償して光導電性及び電荷保持性を向上させる
ために必須不可欠であって、10〜30%であるのが望
ましい。この含有量範囲は表面改質層45、ブロッキン
グ層44及び電荷輸送層42も同様である。また、導電
型を制御するための不純物として、P型化のためにボロ
ン以外にもA11Ga、InXTA等の周期表IIIa
族元素を使用できる。N型化のためにはリン以外にもA
s、sb等の周期表第Va族元素を使用できる。 次に、上記した感光体(例えばドラム状)の製造方法及
びその装置(グロー放電装置)を第4図について説明す
る。 この装置51の真空槽52内ではドラム状の基板41が
垂直に回転可能にセットされ、ヒーター55で基板41
を内側から所定温度に加熱し得るようになっている。基
板41に対向してその周囲に、ガス導出口53付きの円
筒状高周波電極57が配され、基板41との間に高周波
電源56によりグロー放電が生ゼしめられる。なお、図
中の62はSiH4又はガス状シリコン化合物の供給源
、63はCHa等の炭化水素ガスの供給源、64はN2
等の窒素化合物ガスの供給源、65は02等の酸素化合
物ガスの供給源、66はAr等のキャリアガス供給源、
67は不純物ガス(例えば82 H6)供給源、68は
各流量計である。このグロー放電装置において、まず支
持体である例えばA!基板41の表面を清浄化した後に
真空槽52内に配置し、真空槽52内のガス圧が1O−
6T orrとなるように調節して排気し、かつ基板4
1を所定温度、特に100〜350℃(望ましくは15
0〜300℃)に加熱保持する。次いで、高純度の不活
性ガスをキャリアガスとして、S iHs又はガス状シ
リコン化合物、CH4、N2 、O□等を適宜真空槽5
2内に導入し、例えば0.01〜10Torrの反応圧
下で高周波電源56により高周波電圧(例えば13゜5
6MHz)を印加する。これによって、上記各反応ガス
を電極57と基板41との間でグロー放電分解し、P+
型a−3iC:H,i型5iNO:Hla−3i:H,
Pヤ又はN+型a−3iC:Hla−3iC:Hを上記
の層44.42.43.46.45として基板上に連続
的に(即ち、例えば第1図の例に対応して)堆積させる
。 上記製造方法においては、支持体上にa−3i系の層を
製膜する工程で支持体温度を100〜350℃としてい
るので、感光体の膜質(特に電気的特性)を良くするこ
とができる。 なお、上記a−3i系感光体感光層の形成時において、
ダングリングボンドを補償するためには、上記したHの
かわりに、或いはHと併用してフッ素をSiF4等の形
で導入し、a−3i:F。 a−3i :H:F、a−3iN:F。 a−3iN:H:F、a−3iC:F。 a−3iC:H:Fとすることもできる。この場合のフ
ッ素量は0.5〜10%が望ましい。 なお、上記の製造方法はグロー放電分解法によるもので
あるが、これ以外にもスパッタリング法、イオンブレー
ティング法や、水素放電管で活性化又はイオン化された
水素導入下でSiを蒸発させる方法(特に、本出願人に
よる特開昭56−78413号(特願昭54−1524
55号)の方法)等によっても上記感光体の製造が可能
である。 以下、本発明を具体的な実施例について説明する。 グロー放電分解法により、ドラム状A7!支持体上に第
1図の構造の電子写真感光体を作製した。 即ち、まず支持体である、例えば平滑な表面を持つドラ
ム状A2基板41の表面を清浄化した後に、第4図の真
空槽52内に配置し、真空槽52内のガス圧が10−6
T orrとなるように調節して排気し、かつ基板41
を所定温度、特に100〜350℃(望ましくは150
〜300℃)に加熱保持する。次いで、高純度のArガ
スをキャリアガスとして導入し、0.5 T orrの
背圧のもとで周波数13.56 MHzの高周波電力を
印加し、10分間の予備放電を行った。 次いで、SiH4とB2H6からなる反応ガスを導入し
、流量比1 : 1 : 1 :  (1,5Xl0−
3)の(Ar+S iH,+CH4又はNz + BZ
 Hb )混合ガスをグロー放電分解することにより、
電荷ブロッキング機能を担うP+型のa−3iC:H層
44とa−3iNO:H電荷輸送層(但、B2H6/s
、iH,= 500容量%、(N)=12%、(0) 
=1000 ppm (S iに対し))42とを6u
m/hrの堆積速度で順次所定厚さに製膜した。引き続
き、BzHb及びCH,を供給停止し、SiH,を放電
分解し、厚さ5μmのa−3t:H層43を形成した。 引続いて、不純物ガスの流量比を変化させてグロー放電
分解し、膜厚も変化させた中間層46を形成し、更に Bz Hb / S i H4=100容ffippm
としてa−3iCO:H又はa−3iNO:H表面保護
層45を更に設け、電子写真感光体を完成させた。 比較例として、中間層のない感光体を作成した。 こうして作成された感光体の構成をまとめると次の通り
であった。 (1)0表面改質層: a−3iNO:H又はa−5iCO:H(2)、中間層
: ドープ量、膜厚変化(第5図参照) (3)、  a−3i : H電荷発生層:膜厚=5μ
m (41,a−3iNo : H電荷輸送層:膜厚−15
μm N含有量=11% 0含有量=0.2% (5)、  a−3iNO: H電荷ブロッキング層:
膜厚=0.5μm 窒素含有量−11% 正帯電用:Bドープ有り (6)、支持体:Alシリンダー(鏡面研磨仕上げ)次
に上記の各感光体を使用して各種のテストを次のように
行なった。 ■二左工伎工 第6図に示すように、感光体39面に垂直に当てた0、
3 Rダイヤ針70に荷重Wを加え、感光体をモータ7
1で回転させ、傷をつける。次に、電子写真複写g U
 −B 1x1600 (小西六写真工業社製)改造機
にて画像出しを行ない、何gの荷重から画像に白スジが
現われるかで、その感光体の引っかき強度(g)とする
。 貢盈流並 温度33℃、相対湿度80%の環境下で、感光体を電子
写真複写機U −B 1x4500 (小西六写真工業
社製)改造機内に24時間順応させた後、現像剤、紙、
ブレードとは非接触で1000コピーの空回しを行った
後、画像出しを行ない、以下の基準で画像流れの程度を
判定した。 ◎:画画像流が全くなく、5.5ポイントの英字や細線
の再現性が良い。 ○:5.5ポイントの英字がやや太くなる。 △:5.5ポイントの英字がつぶれて読みづらい。 X:5.5ポイントの英字判読不能。 1留電位VR(V) U −B 1x2500改造機を使った電位測定で、4
00n、 mにピークをもつ除電光30 E ux−s
ecを照射した後も残っている感光体表面電位。 帯電電位■。(V) U −B 1x2500改造機(小西六写真工業II製
)を用い、感光体流れ込み電流200μA、露光なしの
条件で360SX型電位計(トレック社製)で測定した
現像直前の表面電位。 半減   E I/Z(12ux−sec)上記の装置
を用い、ダイクロイックミラー(光体光学社製)により
像露光波長のうち620nm以上の長波長成分をシャー
プカットし、表面電位を500Vから250■に半減す
るのに必要な露光量。 (露光量は550−1型光量計(EGandG社製)に
て測定) 結果を第7図にまとめて示した。この結果から、本発明
に基いて感光体を作成すれば、電子写真用として各性能
に優れた感光体が得られることが分る。
It is preferable that [0]≦30%. Note that each of the above layers needs to contain hydrogen. In particular, the hydrogen content in the charge generation layer 43 is essential to compensate for dangling bonds and improve photoconductivity and charge retention, and is preferably 10 to 30%. This content range also applies to the surface modification layer 45, blocking layer 44, and charge transport layer 42. In addition, as an impurity for controlling the conductivity type, in addition to boron, A11Ga, InXTA, etc.
Group elements can be used. In addition to phosphorus, A is required for N-type conversion.
Group Va elements of the periodic table, such as s and sb, can be used. Next, a method for manufacturing the above-mentioned photoreceptor (for example, drum-shaped) and an apparatus therefor (glow discharge apparatus) will be explained with reference to FIG. A drum-shaped substrate 41 is set rotatably vertically in a vacuum chamber 52 of this device 51, and a heater 55 is used to rotate the substrate 41.
can be heated to a predetermined temperature from the inside. A cylindrical high frequency electrode 57 with a gas outlet 53 is disposed around and facing the substrate 41, and a glow discharge is generated between the electrode 57 and the substrate 41 by a high frequency power source 56. In addition, 62 in the figure is a supply source of SiH4 or a gaseous silicon compound, 63 is a supply source of hydrocarbon gas such as CHa, and 64 is a N2
65 is a supply source of oxygen compound gas such as 02, 66 is a carrier gas supply source such as Ar,
67 is an impurity gas (for example, 82 H6) supply source, and 68 is each flow meter. In this glow discharge device, first, a support such as A! After cleaning the surface of the substrate 41, it is placed in a vacuum chamber 52, and the gas pressure in the vacuum chamber 52 is set to 1O-
Adjust the exhaust to 6T orr, and then remove the substrate 4.
1 at a predetermined temperature, particularly 100 to 350°C (preferably 15°C
Heat and maintain at a temperature of 0 to 300°C. Next, using a high-purity inert gas as a carrier gas, SiHs or gaseous silicon compounds, CH4, N2, O□, etc. are suitably added to the vacuum chamber 5.
2, and a high frequency voltage (for example, 13°5
6MHz) is applied. As a result, each of the above reaction gases is decomposed by glow discharge between the electrode 57 and the substrate 41, and P+
Type a-3iC:H, i-type 5iNO:Hla-3i:H,
Pya or N+ type a-3iC:Hla-3iC:H is deposited successively (i.e. corresponding to the example of FIG. 1, for example) on the substrate as the above-mentioned layers 44. . In the above manufacturing method, the support temperature is set at 100 to 350°C in the step of forming the a-3i layer on the support, so the film quality (especially electrical properties) of the photoreceptor can be improved. . In addition, when forming the above a-3i photoreceptor photosensitive layer,
In order to compensate for dangling bonds, fluorine is introduced in the form of SiF4 or the like in place of the above-mentioned H or in combination with H to form a-3i:F. a-3i:H:F, a-3iN:F. a-3iN:H:F, a-3iC:F. It can also be a-3iC:H:F. In this case, the amount of fluorine is preferably 0.5 to 10%. The above manufacturing method is based on the glow discharge decomposition method, but there are also sputtering methods, ion blating methods, and methods in which Si is evaporated while introducing activated or ionized hydrogen in a hydrogen discharge tube ( In particular, Japanese Patent Application Laid-Open No. 56-78413 (Japanese Patent Application No. 1524-1983) filed by the present applicant
The above photoreceptor can also be manufactured by the method of No. 55). Hereinafter, the present invention will be described with reference to specific examples. By glow discharge decomposition method, drum-shaped A7! An electrophotographic photoreceptor having the structure shown in FIG. 1 was prepared on a support. That is, first, after cleaning the surface of a support, for example, a drum-shaped A2 substrate 41 having a smooth surface, it is placed in a vacuum chamber 52 shown in FIG.
The substrate 41 is evacuated and adjusted so that the
at a predetermined temperature, especially 100 to 350°C (preferably 150°C)
-300°C). Next, high-purity Ar gas was introduced as a carrier gas, high-frequency power with a frequency of 13.56 MHz was applied under a back pressure of 0.5 Torr, and preliminary discharge was performed for 10 minutes. Next, a reaction gas consisting of SiH4 and B2H6 was introduced, and the flow rate ratio was 1:1:1:(1,5Xl0-
3) (Ar+S iH, +CH4 or Nz + BZ
Hb) By decomposing the mixed gas by glow discharge,
P+ type a-3iC:H layer 44 and a-3iNO:H charge transport layer (B2H6/s
, iH, = 500% by volume, (N) = 12%, (0)
= 1000 ppm (for S i)) 42 and 6u
Films were sequentially formed to a predetermined thickness at a deposition rate of m/hr. Subsequently, the supply of BzHb and CH was stopped, and SiH was decomposed by discharge to form an a-3t:H layer 43 with a thickness of 5 μm. Subsequently, glow discharge decomposition is performed by changing the flow rate ratio of the impurity gas, and an intermediate layer 46 with a changed film thickness is formed.
An a-3iCO:H or a-3iNO:H surface protective layer 45 was further provided as an electrophotographic photoreceptor. As a comparative example, a photoreceptor without an intermediate layer was prepared. The structure of the photoreceptor thus produced was summarized as follows. (1) 0 surface modified layer: a-3iNO:H or a-5iCO:H (2), intermediate layer: doping amount, film thickness change (see Figure 5) (3), a-3i: H charge generation Layer: Film thickness = 5μ
m (41, a-3iNo: H charge transport layer: film thickness -15
μm N content = 11% 0 content = 0.2% (5), a-3iNO: H charge blocking layer:
Film thickness = 0.5 μm Nitrogen content -11% For positive charging: B doped (6), support: Al cylinder (mirror polished finish) Next, various tests were performed using each of the above photoreceptors as follows. I did it like this. ■ Nisa Kokiko As shown in Figure 6, the 0,
3 Apply a load W to the R diamond needle 70, and move the photoreceptor to the motor 7.
Rotate it with 1 and make a scratch. Next, electrophotographic copying
-B 1x1600 (manufactured by Konishiroku Photo Industry Co., Ltd.) An image is produced using a modified machine, and the scratch strength (g) of the photoreceptor is determined by the load at which white streaks appear on the image. The photoreceptor was allowed to acclimatize in a modified electrophotographic copying machine U-B 1x4500 (manufactured by Konishiroku Photo Industry Co., Ltd.) for 24 hours under an environment of a normal temperature of 33°C and a relative humidity of 80%, and then the developer and paper were removed. ,
After 1000 copies were made without contact with the blade, an image was produced and the degree of image blurring was determined based on the following criteria. ◎: There is no image flow at all, and the reproducibility of 5.5-point alphabetic characters and thin lines is good. ○: 5.5 point alphabetic characters are slightly thicker. △: 5.5 point letters are crushed and difficult to read. X: 5.5 points of unreadable letters. 1 Retention potential VR (V) U -B 4 by potential measurement using a 1x2500 modified machine
Static neutralizing light with peaks at 00n and m 30 E ux-s
The surface potential of the photoreceptor that remains even after irradiation with ec. Charged potential■. (V) Surface potential immediately before development measured using a U-B 1x2500 modified machine (manufactured by Konishiroku Photo Industry II) with a 360SX type electrometer (manufactured by Trek) under conditions of a photoconductor inflow current of 200 μA and no exposure. Half reduction E I/Z (12ux-sec) Using the above device, sharply cut the long wavelength component of 620 nm or more of the image exposure wavelength using a dichroic mirror (manufactured by Kotai Kogaku Co., Ltd.), and reduce the surface potential from 500 V to 250 ■. The amount of exposure required to reduce the amount of light by half. (The exposure amount was measured using a 550-1 light meter (manufactured by EGandG)) The results are summarized in FIG. 7. These results show that if a photoreceptor is prepared according to the present invention, a photoreceptor with excellent performance for electrophotography can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図〜第7図は本発明の実施例を示すものであって、 第1図はa−3i系感光体のy断面図、第2図はa−3
iCの光学的エネルギーギャップを示すグラフ、 第3図はa−3iCの比抵抗を示すグラフ、第4図はグ
ロー放電装置の概略断面図、第5図は各感光体の層構成
を示す表、 第6図は引っかき強度試験機の概略図、第7図は各感光
体の特性を示す表 である。 第8図は従来の電子写真複写機の概略断面図である。 なお、図面に示された符号において、 39・・・・a−3i系感光体 41・・・・支持体(基板) 42・・・・電荷輸送層 43・・・・電荷発生層 44・・・・電荷ブロッキング層 45・・・・表面改質層 46・・・・中間層 である。 代理人 弁理士 逢 坂   宏 第2図 o−5i1−xCx:Hx 第3図 SFJ膚t  (0↑omicc/l)第6図 第4図 第7図
1 to 7 show examples of the present invention, in which FIG. 1 is a y-sectional view of an a-3i photoreceptor, and FIG. 2 is an a-3i photoreceptor.
A graph showing the optical energy gap of iC, Fig. 3 a graph showing the specific resistance of a-3iC, Fig. 4 a schematic cross-sectional view of the glow discharge device, Fig. 5 a table showing the layer structure of each photoreceptor, FIG. 6 is a schematic diagram of a scratch strength tester, and FIG. 7 is a table showing the characteristics of each photoreceptor. FIG. 8 is a schematic sectional view of a conventional electrophotographic copying machine. In addition, in the symbols shown in the drawings, 39...a-3i photoreceptor 41...support (substrate) 42...charge transport layer 43...charge generation layer 44... . . . Charge blocking layer 45 . . . Surface modification layer 46 . . . Intermediate layer. Agent Patent Attorney Hiroshi Aisaka Figure 2 o-5i1-xCx:Hx Figure 3 SFJ skint (0↑omicc/l) Figure 6 Figure 4 Figure 7

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1、周期表第IIIa族元素がヘビードープされかつ炭素
原子、窒素原子及び酸素原子のうちの少なくとも1種を
含有するアモルファス水素化及び/又はフッ素化シリコ
ンからなる電荷ブロッキング層と;窒素原子及び酸素原
子を含有するアモルファス水素化及び/又はフッ素化シ
リコンからなる電荷輸送層と;アモルファス水素化及び
/又はフッ素化シリコンからなる電荷発生層と;周期表
第IIIa族又は第Va族元素がドープされかつ炭素原子
、窒素原子および酸素原子のうちの少なくとも1種を含
有するアモルファス水素化及び/又はフッ素化シリコン
からなる中間層と;炭素原子、窒素原子及び酸素原子の
うちの少なくとも1種を前記中間層よりも多く含有する
アモルファス水素化及び/又はフッ素化シリコンからな
る表面改質層とが順次積層されてなる感光体。
1. A charge blocking layer made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon heavily doped with a Group IIIa element of the periodic table and containing at least one of carbon atoms, nitrogen atoms, and oxygen atoms; nitrogen atoms and oxygen atoms; a charge transport layer made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon containing; a charge generation layer made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon; doped with an element of group IIIa or group Va of the periodic table and containing carbon; an intermediate layer made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon containing at least one of carbon atoms, nitrogen atoms and oxygen atoms; at least one of carbon atoms, nitrogen atoms and oxygen atoms from the intermediate layer; A photoreceptor in which surface-modified layers made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon containing a large amount of silicon are sequentially laminated.
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