JPS6228658A - 電解質分析方法及び装置 - Google Patents
電解質分析方法及び装置Info
- Publication number
- JPS6228658A JPS6228658A JP60169048A JP16904885A JPS6228658A JP S6228658 A JPS6228658 A JP S6228658A JP 60169048 A JP60169048 A JP 60169048A JP 16904885 A JP16904885 A JP 16904885A JP S6228658 A JPS6228658 A JP S6228658A
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- Japan
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- specimen
- dilution
- measurement
- sample
- electrode
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- Pending
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- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、電解質分析方法及び装置に関するものであり
、特に微量検体を自動希釈分注器により希釈し、麿血、
血漿、血清、尿中のＮａ５Ｋ、をイオン電極法にてＣＬ
を１！量滴定法により連続検体を自動測定するものであ
る。
、特に微量検体を自動希釈分注器により希釈し、麿血、
血漿、血清、尿中のＮａ５Ｋ、をイオン電極法にてＣＬ
を１！量滴定法により連続検体を自動測定するものであ
る。
従来、イオン電極法を用いた電解質分析方法及び装置に
ついて説明すると、校正操作において、装置に備えられ
た標準液１と標準液２を用いて次の動作を自動的に行わ
せる。・・・・・・・・・最初に標準液２を吸引し、標
準液２によって生じた電極電位をメモリーに記憶させる
。（これをＥ２とする。）次に洗浄工程の後、標準液１
を吸引し、標準液１の電位をメモリーに記憶させる。（
これをＥｌとする。） 連続測定のための検体がオート
サンプラにセットされて測定を開始すると、まず検体１
を吸引し検体１の電位がメモリーに記憶される。
ついて説明すると、校正操作において、装置に備えられ
た標準液１と標準液２を用いて次の動作を自動的に行わ
せる。・・・・・・・・・最初に標準液２を吸引し、標
準液２によって生じた電極電位をメモリーに記憶させる
。（これをＥ２とする。）次に洗浄工程の後、標準液１
を吸引し、標準液１の電位をメモリーに記憶させる。（
これをＥｌとする。） 連続測定のための検体がオート
サンプラにセットされて測定を開始すると、まず検体１
を吸引し検体１の電位がメモリーに記憶される。
（これをＥｘｌとする。）次に洗浄工程の後、標準液を
吸引し標準液の電位がメモリーに記憶される（これをＥ
とする。）このＥ １Ｅ１、及び校正１１
Ｘ１時に記憶したＥ２ 、Ｅｌ
と固定定数であるＣ２、Ｃ１とから、式〔１〕によって
検体１のイオン濃度Ｃを求める。２検体目以降も全く同
様な工程及び演算を行って結果を求める。即ち検体２の
電位をＥｘ２、その後の標準液１の電位をＥｔｚとして
後は１検体目と同じである。・・・・・・式〔２〕〔発
明が解決しようとする問題点〕 前記せるような従来のイオン電極法による電解質分析方
法及び装置においては、検体量を多く必要とし、又、電
極の応答時間がかかり処理能力に間順があった。
吸引し標準液の電位がメモリーに記憶される（これをＥ
とする。）このＥ １Ｅ１、及び校正１１
Ｘ１時に記憶したＥ２ 、Ｅｌ
と固定定数であるＣ２、Ｃ１とから、式〔１〕によって
検体１のイオン濃度Ｃを求める。２検体目以降も全く同
様な工程及び演算を行って結果を求める。即ち検体２の
電位をＥｘ２、その後の標準液１の電位をＥｔｚとして
後は１検体目と同じである。・・・・・・式〔２〕〔発
明が解決しようとする問題点〕 前記せるような従来のイオン電極法による電解質分析方
法及び装置においては、検体量を多く必要とし、又、電
極の応答時間がかかり処理能力に間順があった。
本発明は上記の如き従来技術の問題点を解消することの
できる電解質分析方法及び装置を提供することを目的と
して創案されたものであり、電解質の分析方法に於いて
、希釈セルを２セルとして電極部での測定中に次検体の
希釈分注及び攪拌をなし、全体的に測定時間の短縮がお
こなわれることを特徴とし、また、希釈測定系とは別に
電極ドリフトに対して補正のための専用液を使用するこ
とを特徴とするものである。更にオートサンプラ及び測
定部を具備せる電解質分析装置に於いて先端部にサンプ
ルノズルを保持せるサンプリングアームの基部が支軸に
て回動自在に支持され、且つ、該サンプルノズルがサン
プルカップ、スタンダードテーブル、洗浄部、ＣＡ測定
部及び希釈セルの各位置に対応して移動できるようにサ
ンプリングアームが回動することを特徴としている。
できる電解質分析方法及び装置を提供することを目的と
して創案されたものであり、電解質の分析方法に於いて
、希釈セルを２セルとして電極部での測定中に次検体の
希釈分注及び攪拌をなし、全体的に測定時間の短縮がお
こなわれることを特徴とし、また、希釈測定系とは別に
電極ドリフトに対して補正のための専用液を使用するこ
とを特徴とするものである。更にオートサンプラ及び測
定部を具備せる電解質分析装置に於いて先端部にサンプ
ルノズルを保持せるサンプリングアームの基部が支軸に
て回動自在に支持され、且つ、該サンプルノズルがサン
プルカップ、スタンダードテーブル、洗浄部、ＣＡ測定
部及び希釈セルの各位置に対応して移動できるようにサ
ンプリングアームが回動することを特徴としている。
検体のＮａ、にのイオン測定には本出願人が先に特許出
願した「イオン電極法による電解質分析方法及び装置」
（昭和６０年７月２５日提出の特許出願）に於けるエン
ドポイント法Ｇ及、θ薪方式の器上測定方式により検体
の測定時間及び基準液の測定時間が短縮されており、特
に本発明方法では、測定時間に於ける大幅な高速化がな
されており、希釈セルを２セルとしたことによって、電
極部での測定中に次検体の希釈分注及び攪拌が行われ、
全体的な測定時間の短縮を行うと共に、また、希釈測定
系とは別に基準液を直接測定することにより、標準液の
希釈分注及び攪拌の時間を短縮しつつ相対的に電極電位
が補正できるようになっている。
願した「イオン電極法による電解質分析方法及び装置」
（昭和６０年７月２５日提出の特許出願）に於けるエン
ドポイント法Ｇ及、θ薪方式の器上測定方式により検体
の測定時間及び基準液の測定時間が短縮されており、特
に本発明方法では、測定時間に於ける大幅な高速化がな
されており、希釈セルを２セルとしたことによって、電
極部での測定中に次検体の希釈分注及び攪拌が行われ、
全体的な測定時間の短縮を行うと共に、また、希釈測定
系とは別に基準液を直接測定することにより、標準液の
希釈分注及び攪拌の時間を短縮しつつ相対的に電極電位
が補正できるようになっている。
以下、図面に示す実施例に基づき本発明の詳細な説明す
る。
る。
最初の校正動作として、■サンプリング７ズル６１にて
標準液（２）（尿モードでは標準液（１））を吸引し、
希釈セル１３へ移動して、希釈液とともに分注（１１倍
希釈）シ、攪拌する。■サンプリングノズル６１にて標
準液（１）を吸引し、ＣＬ測定部８１に分注する。■前
記■で攪拌したサンプルを希釈セル１６を回転させて、
Ｎａ／にノズルより吸引し電極部１６にて標準液（２）
の電極電位を測定する。■希釈セル１３に基準液を分注
し、Ｎａ／にノズルより吸引し電極電位を測定する。■
サンプリングノズル６１にて標準液（１）（尿モードで
は標準液（６））を吸引し、希釈セル１３に分注する。
標準液（２）（尿モードでは標準液（１））を吸引し、
希釈セル１３へ移動して、希釈液とともに分注（１１倍
希釈）シ、攪拌する。■サンプリングノズル６１にて標
準液（１）を吸引し、ＣＬ測定部８１に分注する。■前
記■で攪拌したサンプルを希釈セル１６を回転させて、
Ｎａ／にノズルより吸引し電極部１６にて標準液（２）
の電極電位を測定する。■希釈セル１３に基準液を分注
し、Ｎａ／にノズルより吸引し電極電位を測定する。■
サンプリングノズル６１にて標準液（１）（尿モードで
は標準液（６））を吸引し、希釈セル１３に分注する。
（前記■、■と同時に進行する。）■希釈セル１３を回
転させて標準液（１）の電極電位を測定する。■基準液
を分注し電極電位を測定する。■これらの電極電位を基
にして検量線を作成し構成を終わる。
転させて標準液（１）の電極電位を測定する。■基準液
を分注し電極電位を測定する。■これらの電極電位を基
にして検量線を作成し構成を終わる。
次に検体の測定に関してのべる。
（１）サンプリングノズル６１にて検体をサンプルテー
ブル２上のサンプルカップ２１より吸引し、希釈セル１
６に分注、攪拌する。
ブル２上のサンプルカップ２１より吸引し、希釈セル１
６に分注、攪拌する。
（２）サンプリングノズル６１にて検体をサンプルテー
ブル２上のサンプルカップ２１より吸引し、Ｃ１測定部
８１に分注する。
ブル２上のサンプルカップ２１より吸引し、Ｃ１測定部
８１に分注する。
（３）希釈セル１３を回転し、検体の電極電位を測定す
る。
る。
：４）基準液を分注し、電極電位を測定する。
（５）測定の１検体目のみ校正の■〜■の動作を行い、
標準液（１）の基準電位及び基準液の基準電位を測定す
る。
標準液（１）の基準電位及び基準液の基準電位を測定す
る。
（６）前記（４）で測定した基準液の電位と前記（５）
で測定した基準液の電位との差により、相対的に前記（
５）で測定した標準液（１）の電位を補正し、校正時に
作成した検量１′腺を利用して検体の濃度を算出し、デ
ィスプレイ５に表示しプリンタ７に出力させる。
で測定した基準液の電位との差により、相対的に前記（
５）で測定した標準液（１）の電位を補正し、校正時に
作成した検量１′腺を利用して検体の濃度を算出し、デ
ィスプレイ５に表示しプリンタ７に出力させる。
本発明は以上説明したように、希釈セルを２セルとした
ことによって、電極部での測定中に次検体の希釈分注お
よび攪拌ができ、且つ、希釈測定系とは別に基準液を直
接測定することにより、標準液の希釈分注及び攪拌の時
間を短縮しながらも相対的に電極電位を補正することが
でき、ｍｔ３ｃ測定に於ける大幅な高速化を図れる効果
がある。
ことによって、電極部での測定中に次検体の希釈分注お
よび攪拌ができ、且つ、希釈測定系とは別に基準液を直
接測定することにより、標準液の希釈分注及び攪拌の時
間を短縮しながらも相対的に電極電位を補正することが
でき、ｍｔ３ｃ測定に於ける大幅な高速化を図れる効果
がある。
図面は本発明の実施例を示すもので、第１図は本発明方
法及び装置の動作説明図、第２図は本発明装置全体の斜
視図、第３図は本発明装置の平面図、第４質は正面図、
第５図は側面図である。 １６・・・希釈セル １６・・・オートサンプラ ６１°９サンプルノズル ６・・・サンプリングアーム
法及び装置の動作説明図、第２図は本発明装置全体の斜
視図、第３図は本発明装置の平面図、第４質は正面図、
第５図は側面図である。 １６・・・希釈セル １６・・・オートサンプラ ６１°９サンプルノズル ６・・・サンプリングアーム
Claims (3)
- （１）電解質の分析方法に於いて、希釈セルを２セルと
して電極部での測定中に次検体の希釈分注及び攪拌をな
し、全体的に測定時間の短縮がおこなわれることを特徴
とする電解質分析方法。 - （２）希釈測定系とは別に電極ドリフトに対して補正の
ための専用液を使用することを特徴とする特許請求の範
囲第（１）項記載の電解質の分析方法。 - （３）オートサンプラ及び測定部を具備せる電解質分析
装置に於いて、先端部にサンプルノズルを保持せるサン
プリングアームの基部が支軸にて回動自在に支持され、
且つ、該サンプルノズルがサンプルカップ、スタンダー
ドテーブル、洗浄部、Ｃｌ測定部及び希釈セルの各位置
に対応して移動できるようにサンプリングアームが回動
することを特徴とする電解質分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60169048A JPS6228658A (ja) | 1985-07-31 | 1985-07-31 | 電解質分析方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60169048A JPS6228658A (ja) | 1985-07-31 | 1985-07-31 | 電解質分析方法及び装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6228658A true JPS6228658A (ja) | 1987-02-06 |
Family
ID=15879355
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60169048A Pending JPS6228658A (ja) | 1985-07-31 | 1985-07-31 | 電解質分析方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6228658A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03100455A (ja) * | 1989-09-13 | 1991-04-25 | Hitachi Ltd | 電解質分析装置および電解質分析方法 |
| CN112955750A (zh) * | 2018-12-06 | 2021-06-11 | 株式会社日立高新技术 | 自动分析装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5011487A (ja) * | 1973-06-01 | 1975-02-05 | ||
| JPS5293391A (en) * | 1976-02-02 | 1977-08-05 | Toa Medical Electronics | Dilute sample monitoring device for apparatus for analyzing blood |
-
1985
- 1985-07-31 JP JP60169048A patent/JPS6228658A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5011487A (ja) * | 1973-06-01 | 1975-02-05 | ||
| JPS5293391A (en) * | 1976-02-02 | 1977-08-05 | Toa Medical Electronics | Dilute sample monitoring device for apparatus for analyzing blood |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03100455A (ja) * | 1989-09-13 | 1991-04-25 | Hitachi Ltd | 電解質分析装置および電解質分析方法 |
| CN112955750A (zh) * | 2018-12-06 | 2021-06-11 | 株式会社日立高新技术 | 自动分析装置 |
| US20220026387A1 (en) * | 2018-12-06 | 2022-01-27 | Hitachi High-Tech Corporation | Automated analysis apparatus |
| JP2022103367A (ja) * | 2018-12-06 | 2022-07-07 | 株式会社日立ハイテク | 自動分析装置 |
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