JPS6228359A - 真空コンテナ - Google Patents

真空コンテナ

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JPS6228359A
JPS6228359A JP15601385A JP15601385A JPS6228359A JP S6228359 A JPS6228359 A JP S6228359A JP 15601385 A JP15601385 A JP 15601385A JP 15601385 A JP15601385 A JP 15601385A JP S6228359 A JPS6228359 A JP S6228359A
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vacuum container
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carrier
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、真空コンテナに関するものであり、特に、半
導体ウェーハ、および該ウェーハを保持しているキャリ
アを、真空の状態で収納して、前記ウェーハを汚染しな
いように保持することができる真空コンテナに関するも
のである。
(従来の技術) 従来から、例えばシリコン等の半導体ウL−ハ(以下、
単にウェーハという)の製造工程では、該ウェーハを化
学処理した後の洗浄工程が必要であった。そして、この
洗浄工程を一つの装置と12で具体化したのが、よく知
られているように、蒸気洗浄装置である。
この蒸気洗浄装置では、まずウェーハは、キャリアに保
持された状態で該装置内に装填される。
その後、ウェーハは、キャリアを移動する可動ハンガに
より、キャリアと共に、イオンを除去し・た水(以下、
DIウォータという)の中に浸漬され、洗浄される。
このようにして洗浄されたウェーハは、その俊、蒸気洗
浄槽の中へ前記可動ハンガによってキャリアと共に運ば
れる。
この蒸気洗浄槽では、石英容器の中へ適量入れられた、
例えばイソプロピルアルコール(以下、JPAという)
が下からのヒータの熱によって温めIしれて、該容器中
で気化している。
このIPAの蒸気中に、前記ウェーハが運ばれてくると
、水分(DIウォータ)の付着したつ工−ハにより、I
PA蒸気が冷却液化され、ウェーハ表面を流下する。そ
の間に、ウェーハに付着していた水分は、IPAと置換
され、水分がウェーハから除去される。
また、ウェーハはIPAの蒸気により次第に加熱され、
ウェーハの温度がIPA蒸気と同等になると、IPAの
液化は起らなくなる。
この為に、前記DIつA−一夕の洗浄によってイ」看し
た微小な異物等はきれいに洗い流されると共に、ウェー
ハ表面は、乾燥状態となる。
なお、前記石英容器の上部には、前記ウェーハを保持し
たキャリアが人出可能な空間を残して蛇管が配設されて
いる。これは、気化したIPAが蛇管内を流れる冷却水
によって冷され、液化して、再び石英容器の中へ還元さ
れるようにする為でおる。
以上のようにして、蒸気洗浄乾燥されたウェーハは、可
動ハンガによってキャリアと共に、蒸気洗浄装置のウェ
ーハ取出し部まで運ばれ、その後、取り出されることに
なる1□ ところで、よく知られているように、蒸気洗浄装置から
取り出されるウェーハは、常に、清浄(クリーン)な状
態に保たれている必要がおる。
これは、前記洗浄乾燥1(、ウェーハ表面には、微細イ
【プリン1〜回路等のパターンが形成されるからである
。また、洗浄前のウェーハ、すなわち蒸気洗浄装置に装
填される前のウェーハも、当該装置の内部をできるだけ
清浄な状態に保つ為に、微小塵埃(以下、バーディクル
という)が付着しないようにする必要がある。
そこで、従来にあい(は、つL−ハを保持したキャリア
を、蒸気洗浄装置の内部へ装填する時、または、前記キ
ャリアを該装置の内部から取り出1時、および該キレリ
ノ・′を予定の場所へ移動する時【5二は、作業者は防
塵用の服を着て、ざらに防1層用の手袋をはめるなどし
て、それらの作業を行なっていた。
また、蒸気洗浄乾燥された後のつ丁−凸表面は、前記し
たように、乾燥状態となる。しかし、これをミクロ的に
見ると、薄膜状態または分子単位で、IPAがウェーハ
表面に微量残存しているのが通常である。
なあ、このようなIPAは、時間の経過につれて自然拡
散する為に消失し、完全な乾燥状態となる。
(発明が解決しようとする問題点) 上記した従来の技術は、次のような問題点を有していた
(1)ウェーハを保持したキャリアを、蒸気洗浄装置の
内部へ装填する時、または、前記キャリアを該装置の内
部から取り出す時、ざらに該キャリアを予定の場所へ移
動する時には、作業者は防塵服等を看ることによって、
ウェーハにパーティクルが付着しないように配慮してい
るが、従来は、ウェーハを保持したキャリアを、直接人
の手によって持ち運びする為に、どうしてもウェーハ表
面に無機質および/または有機質のパーティクルが付着
するという欠点がめった。
(2)ウェーハを保持したキャリアを、蒸気洗浄装置か
ら取り出して、次の処理作業に入るまでに時間がある場
合には、該時間、前記キャリアを保存しておかなければ
ならないが、この間に、ウェーハ表面にパーティクルが
付着するという欠点かあつ Iご。
(3)前記したように、蒸気洗浄乾燥後のウェーハ表面
には、自然拡散する前のIPAが薄膜状態または分子単
位で付着している。この為に、ウェーハを・蒸気洗浄乾
燥した後、直ちに、次の工程での処理を行なうことがで
きないという欠点があった。
プなわら、従来においては、ウェーハを蒸気洗浄乾燥し
てから、次の工程の処理を行なうまでには、IPAが完
全に自然拡散するまで、予定時間待たなければならない
という欠点がめった。
本発明は、前述の問題点を解決するためになされたもの
である。
(問題点を解決するための手段および作用)前記の問題
点を解決するために、本発明は、つ工−ハを保持するキ
ャリアを載置する基台と、前記基台上にあるキャリアを
覆う蓋と、前記基台および蓋により形成される内部空間
と外部とを選択的に連通・遮断する手段とを有する真空
コンテナを設けて、前記キャリアを、必要に応じて、真
空状態で前記真空コンテナに収納するようにした点に特
徴がおる。
(実施例) 以下に図面を参照して、本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明の一実施例の一部断面図である。
また、第2図は、第1図のA−A線に沿う一部断面図で
おる。
これらの図において、例えばテフロン製の基台1には、
第1のコック2を矢印六方向へ倒することにより開状態
となる吸気口3と、第2のコック4を矢印B方向へ倒す
ることにより開状態となる排気口5とが設けられている
なお、前記第1のコック2あにび第2のコック4のそれ
ぞれは、矢印Aまたは矢印B方向への力が加わっていな
い時には、自動復帰して常に閉状態となっている。
前記吸気口3および排気口5は、それぞれ、基台1に埋
め込まれている給気管6および排気管7の一端と接続さ
れている。そして、前記給気管6j−3よび排気管7の
他端は基台1の上面まで達し、そこで開口している。
また、前記給気管6の中間にはミクロフィルタBが配設
されている。基台1の上面周辺部には輪環状の凹陥部9
が形成され、該凹陥部9にはQリング10が嵌め込まれ
ている。
蓋11は、その開口端部のフランジ部11aが基台1の
上面周辺部と接触するようにして、基台1、J:に載置
されている。この蓋11の材質としては6例えばABS
樹脂、ポリカーボネート、石英または金属などが好適で
ある。
第2図から明らかなように、フランジ部11aの上部付
近には、2つの係止部材12および13が対向するよう
にして配設されている。この係止部材12.13は、基
台1と蓋11とが圧接状態で相互に固定されるようにす
る為のものである。
そして、係止部材12.13は、その上端部に、それぞ
れ矢印C方向または矢印り方向の力が加えられると、支
軸12a、1aaを中心に、反時計方向または時計方向
に回転づる。この為に、基台1と益11との圧接固定状
態は、解除が可能となる。
ここで、第1図および第2図に示した本実施例の動作に
ついて説明する。
まず、基台1の上に、ウェーハ14を保持したキャリア
15を、第1図に破線で示すように載せる。その後、蓋
11を基台1上に載置する。
なあ、この載置の際には、係止部材12,13の上端部
に矢印Cまたは矢印り方向の力を加えて、係止部材12
.13の下端部が外側に開く状態とする。その後、矢印
Cまたは矢印り方向の力を除去して、基台1を係止部材
12.13で挟み込むよ“うにする。
次に、排気口5に、真空ポンプから引き出されている管
(図示せず)を連結して、第2のコック4を矢印B方向
へ倒す。この結果、基台1および諮11からなる真空コ
ンテナ50の内部ガスは、排気管7を介して吸引される
。すなわち、ウェーハ14を保持したキャリア15が収
納された真空コンテナ50の内部は、真空状態となる。
これにより、基台1と若11とが相互に強く吸着される
ばかりでなく、真空コンテナ50の内部にはパーティク
ルが侵入できなくなる。
なお、前記した係止部材12,13は、前記真空コンテ
ナ50内部の真空度が低下してぎて、基台1と蓋11と
の吸着状態が弱まった場合も、相互の圧接状態が解消さ
れないようにする為のものである。
すなわち、前記真空度が低下した為に、基台1と蓋11
との吸着状態が解除されるようになっても、係止部材1
2.13があれば、基台1と益11との接触部にすき間
が生じてパーティクルが侵入したり、または、蓋11を
持って真空コンテナ50を移動する場合に、基台1およ
びウェーハ14を保持したキャリア15が落下したりす
るという事態は防止されることになる。
したがって、真空コンテナ50内部の真空度が、必要な
時間、十分に保たれるのであれば、係11部材12.1
3は必要でなくなる。また、上記した機能を有する係止
部材12が、基台1側に取付けられていても差し支えな
いことは勿論でおる。
前記したように()て、真空コンテナ50に収納された
つ丁−ハ14を保持したキャリア15を取り出す為には
、まず、例えば、N2ガスボンベに接続されている管(
図示せず)を、吸気口3に連結()て、第1の]ツク2
を矢印へ方向へ倒す。
このようにすると真空コンテナ50内部には、ミクロフ
ィルタ8によ・〕で濾過された清浄なN2ガスが吸入さ
れる1、この結果、前記真空状態は解除される。そこで
、こんどは、係止部材12゜13の上端部に矢印Cまた
は矢印り方向の力を加える。
その後、この状態で、Wllを持ち上げる。なd3、当
然のことながら、蓋11の位置はそのままとし−C,基
台1のhを王降させるようにしても、前記キャリア15
を取り出すことができる。
なd3、以上の説明では、排気管7および給気管6をそ
れぞれ設けて真空コンテナの内部空間を真空状態にした
り、または、該真空状態を解除したりする場合であった
。しかし、本発明では、例えば、前記給気管6のみを配
設するようにして、真空状態または該状態の解除を実現
するようにし・でもよい。
ただし、ウェーハ14を保持したキャリ)フ]5を収納
して、内部空間を真空にする為に、吸引する内部ガスに
パーティクルが含まれている’FA’Dには、一旦、ミ
クロフィルタ8に付着した該パー゛j−イクルが、その
後、真空状態を解除する際に、再び前記内部空間へ戻さ
れ、ウェーハ14の表面を汚染するおそれがある。
したがって、本実施例のように、排気管7および給気管
6のそれぞれを設ける構造とじた方が望ましい。
また、以上では、給気管6の中間にミクL]ノ、イルタ
8を設けるようにしたが、例えば清浄なN2ガスが吸気
口3から注入される状態でおれば、該ミクロフィルタ8
が不要となることは勿論である。
ここで、本実施例の真空コンテナ50を用いてつ1−ハ
14を保持したキ℃・リア15を蒸気乾燥洗浄装置の内
部へ装填したり、または、前記主ヤリ”ノアを該装置内
部から取り出したりする場合について説明する。
第3図は、ウェーハ挿入・取出部20がパススルールー
・ムとなっている蒸気乾燥洗浄装置の一部断面図である
。図において、第1図および第2図と同一の符号は、同
一または同等部分を必られしている。
第3図において、ウェーハ挿入・取出部20には、本実
施例の真空コンテナ50が載置できるし〜ル台21が、
その下部に配置されている。前記レール台21の手前側
には、手動で開閉する外扉(図示せず)が形成されてい
る。
前記レー・ル台21の上方には、蒸気乾燥洗浄装置の内
部雰囲気からつ丁−ハ挿入・取出部20を仕切る為の天
井部22が設けられ、ざらに、該大月部22には、既知
の手段により自動的に開閉する内扉23が設Cプられて
いる。1 すなわち、ウェーハ挿入・取出部20は、内扉23を閉
塞することによって、蒸気乾燥洗浄装置の内部雰囲気か
ら遮断されるように構成されている。
このウェーハ挿入・取出部20の上部には、NZガスを
、該ウェーハ挿入・取出部20の内部に供給する為の給
気ダクト24aおよび24bが配設されている。
また、ウェーハ挿入・取出部20の底板部には、前記給
気ダクト24aおよび24bから供給されるN2ガスを
排気する為の排気ダクト25aおよび25bが配設され
ている1゜ ざらに、前記レール台21の下部に当るウェーハ挿入・
取出部20の底板部kTは、本実施例の真空コンテナ5
0を挿入または引き出す際に、該真空コンテナ50とレ
ール台21との摩耗によって生じるパーティクルを、貫
通孔27を介して吸引し、排出する為の吸入ダクト26
が設けられている。
また、「りJ−ハ挿入・取出部20内に設けられている
ロボットアーム28は、レール台21に載置された真空
コンテナ50の蓋11を、載置台29に載せたり、また
は前記載置台29に必る蓋11を、真空コンテナ50の
基台1上に戻したりする為のものである。
なお、このロボットアーム28の先端部28aは、既知
の適宜の方法により、前記蓋11を握持てきるようにな
っているものであればよい。
したがって、このロボットアーム28によって、益11
が支持される時には、係止部vJ12.13(第2図参
照)の上端部には、矢印Cまたは矢印Dプj向の力が加
えられる為に、前記係止部材12゜13の下端部は外側
に開かれる状態となる。
この結果、ロボットアーム2Bに蓋11が握持される時
には、該i11のみが持ち運ばれることになる。
ウェーハ挿入・取出部20の内部には、真空コンテナ5
0をレール台21に載置した状態で、必要に応じて、第
1のコック2または第2のコック4を矢印Aまたは矢印
B方向(第1図参照)に倒す為の操作杆が配設されてい
る。なお、この操作杆は、図面を簡略化する為に図示を
省略している。
また、ウェーハ挿入・取出部20の内部には、真空ポン
プ(図示せず)とその一端が接続されている管40が、
排気口5と十分に連結可能な長さを有して挿入されでい
る。
次に、DIつ4−夕洗浄槽30を構成する容器31の中
には、DIつ4−夕32が常に適量貯留されている。、
なお、このDIつを一部32は、図示しない既知の手段
により、常時予定量が放水され、かつまた、前記放水量
だけ供給されている。
この為に、常に、清浄な状態に保たれている。
蒸気洗浄槽33は、以下のような構成からなっている。
すなわち、ヒータが密閉状態で内蔵されているアルミブ
ロック34の上には、IPA35を入れた石英容器36
が置かれている。
なあ、この石英容器36の上方には、図面を簡略化する
為に図示しないが、IPA35の蒸気を冷却して凝縮還
元する為の蛇管が配設されている。
以上のような構成からなる蒸気乾燥洗浄装置では、まず
、オペレータが、ウェーハ挿入・取出部20の外扉を聞
いて、真空コンテナ50をレール台21の上に載せる。
なお、この真空コンテナ50には、ウェーハ14を保持
したキャリア15が、真空状態で収納されている。
その後、オペレータは、排気口5と管40の先端部とを
連結して、真空コンテナ50をウェーハ挿入・取出部2
0の所定場所まで、レール台21に沿って移動させる。
このようにして、レール台21の所定場所に載置された
真空コンテナ50を、第1図に示す。
前記真空コンテナ50を所定場所まで移動させたオペレ
ータは、ウェーハ挿入・取出部20の外扉を閉じる。
なあ、真空コンテナ50@装填する際に、外扉を開ける
ので、ウェーハ挿入・取出部20の内部雰囲気と外気と
は連通状態となるが、この状態ぐは、内扉23は閉じら
れているので、蒸気乾燥洗浄装置の内部雰囲気と外気と
が連通状態となることはない。したがって、前記装置の
内部雰囲気は汚染されない。
また、第3図では、ウェーハ挿入・取出部20の内部に
、濾過された清浄なN2ガスを、常時、給気ダクト24
aおよび24bから供給していβ。
この結果、ウェーハ挿入・取出部20の内部は外気圧に
対して陽圧状態であるので、真空=1ンテーJ−50を
装填する為に、外扉が開けられても、該つ工−ハ挿入・
取出部20の内部に外気中の微小な異物等が侵入する心
配はほとんどない。
なあ、第3図では、貫通孔27を介して吸入ダクト26
から前記N2ガスを吸引している。この為に、前記真空
コンテナ50をレール台21に沿って移動させる際に、
該真空コンテナ50とレール台21との摩耗によって生
ずるパーティクルは、前記N2ガスと共に吸引されて排
出される。
また、真空コンテナ50を装填した後、外扉を閉じてか
ら、予定の時間、該真空コンテナ50はウェーハ挿入・
取出部20の中にそのままの状態C置かれる。これは、
真空」ンテナ50を、オペレータがウェーハ挿入・取出
部20内に装填する際に、該「ウェーハ挿入・取出部2
0の内部にはパーティクルが侵入するので、これを前記
N2ガスの流れによって排出する為である。
すなわち、給気ダく7ト24aiJ3よび24bから供
給されたN2ガスは、ウェーハ挿入・取出部20の内部
を通過して、前記吸入ダク1へ26に吸引されて排出さ
れると共に、排気ダクト25 a i13よび25bか
らも排気されるが、この時、前記パーティクルも同時に
排出して、ウェーハ挿入・取出部20の内部雰囲気を清
浄な状態とする。
前記予定時間が経過すると、図示しない操作杆によって
、第1のコック2は矢印A方向(第1図参照)へ倒され
る。この結果、つT−ハ挿入・取出部20内部のN2ガ
スは、吸気口3→給気管6−中ミクロフィルタ8→給気
管6を通って、真空」ンテナ50の内部に注入される。
すなわら、真空コンテナ50の内部は、清浄なN2ガス
によンて満たされるので、真空状態が解除される。
その後、ロボットアーム28か既知の過負゛の1段によ
り移動してきて、その先端部28aで、前記したにうに
、真空コンテナ50の益11を握持して、該蓋11を載
置台29まで運ぶ4.この結果、Mllは載置台29の
上に置かれた状態となる。
その後、内扉23が、既知の手段により自動的に開状態
となり、つづいて可動ハンガ37が、つ工−ハ挿入・取
出部20内へ侵入して、キャリア15の孔15aと係合
する。
そして、前記キャリア15は、可動ハンガ37によって
蒸気乾燥洗浄装置の内部空間へ運び出される。その後、
内扉23は、自動的に閉塞状態となる。
前記蒸気乾燥洗浄装置の内部空間へ運び出されたウェー
ハ14は、まず、可動ハンガ37によって、キャリア1
5と共に、DIウォータ32に浸漬され、清浄される。
その俊、ウェーハ14は、キャリア15と共に可動ハン
ガ37によって蒸気洗浄槽33の中へ運ばれる。
そして、ここで蒸気洗浄乾燥されたウェーハ14は、キ
ャリア15と共に可動ハンガ37によって、一旦、蒸気
洗浄槽33の上方へ持ち上げられ、その後、再び、ウェ
ーハ挿入・取出部2.0の上方まで運ばれる。なお、こ
の時、ウェーハ挿入・取出部20の内扉23は自動的に
開かれる。
前記ウェーハ挿入・取出部2oの上方まで運ばれてきた
ウェーハ14は、キャリア15と共に可動ハンガ37に
よって降下され、ウェーハ挿入・取出部20の内部に挿
入され、その後、再び基台1上に載置される。
このようにして、ウェーハ14を保持したキャリア15
が、基台1上に載置されると、可動ハンガ37のみが上
昇してウェーハ挿入・取出部20の外部に出る。そして
、これとほぼ同時に内扉23が閉塞状態となる。
その後、載置台29上に置かれていた蓋11が、ロボッ
トアーム28の先端部28aに握持されて、前記キャリ
ア15を収納するような状態で、基台1上に載置される
。前記蓋11の載置が完了すると、ロボットアーム28
はウェーハ挿入・取出部20の内部の予定場所へ戻る。
なあ、この時には、係止部材12.’13によって、前
記蓋1’lと基台1とは圧接状態となっている。
その後、図示しない操作杆によって第2のコック4が矢
印B方向(第1図参照)へ倒され、さらにこの状態で真
空ポンプが作動する。この為に真空コンテナ50の内部
カス、すなわちN2ガスは、排気管7→排気ロ5→管4
0を通って外部へ吸い出されることになる。
この結果、基台1と蓋11とは相互に強く吸着されるの
で、両者の接触部にはすき間が生ずることがなくなる。
したがって、仮に、真空コンテナ50の周辺雰囲気中に
パーティクルが存在するようになっても、該パーティク
ルは、真空コンテナ50の内部に侵入することはない。
ところで、蒸気洗浄乾燥されて、基台1に載置されたウ
ェーハ14の表面には、前記したように、自然拡散する
前のIPAが薄膜状態または分子単位で付着している。
そこで、第3図では、このようなIPAをつ工−ハ14
の表面から早期に完全に除去する為に、ウェーハ挿入・
取出部20の内部に赤外線ランプ38a、38bを設け
てウェーハ14に赤外線を照射し、該ウェーハ14を加
熱するようにしている。
ただし、このように、ウェーハ14に赤外線を照射する
場合には、蓋11の材質は、赤外線を透過するものであ
ることが望ましい。
そしてざらに、本実施例の真空コンテナ50では、前記
したように、内部N2ガスを吸引して、その内部が真空
状態となるようにしている。この為に、ウェーハ14の
表面に薄膜状態または分子単位で付着しているIPAは
、より一層早期に完全に拡散されることになる。
なお、赤外線ランプ38a、38bを特に設けず、真空
コンテナ50内部を真空状態とするのみでも、IPAの
拡散は促進される。
前記したようにして、真空コンテナ50の内部が真空状
態になった後、第2のコック4を閉状態に復帰すると共
に、真空ポンプを停止する。
その後、オペレータは、外扉を開けて、真空コンテナ5
0をレール台21上を滑らせながら手前に引きよせる。
そして、オペレータは、管40を排気口5から取り外し
て、真空コンテナ50を外部へ取り出す。その後、外扉
を閉める。
(発明の効果) 以上の説明から明らかなように、本発明によれば、つぎ
のような効果が達成される。
(1)ウェーハを保持したキャリアを、必要に応じて、
真空状態で収納できる真空コンテナを設けるようにした
ので、人の手が直接前記キャリアに触れることがなくな
り、従来中じていた、人の手の接近によりウェーハ表面
にパーティクルが付着するという状態は、回避すること
ができる。
(2)清浄な表面とされたウェーハを保存する場合にも
、この保存期間中に、ウェーハ表面にパーティクルが付
着するという状態は生じない。
(3)真空状態でウェーハが収納され保存されるので、
ウェーハ表面に薄膜状態または分子単位で付着している
IPAは、比較的早期に拡散されることになる。
(4)前記(3)に加えて、真空コンテナの外部より赤
外線を照射して、ウェーハを加熱するようにずれば、ウ
ェーハ表面に薄膜状態または分子単位で付着しているI
PAは、より一層早期に拡散されることになる。この結
果、半導体ウェーハの製造作業時間は短縮される。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の一部断面図、第2図は第1
図のA−A線に沿う一部断面図、第3図は、第1図およ
び第2図の真空コンテナが適用される蒸気乾燥洗浄装置
の一例を示す一部断面図でおる。 1・・・基台、2・・・第1のコック、3・・・吸気口
、4・・・第2のコック、5・・・排気口、6・・・給
気管、7・・・排気管、8・・・ミクロフィルタ、11
・・・蓋、12、’13・・・係止部材、14・・・ウ
ェーハ、15・・・キャリア

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)半導体ウェーハを保持するキャリアを載置する基
    台と、 前記基台上にあるキャリアを覆う蓋と、 前記基台および蓋により形成される内部空間と外部とを
    選択的に連通・遮断する手段と を具備したことを特徴とする真空コンテナ。
  2. (2)前記基台と前記蓋とを圧接状態で相互に固定する
    手段が設けられていることを特徴とする前記特許請求の
    範囲第1項記載の真空コンテナ。
  3. (3)前記連通・遮断手段が、前記基台を貫通して、そ
    の一端が前記内部空間に開口し、他端が外部に開口して
    いる管体と、前記管体に設けらけたコックとであること
    を特徴とする前記特許請求の範囲第1項または第2項記
    載の真空コンテナ。
  4. (4)前記管体が、排気用管体と給気用管体とからなり
    、前記給気用管体の中間にフィルタが設けられているこ
    とを特徴とする前記特許請求の範囲第3項記載の真空コ
    ンテナ。
  5. (5)前記蓋が、赤外線を透過するものであることを特
    徴とする前記特許請求の範囲第1項、第2項、第3項ま
    たは第4項記載の真空コンテナ。
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