JPS6227864Y2 - - Google Patents

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JPS6227864Y2
JPS6227864Y2 JP1986041572U JP4157286U JPS6227864Y2 JP S6227864 Y2 JPS6227864 Y2 JP S6227864Y2 JP 1986041572 U JP1986041572 U JP 1986041572U JP 4157286 U JP4157286 U JP 4157286U JP S6227864 Y2 JPS6227864 Y2 JP S6227864Y2
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JP
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unbalance
measurement
correction
measured
amount
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JPS61167540U (ja
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Description

【考案の詳細な説明】 本考案は被測定物の回転時における不つりあい
による振動を検出してその不つりあい量を測定す
る装置に関するものである。
この種の不つりあい測定方式は通常ソフトタイ
プと称される方式で、被測定物を両端部2点で回
転自在に支承し、これをモータなどの回転駆動源
に間接的に連結して回転させ、この回転時の不つ
りあいによる振動を支承部に設置した検出器によ
つて検出する方式ものである。
ところで、この種の測定方式においては、検出
器からの検出信号は両支承部での振動の検出信号
であつて被測定物の不つりあい量に相応したもの
ではあつてもこの出力信号でもつて被測定物の不
つりあい量と修正位置を知り得るものではない。
したがつて通常ソフトタイプの不つりあい測定方
式においては、所定の二つの面を修正面として修
正面分離の演算設定を行なう必要がある。すなわ
ちある設定された修正面を被測定物において2面
設け、この2面における不つりあい量が零となる
よう電気的な調整を行なう具体的には検出器から
の出力をボリウムで調整し、それぞれの検出器か
らの出力信号を前記二つの修正面に分離して互い
に不つりあい量を消去することにより実際の不つ
りあい量をこの2面に分離して演算できるように
しているのである。この機能は面分離回路を設け
ることにより遂行されている。
ところで、このようにして実際の被測定物の不
つりあい測定が行なわれるわけであるが、修正で
きる位置が前記面分離の2面で行なうことができ
る場合は問題ないとしても、修正できる位置が定
まつていない場合は測定できないのが実情であ
る。
本考案はこのような従来の欠点を解決した測定
装置を提供しようとするものである。
本考案の振動不つりあい測定装置は、面分離さ
れた出力を修正面までの距離に基づいて換算する
演算回路と、演算回路からの出力を入力してその
修正面での不つりあい量を表示する機構と面分離
の基礎となる面と修正面との距離を任意に調整す
る機構とさらには面分離の基礎となる面すなわち
測定面と修正面との設定の切換えをすることがで
きる切換機構を併せ備えたものである。
以下図面に示される実施例に従つてこの考案を
説明する。
第1図において被測定物1は例えばロータであ
り、測定面はLとRの2面が設定される。ロータ
1は支軸2の両端の2点で軸受3を介して支承さ
れる。軸受3はばね4を介して支持され、したが
つてロータ1がモータ(図示略)を介して間接的
に回転駆動されると、不つりあいが存在すればロ
ータに振動が発生し、この振動が支承部に設置さ
れた検出器(第1図においては図示省略)によつ
て電気的に検出される。
この検出器からの出力がL面、R面で修正面分
離が行なわれ、その結果測定された不つりあい量
をUL,URとする。この不つりあい量はベクトル
値である。ところでロータ1はL′面、R′面にお
いて修正可能とすると、前記不つりあい量UL,
URをこのL′面、R′面における不つりあい量に換
算しなければならない。
今L′面、R′面に換算された不つりあい量(ベ
クトル値)をUL′,UR′とし、L,R両面とL′,
R′両面のそれぞれの間隔を第1図のとおりa,
b,cで表わすと、次の式が成立する。
UL′=b/b−aUL+c−b/b−aUR …(1) UR′=a/b−aUL+c−a/b−aUR …(2) したがつてこの(1)式および(2)式の計算(演算)
を行なう演算回路にUL,URの不つりあい量を入
力することにより修正面L′,R′での不つりあい
量を得ることができるのである。
またロータ1あるいは他の被測定物によつては
最初の設定面すらわち面分離を行なわせる面L,
Rと修正面L′,R′がどの位置に設定されるかは
被測定物により決定される事項であり、したがつ
て第2図に示すとおり測定位置設定の切換スイツ
チ13〜13を設置すると有利である。この
スイツチ13〜13は測定面と修正面の四つ
の面位置に対応してそれぞれ設けられた対をなす
押しボタン式でスイツチ13と13と押すと
L,Rが測定面となりL′,R′が修正面となる。
またスイツチ13と13を押すとL′,R′面
が測定面となり、L,Rが修正面となる。また測
定面切換スイツチ19はMとM′に分れていて後
述するとおりMに倒すと測定面L,Rでの不つり
あいが測定されM′に倒すと修正面L′,R′での不
つりあい量が測定される。
14〜16はそれぞれ距離a,b,cの値を設
定するダイヤルで修正面L′,R′が定められる
と、その値に調整され設定されるようになつてい
る。
第3図は以上のような測定を実施する具体的な
装置の構成を示すもので、図において5,6が振
動を検出し電気信号を出力する検出器でその出力
は面分離回路7に入力される。面分離回路7から
のそれぞれの出力は校正回路8,9、増幅器1
0,11を介して演算回路12に入力される。こ
の演算回路12は前記(1)式、(2)式の演算を行なう
回路であり、面分離が行われた出力の修正面にお
ける換算が行なわれる。13は既述のとおり測定
位置設定切換スイツチであり第2図のとおり4個
で構成されている。そして14〜16は距離設定
ダイヤルである。
17,18は修正面の半径補正回路であり、こ
の回路17,18からの出力は切換スイツチ19
を経て不つりあい量指示計22,23にて表示さ
れる。20,21は位相検出回路であり24,2
5は不つりあい角度指示計である。
本考案の不つりあい測定装置の構成は上述のと
おりであるが基本的な構成は測定面から修正面へ
の不つりあい量の換算を行なう演算回路とその演
痕回路からの出力を指示する機構と、測定面と修
正面との距離を自在に調整できる機構を設けてい
る。本考案の装置によれば修正面の位置がいかな
る位置に存在しても測定できる。
また演算回路については図示例の場合アナログ
演算回路であるが、A−D変換器と電子計算機を
用いて演算しデジタル表示、またはD−A変換器
を介しアナログ表示するようにすることもでき
る。もちろんこの場合演算する(1)式2式はベクト
ル式であるから不つりあいベクトルをたとえば
xy直交座標表示Ux,Uyに変形するか、またはUr
θなる極座標表示に変形し、すなわち二つのスカ
ラ成分に変換したのち数値計算する必要がある。
本考案の振動形不つりあい測定装置は以上のと
おりであるから、修正面分離の演算回路を1回設
定することによりいかなる位置でも測定できる。
また特に修正面分離を設定するためにためしおも
りを付加できない位置や軸受位置などでの測定が
可能となる。特に本考案では測定面と修正面との
切換えを押しボタンと切換スイツチにより行なう
ので操作が容易であり、また修正面位置(L′と
R′)測定位置(LとR)に一致させ、すなわち
スイツチ13〜13を全て押すと静不つりあ
い測定も可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の測定原理を説明するための
図、第2図は本考案の概略を示す図、第3図は本
考案の構成一例を示す図である。 1……ロータ、3……軸受、5,6……検出
器、7……面分離回路、12……演算回路、13
……測定位置設定切換スイツチ、14,15,1
6……距離設定ダイヤル、19……切換スイツ
チ、22,23……不つりあい量指示計、24,
25……不つりあい角度指示計、L,R……測定
面、L′,R′……修正面。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 被測定物を2点で回転自在に支承しその回転時
    における不つりあいによる振動を前記2点で検出
    するそれぞれの検出器と、この検出器からの検出
    信号を被測定物の二つの測定面での不つりあい量
    に分離して出力する面分離回路とを備え、この面
    分離回路からの出力により不つりあいを測定する
    ようにした装置において、前記面分離回路からの
    出力を前記被測定物の二つの測定面からそれぞれ
    任意の位置の二つの修正面における不つりあい量
    に換算する演算回路と、前記二つの測定面から修
    正面までのそれぞれの距離を任意の値に設定でき
    る設定機構と、これら四つの面のうち両側二つの
    面を測定面か修正面に切換え、内側二つの面を修
    正面か測定面に切換える切換機構と、前記演算回
    路からの出力信号により前記任意の修正面の不つ
    りあいを指示する指示機構とを備え、前記切換機
    構は、前記四つの面の位置に対応して設けられた
    四個の対をなす押ボタンと、切換えた測定面で不
    つりあい測定を可能にする切換スイツチとで構成
    したことを特徴とする振動形不つりあい測定装
    置。
JP1986041572U 1986-03-20 1986-03-20 Expired JPS6227864Y2 (ja)

Priority Applications (1)

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JP1986041572U JPS6227864Y2 (ja) 1986-03-20 1986-03-20

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Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS61167540U JPS61167540U (ja) 1986-10-17
JPS6227864Y2 true JPS6227864Y2 (ja) 1987-07-17

Family

ID=30551525

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1986041572U Expired JPS6227864Y2 (ja) 1986-03-20 1986-03-20

Country Status (1)

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JP (1) JPS6227864Y2 (ja)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS51149083A (en) * 1975-04-30 1976-12-21 Hoofuman Kg Mashiinenfuaburiik Method and device for measuring imbalance

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS51149083A (en) * 1975-04-30 1976-12-21 Hoofuman Kg Mashiinenfuaburiik Method and device for measuring imbalance

Also Published As

Publication number Publication date
JPS61167540U (ja) 1986-10-17

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