JPS62273421A - コヒ−レント反スト−クスラマン分光装置 - Google Patents

コヒ−レント反スト−クスラマン分光装置

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JPS62273421A
JPS62273421A JP11457086A JP11457086A JPS62273421A JP S62273421 A JPS62273421 A JP S62273421A JP 11457086 A JP11457086 A JP 11457086A JP 11457086 A JP11457086 A JP 11457086A JP S62273421 A JPS62273421 A JP S62273421A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
coherent anti
stokes raman
laser light
filter
Prior art date
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Pending
Application number
JP11457086A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenji Tochigi
栃木 憲治
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ム 発明の詳細な説明 〔産業上の利用分野) 本発明は、低濃度成分の検出感度が向上されたコヒーレ
ント反ストークスラマン分元装fftK係シ、特にコヒ
ーレント反ストークス光検出信号のSN比が大幅に向上
されるようにしたコヒーレント反ストークスラマン分光
装置に関するものである。
〔従来の技術」 従来の装置にあっては、特開昭59−61758号公報
に記載のように、コヒーレント反ストークスラマン光に
重畳された励起パルスレーザ光を1個の分離プリズムに
より予備的に一部分離・減少させ、その後2重ないし3
重モノクロメータによって更に分離することにより、コ
ヒーレント反ストークスラマン光のSN比向上か図られ
るようになっている。
〔発明が解決しようとする問題点J しかしながら、上記従来技術による場合、迷光除去能力
は10 〜10  程度であり、io  w程度の波長
固定励起パルスレーザ光に起因する迷光量は1mW〜1
0μWに達する。これは、例えば1〜0jtorr以下
の低圧ガスからのコヒーレント反ストークスラマン光量
に比べて102以上大きく、シたがって、コヒーレント
反ストークス光量と励起パルスレーザ光迷光量の比が実
質的lSN比を与えるコヒーレント反ストークスラマン
分光装置では、低!1度成分の検出が不可能になるとい
う問題がめる。
本発明の目的は、成長固定励起パルスレーザ光に起因す
る迷光量を従来より更に10−〜10  程度低減させ
ることによって、低濃度成分の検出を可能とするコヒー
レント反ストークスラマン分光装置を供するKある。
〔問題点を解決するための手段j 上記目的は、被測定物質からのコヒーレント反ストーク
スラマン光に重畳されている波長固定励起パルスレーザ
光をダイクロイックフィルタによって相当減少させたう
え、これらの光をフィルタ面での成長固定励起パルスレ
ーザ光の反射率が小さく抑えられた1対の干渉フィルタ
間で多重反射させることによって達成される。
〔作用J 被測定物質から発生するコヒーレント反ストークスラマ
ン光とこれに重畳されている10MWの波長固定励起パ
ルスレーザ光はダイクロイックフィルタに入射するが、
フィルタ面を透過後の波長固定励起パルスレーザ光量け
1/1oのIMW程度以下に抑えられたものとして、ま
た、コヒーレント反ストークスラマン光は80チ以上透
過したものとして得られるようになっている。これらは
この後更に平行に配置された1対の干渉フィルタ面に入
射しn回反射されることによって波長固定励起パルスL
/−fitld (0−1)  に、また、コヒーレン
ト反ストークスラマン光量は(0,95)  に減少す
るものとなっている。nの値を4〜8に設定することに
よって最終的な迷光量は10−5〜10−9に、′マ念
、コヒーレント反ストークスラマン光tu81チ〜66
%程度とな)、この後更に2重ないし3重モノクロメー
タで分光することによって8X10’〜6X108程度
SN比を改善し得るものである。
なお、コヒーレント反ストークスラマン光と同様に波長
固定励起パルスレーザ光よりも長波長の第2の彼長町変
パルスレーザ光も干渉フィルタ部を透過し2重ないし3
重モノクロメータに入射するが、コヒーレント反ストー
クスラマン光波長と波長差が太さいため迷光とはならな
い。また、ダイクロイックフィルタが要されているのは
、これは、V長固定励起パルスレーザ光は10MIV程
度であり、これを干渉フィルタ面に直接入射せしめる場
合は、そのフィルタ面が破損されるからである。よって
、ダイクロイックフィルタによる前処理によって、波長
固定励起パルスレーザ光を抑える必要があるものである
〔実施例) 以下、本発明による装置の一実施例での要部構成を、添
附した図により説明する。図示の如く波長固定励起パル
スレーザ光1はこれよシも長波長の第2の波長可変パル
スレーザ光2とともに集光レンズ3により測定セル4に
集光されるようになっている。これによって測定セル4
から新たに発生するコヒーレント反ストークスラマン光
5はそれらパルスレーザ光1,2とともに集光レンズ6
で平行光線に戻されたうえダイクロイックフィルタ7に
入射されるものとなっている。ダイクロイ、りばラー7
の特性によって成長固定励起パルスレーザ光1および波
長可変パルスレーザ光2r/iその光量が’/lo以下
に減衰されるも、コヒーレント反ストークスラマン光は
その80%以上が透過するようになっている。ダイクロ
イックフィルタ7からのそれらレーザ元1,2およびコ
ヒーレント反ストークスラマン光5けフィルタ面に対し
30゜の入射角で、平行に配置された干渉フィルタ8゜
9のうち、1万の干渉フィルタ8へ入射するが、この干
渉フィルタ8で波長固定励起パルスレーザ光1の10%
が反射される一方、他方の波長可変パルスレーザ光2お
よびコヒーレント反ストークスラマン光5け95%が反
射され、次いで他方の干渉フィルタ9に入射するように
なっている。この干渉フィルタ9でも更に波長固定励起
パルスレーザ九1の10%が反射されるが、波長可変パ
ルスレーザ元2およびコヒーレント反ストークスラマン
光5は95%が反射されるようになっている。
この後は更に干渉フィルタ8,9で2回反射されること
によって、波長固定励起パルスレーザ光1は光波が測定
セル4から透過したときの光量の10−5に、また、波
長可変パルスレーザ元2は測定セル4から透過したとき
の光量の10−1に減少されるものである。これに対し
コヒーレント反ストークスラマン光5は測定セル4から
発生したときの光量の65係に減少されるだけであり、
これが集光レンズ10によって2重モノクロメータ入射
スリット11に集光されるようになっている。実に迷光
量は10−5に減少されるものである。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明による場合は、波長固定励起
パルスレーザ光に起因する迷光量を大幅に低減し得るこ
とから、したがって、コヒーレント反ストークス元検出
信号のSN比が大幅に向上されることになり、低濃度成
分の検出感度もそれに応じて向上されるという効果かめ
る。
【図面の簡単な説明】
ス厨は、本発明による装置における一例での要部構成を
示す図である。 1・・・波長固定励起用パルスレーザ光、2・・・波長
可変励起用パルスレーザ光、3,6・・・集光レンズ、
4・・・測定セル、5・・・コヒーレント反ストークス
ラマン光、7・・・ダイクロイックフィルタ、8,9・
・・干渉フィルタ 、′?¥・、 代理人 弁理士 小川勝男 −71、

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、発振波長固定の励起用の第1のパルスレーザと、該
    レーザで励起され、被測定物質のストークスラマン振動
    数に一致した波長を発振する第2のパルスレーザと、該
    レーザおよび上記第1のレーザの光を被測定物質に照射
    集光する光学系と、照射部から放出される第3のレーザ
    状コヒーレント反ストークスラマン光を集光する光学系
    と、該ラマン光を検出・記録する検出・増幅部とからな
    るコヒーレント反ストークスラマン分光装置において、
    照射部から放出されるコヒーレント反ストークスラマン
    光と該ラマン光に重畳された第1のパルスレーザ光を、
    第1のパルスレーザ光より長波長の光の透過率が10%
    以下で、第1のパルスレーザ光より短波長のコヒーレン
    ト反ストークスラマン光の透過率が80%以上の特性を
    有するダイクロイックフィルタを通過せしめたうえ、フ
    ィルタ面への入射角が30°以下の場合に第1のパルス
    レーザ光の反射率が10%以下で、コヒーレント反スト
    ークスラマン光反射率が95%以上の特性を有する、平
    行に配置された1対の干渉フィルタ間で多重反射させる
    べくなした構成を特徴とするコヒーレント反ストークス
    ラマン分光装置。
JP11457086A 1986-05-21 1986-05-21 コヒ−レント反スト−クスラマン分光装置 Pending JPS62273421A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0764844A2 (en) * 1995-09-20 1997-03-26 Kyoto Dai-ichi Kagaku Co., Ltd. Method and apparatus for analysis by light scattering
WO2020026313A1 (ja) * 2018-07-30 2020-02-06 株式会社島津製作所 分光装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0764844A2 (en) * 1995-09-20 1997-03-26 Kyoto Dai-ichi Kagaku Co., Ltd. Method and apparatus for analysis by light scattering
EP0764844A3 (en) * 1995-09-20 1997-06-25 Kyoto Daiichi Kagaku Kk Method and device for analysis by means of light scattering
WO2020026313A1 (ja) * 2018-07-30 2020-02-06 株式会社島津製作所 分光装置

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