JPS62266407A - 透明体の真円度測定装置 - Google Patents

透明体の真円度測定装置

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JPS62266407A
JPS62266407A JP10987286A JP10987286A JPS62266407A JP S62266407 A JPS62266407 A JP S62266407A JP 10987286 A JP10987286 A JP 10987286A JP 10987286 A JP10987286 A JP 10987286A JP S62266407 A JPS62266407 A JP S62266407A
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JP
Japan
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transparent object
center
light
roundness
Prior art date
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Pending
Application number
JP10987286A
Other languages
English (en)
Inventor
Noriaki Fujiwara
憲明 藤原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Works Ltd filed Critical Matsushita Electric Works Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [技術分野] 本発明は、円形部を有する透明体の真円度を測定する透
明体の真円度測定装置に関するものである。
【背景技術1 従来、この種の透明体の真円度測定!II!!は、円形
部を有するプラスチックやアクリル等で形成された透明
体の真円度を測定するものであり、接触式の真円度測定
装置が一般的に用いられていた。
この接触式の真円度測定装置では、透明体の円形部の表
面に測定ヘッド等を接触させ、円形部の表面に沿って上
記測定ヘッドを回転させて透明体の円形部の真円度を測
定する。ところが、この種の接触式の真円度測定Wc置
では、透明体の表面に測定ヘッド等を接触させて回転す
るため、透明体の表面に傷を付けてしまう問題があった
[発明の目的] 本発明は上述の、αに鑑みて為されたものであり、その
目的とするところは、透明体の表面に傷を付けることが
ない透明体の真円度測定装置を提供することにある。
[発明の開示J (実施例) 第1図乃至第4図は本発明の一実施例を示す図であり、
本実施例は真円度を光を用いて測定することにより、非
接触で真円度の測定を行うものである。このため本実施
例では、透明体1に光を投受光する測定へラド14を用
い、この測定ヘッド14を光センサである光フアイバセ
ンサ3と、この光7アイパセンサ3の投光ビームを集光
して透明体1に投光させるレンズ系2とで構成しである
光フアイバセンサ3は、一般に知られているようにそれ
自体で変位計として用いることができるもので、投光フ
ァイバと受光7アイパとからなり、投光ファイバから投
光された光がどれだけ受光ファイバによって受光される
かによって距離を測定する装置に用いられるものである
。そして、上記レンズ系2が装ya?!−れた筒体の後
端に筒状の光7アイパセンサ3を取着することにより測
定へラド14が形成されている。
この測定ヘッド14にてどのように透明体1の真円度の
□測定を行うかについて説明する。なお、本実施例の透
明体1は円柱状のものである。上記光フアイバセンサ3
の投光7アイパから投光された投光ビームを、レンズ系
2にて集光して透明体1の表面に投光し、レンズ系2の
焦点が透明体1の表面に一致したとき、透明体1の表面
にて反射された反射光を受光する光7Tイパセンサ3の
受光7フイパ出力が低下する現象、厳密にはヌルポイン
トが現れる現象が起こる。従って、この現象により透明
体1の円形部の中心からの表面位置を知ることができ、
さらに透明体1の全周に亘って上記透明体1の中心から
の表面位置を求めることにより、真円度を測定できるわ
けである。
このため、本実施例でlよ透明体1の表面一点の中心か
らの位置を検出する構成として、上記測定へラド14を
所定距離ずつ透明体1の中心方向に移動させる移動手段
と、この移動手段の移動毎の測定ヘッド14出力、つま
り光7アイパセンサ3の受光出力からヌルポイントを検
出し、この時の移動手段の位置あるい1よ移動距離から
透明体1の中心からの表面位置を検出する検出手段とを
備えている。移動手段は測定へラド14が固定して載置
される近接テーブル4と、透明体1の中心方向に所定1
!離ずつ上記近接テーブル4を移動させるステッピング
モータ5とで構成しである。そして検出手段は、測定へ
ラド14の受光出力を増幅するアンプ8と、このアンプ
8出力をディジタル値に変換するA/Dコンバータ9と
、このA/Dコンバータ9出力からヌルポイントを検出
することにより透明体1の中心からの表面位置を算出す
るマイクロコンビエータ等からなる演算処理回路13と
で構成しである。そして、上記測定へラド14、移動手
段、及び検出手段による透明体1の表面一点の位置検出
の測定を、所定角度毎に透明体1の全周に亘って行わせ
る手段として回転手段を備えている。この回転手段は、
透明体1を11置する回転テーブル6と、この回転テー
ブル6を回転させるステッピングモータ7とで構成しで
ある。
このように回転手段及び移動手段にステッピングモータ
5,7を用いることにより、回転移動距離あるいは移動
距離をミクロン単位で行うことができる。また、上記ス
テッピングモータ5,7の駆動制御は演算処理回路13
にて1llljされ、この演算処理回路13、ステッピ
ングモータ5,7を駆動するドライバ10,11、及び
演算処理回路13出力を上記ドライバio、tiに出力
するパラレルI10ボート12で駆動制御手段を構成し
である。
以下、本実施例の測定動作について第2図の70−チャ
ートに従って説明する。まず、回転テーブル6を初期位
置にセットして固定する1次に演算処理回路13出力が
パラレルI10ボート12を介してドライバ10に入力
され、このドライバ10出力にてステッピングモータ5
が駆動され、透明体1から所定距離離れた位置である初
期位置にある近接テーブル4が所定距離ずつ透明体1の
表面に近付けられる。この近接テーブル4が移動する毎
に光フアイバセンサ3にて投受光が行なわれ、つまり、
透明体1に投光ファイバからレンズ系2を介して投光ビ
ームが投光され、透明体1にて反射された反射光を受光
ファイバにて受光する。
さらにこの測定へラド14の受光出力はアンプ8及びA
/Dフンバータ9を介して演算処理回路13に入力され
、演算処理回路13にて記憶される。
そして、次に近接テーブル4が透明体1に所定距離近接
したときに演算処理回路13に入力されたデータは、上
記データと比較され、以降上述の比較動作を順次繰り返
す、そして、レンズ系2の焦点が透明体1の表面に近付
くと、演算処理回路13に入力されるデータは減少し、
ある近接テーブル4の移動後の出力にてデータが増加す
る点、つまりヌルポイン)Pが現れる。ここで、移動手
段が透明体1に近付くに連れて変化する測定へラド14
の受光出力について第3図に従って説明する。
初期位置から近接テーブル4が透明体1に近付くと、こ
れに連れて受光出力は増加していく、そして、レンズM
2の焦点が透明体1の表面に一致するとき一旦急激に減
少してさらに増加する、つまリヌルポイントPが現れる
。そして、さらに近接テーブル4が透明体1に近付くに
従って受光出力は増加してピーク、αを境にして減少す
る。上記ヌルポイントPがレンズ系2の焦点が透明体1
の表面に一致したことを示すものである。従って、ヌル
ポイントPを検出し、このヌルポイントPが発生したと
、!にの近接テーブル4の位gi等がら透明体1の表面
位置を演算処理回路13にて算出する。
このようにして、透明体1の表面−息の位置を求めた後
には、演算処理回路13出力がパラレルI10ボート1
2を介してドライバ11に出力され、ドライバ11出力
にてステッピングモータ7を駆動することにより、回転
テーブル6を所定角度回転する。そしてこのとト同時に
、近接テーブル4を透明体1から離れる方向に移動して
初期位置にセットし、上述と同様にして近接テーブル4
を所定距離ずつ透明体1に近接させてヌルポイン)Pを
検出して、透明体1の中心からの表面位置を求める。以
下、回転テーブル6が360度回松するまで上記測定を
繰り返す。なお、念のために述べておくが、近接テーブ
ル4が一番透明体1に接近した位置でも測定へラド14
の先端が透明体1に接触することはない、このときの演
算処理回路13出力にて求めた透明体1の中心から表面
までの距離を真円グラフとしてブロック等にてグラフ化
して打ち出して測定を終了する。このグラフを第4図に
示す、この測定値の最大値及び最小値を求めることによ
り、真円度が算出できる。なお、この真円度の算出を演
算処理回路13にて行うことも可能である。
[発明の効果] 本発明は上述のように、円形部を有する透明体の円形部
の中心に向かってシン:X:系を介して光を集光して投
光するとともに、透明体にて反射された反射光を上記レ
ンズ系を介して受光する光センサと、この光センサを透
明体の中心方向に移動させる移動手段と、上記透明体あ
るいは光センサのいずれか一方を透明体の円形部の中心
を紬として回転する回転手段と、この回転手段を所定角
度回転させるとともに、回転手段を所定角度回転させる
毎に移動手段を透明体の中心方向に移動させる駆動制御
手段と、上記移動手段の移動時における光センサの受光
出力から透明体の円形部の中心からの表面位置を検出す
る検出手段とを備えているので、移動手段にて投受光手
段を透明体の中心方向に移動させながら、投受光手段に
て光をレンズ系にて集光して投光するとともに、透明体
の表面にて反射された光を受光し、検出手段にて移動手
段の移動時の投受光手段の受光出力から透明体の中心か
らの表面位置を求め、さらに、回転手段にて透明体ある
いは光センサのいずれかを所定角度回転して上記透明体
の中心からの表面一点の位置を求める測定を360度ま
で繰り返して行うことにより、透明体の真円度を求める
ことができ、このように光センサを用いて透明体の中心
からの表面位置を検出することにより、透明体の表面に
測定ヘッド等を接触させることなく真円度の測定を行う
ことができ、従って、透明体の表面に傷を付けることが
なく、機能材料の評価のために製品と実験サンプルを別
に作るといった手間を省くことかで慇る効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の概略構成を示す回路図、第
2図は同上の動作説明図、第3図及び第4図は同上の測
定値を示す説明図である。 1は透明体、2はレンズ系、3は光フアイバセンサ、4
は近接テーブル、5,7はステッピングモータ、6は回
転テーブル、8はアンプ、9はA/Dコンバータ、10
.11はドライバ、12はパラレルI10ボート、13
は演算処理回路、14は測定ヘッドである。 代理人 弁理士 石 1)長 七 第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)円形部を有する透明体の円形部の中心に向かって
    レンズ系を介して光を集光して投光するとともに、透明
    体にて反射された反射光を上記レンズ系を介して受光す
    る光センサと、この光センサを透明体の中心方向に移動
    させる移動手段と、上記透明体あるいは光センサのいず
    れか一方を透明体の円形部の中心を軸として回転する回
    転手段と、この回転手段を所定角度回転させるとともに
    、回転手段を所定角度回転させる毎に移動手段を透明体
    の中心方向に移動させる駆動制御手段と、上記移動手段
    の移動時における光センサの受光出力から透明体の円形
    部の中心からの表面位置を検出する検出手段とを備えて
    成ることを特徴とする透明体の真円度測定装置。
JP10987286A 1986-05-14 1986-05-14 透明体の真円度測定装置 Pending JPS62266407A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10987286A JPS62266407A (ja) 1986-05-14 1986-05-14 透明体の真円度測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10987286A JPS62266407A (ja) 1986-05-14 1986-05-14 透明体の真円度測定装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS62266407A true JPS62266407A (ja) 1987-11-19

Family

ID=14521329

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10987286A Pending JPS62266407A (ja) 1986-05-14 1986-05-14 透明体の真円度測定装置

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JP (1) JPS62266407A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111795651A (zh) * 2020-07-06 2020-10-20 安徽工程大学 一种运用机械手臂测量大型回转体参数的方法及设备

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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