JPS62265561A - 回転型渦電流探傷子 - Google Patents
回転型渦電流探傷子Info
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- JPS62265561A JPS62265561A JP61109083A JP10908386A JPS62265561A JP S62265561 A JPS62265561 A JP S62265561A JP 61109083 A JP61109083 A JP 61109083A JP 10908386 A JP10908386 A JP 10908386A JP S62265561 A JPS62265561 A JP S62265561A
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- Japan
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- shell
- shells
- detection sensor
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- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 abstract description 7
- 230000035939 shock Effects 0.000 abstract description 2
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、例えばP W Rプラント蒸気発生器の伝熱
管検査用として好適な回転型渦電流探傷子に関する。
管検査用として好適な回転型渦電流探傷子に関する。
従来の回転型渦電流探傷子は、基軸の周囲に回転部を装
着した簡単な構造のものが多かった。
着した簡単な構造のものが多かった。
しかるに、このような構造の従来の回転型渦電流探傷子
では、構造的に信頼性が低い欠点があった。すなわち、
P W Rプラント蒸気発生器の伝熱管のようなm管へ
の挿入時において発生する衝撃が、回転主要部に加わり
易く、故障を起こし易い欠点があった。したがって信頼
性の高い動作が期待できなかった。またこのような欠点
を除去すべく、回転部をケース内に収容したものにする
と、探傷センサーの細管内表面に対する密着性が悪くな
り、S/Nの大きな探傷信号を得ることができないとい
う問題があった。
では、構造的に信頼性が低い欠点があった。すなわち、
P W Rプラント蒸気発生器の伝熱管のようなm管へ
の挿入時において発生する衝撃が、回転主要部に加わり
易く、故障を起こし易い欠点があった。したがって信頼
性の高い動作が期待できなかった。またこのような欠点
を除去すべく、回転部をケース内に収容したものにする
と、探傷センサーの細管内表面に対する密着性が悪くな
り、S/Nの大きな探傷信号を得ることができないとい
う問題があった。
そこで本発明は、細管への探傷子挿入時に発生する衝撃
が回転主要部に加わらない構造を有し、故障発生が少な
く信頼性の高い動作がW4+!1できる上、探傷センサ
ーの細管内表面に対する密着性が高められ、S / N
の大きな探1賜信号を得ることのできる回転型渦電流探
傷子を提供することを目的とする。
が回転主要部に加わらない構造を有し、故障発生が少な
く信頼性の高い動作がW4+!1できる上、探傷センサ
ーの細管内表面に対する密着性が高められ、S / N
の大きな探1賜信号を得ることのできる回転型渦電流探
傷子を提供することを目的とする。
本発明は上記問題点を解決し目的を達成するために、次
のような手段を講じた。
のような手段を講じた。
■所定長の中空シャフトなどからなる基軸を設ける。
■この基軸の中央部位において各一端が所定距離を隔て
て対向する如く、二つの外筒を上記基軸の両側部位にそ
れぞれ固定する。
て対向する如く、二つの外筒を上記基軸の両側部位にそ
れぞれ固定する。
■この二つの外筒の前記対向端相互間において回転駆動
されるように、例えば空気力により回転する中空シャフ
トを介して前記基軸に装着され、かつ回転時の遠心力で
外周部が前記外筒の外径より径大化するように例えばブ
レーキシュー形のシェルを設ける。
されるように、例えば空気力により回転する中空シャフ
トを介して前記基軸に装着され、かつ回転時の遠心力で
外周部が前記外筒の外径より径大化するように例えばブ
レーキシュー形のシェルを設ける。
■このシェルの外周部に探傷センサーを取付ける。
■この探(易センサーからの探傷信号を外部に取出す手
段を設ける。
段を設ける。
■そして、前記二つの外筒には、例えばパンタグラフ式
:J芯ユニットからなる調芯機構をそれぞれ設ける。
:J芯ユニットからなる調芯機構をそれぞれ設ける。
このような手段を講じたことにより、回転主要部の大部
分が、固定化された外筒内に収容され、かつ細管への挿
入時においてはシェルの外周部は外筒の外径より小さい
ので、挿入時の#i撃を回転主要部に与えずに済む。ま
た調芯機構による調芯作用とシェルの遠心力による径大
化作用との相乗作用により、探傷センサーのll1l管
内表面に対する密着性が高められることになる。
分が、固定化された外筒内に収容され、かつ細管への挿
入時においてはシェルの外周部は外筒の外径より小さい
ので、挿入時の#i撃を回転主要部に与えずに済む。ま
た調芯機構による調芯作用とシェルの遠心力による径大
化作用との相乗作用により、探傷センサーのll1l管
内表面に対する密着性が高められることになる。
第1図は本発明の一実施例である高速回転型渦電流探傷
子の全体構成を一部切断して示す側面図である。第2図
(a)〜(f)は第1図の高速回転型渦電流探傷子にお
ける主要な構成要素をそれぞれ個別に取出して示す斜視
図である。
子の全体構成を一部切断して示す側面図である。第2図
(a)〜(f)は第1図の高速回転型渦電流探傷子にお
ける主要な構成要素をそれぞれ個別に取出して示す斜視
図である。
第1図の中央部位に示しである1 (1a、1b)は渦
電流探lセンサーであり、これらの渦電流探傷セン+j
−1(1a、 1 b)は、シェル2 (2a。
電流探lセンサーであり、これらの渦電流探傷セン+j
−1(1a、 1 b)は、シェル2 (2a。
2b)に埋設されている。シェル2a、2bは概略半円
弧形をなし、その外周部は検査対象となる細管の内径に
ほぼ等しく定めである。なおセンサー1a、lbはブレ
ーキシュー形のシェル2a。
弧形をなし、その外周部は検査対象となる細管の内径に
ほぼ等しく定めである。なおセンサー1a、lbはブレ
ーキシュー形のシェル2a。
2bの外周部から突出しないように取付けられている。
また、シェル2a、2bには接触ベアリング3a、3b
が取付けてあり、シェル2a、2bの外周部がm管の内
面に直接接触しないようになっている。
が取付けてあり、シェル2a、2bの外周部がm管の内
面に直接接触しないようになっている。
シェル2a、2bの各一端にはシャフト4a。
4bが互いに反対方向へ突出する如く設けられている。
このシャフト4a、4bは軸受板5a。
5bの各軸穴に挿入され、支持されている。軸受板5a
、5bは、一端にタービンフィン6を有する中空シャフ
ト7の外周に対し固定されている。
、5bは、一端にタービンフィン6を有する中空シャフ
ト7の外周に対し固定されている。
軸受板5a、5bに隣接した位″鷹の中空シャフト7の
外周には、ベアリング8 a ン8 bが装着されでい
る。中空シャフト7の図中左端には回転トランス9(ス
リップリングであってもよい)の1次側9aが取り付け
られている。
外周には、ベアリング8 a ン8 bが装着されでい
る。中空シャフト7の図中左端には回転トランス9(ス
リップリングであってもよい)の1次側9aが取り付け
られている。
前記シェル2a、2bの両端どうしはコイルバネ10a
、10bによって連結されており、静止状態において、
その外径が最小になるように引っばられている。コイル
バネ10a、10bのバネ定数は、シェル2a、 2b
に高速回転による遠心力が作用した場合、シェル2a、
2bがシャフト4a、 4bを中心として外側に押し出
されるように設定されている。また、センサー1a、1
bのリード線は各々回転トランス9の1次側9aに接続
されている。
、10bによって連結されており、静止状態において、
その外径が最小になるように引っばられている。コイル
バネ10a、10bのバネ定数は、シェル2a、 2b
に高速回転による遠心力が作用した場合、シェル2a、
2bがシャフト4a、 4bを中心として外側に押し出
されるように設定されている。また、センサー1a、1
bのリード線は各々回転トランス9の1次側9aに接続
されている。
中空シャフト7の内部には、基軸としての中空シャフト
11が取挿されている。この中空シャフト11の外径は
、中空シャフト7の内径より若干小さく設定してあり、
、中空シャフト7が、基軸としての中空シャフト11の
外周で内情に回転し得るようになっている。この中空シ
ャフト11の図中右端外周には、蓮根状の穴を設けた支
持部材としての円盤12が嵌合固定されている。また中
空シャフト11の図中左端には同じく支持部材として円
盤13が嵌合固定されている。
11が取挿されている。この中空シャフト11の外径は
、中空シャフト7の内径より若干小さく設定してあり、
、中空シャフト7が、基軸としての中空シャフト11の
外周で内情に回転し得るようになっている。この中空シ
ャフト11の図中右端外周には、蓮根状の穴を設けた支
持部材としての円盤12が嵌合固定されている。また中
空シャフト11の図中左端には同じく支持部材として円
盤13が嵌合固定されている。
円112およびベアリング8aに内周面を当接させた状
態で、空気吹き出し口14を有する外筒15aが嵌込ま
れている。この外筒15aの図中右方内部には、アーム
16a、16b、ベアリング17a、固定軸18a、滑
動軸19a、コイルバネ20a、先端子21aからなる
調芯R構としてのパンタグラフ式調芯ユニットが嵌挿さ
れている。ここでコイルバネ20aは、パンタグラフを
押圧してベアリング17aを常に外11115aの外へ
押し出すように作用する。
態で、空気吹き出し口14を有する外筒15aが嵌込ま
れている。この外筒15aの図中右方内部には、アーム
16a、16b、ベアリング17a、固定軸18a、滑
動軸19a、コイルバネ20a、先端子21aからなる
調芯R構としてのパンタグラフ式調芯ユニットが嵌挿さ
れている。ここでコイルバネ20aは、パンタグラフを
押圧してベアリング17aを常に外11115aの外へ
押し出すように作用する。
円盤13およびベアリング8bに内周面を当接させた状
態で、他方の外fffi15bが嵌込まれている。この
外筒15bの内周面には回転トランス9の2次側9bが
固定されている。外筒15bの図中左方内部には、アー
ム16c、16d、ベアリング17b、中空の固定軸1
8b、滑動軸19b。
態で、他方の外fffi15bが嵌込まれている。この
外筒15bの内周面には回転トランス9の2次側9bが
固定されている。外筒15bの図中左方内部には、アー
ム16c、16d、ベアリング17b、中空の固定軸1
8b、滑動軸19b。
コイルバネ20b、基端′子21bからなるパンタグラ
フ式調芯ユニットが嵌挿されている。ここでコイルバネ
20bは、パンタグラフを押圧してベアリング17bを
常に外筒15bの外へ押し出すように作用する。
フ式調芯ユニットが嵌挿されている。ここでコイルバネ
20bは、パンタグラフを押圧してベアリング17bを
常に外筒15bの外へ押し出すように作用する。
上記外筒15bの図中左端には、可撓性の案内管(例え
ばナイロン、ポリエチレンチューブ等)22が、接続具
23を介して接続されて、いる。前記回転トランス9の
2次側9bは、上記可撓性の案内管22に嵌挿されてい
るリード線(不図示)により渦電流探傷器(不図示)に
接続されており、探1m信号を取出し得るものとなって
いる。また、案内管22は適当な空気圧源に接続されて
いる。
ばナイロン、ポリエチレンチューブ等)22が、接続具
23を介して接続されて、いる。前記回転トランス9の
2次側9bは、上記可撓性の案内管22に嵌挿されてい
るリード線(不図示)により渦電流探傷器(不図示)に
接続されており、探1m信号を取出し得るものとなって
いる。また、案内管22は適当な空気圧源に接続されて
いる。
次にこのように構成された本実施例の探傷子の作用を説
明する。探傷を行なうべく探傷子を被検査体であるIO
管内に挿入する場合には、空気を供給しない状態で先端
子21aから挿入する。このとき、シェル2a、2bは
最小径の状態になっているので、探傷センサーia、i
bは外筒15a。
明する。探傷を行なうべく探傷子を被検査体であるIO
管内に挿入する場合には、空気を供給しない状態で先端
子21aから挿入する。このとき、シェル2a、2bは
最小径の状態になっているので、探傷センサーia、i
bは外筒15a。
15bの外周面より内方に位置し、外方へは突出してい
ない。このため探傷子全体はスムーズに細管内に挿入さ
れる。また、先端子21aが例えば挿入時においてIB
管の入口に付き当ったとしても、外筒15a、15bは
中空シャフト111円盤12.13によって互いに堅固
に連結されているため、シャフト7をはじめとする回転
主要部に対し損IMを与えるおそれがない。
ない。このため探傷子全体はスムーズに細管内に挿入さ
れる。また、先端子21aが例えば挿入時においてIB
管の入口に付き当ったとしても、外筒15a、15bは
中空シャフト111円盤12.13によって互いに堅固
に連結されているため、シャフト7をはじめとする回転
主要部に対し損IMを与えるおそれがない。
IlB管内に挿入後、適当な空気源から案内管22を通
して圧力空気を供給すると、その空気は中空の固定軸1
8b、中空シャフト11内を通り、円盤12に設けであ
る穴からタービンフィン6を通り、このタービンフィン
6を回転させながら、空気吹き出し口14から外部へ排
出される。タービンフィン6が回転すると中空シャフト
7も回転し、この中空シャフト7に対しシャフト4a、
4bを介して結合しているシェル2a、2bも回転する
。
して圧力空気を供給すると、その空気は中空の固定軸1
8b、中空シャフト11内を通り、円盤12に設けであ
る穴からタービンフィン6を通り、このタービンフィン
6を回転させながら、空気吹き出し口14から外部へ排
出される。タービンフィン6が回転すると中空シャフト
7も回転し、この中空シャフト7に対しシャフト4a、
4bを介して結合しているシェル2a、2bも回転する
。
そうすると、その回転に伴う遠心力により、シェル2a
、 2bが外側に押し出され、細管の内表面に沿って回
転する。その結果、探傷センサー1a。
、 2bが外側に押し出され、細管の内表面に沿って回
転する。その結果、探傷センサー1a。
1bにより探傷信号を得ることができる。
この時、シェル2a、2bは細管の内表面に直接接触せ
ず、)■触ベアリング3a、3bが細管の内表面に接触
するため、センサー1a、1bに摩耗等の損巾が生ずる
ことがない。また、探1子全体がパンタグラフ式調芯ユ
ニットによって調芯され、さらにシェル2a、2bが可
動構造であるため、細管内表面におけるセンサー1a、
1bのトレーサビリティ−が良好となる。このため得ら
れたデータの質が向上する。
ず、)■触ベアリング3a、3bが細管の内表面に接触
するため、センサー1a、1bに摩耗等の損巾が生ずる
ことがない。また、探1子全体がパンタグラフ式調芯ユ
ニットによって調芯され、さらにシェル2a、2bが可
動構造であるため、細管内表面におけるセンサー1a、
1bのトレーサビリティ−が良好となる。このため得ら
れたデータの質が向上する。
なお本発明は前記実施例に限定されるものではなく、本
発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形実施可能である
のは勿論である。
発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形実施可能である
のは勿論である。
本発明によれば、細管への探傷子挿入時に発生する衝撃
が回転主要部に加わらない構造を有しているため、故障
発生が少なく信頼性の高い動作が期待できる上、調芯機
構による調芯作用とシェルの遠心力による径大化作用と
の相乗作用により、探聞センサーの細管内表面に対する
密着性が高められ、S/Nの大きな探傷信号を1与るこ
とのできる回転型渦電流探傷子をj2供できる。 −
が回転主要部に加わらない構造を有しているため、故障
発生が少なく信頼性の高い動作が期待できる上、調芯機
構による調芯作用とシェルの遠心力による径大化作用と
の相乗作用により、探聞センサーの細管内表面に対する
密着性が高められ、S/Nの大きな探傷信号を1与るこ
とのできる回転型渦電流探傷子をj2供できる。 −
第1図は本発明の一実施例である高速回転型渦電流探鳴
子の全体構成を一部切断して示す側面図、第2図(a)
〜(f)は第1図の高速回転型渦電流探傷子における主
要な構成要素をそれぞれ購別に取出して示す斜視図であ
る。 1 (1a、 1 b) ・・・探傷センサー、2 (
28゜2t))・・・シェル、3 (3a、3b)・・
・接触ベアリング、4a、4b・・・シャフト、5a、
5b・・・軸受板、6・・・タービンフィン、7・・・
中空シャフト、Ba、Bb・・・ベアリング、9(9a
、9b)・・・回転トランス(1次側、1次側)、10
a、10b・・・コイルバネ、11・・・中空シャフト
(基軸)、12.13・・・円盤、14・・・空気吹き
出し口、15a、15b・・・外筒、16a、16b、
16c。 16d・・・アーム、17a、17b・・・ベアリング
、18a、18b−固定軸、19a、19b・・・滑動
軸、20a、20b・・・コイルバネ、21a・・・先
端子、21b・・・基端子、22・・・案内管、23・
・・接続具。
子の全体構成を一部切断して示す側面図、第2図(a)
〜(f)は第1図の高速回転型渦電流探傷子における主
要な構成要素をそれぞれ購別に取出して示す斜視図であ
る。 1 (1a、 1 b) ・・・探傷センサー、2 (
28゜2t))・・・シェル、3 (3a、3b)・・
・接触ベアリング、4a、4b・・・シャフト、5a、
5b・・・軸受板、6・・・タービンフィン、7・・・
中空シャフト、Ba、Bb・・・ベアリング、9(9a
、9b)・・・回転トランス(1次側、1次側)、10
a、10b・・・コイルバネ、11・・・中空シャフト
(基軸)、12.13・・・円盤、14・・・空気吹き
出し口、15a、15b・・・外筒、16a、16b、
16c。 16d・・・アーム、17a、17b・・・ベアリング
、18a、18b−固定軸、19a、19b・・・滑動
軸、20a、20b・・・コイルバネ、21a・・・先
端子、21b・・・基端子、22・・・案内管、23・
・・接続具。
Claims (1)
- 基軸と、この基軸の中央部位において各一端が所定距離
を隔てて対向する如く上記基軸の両側部位にそれぞれ固
定された二つの外筒と、この二つの外筒の前記対向端相
互間において回転駆動されるように前記基軸に装着され
かつ回転時の遠心力で外周部が前記外筒の外径より径大
化するように設けられたシェルと、このシェルの外周部
に取付けられた探傷センサーと、この探傷センサーから
の探傷信号を外部に取出す手段と、前記二つの外筒にそ
れぞれ設けられた調芯機構とを具備したことを特徴とす
る回転型渦電流探傷子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61109083A JPS62265561A (ja) | 1986-05-13 | 1986-05-13 | 回転型渦電流探傷子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61109083A JPS62265561A (ja) | 1986-05-13 | 1986-05-13 | 回転型渦電流探傷子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62265561A true JPS62265561A (ja) | 1987-11-18 |
Family
ID=14501166
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61109083A Pending JPS62265561A (ja) | 1986-05-13 | 1986-05-13 | 回転型渦電流探傷子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62265561A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6851541B1 (en) * | 1998-01-30 | 2005-02-08 | Scan Coin Industries Ab | Discriminator for bimetallic coins |
JP2006177941A (ja) * | 2004-12-22 | 2006-07-06 | General Electric Co <Ge> | 非破壊検査方法及びそのシステム |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS54124786A (en) * | 1978-03-20 | 1979-09-27 | Shimadzu Corp | Vortex flow flaw detector of tube material interior surface |
JPS5999337A (ja) * | 1982-11-30 | 1984-06-08 | Shimadzu Corp | 端部探傷装置 |
-
1986
- 1986-05-13 JP JP61109083A patent/JPS62265561A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS54124786A (en) * | 1978-03-20 | 1979-09-27 | Shimadzu Corp | Vortex flow flaw detector of tube material interior surface |
JPS5999337A (ja) * | 1982-11-30 | 1984-06-08 | Shimadzu Corp | 端部探傷装置 |
Cited By (2)
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JP2006177941A (ja) * | 2004-12-22 | 2006-07-06 | General Electric Co <Ge> | 非破壊検査方法及びそのシステム |
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