JPS62264452A - 合焦ずれ測定方法 - Google Patents
合焦ずれ測定方法Info
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- JPS62264452A JPS62264452A JP10817986A JP10817986A JPS62264452A JP S62264452 A JPS62264452 A JP S62264452A JP 10817986 A JP10817986 A JP 10817986A JP 10817986 A JP10817986 A JP 10817986A JP S62264452 A JPS62264452 A JP S62264452A
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 24
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 21
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光学式情報記録再生装置の光ピックアップの光
学系の合焦ずれを測定する方法に関するものである。
学系の合焦ずれを測定する方法に関するものである。
光ピックアップの光学系のフォーカスサーボ系は第１図
に示すように構成され、そのオープンループゲインＧＬ
は次式で表わすことができる。
に示すように構成され、そのオープンループゲインＧＬ
は次式で表わすことができる。
ＧＬ ＝ ＧＩ ＸＧ２ Ｘ島ＸＧ４ＸＧ５ここに６１
はフォーカスエラー検出系のゲインＧ２は増幅器のゲイ
ン、Ｇ３は位相補償回路のゲイン、Ｇ４はＴ−１駆動用
増幅器のゲイン、Ｇ５はＴ−１フォーカスアクチュエー
タのゲインを夫々示す。従ってフォーカスエラー検出系
のゲインＧ１は上式を変形することにより次式に示すよ
うに求めることができる。
はフォーカスエラー検出系のゲインＧ２は増幅器のゲイ
ン、Ｇ３は位相補償回路のゲイン、Ｇ４はＴ−１駆動用
増幅器のゲイン、Ｇ５はＴ−１フォーカスアクチュエー
タのゲインを夫々示す。従ってフォーカスエラー検出系
のゲインＧ１は上式を変形することにより次式に示すよ
うに求めることができる。
Ｇｌ ＝ ＧＬ／（Ｇ２ＸＧａＸＧ４ＸＧＳ）即ち
、Ｇ２． Ｇ３． Ｇ４の電気系の特性及びＧ５のアク
チュエータの特性が既知であれば、オープンループゲイ
ンを測定することによりＧ１従ってフォーカスエラー検
出系の特性を知ることができる。
、Ｇ２． Ｇ３． Ｇ４の電気系の特性及びＧ５のアク
チュエータの特性が既知であれば、オープンループゲイ
ンを測定することによりＧ１従ってフォーカスエラー検
出系の特性を知ることができる。
従ってこれから、バイアス電圧すより
電流換算合焦ずれ看り、＋ ＝ ｂ／Ｇｚ −−−（１
）距離換算合焦ずれ量Ｄ２ｘ ＝ ｂ／（Ｇｌ・Ｇ２）
−（２）を求めることができる。従来の合焦ずれ測定は
、このバイアス電圧を変化させてゆき、その都度ジッタ
ー量を求め、それが最小となるバイアス電圧の値を求め
ることにより合焦ずれを測定していた。
）距離換算合焦ずれ量Ｄ２ｘ ＝ ｂ／（Ｇｌ・Ｇ２）
−（２）を求めることができる。従来の合焦ずれ測定は
、このバイアス電圧を変化させてゆき、その都度ジッタ
ー量を求め、それが最小となるバイアス電圧の値を求め
ることにより合焦ずれを測定していた。
上述した従来の方法ではジッター量の最小点を求めるの
に時間がかかる欠点があった。
に時間がかかる欠点があった。
本発明は上述した欠点を除去し、合焦点を容易に見出す
ことができ、合焦ずれの測定を迅速に行い得るようにし
た合焦ずれ測定方法を提供することを目的とする。
ことができ、合焦ずれの測定を迅速に行い得るようにし
た合焦ずれ測定方法を提供することを目的とする。
〔問題点を解決するための手段及び作用〕本発明方法は
フォーカスサーボ系にパルス信号を印加させ、ジッター
量の変化が最小となるパルス信号のオフセット量を測定
することにより合焦ずれを測定することを特徴とする。
フォーカスサーボ系にパルス信号を印加させ、ジッター
量の変化が最小となるパルス信号のオフセット量を測定
することにより合焦ずれを測定することを特徴とする。
図面につき本発明を説明する。
合焦ずれとジッター量との関係を示すと第２図のような
曲線となる。この曲線は合焦点において線対称をなして
いる。従って、この点を中心に正及び負の両方向に同じ
たけディフォーカス（離焦）させると同じジッター量を
得ることができる。即ち、フォーカスサーボ系において
、正及び負の両方向に同じだけティフォーカスさせるパ
ルス信号をバイアス電圧に印加し、そのオフセットをず
らしていくことでそのジッター量の変化が最小となる点
を見つけ、その時のオフセラ４を測定し、式（１）、
（２）を用いて合焦ずれを測定することができる。
曲線となる。この曲線は合焦点において線対称をなして
いる。従って、この点を中心に正及び負の両方向に同じ
たけディフォーカス（離焦）させると同じジッター量を
得ることができる。即ち、フォーカスサーボ系において
、正及び負の両方向に同じだけティフォーカスさせるパ
ルス信号をバイアス電圧に印加し、そのオフセットをず
らしていくことでそのジッター量の変化が最小となる点
を見つけ、その時のオフセラ４を測定し、式（１）、
（２）を用いて合焦ずれを測定することができる。
上述した原理に基づいて本発明の方法を実施する手段を
第３図に示す。図中第１図と同一部分は同一符号で示し
、その詳細な説明は省略する。
第３図に示す。図中第１図と同一部分は同一符号で示し
、その詳細な説明は省略する。
本発明ではバイアス電圧すに、パルス信号発生器１０の
出力パルスを印加すると共にオフセット調整回路１１に
よってパルス信号を制御してそのオフセット量をずらせ
、これによりジッター量の変化が最小となる点を見出し
、その時点のオフ、セット量により上述した式を用いて
合焦ずれを測定する。
出力パルスを印加すると共にオフセット調整回路１１に
よってパルス信号を制御してそのオフセット量をずらせ
、これによりジッター量の変化が最小となる点を見出し
、その時点のオフ、セット量により上述した式を用いて
合焦ずれを測定する。
本発明は上述した例にのみ限定されるものではない。
例えばオフセラ） ８ｍ整器にも本発明を適用すること
ができる。この場合にはフォーカスサーボ系に、合焦点
が合ったオフセットをもつパルス信号を印加する。ジッ
ター量の変化が最小となるようにシリンドリカルレンズ
のＺ方向（３ビーム）もしくはフォトディテクタのＹ方
向の位置の調整を行うことにより合焦点を見出すことが
できる。
ができる。この場合にはフォーカスサーボ系に、合焦点
が合ったオフセットをもつパルス信号を印加する。ジッ
ター量の変化が最小となるようにシリンドリカルレンズ
のＺ方向（３ビーム）もしくはフォトディテクタのＹ方
向の位置の調整を行うことにより合焦点を見出すことが
できる。
又、ジッター量の変化はＰＦ倍信号振幅、３Ｔ周期の信
号振幅及びラジアルエラー信号の振幅によっても検出で
きる。
号振幅及びラジアルエラー信号の振幅によっても検出で
きる。
上述したように本発明によればフォーカスサーボ系にパ
ルス信号を印加するだけで合焦ずれを迅速に測定するこ
とができる。
ルス信号を印加するだけで合焦ずれを迅速に測定するこ
とができる。
第１図はフォーカスサーボ系の原理を示すブロック回路
図、 第２図は本発明合焦ずれ測定方法の原理の説明図、 第３図は本発明合焦ずれ測定方法を実施する手段を示す
ブロック図である。 １０・・・パルス信号発生回路 １１・・・オフセット調整回路 特許出願人 オリンパス光学工業株式会社手続補正
書く自発〉 昭和６１年９月５ 日 １、事件の表示 昭［日０１年 持 許 頼 第１０８１７９号２、発明
の名称 合焦ずれ測定方法 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 東京都渋谷区幡ケ谷２丁目４３番２号４、代
理 人 ６．７ｉｌｉ正の対゛ｌ 明細書全文 ７、補正の内容 （１） 本願に添付した明細書を別紙訂正明細書の通
り補正する。 ８、添付書類の目録 （１）訂正明細書 １通 明 細 書 １、発明の名称 合焦ずれ測定方法 ２、特許請求の範囲 １、 光ピックアップのフォーカスサーボ系における再
生信号にパルス信号を印加し、このサーボ系の再生信号
の振幅のジッター金の変化を測定し、その変化が最小と
なる点における前記印加パルス信号のオフセット量を測
定し、これにより合焦ずれを測定するようにしたことを
特徴とする合焦ずれ測定方法。 ２、 ジッター量の変化を測定するパラメータを光ピン
クアップにより再生したＲＦ倍信号振幅としたことを特
徴とする特許請求の範囲第１項に記載の合焦ずれ測定方
法。 ３、 ジッター量の変化を測定するパラメータを光ピン
クアンプにより再生したＲＦ倍信号３Ｔ周期の信号成分
の振幅としたことを特徴とする特許請求の範囲第１項に
記載の合焦ずれ測定方法。 ４、 ジッター量の変化を測定するパラメータを光ピッ
クアップにより再生したラジアル信号の振幅としたこと
を特徴とする特許請求の範囲第１項に記載の合焦ずれ測
定方法。 ３、発明の詳細な説明 〔産業上の利用分野〕 本発明は光学式情報記録再生装置の光ピンクアップの光
学系の合焦ずれを測定する方法に関するものである。 〔従来の技術〕 従来、焦点誤差検出感度及び合焦ずれの測定にはミラー
又はディスクの変位等を測定し、エラー信号の特性曲線
を求め、同時にＲＦ倍信号ＲＭＳ値の最大点を合焦点と
して、合焦ずれの測定を行っていた。 しかしこの場合には、ディスクと２作動光へ・７ドシス
テム（ＴＡＯＩ！Ｓ） との角度調整が困工ｔであり、
且つ測定時にラジアルサーボがかけられず、しかもＲＭ
Ｓ値の最大点と真の合焦位置とが異なる可能性があるた
め、エラー検出感度及び合焦ずれに対して誤差が生じる
ようになる。 従ってディスクの再生時に再生状態のままエラー検出感
度及び合焦ずれを測定する方法が提案された。かかる方
法について説明する。 光ピックアップの光学系のフォーカスサーボ系は第１図
に示すように構成され、そのオープンループゲインＧＬ
は次式で表わすことができる。 Ｇｌ、＝ ＧＨＸＧｚＸＧ３ＸＧ４ＸＧｓここにＧ、は
フォーカスエラー検出系のゲインＧ２は増幅器のゲイン
、Ｇ３は位相補償回路のゲイン、Ｇ４はＴ−１駆動用増
幅器のゲイン、Ｇ、はＴ−１フオーカスアクチユエーク
のゲインを夫々示す。従ってフォーカスエラー検出系の
ゲインＧｌは上式を変形することにより次式に示すよう
に求めるごとができる。 Ｇ、 ・ ＧＬ／ （Ｇ２ ｘ Ｇ：ｔ ｘ Ｇ４ｘ
Ｇｓ）即ら、Ｇ２． Ｇ、、 Ｇ、の電気系の特性及び
Ｇ５のアクチュエータの特性が既知であれば、オープン
ループゲインを測定することによりＧ１従ってフォーカ
スエラー検出系の特性を知ることができる。 従ってこれから、バイアス電圧すより 電流換算合焦ずれ量１１ｚｉ ＝ ｂ／Ｇｚ −−−（
１）距離換算合焦ずれｉｔ Ｄ２ｘ ＝ ｂ／ （Ｇ＋
・Ｇｚ）−（２）を求めることができる。従来の合焦
ずれ測定は、このバイアス電圧を変化させてゆき、その
都度ジッター量を求め、それが最小となるバイアス電圧
の値を求めることにより合焦ずれを測定していた。 〔発明が解決しようとする問題点〕 上述した従来の方法ではジッター量の最小点を求めるの
に時間がかかる欠点があった。 本発明は上述した欠点を除去し、合焦点を容易に見出す
ことができ、合焦ずれの測定を迅速に行い得るようにし
だ合焦ずれ測定方法を提供することを口約とする。 （問題点を解決するための手段〕 本発明方法は光ピックアップのフォーカスサーボ系にお
ける再生信号にパルス信号を印加し、−Ｃ！′″のサー
ボ系の再生信号の振幅のジッター量の変化を測定し、そ
の変化が最小となる点における前記印加パルス信号のオ
フセソ１−ｆｆｉを測定し、これにより合焦ずれを測定
するようにしたことを特徴とする。 〔作 用〕 合焦ずれとジッター量との関係を示すと第２図のような
曲線となる。この曲線は合焦点において線対称をなして
いる。従って、この点を中心に正及び１！ｔの両方向に
同じたけディフォーカス（薄黒）させると同しジッター
量を得ることができる。即ら、フォーカスサーボ系にお
いて、正及び負の両方向に同じたけディフォーカスさせ
るパルス信号をバイアス電圧に印）ＩＡ Ｌ、そのオフ
セットをずらしていくことでそのジッター量の変化が最
小となる点を見つけ、その時のオフセット量を測定し、
弐（１）、 （２＋を用いて合焦ずれを測定することが
できる。 〔実施例〕 上述した原理に基づいて本発明の方法を実施する手段を
第３図に示す。図中第１図と同一部分は同一符号で示し
、その詳細な説明は省略する。 本例ではＴＡＯＨ３（２作動光ヘッド）のＺ方向の調整
を先ず最初に行い、次いでバイアス電圧すにパルス信号
発生器１０の出力パルスを外部信号として印加すると共
にオフセット３ＪＵ整回路１１によって上記パルスを制
御し、そのオフセット量をずらせ、これによりジッター
量の変化が最小となる点を見出し、この時点でループゲ
イ、ンＧＬを測定し、前述した代を用いて合焦すれの星
を測定する。このループツノ゛イン６Ｌの測定は同時出
願の“ループゲイン測定装置”の測定手段を用いて行う
。 本発明は上述した例にのみ限定されるものではない。 例えば；（°フセノト羽°整器にも本発明を適用するこ
とができる。この場合にはフォーカスサーボ系に、合焦
点が合ったオフセットをもつパルス信号を印加する。ジ
ッター量の変化が最小となるようにシリンドリカルレン
ズのＺ方向（３ビーム）もしくはフォトディテクタのＹ
方向の位置のｓｌを行うご上により合焦点を見出すこと
ができる。 又、ジッター量の変化はＲＦ他信号振幅、３Ｔ周皿の信
号振幅及びラジアルエラー１３号の振幅を用いろごとに
よっても上述した所と同はに検出できる。 〔発明の効果〕 上述したように本発明によればフォーカスサーボ系にパ
ルス信号を印加するだけで合焦ずれを迅速に測定するこ
とができる。 ４、図面の簡単な説明 第１図はフォーカスサーボ系の原理を示すブロック回路
図、 第２図は本発明合焦ずれ測定方法の原理の説明図、 第３図は本発明合焦ずれ測定方法を実施する手段を示す
ブロック図である。 １０・・・パルス信号発生回路 １１・・・オフセット調整回路
図、 第２図は本発明合焦ずれ測定方法の原理の説明図、 第３図は本発明合焦ずれ測定方法を実施する手段を示す
ブロック図である。 １０・・・パルス信号発生回路 １１・・・オフセット調整回路 特許出願人 オリンパス光学工業株式会社手続補正
書く自発〉 昭和６１年９月５ 日 １、事件の表示 昭［日０１年 持 許 頼 第１０８１７９号２、発明
の名称 合焦ずれ測定方法 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 東京都渋谷区幡ケ谷２丁目４３番２号４、代
理 人 ６．７ｉｌｉ正の対゛ｌ 明細書全文 ７、補正の内容 （１） 本願に添付した明細書を別紙訂正明細書の通
り補正する。 ８、添付書類の目録 （１）訂正明細書 １通 明 細 書 １、発明の名称 合焦ずれ測定方法 ２、特許請求の範囲 １、 光ピックアップのフォーカスサーボ系における再
生信号にパルス信号を印加し、このサーボ系の再生信号
の振幅のジッター金の変化を測定し、その変化が最小と
なる点における前記印加パルス信号のオフセット量を測
定し、これにより合焦ずれを測定するようにしたことを
特徴とする合焦ずれ測定方法。 ２、 ジッター量の変化を測定するパラメータを光ピン
クアップにより再生したＲＦ倍信号振幅としたことを特
徴とする特許請求の範囲第１項に記載の合焦ずれ測定方
法。 ３、 ジッター量の変化を測定するパラメータを光ピン
クアンプにより再生したＲＦ倍信号３Ｔ周期の信号成分
の振幅としたことを特徴とする特許請求の範囲第１項に
記載の合焦ずれ測定方法。 ４、 ジッター量の変化を測定するパラメータを光ピッ
クアップにより再生したラジアル信号の振幅としたこと
を特徴とする特許請求の範囲第１項に記載の合焦ずれ測
定方法。 ３、発明の詳細な説明 〔産業上の利用分野〕 本発明は光学式情報記録再生装置の光ピンクアップの光
学系の合焦ずれを測定する方法に関するものである。 〔従来の技術〕 従来、焦点誤差検出感度及び合焦ずれの測定にはミラー
又はディスクの変位等を測定し、エラー信号の特性曲線
を求め、同時にＲＦ倍信号ＲＭＳ値の最大点を合焦点と
して、合焦ずれの測定を行っていた。 しかしこの場合には、ディスクと２作動光へ・７ドシス
テム（ＴＡＯＩ！Ｓ） との角度調整が困工ｔであり、
且つ測定時にラジアルサーボがかけられず、しかもＲＭ
Ｓ値の最大点と真の合焦位置とが異なる可能性があるた
め、エラー検出感度及び合焦ずれに対して誤差が生じる
ようになる。 従ってディスクの再生時に再生状態のままエラー検出感
度及び合焦ずれを測定する方法が提案された。かかる方
法について説明する。 光ピックアップの光学系のフォーカスサーボ系は第１図
に示すように構成され、そのオープンループゲインＧＬ
は次式で表わすことができる。 Ｇｌ、＝ ＧＨＸＧｚＸＧ３ＸＧ４ＸＧｓここにＧ、は
フォーカスエラー検出系のゲインＧ２は増幅器のゲイン
、Ｇ３は位相補償回路のゲイン、Ｇ４はＴ−１駆動用増
幅器のゲイン、Ｇ、はＴ−１フオーカスアクチユエーク
のゲインを夫々示す。従ってフォーカスエラー検出系の
ゲインＧｌは上式を変形することにより次式に示すよう
に求めるごとができる。 Ｇ、 ・ ＧＬ／ （Ｇ２ ｘ Ｇ：ｔ ｘ Ｇ４ｘ
Ｇｓ）即ら、Ｇ２． Ｇ、、 Ｇ、の電気系の特性及び
Ｇ５のアクチュエータの特性が既知であれば、オープン
ループゲインを測定することによりＧ１従ってフォーカ
スエラー検出系の特性を知ることができる。 従ってこれから、バイアス電圧すより 電流換算合焦ずれ量１１ｚｉ ＝ ｂ／Ｇｚ −−−（
１）距離換算合焦ずれｉｔ Ｄ２ｘ ＝ ｂ／ （Ｇ＋
・Ｇｚ）−（２）を求めることができる。従来の合焦
ずれ測定は、このバイアス電圧を変化させてゆき、その
都度ジッター量を求め、それが最小となるバイアス電圧
の値を求めることにより合焦ずれを測定していた。 〔発明が解決しようとする問題点〕 上述した従来の方法ではジッター量の最小点を求めるの
に時間がかかる欠点があった。 本発明は上述した欠点を除去し、合焦点を容易に見出す
ことができ、合焦ずれの測定を迅速に行い得るようにし
だ合焦ずれ測定方法を提供することを口約とする。 （問題点を解決するための手段〕 本発明方法は光ピックアップのフォーカスサーボ系にお
ける再生信号にパルス信号を印加し、−Ｃ！′″のサー
ボ系の再生信号の振幅のジッター量の変化を測定し、そ
の変化が最小となる点における前記印加パルス信号のオ
フセソ１−ｆｆｉを測定し、これにより合焦ずれを測定
するようにしたことを特徴とする。 〔作 用〕 合焦ずれとジッター量との関係を示すと第２図のような
曲線となる。この曲線は合焦点において線対称をなして
いる。従って、この点を中心に正及び１！ｔの両方向に
同じたけディフォーカス（薄黒）させると同しジッター
量を得ることができる。即ら、フォーカスサーボ系にお
いて、正及び負の両方向に同じたけディフォーカスさせ
るパルス信号をバイアス電圧に印）ＩＡ Ｌ、そのオフ
セットをずらしていくことでそのジッター量の変化が最
小となる点を見つけ、その時のオフセット量を測定し、
弐（１）、 （２＋を用いて合焦ずれを測定することが
できる。 〔実施例〕 上述した原理に基づいて本発明の方法を実施する手段を
第３図に示す。図中第１図と同一部分は同一符号で示し
、その詳細な説明は省略する。 本例ではＴＡＯＨ３（２作動光ヘッド）のＺ方向の調整
を先ず最初に行い、次いでバイアス電圧すにパルス信号
発生器１０の出力パルスを外部信号として印加すると共
にオフセット３ＪＵ整回路１１によって上記パルスを制
御し、そのオフセット量をずらせ、これによりジッター
量の変化が最小となる点を見出し、この時点でループゲ
イ、ンＧＬを測定し、前述した代を用いて合焦すれの星
を測定する。このループツノ゛イン６Ｌの測定は同時出
願の“ループゲイン測定装置”の測定手段を用いて行う
。 本発明は上述した例にのみ限定されるものではない。 例えば；（°フセノト羽°整器にも本発明を適用するこ
とができる。この場合にはフォーカスサーボ系に、合焦
点が合ったオフセットをもつパルス信号を印加する。ジ
ッター量の変化が最小となるようにシリンドリカルレン
ズのＺ方向（３ビーム）もしくはフォトディテクタのＹ
方向の位置のｓｌを行うご上により合焦点を見出すこと
ができる。 又、ジッター量の変化はＲＦ他信号振幅、３Ｔ周皿の信
号振幅及びラジアルエラー１３号の振幅を用いろごとに
よっても上述した所と同はに検出できる。 〔発明の効果〕 上述したように本発明によればフォーカスサーボ系にパ
ルス信号を印加するだけで合焦ずれを迅速に測定するこ
とができる。 ４、図面の簡単な説明 第１図はフォーカスサーボ系の原理を示すブロック回路
図、 第２図は本発明合焦ずれ測定方法の原理の説明図、 第３図は本発明合焦ずれ測定方法を実施する手段を示す
ブロック図である。 １０・・・パルス信号発生回路 １１・・・オフセット調整回路
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、光ピックアップのフォーカスサーボ系における再生
信号にパルス信号を印加し、このサーボ系の再生信号の
振幅のジッター量の変化を測定し、その変化が最小とな
る点における前記印加パルス信号のオフセット量を測定
し、これにより合焦ずれを測定するようにしたことを特
徴とする合焦ずれ測定方法。 ２、ジッター量の変化を測定するパラメータを光ピック
アップにより再生したＲＦ信号の振幅としたことを特徴
とする特許請求の範囲第１項に記載の合焦ずれ測定方法
。 ３、ジッター量の変化を測定するパラメータを光ピック
アップにより再生したＲＦ信号の３Ｔ周期の信号成分の
振幅としたことを特徴とする特許請求の範囲第１項に記
載の合焦ずれ測定方法。 ４、ジッター量の変化を測定するパラメータを光ピック
アップにより再生したラジアル信号の振幅としたことを
特徴とする特許請求の範囲第１項に記載の合焦ずれ測定
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10817986A JPS62264452A (ja) | 1986-05-12 | 1986-05-12 | 合焦ずれ測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10817986A JPS62264452A (ja) | 1986-05-12 | 1986-05-12 | 合焦ずれ測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62264452A true JPS62264452A (ja) | 1987-11-17 |
Family
ID=14477995
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10817986A Pending JPS62264452A (ja) | 1986-05-12 | 1986-05-12 | 合焦ずれ測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62264452A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0226122U (ja) * | 1988-07-30 | 1990-02-21 | ||
| JPH08263853A (ja) * | 1995-03-22 | 1996-10-11 | Nec Corp | 光ディスク装置 |
| US7092322B2 (en) * | 2001-01-25 | 2006-08-15 | Dphi Acquisitions, Inc. | Calibration of focus error signal offset in a focus servo system |
| US8937854B2 (en) | 2001-01-25 | 2015-01-20 | Optical Devices, Llc | Servo processor receiving photodetector signals |
-
1986
- 1986-05-12 JP JP10817986A patent/JPS62264452A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0226122U (ja) * | 1988-07-30 | 1990-02-21 | ||
| JPH08263853A (ja) * | 1995-03-22 | 1996-10-11 | Nec Corp | 光ディスク装置 |
| US7092322B2 (en) * | 2001-01-25 | 2006-08-15 | Dphi Acquisitions, Inc. | Calibration of focus error signal offset in a focus servo system |
| US8937854B2 (en) | 2001-01-25 | 2015-01-20 | Optical Devices, Llc | Servo processor receiving photodetector signals |
| US9105281B2 (en) | 2001-01-25 | 2015-08-11 | Optical Devices, Llc | Servo processor receiving photodetector signals |
| US9245569B1 (en) | 2001-01-25 | 2016-01-26 | Optical Devices, Llc | Servo processor receiving photodetector signals |
| US9514777B2 (en) | 2001-01-25 | 2016-12-06 | Optical Devices, Llc | Servo processor receiving photodetector signals |
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