JPS6225899Y2 - - Google Patents

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JPS6225899Y2
JPS6225899Y2 JP1980185270U JP18527080U JPS6225899Y2 JP S6225899 Y2 JPS6225899 Y2 JP S6225899Y2 JP 1980185270 U JP1980185270 U JP 1980185270U JP 18527080 U JP18527080 U JP 18527080U JP S6225899 Y2 JPS6225899 Y2 JP S6225899Y2
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JP
Japan
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semiconductor element
metal
glass sleeve
metal terminals
wide base
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JP1980185270U
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JPS57106240U (ja
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Description

【考案の詳細な説明】 本考案は半導体装置に係り、特にDHD形のリ
ードの構造に関する。
従来のDHD(Double Heatsink Diode)型の半
導体装置を第1図に示す。第1図に於いてAg等
により盛り上げられた電極2を持つ半導体ペレツ
ト1はガラススリーブ3内に封入され、同軸状に
配置された金属端子(例えばタングステンまたは
ジユメツト線)4及び5によつて加圧接触されて
おり、金属端子4及び5にガラススリーブ3の内
壁を融着せしめることにより、半導体ペレツト1
を気密封止することができる。また金属端子4及
び5には、外部リード6および7がCP線(銅ク
ラツド鉄・ニツケル線)または銅線であらかじめ
溶接されている。前記封止組み立て後に両リード
は半田メツキされ、電気的特性チエツクを経て塗
装、捺印され完成する。
しかしながら、かかる構造の半導体装置は下記
のような不具合がある。1製造中にガラススリー
ブ3の両端のエツヂ部に割れやカケが多発しやす
く、その結果として歩留低下及び信頼度低下の原
因となる。2製造工程中外部リード6および7が
有るため、リード曲りが生じ、自動化設備導入の
際、稼動率低下および機構設計が複雑となりイン
デツクスが遅くなる。3ガラススリーブ3と金属
端子4及び5に融着する際、600〜900℃位に加熱
されるため、組立後半田メツキを行なう必要が有
る。
本考案は上記の欠点を除去し、製造方法を簡単
なものとし、安価にして信頼度も向上させたもの
である。
以下第2図により、本考案の一実施例について
説明する。第2図において、まず最初にカーボン
製封入治具に凸型金属端子(例えばジユメツト
線)8を挿入し、次いでガラススリーブ9を組み
込む。この時ガラススリーブ9は金属端子の凸状
の頂部周囲面に配置される。次に半導体ペレツト
1をガラススリーブ9内に挿入する。半導体ペレ
ツト1はガラススリーブ9の内壁がガイドとな
り、凸型金属端子8の中央部の塔頂部に載置され
る。次に前記半導体ペレツト1の一電極上に凸型
金属端子10を載置せしめる。前記の要領により
組み込み完了したカーボン製封入治具を溶融炉に
て650〜750℃の温度で前記ガラススリーブ9を溶
融せしめると、凸型金属端子8および10と融着
し、半導体ペレツト1は完全にガラススリーブ9
内に気密封止される。その後電気的特性の良否判
定を行ない、黄銅または鉄にスズ、ニツケルを施
した後プレス成形された金属製キヤツプ11を凸
型金属端子8および10の基底部に溶接または嵌
合し、次いで半田メツキ銅線または半田メツキ
CP線を金属製キヤツプ11の頂部中央に溶接
し、所定の長さに切断し外部リード12を形成す
る。その後、塗装および捺印を行ない完成する
(第3図)。
以上本考案の半導体装置について上述したが、
第1の欠点は、ガラススリーブ9の両端は、組み
立て後外層部になることが凸型金属端子8および
10、また金属製キヤツプ11により保護される
為ないので製造工程(例えば、選別、捺印あるい
は梱包運搬)中に割れやカケ等が皆無となり、半
導体ペレツト1の気密性が従来品よりも機械的強
度が強いため保たれ信頼度も向上する。第2の欠
点は、封入、選別、工程には、リード12が無い
状態で進めることができるため、リード曲りによ
るトラブルは発生しない。またリード部が無いた
めに小形形状による移送スピードアツプが計ら
れ、大巾にインデツクスが早く工数低減が図れ
る。また付随して、設備の小形化、簡素化が図ら
れると同時に製品保管スペースの減少は言うに及
ばず不良品を廃棄する際、リード線12を接続す
る前であり最少減に材料費を抑えることができ
る。
第3の欠点は、選別後良品のみに、金属製キヤ
ツプ11にあらかじめ半田メツキ済リード12を
溶接した部材を用いても良いし、また金属製キヤ
ツプ11を固着後半田メツキ済リード12を溶接
するのであるから、半田メツキ工程が半導体装置
製造者側としては省略でき、線材に半田メツキを
施す方が連続メツキが導入できるため経済的であ
る。また半田メツキの際問題となる、リード曲り
の修正、メツキ装置の稼動率等の問題が解消され
る。
以上本考案は前記従来品の欠点を排除し製造方
法の簡易化設備の小型化を実現し安価で信頼度も
向上させたDHD型半導体装置を提供することに
なる。
さらに有利な点は、最近薄形高品化の急増とハ
イプリツドIC化も活発であり、半導体装置製造
者にもリードレス小形部品の要求が強い。
本考案は、特別な事をすることも無く、小形化
部品への対応も容易である。前記凸型金属端子
8,10とガラススリーブ9との間に半導体ペレ
ツト1を封着し、金属キヤツプ11を固着させた
形状で提供すれば、無理無駄無く市場の要求に答
えることができる。筒型部品化へは外部リード1
2を溶接しないで使用するか、L字型の支持体1
3を図3のように溶接すれば良く、また自立形構
造にするには金属キヤツプ11に外部リード12
を垂直に溶接すれば良く応用範囲を広げることが
可能である。
【図面の簡単な説明】
1図は従来の半導体装置を示す断面図、第2図
は本考案の実施例の半導体装置を示す断面図、第
3図は本考案の実施例を示す斜視図である。 尚図において、1……半導体ペレツト、2……
盛り上げ電極、3,9……ガラススリーブ、4,
5……金属端子、6,7……外部リード、8……
凸型金属端子、10……凸型金属端子、11……
金属製キヤツプ、12……外部リード、13……
支持体。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 対向する二主表面に電極を有する半導体素子
    と、該半導体素子をはさんで前記二主表面側に配
    置され、中央突起部と幅広基底部とを有し、断面
    が凸形で、該中央突起部先端に前記半導体素子の
    各電極が接触する2つの金属端子と、該2つの金
    属端子の前記中央突起部の側面に融着して前記半
    導体素子を気密に封止し、かつ外表面が前記金属
    端子の幅広基底部側面と同じ面又はそれより内側
    にあるガラススリーブと、前記2つの金属端子の
    幅広基底部の側面にそれぞれ接着された2つの金
    属キヤツプと、該2つの金属キヤツプにそれぞれ
    取り付けられた外部リードとを有することを特徴
    とする半導体装置。
JP1980185270U 1980-12-23 1980-12-23 Expired JPS6225899Y2 (ja)

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JP1980185270U JPS6225899Y2 (ja) 1980-12-23 1980-12-23

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JPS57106240U JPS57106240U (ja) 1982-06-30
JPS6225899Y2 true JPS6225899Y2 (ja) 1987-07-02

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4897477A (ja) * 1972-02-02 1973-12-12

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4897477A (ja) * 1972-02-02 1973-12-12

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JPS57106240U (ja) 1982-06-30

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