JPS62256427A - 不純物拡散法 - Google Patents

不純物拡散法

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JPS62256427A
JPS62256427A JP9997786A JP9997786A JPS62256427A JP S62256427 A JPS62256427 A JP S62256427A JP 9997786 A JP9997786 A JP 9997786A JP 9997786 A JP9997786 A JP 9997786A JP S62256427 A JPS62256427 A JP S62256427A
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JP
Japan
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semiconductor substrate
impurity
diffusion source
heated
concentration
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Application number
JP9997786A
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English (en)
Inventor
Keimei Mikoshiba
御子柴 啓明
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は不純物を半導体中に拡散させる方法に関し、特
に浅い拡散層を容易に実現できる方法に関する。
〔従来の技術〕
従来、ポロンナイトライド(BN)板等の固体拡散源を
用いて不純物をシリコン基板中に拡散する方法が用いら
れている。従来の拡散法では、石英管内に固体拡散源と
シリコン基板とを対向させて置き、電気炉で数十分間の
熱処理を行っていた。
〔発明が解決しようとする問題点〕
従来の拡散法では、電気炉を用いているので、熱処理時
間が数十分間と長くなり、0.5μm以下の浅い拡散層
を実現することは困難であった。また、低濃度領域を形
成する場合は、温度を下げなければならないため、安定
な拡散が行え力いという欠点があった。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明の不純物拡散法は、半導体基板と固体拡散源とを
対向かつ近接させて配置し光照射によって半導体基板お
よび固体拡散源を1分以内で800℃以上の温度に加熱
することを特徴とする。
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例を説明するだめの拡散装置の
断面図である。加熱用のランプ2から放射された光と、
反射板1で反射した光とが、ガスが導入された石英管3
内の半導体基板4および固体拡散源5に吸収され加熱さ
れる。固体拡散源としては、例えば5iP207やBN
などが利用できる。
ランプとして、例えばタングステンノ・ロゲンランプを
用いると、数秒程度で1000℃以上の高温にまで加熱
できる。加熱された固体拡散源5から不純物の酸化物が
分解・蒸発し、半導体基板4の表面に付着する。半導体
基板4も加熱されて高温になっているから、不純物の拡
散が行なわれる。
光加熱では、10秒以下の短時間熱処理が可能であるか
ら、1000℃以上の高温にしても拡散層が深くなるこ
とはない。しかも表面不純物濃度は固容度で決まシ、高
温はど濃度が高くなるから拡散層の深さを浅く、かつ高
濃度とすることができる。また、短時間にすることによ
り、低濃度拡散層の形成もできる。さらに不純物表面濃
度は温度でコントロールでき、従って、非常に浅い接合
(〜0.1μm〜0.2μm)が種々の表面濃度(〜I
X I Q” cm−” 〜2 X I Q!ocm″
″” ) で実現−c*る。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、半導体基板に不純物を拡
散する際、固体拡散源と光加熱による短時間熱処理とを
用いることによシ非常に浅い接合を種々の表面濃度で実
現できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を説明するための断面図であ
る。 1・・・・・・反射板、2・・・・・・ランプ、3・・
・・・・石英管、4・・・・・・半導体基板、5・・・
・・・固体拡散源。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 半導体基板と固体拡散源とを対向かつ近接させて配置し
    光照射によって前記半導体基板および前記固体拡散源を
    1分以内で800℃以上の温度に加熱することを特徴と
    する不純物拡散法。
JP9997786A 1986-04-28 1986-04-28 不純物拡散法 Pending JPS62256427A (ja)

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS511066A (en) * 1974-06-21 1976-01-07 Hitachi Ltd Handotaiueehano kakusanhoho
JPS6174378A (ja) * 1984-09-20 1986-04-16 Hamamatsu Photonics Kk 赤外線照射により浅い接合とbsfを同時に形成する光センサの製造方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS511066A (en) * 1974-06-21 1976-01-07 Hitachi Ltd Handotaiueehano kakusanhoho
JPS6174378A (ja) * 1984-09-20 1986-04-16 Hamamatsu Photonics Kk 赤外線照射により浅い接合とbsfを同時に形成する光センサの製造方法

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