JPS62256427A - 不純物拡散法 - Google Patents
不純物拡散法Info
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- JPS62256427A JPS62256427A JP9997786A JP9997786A JPS62256427A JP S62256427 A JPS62256427 A JP S62256427A JP 9997786 A JP9997786 A JP 9997786A JP 9997786 A JP9997786 A JP 9997786A JP S62256427 A JPS62256427 A JP S62256427A
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- JP
- Japan
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- semiconductor substrate
- impurity
- diffusion source
- heated
- concentration
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- Pending
Links
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Landscapes
- Photovoltaic Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は不純物を半導体中に拡散させる方法に関し、特
に浅い拡散層を容易に実現できる方法に関する。
に浅い拡散層を容易に実現できる方法に関する。
従来、ポロンナイトライド(BN)板等の固体拡散源を
用いて不純物をシリコン基板中に拡散する方法が用いら
れている。従来の拡散法では、石英管内に固体拡散源と
シリコン基板とを対向させて置き、電気炉で数十分間の
熱処理を行っていた。
用いて不純物をシリコン基板中に拡散する方法が用いら
れている。従来の拡散法では、石英管内に固体拡散源と
シリコン基板とを対向させて置き、電気炉で数十分間の
熱処理を行っていた。
従来の拡散法では、電気炉を用いているので、熱処理時
間が数十分間と長くなり、0.5μm以下の浅い拡散層
を実現することは困難であった。また、低濃度領域を形
成する場合は、温度を下げなければならないため、安定
な拡散が行え力いという欠点があった。
間が数十分間と長くなり、0.5μm以下の浅い拡散層
を実現することは困難であった。また、低濃度領域を形
成する場合は、温度を下げなければならないため、安定
な拡散が行え力いという欠点があった。
本発明の不純物拡散法は、半導体基板と固体拡散源とを
対向かつ近接させて配置し光照射によって半導体基板お
よび固体拡散源を1分以内で800℃以上の温度に加熱
することを特徴とする。
対向かつ近接させて配置し光照射によって半導体基板お
よび固体拡散源を1分以内で800℃以上の温度に加熱
することを特徴とする。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例を説明するだめの拡散装置の
断面図である。加熱用のランプ2から放射された光と、
反射板1で反射した光とが、ガスが導入された石英管3
内の半導体基板4および固体拡散源5に吸収され加熱さ
れる。固体拡散源としては、例えば5iP207やBN
などが利用できる。
断面図である。加熱用のランプ2から放射された光と、
反射板1で反射した光とが、ガスが導入された石英管3
内の半導体基板4および固体拡散源5に吸収され加熱さ
れる。固体拡散源としては、例えば5iP207やBN
などが利用できる。
ランプとして、例えばタングステンノ・ロゲンランプを
用いると、数秒程度で1000℃以上の高温にまで加熱
できる。加熱された固体拡散源5から不純物の酸化物が
分解・蒸発し、半導体基板4の表面に付着する。半導体
基板4も加熱されて高温になっているから、不純物の拡
散が行なわれる。
用いると、数秒程度で1000℃以上の高温にまで加熱
できる。加熱された固体拡散源5から不純物の酸化物が
分解・蒸発し、半導体基板4の表面に付着する。半導体
基板4も加熱されて高温になっているから、不純物の拡
散が行なわれる。
光加熱では、10秒以下の短時間熱処理が可能であるか
ら、1000℃以上の高温にしても拡散層が深くなるこ
とはない。しかも表面不純物濃度は固容度で決まシ、高
温はど濃度が高くなるから拡散層の深さを浅く、かつ高
濃度とすることができる。また、短時間にすることによ
り、低濃度拡散層の形成もできる。さらに不純物表面濃
度は温度でコントロールでき、従って、非常に浅い接合
(〜0.1μm〜0.2μm)が種々の表面濃度(〜I
X I Q” cm−” 〜2 X I Q!ocm″
″” ) で実現−c*る。
ら、1000℃以上の高温にしても拡散層が深くなるこ
とはない。しかも表面不純物濃度は固容度で決まシ、高
温はど濃度が高くなるから拡散層の深さを浅く、かつ高
濃度とすることができる。また、短時間にすることによ
り、低濃度拡散層の形成もできる。さらに不純物表面濃
度は温度でコントロールでき、従って、非常に浅い接合
(〜0.1μm〜0.2μm)が種々の表面濃度(〜I
X I Q” cm−” 〜2 X I Q!ocm″
″” ) で実現−c*る。
以上説明したように本発明は、半導体基板に不純物を拡
散する際、固体拡散源と光加熱による短時間熱処理とを
用いることによシ非常に浅い接合を種々の表面濃度で実
現できる効果がある。
散する際、固体拡散源と光加熱による短時間熱処理とを
用いることによシ非常に浅い接合を種々の表面濃度で実
現できる効果がある。
第1図は本発明の一実施例を説明するための断面図であ
る。 1・・・・・・反射板、2・・・・・・ランプ、3・・
・・・・石英管、4・・・・・・半導体基板、5・・・
・・・固体拡散源。
る。 1・・・・・・反射板、2・・・・・・ランプ、3・・
・・・・石英管、4・・・・・・半導体基板、5・・・
・・・固体拡散源。
Claims (1)
- 半導体基板と固体拡散源とを対向かつ近接させて配置し
光照射によって前記半導体基板および前記固体拡散源を
1分以内で800℃以上の温度に加熱することを特徴と
する不純物拡散法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9997786A JPS62256427A (ja) | 1986-04-28 | 1986-04-28 | 不純物拡散法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9997786A JPS62256427A (ja) | 1986-04-28 | 1986-04-28 | 不純物拡散法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62256427A true JPS62256427A (ja) | 1987-11-09 |
Family
ID=14261725
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9997786A Pending JPS62256427A (ja) | 1986-04-28 | 1986-04-28 | 不純物拡散法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62256427A (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS511066A (en) * | 1974-06-21 | 1976-01-07 | Hitachi Ltd | Handotaiueehano kakusanhoho |
JPS6174378A (ja) * | 1984-09-20 | 1986-04-16 | Hamamatsu Photonics Kk | 赤外線照射により浅い接合とbsfを同時に形成する光センサの製造方法 |
-
1986
- 1986-04-28 JP JP9997786A patent/JPS62256427A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS511066A (en) * | 1974-06-21 | 1976-01-07 | Hitachi Ltd | Handotaiueehano kakusanhoho |
JPS6174378A (ja) * | 1984-09-20 | 1986-04-16 | Hamamatsu Photonics Kk | 赤外線照射により浅い接合とbsfを同時に形成する光センサの製造方法 |
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