JPS62228919A - 回転機械の振動測定装置 - Google Patents

回転機械の振動測定装置

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JPS62228919A
JPS62228919A JP61072749A JP7274986A JPS62228919A JP S62228919 A JPS62228919 A JP S62228919A JP 61072749 A JP61072749 A JP 61072749A JP 7274986 A JP7274986 A JP 7274986A JP S62228919 A JPS62228919 A JP S62228919A
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JP
Japan
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frequency
circuit
sampling
signal
rotation speed
Prior art date
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JP61072749A
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English (en)
Inventor
Tatsuo Hiuga
日向 達雄
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Ebara Corp
Ebara Research Co Ltd
Original Assignee
Ebara Corp
Ebara Research Co Ltd
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Publication date
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  • Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ターボ圧縮機、ターボポンプ、歯車装置、回
転原動機などの如き回転機械の振動の周波数分析を行な
う振動測定装置に関するものである。
〔従来技術〕
従来回転機械の振動について、ディジタル処理による周
波数分析を行なって振動測定を行なう場合には、1回転
当たりのサンプリング点数Sを予め設定しておき、サン
プリング間隔時間T3、ローパスフィルタ回路のカット
オフ周波数ftなどを手動により最適な値を選択してい
た。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、サンプリング間隔TI、ローパスフィル
タ回路のカットオフ周波数ftは後述の如く回転数nに
応じて変化するため、従来の装置においては、測定のプ
ロセス上回転数nを変化せしめる度にT、やfcなどの
値を手動にて選択せねばならず、回転数の変化も段階的
な変化を与えるにとどまり、多くの手間と時間がかかる
ものであった。
また、サンプリング点数Sを変更した場合でも、T、や
fcはやはりSに応じて変るため、選択の手間を要した
また、この選択を自動的にプログラム湿作を行なおうと
すればコンピュータを必要とし、構造が複雑になる、な
どの問題点を有するものであった。
本発明は、従来のものの上記の問題点を解決し、回転機
械の振動測定に当たり、回転数nを変えたり、サンプリ
ング点数Sを設定変更した場合でも自動的にかつ連続的
に最適のカットオフ周波数fc、サンプリング間隔時間
T1などの値を得て、最適な条件下において周波数分析
を行ない、信頼性の高い振動測定が行なえ、しかも構造
が筒車であり構造的にも信頼性の高い回転機械の振動測
定装置を提供することを目的とするものである。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は、上記の問題点を解決するための手段として、
回転機械の振動状態を検出し、得られた振動信号をロー
パスフィルタ回路により高次周波数成分をカットオフし
、得られた低次周波数成分信号を周波数分析回路に入力
せしめて周波数分析を行なう回転機械の振動測定装置に
おいて、前記回転機械の回転数nを検出し、これに基づ
く回転数信号を出力する回転数検出回路と、該回転数信
号を入力し、別途設定された1回転当たりのサンプリン
グ点数Sの値によりティ倍してサンプリング周波数〔。
f、 −nS に基づ(サンプリング周波数信号を出力するティ倍回路
と、該サンプリング周波数信号を入力し、Cを所定の定
数とするときカットオフ周波数fc、fc、fc=cf
s に基づくカットオフ周波数信号を出力し、前記ローパス
フィルタ回路に入力せしめる力、トオフ周波数回路と、
前記サンプリング周波数信号を入力し、サンプリング間
隔時間T。
T、=1#。
に基づくサンプリング間隔時間信号を出力し、前記周波
数分析回路に入力せしめるサンプリング間隔時間回路と
を備えたことを特徴とする回転機械の振動測定装置を提
供せんとするものである。
〔作 用〕
作用の説明に関係する記号につき以下に示す。
回転体回転数      n      r、p、s。
1回転当たりのサンプリング点数 3 1/rev回転
体1回転の周期   T F −1/n   seeサ
ンプリング間隔時間  Ts      seeサンプ
リング周波数   f t =1/Ts  1/sec
回転体回転周波ft1.     f、=n   17
see〃 2次周波数    fz=2n  1/se
C〃 m次 //      f、 、=mn  1#
、ecここに、サンプリング間隔時間T、は、Ts =
Tr /S=1/ns     secとなり、nとS
との関数となる。
また、ローパスフィルタ回路におけるカットオフ周波数
rcは、周波数分析を行ない得る周波数領域0〜r、ま
での間の、誤差が大なる高次周波数を除くため、Cを所
定の定数とするとき、fc=cf、         
    secなる如く選ばれている。Cは0.4〜0
.6程度に選ばれるが、0.5或いはその近辺がよい。
このfcは、 rcwc f、 −cnS        1/sec
となり、nとSとの関数となる。
また、2次以上の周波数のうち、特に振動に影響を与え
るのは8〜10次程度以下の周波数であるので、測定対
象周波数域を、例えば10次までとして0〜f、。の間
とする。このとき、f lo= 10 n      
       17secであり、nの関数である。
しかして、本発明は前述の如く構成されているので、テ
ィ倍回路から出力されるサンプリング周波数f、は自動
的にn及びSに従属する値となり、このf、に基づくサ
ンプリング周波数信号がサンプリング間隔時間回路に入
力され、サンプリング間隔時間T。
T、=1/f、  即ち=l/ns   secに基づ
くサンプリング間隔時間信号がさらに周波数分析回路に
入力され、サンプリング時点が選択される。従ってこの
サンプリング間隔時間T、はn又はSが変れば自動的に
最適の値になるよう変化する。
また、カットオフ周波数回路から出力されるカットオフ
周波数信号は、カットオフ周波数fcfc=cf、  
   即ち−cns に基づいているので、n又はSが変れば自動的にカント
オフ周波数が最適の値となるように変化する。
またさらに測定対象の周波数範囲の最大次数をm次とす
れば、回転数検出回路より出力された回転数nに基づく
信号を入力して、mとnとの相乗積mnに基づく信号を
出力するティ倍回路を用いて、この出力を回転数分析回
路に入力せしめて測定対象の最大周波数r11.を、 fmax ! L =mn          1/s
eeに基づいて選択するようにすれば、nが変れば測定
対象最大周波数f□8が自動的に最適な値になるように
変化する。
本発明はこのようにして、回転43(nが変っても、サ
ンプリング点数Sの設定変更を行なっても、サンプリン
グ間隔時間T5、カットオフ周波数fc%測定対象最大
周波数f□8などが自動的に最適な値となるよう定めら
れ入力されるので、人為的に変更する手間を要さず、ま
た、これらの回路は簡単なシーケンス回路であり、プロ
グラムを要さず、コンピュータを用いる必要がなく、構
造が極めて簡単で装置が小型となり、保守も容易となり
、信鎖性を向上せしめることができる。
〔実施例〕
本発明の実施例をブロック回路図により説明する。
1は測定されるべき回転振動体、2はその振動状態を検
出し、振動信号を出力する振動検出回路、3はローパス
フィルタ回路であり、後述の如きFV変換回路などによ
るカットオフ周波数回路4からのカットオフ周波数信号
により、カットオフ周波数「。よりも高次の周波数の成
分を除去し、周波数分析回路5のAD変換回路6に入力
し、ディジタル信号に変換する。
ここで、後述の回転数検出回路7よりの最初の信号がト
リガー信号TRとして入って周波数分析回路5を起動せ
しめ、後述のサンプリング間隔時間回路8からのサンプ
リング間隔時間T、に基づく信号が与えられてサンプリ
ング時点が選択され、さらに後述の、対象最大周波数r
□8用のティ倍回路9からの対象最大周波数r□8に基
づく信号が与えられて対象周波数の領域が選定される。
AD変換回路6より出力されたディジタル信号は周波数
分析回路本体lOにおいて周波数分析処理がなされ、そ
のディジクル出力はDA変換回路11により再びアナロ
グ化され、測定結果はCRT、ペンオソシロなどの表示
部12に表示される。アナログ化せずに測定結果を数表
により示してもよい。
回転数検出回路7は、回転体1回転にっき1パルスを発
生させる回路であり、単位時間例えば1secにはnパ
ルスを発生せしめ回転数n/secを検出し、nに基づ
く信号を出力する。
このパルスのうち、所定の時期のパルスはトリガーパル
スとして周波数分析回路5に送られ、これを起動せしめ
る。
13はティ倍回路であり、nに基づ(回転数信号を受け
、サンプリング点数設定回路14にて設定されたサンプ
リング点数S/rev(例えば16〜256)に基づく
信号により、Sの値をnに乗じてnS、即ちサンプリン
グ周波数f、を得る回路であって、f3に基づくサンプ
リング周波数信号を出力する。
サンプリング周波数信号はカットオフ周波数回路4に入
力され、FV変換が行なわれると同時に例えば定数Cが
0.5なる場合には、サンプリング周波数f、に0.5
が乗じられて0.5 f 、即ちカットオフ周波数rc
が得られ、fcに基づくカットオフ周波数信号がローパ
スフィルタ回路3に入力され、fc以上の周波数の成分
が除かれる。
サンプリング周波数信号はサンプリング間隔時間回路8
にも入力され、ここでは1/f、 、即ちサンプリング
間隔時間T、が得られ、T、に基づくサンプリング間隔
時間信号が周波数分析回路5に送られT、ごとのサンプ
リング時期が選択される。
9は対象最大周波数用のティ倍回路であり、nに基づく
回転数信号を受け、予め定められた最大次数mをnに乗
じてmn、即ち、対象最大周波数f□つを得るもので、
f□8に基づく信号を周波数分析回路5に入力せしめて
、測定対象の周波数領域を定める。
以上の如く、カットオフ周波数rc、サンプリング間隔
時間T1、対象最大周波数f mowなどは、nとSの
一方又は両方に応して自動的に変化するようになってい
るので、n、Sを変化せしめても人為的な手間は要さず
、構造も簡単である。
〔発明の効果〕
本発明により、振動測定のプロセス中などにおいて回転
体の回転数を変更したり、サンプリング点数を変更した
りする場合においても、サンプリング間隔時間、カット
オフ周波数などは自動的に連続的に最適な値となるよう
変化するので人為的な艮作は不要となりかつ信頼性が向
上し、その上、コンピュータなどの複雑な構造は必要な
く簡単で小型となり、保守も容易であり、構造的な面で
のf3頼性も向上する回転機械の振動測定装置を提供す
ることができ、実用上極めて大なる効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明の実施例のブロック回路図である。 1・・・回転振動体、2・・・振動検出回路、3・・・
ローパスフィルタ回路、4・・・カットオフ周波数回路
、5・・・周波数分析回路、6・・・AD変換回路、7
・・・回転数検出回路、8・・・サンプリング間隔時間
回路、9・・・ティ倍回路、10・・・周波数分析回路
本体、11・・・DA変換回路、12・・・表示部、1
3・・・ティ倍回路、14・・・サンプリング点数設定
回路。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、回転機械の振動状態を検出し、得られた振動信号を
    ローパスフィルタ回路により高次周波数成分をカットオ
    フし、得られた低次周波数成分信号を周波数分析回路に
    入力せしめて周波数分析を行なう回転機械の振動測定装
    置において、 前記回転機械の回転数nを検出し、これに 基づく回転数信号を出力する回転数検出回路と、 該回転数信号を入力し、別途設定された1 回転当たりのサンプリング点数Sの値によりテイ倍して
    サンプリング周波数f_s f_s=nS に基づくサンプリング周波数信号を出力するテイ倍回路
    と、 該サンプリング周波数信号を入力し、cを 所定の定数とするときカットオフ周波数f_c、f_c
    =cf_s に基づくカットオフ周波数信号を出力し、前記ローパス
    フィルタ回路に入力せしめるカットオフ周波数回路と、 前記サンプリング周波数信号を入力し、サ ンプリング間隔時間T_s T_s=1/f_s に基づくサンプリング間隔時間信号を出力し、前記周波
    数分析回路に入力せしめるサンプリング間隔時間回路と
    、 を備えたことを特徴とする回転機械の振動測定装置。 2、回転機械の振動状態を検出し、得られた振動信号を
    ローパスフィルタ回路により高次周波数成分をカットオ
    フし、得られた低次周波数成分信号を周波数分析回路に
    入力せしめて周波数分析を行なう回転機械の振動測定装
    置において、 前記回転機械の回転数nを検出し、これに 基づく回転数信号を出力する回転数検出回路と、 該回転数信号を入力し、別途設定された1 回転当たりのサンプリング点数Sの値によりテイ倍して
    サンプリング周波数f_s f_s=nS に基づくサンプリング周波数信号を出力するテイ倍回路
    と、 該サンプリング周波数信号を入力し、cを 所定の定数とするときカットオフ周波数f_c、f_c
    =cf_s に基づくカットオフ周波数信号を出力し、前記ローパス
    フィルタ回路に入力せしめるカットオフ周波数回路と、 前記サンプリング周波数信号を入力し、サ ンプリング間隔時間T_s T_s=1/f_s に基づくサンプリング間隔時間信号を出力し、前記周波
    数分析回路に入力せしめるサンプリング間隔時間回路と
    、 前記回転数nに基づく信号を入力し、予め 定められた測定対象周波数範囲の最大次数mの値により
    テイ倍して、対象最大周波数f_m_a_xf_m_a
    _x=mn に基づく対象最大周波数信号を出力し、前記周波数分析
    回路に入力せしめる対象最大周波数用のテイ倍回路と を備えたことを特徴とする回転機械の振動 測定装置。
JP61072749A 1986-03-31 1986-03-31 回転機械の振動測定装置 Pending JPS62228919A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011252753A (ja) * 2010-06-01 2011-12-15 Mitsubishi Electric Engineering Co Ltd 軸受の診断装置
WO2018198221A1 (ja) * 2017-04-26 2018-11-01 三菱電機株式会社 劣化診断装置および空気調和装置
JP2018199180A (ja) * 2017-05-26 2018-12-20 株式会社マキタ 電動作業機
WO2019230520A1 (ja) * 2018-05-28 2019-12-05 光洋電子工業株式会社 異常診断システム及び振動センサ

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011252753A (ja) * 2010-06-01 2011-12-15 Mitsubishi Electric Engineering Co Ltd 軸受の診断装置
WO2018198221A1 (ja) * 2017-04-26 2018-11-01 三菱電機株式会社 劣化診断装置および空気調和装置
CN110573737A (zh) * 2017-04-26 2019-12-13 三菱电机株式会社 劣化诊断装置以及空调装置
JPWO2018198221A1 (ja) * 2017-04-26 2020-01-09 三菱電機株式会社 劣化診断装置および空気調和装置
JP2018199180A (ja) * 2017-05-26 2018-12-20 株式会社マキタ 電動作業機
WO2019230520A1 (ja) * 2018-05-28 2019-12-05 光洋電子工業株式会社 異常診断システム及び振動センサ
JP2019207126A (ja) * 2018-05-28 2019-12-05 光洋電子工業株式会社 異常診断システム及び振動センサ

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