JPS62226053A - 超音波表面波探触子 - Google Patents

超音波表面波探触子

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Publication number
JPS62226053A
JPS62226053A JP61069957A JP6995786A JPS62226053A JP S62226053 A JPS62226053 A JP S62226053A JP 61069957 A JP61069957 A JP 61069957A JP 6995786 A JP6995786 A JP 6995786A JP S62226053 A JPS62226053 A JP S62226053A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspected
contact
contactor
ultrasonic
wave
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP61069957A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshimichi Yoshida
吉田 好道
Hidemichi Kitagawa
北川 英道
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
HIHAKAI KENSA KK
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Original Assignee
HIHAKAI KENSA KK
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by HIHAKAI KENSA KK, Mitsubishi Heavy Industries Ltd filed Critical HIHAKAI KENSA KK
Priority to JP61069957A priority Critical patent/JPS62226053A/ja
Publication of JPS62226053A publication Critical patent/JPS62226053A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、金属あるいは非金属の表面に存在する微細な
欠陥を、超音波表面波を用いて検出する超音波表面波探
触子に関し、特に曲面部分の欠陥検出に適した超音波表
面探触子に関する。
[従来の技術] 従来の超音波表面波探触子は、第4図に示すようにアク
リル樹脂製の機材1の端面2を、表面波発生角度αで切
除し、その面に1tgvJ子3を貼り付けた構造を有し
ている。そしてリード線4を図示しない探傷器に接続し
て撮動子3を駆動することにより、機材1の下面5に表
面波6を発生させ、被検体7の表面に沿って進行させる
。かくして被検体7に存在する欠陥8からの反射波Eを
検知することにより、探傷するものとなっている。
[発明が解決しようとする問題点] 上記従来の超音波表面波探触子は、アクリル樹脂製の機
材1を使用しているので、機材1中で超音波の減衰が生
じる。このため10MHz程度までは使用できるが、そ
れ以上の高周波になると超音波のエネルギーが著しく弱
まり、探傷が困難となることがあった。また従来の探触
子は機材1の下面5が平坦面であるため、表面が平坦な
被検体にしか適用できないという問題点があった。
そこで本発明は、超音波減衰に起因する超音波出力の低
下がなく、被検体の微少欠陥等を適確に検出できる上、
曲面部分での探傷も可能な超音波表面波探触子を提供す
ることを目的とする。
(問題点を解決するための手段〕 本発明は、前記問題点を解決し目的を達成するために、
次のような手段を講じた。すなわち、一定の距離を隔て
て相対する大小2つの円を互いに接線で結んだような断
面形状を有する部材からなる接触子を設け、この接触子
における前記接線を一つの辺とする平面上に、表面波発
生角度αをもって局部液浸型の超音波探触子本体を配置
し、前記大きい円の円周面部分を被検体に接触させて超
音波探傷を行なうようにした。
[作用] 追音波探触子から発生した縦波は、液中を伝播して表面
波発生角度αで接触子に入射する。したがって接触子表
面に表面波が発生し、接触子における大きい円の円周面
に沿って伝播し、該円周と線接触している被検体に表面
波を伝達するものとなる。そして被検体に欠陥が存在す
れば、その部分で反射波となって探触子に戻ってくるの
で欠陥が検出される。なお表面波発生角度αは、第3図
に示す液体媒質■中の音速をC1、媒質■中の音速をC
2、入射角をα、屈折角をθとすると、(1)式で表わ
される。
C1/s i nα=c2 /s i nθ・(1)こ
の(1)式には、光学系と同じくスネルの法則が適用さ
れる。したがってこの(1)式において、屈折角θが9
0°になると表面波が発生するので、この時の入射角α
が表面波発生角度となる。
[実施例] 第1図は本発明の一実施例の超音波表面波探触子の構成
を示す斜視図である。超音波探触子本体11は、アクリ
ル類などのハウジング12に収容されている。ハウジン
グ12内には液体13が充填されている。このハウジン
グ12全体は、表面波を伝え易い材料たとえば金属、フ
ァインセラミックス、などで作られた接触子14に対し
て、表面波発生角度αをもって接着等の手段によって直
接的に結合されている。
接触子14は、一定の距離を隔てて相対する大小2つの
円を互いに接線で結んだような断面形状を有する部材で
構成されている。すなわち、図示の如く大きな円柱形を
なす頭状部分15と、小さな円柱形をなす原状部分16
と、頭状部分15と原状部分16との間に存在している
移行部17とからなっている。なお、移行部17には緩
やかな曲率がつけて必る。このような形状を有する接触
子14は、被検体18に対して原理的には頭状部分15
の接触面1つで線接触することになる。なお、通常の超
音波探傷と同様に、液体の接触媒質は必要である。
次に上記の如く構成された超音波表面波探触子の作用に
ついて説明する。探触子11から発信された超音波20
(縦波)は、接触子14と液体13との境界面21で表
面波22に変換される。
境界面21で発生した表面波22は、接触子14の頭状
部分15の円周面部分23を経由して接触子14と被検
体18との接触面1つに至り、ここから被検体18に伝
播する。伝播した表面波22は主として被検体18の矢
印方向24に進む。
そして欠陥25に当たるとこの欠陥25によって反射さ
れ、逆の経路をたどって探触子本体11に戻り、受信さ
れる。
本実施例で特徴的な点は、接触子14と被検体18とが
原理的に線接触であるため、複雑な曲面部分にも適合し
得る点である。特に接触子14の幅26を小さくすると
、3次元曲面にもある程度適合し得るものとなる。さら
に接触子14の頭状部分15の曲率27を小さくすると
、小曲率部分への適用も可能となる。また10MHz以
上の高周波化も可能なため、微少な欠陥、特にファイン
セラミックス等の表面もしくは表面近1労に発生する@
綱な亀裂や介在物などの検出に役立つ。
なお、被検体18に伝播せず接触子14の実測に困った
矢印28で示す表面波は、もともと弱いため、伝播して
いるうちに減弱してしまい、探傷機能には影響しない。
 なお本発明は前記一実施例に限定されるものではなく
、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形実施可能で
あるのは勿論である。
[発明の効果] 本発明によれば、一定の距離を隔てて相対する大小2つ
の円を互いに接線で結んだような断面形状を有する部材
で形成された接触子を設け、この接触子の平面上に、表
面波発生角度をもって局部液浸型の超音波探触子本体を
配置し、前記大きい円の円周面を被検体に接触させて超
音波探傷を行なうようにしたので、超音波減衰に起因す
る超音波出力の低下がなく、被検体の微少欠陥等を適確
に検出できる上、従来探傷が困難であった曲面部分での
探傷も可能な超音波表面波探触子を提供できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の超音波表面波探触子の構成
を示す斜視図、第2図は同実施例の概略的側面図、第3
図は表面波発生角度αの説明図、第4図は従来例の構成
を示す側面図である。 11・・・超音波探触子本体、12・・・ハウジング、
13・・・液体、14・・・接触子、15・・・頭状部
分、16・・・原状部分、17・・・移行部、18・・
・被検体、19・・・接触面、20・・・超音波(縦波
)、21・・・境界面、22・・・表面波、23・・・
円周面部分、25・・・欠陥、26・・・接触子幅、2
7・・・曲率、α・・・表面波発生角度。 出願人復代理人 弁理士 鈴江武彦 第 2 図 第3図 ム 第4図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 一定の距離を隔てて相対する大小2つの円を互いに接線
    で結んだような断面形状を有する部材で形成された接触
    子と、この接触子における前記接線を一つの辺とする平
    面上に表面波発生角度αをもって配置された局部液浸型
    の超音波探触子本体とからなり、前記大きい円の円周面
    部分を被検体に接触させて超音波探傷を行なうことを特
    徴とする超音波表面波探触子。
JP61069957A 1986-03-28 1986-03-28 超音波表面波探触子 Pending JPS62226053A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61069957A JPS62226053A (ja) 1986-03-28 1986-03-28 超音波表面波探触子

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61069957A JPS62226053A (ja) 1986-03-28 1986-03-28 超音波表面波探触子

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS62226053A true JPS62226053A (ja) 1987-10-05

Family

ID=13417641

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61069957A Pending JPS62226053A (ja) 1986-03-28 1986-03-28 超音波表面波探触子

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JP (1) JPS62226053A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11337537A (ja) * 1998-05-22 1999-12-10 Nippon Seiko Kk 超音波手探傷法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11337537A (ja) * 1998-05-22 1999-12-10 Nippon Seiko Kk 超音波手探傷法

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