JPS6327748A - 超音波探触子 - Google Patents

超音波探触子

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Publication number
JPS6327748A
JPS6327748A JP61171108A JP17110886A JPS6327748A JP S6327748 A JPS6327748 A JP S6327748A JP 61171108 A JP61171108 A JP 61171108A JP 17110886 A JP17110886 A JP 17110886A JP S6327748 A JPS6327748 A JP S6327748A
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JP
Japan
Prior art keywords
ultrasonic
acoustic lens
ultrasonic beam
test body
curvature
Prior art date
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Pending
Application number
JP61171108A
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English (en)
Inventor
Hirotsugu Tanaka
洋次 田中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は丸棒、板材、管材等の表面及び内部に存在す
る欠陥、介在物等を検出するための超音波探傷装置用の
超音波探触子に関するものである。
〔従来の技術〕
第4図は例えば超音波探傷法(昭和49年日刊工業新開
社発行)に示された従来の超音波探触子の断面図でるる
第4図(a)は垂直探触子の正面断面図、第4図(b)
は垂直探触子の横断面図である。
図において(1)は超音波の送受信を行うための平板形
の振動子、 f21H上記蛋動子(11の不要振動を抑
制するだめのダンパー材、(3)は振動子(11を収納
するケース、 +41U超音波を試験体まで伝達させる
ための水、油等から成る接触媒質、(5)は試験体、(
6)は試験体(5)中で拡散する超音波ビーム、(7)
は近距離音場で見られる広い超音波ビーム、(8)は遠
距離音場で見られる狭い超音波ビームである。
従来の超音波探触子は上記のように構成されており1例
えば試験体(5)が丸棒−?管材等の場合には、第4図
(a)に示すように1周方同においては試験体(5)の
外径曲率のために超音波が拡散し9幅広い超音波ビーム
(6)となる。
一方、第4図(b)E示すように、軸方向においては試
験体(5)の厚さが厚くなると、超音波の音場として、
近距離音場と遠距離音場と(二検査領域がまたがる事に
なる。
ここで近距離音場限界距離Xoは(1)式で求められる
為=D2/4λ      ・・・・・・・・・・・・
・・・ +11λ :波長 、  D:振動子寸法 又、一般(二近距離音場内での超音波ビーム(7)は振
動子(1)の寸法にほぼ相当する幅広の特性となる。又
、遠距離音場でハ(2)式で与えられる指向角Ijoで
拡散して行く特性となる。
θo=57Xλ/D    ・・・・・・・・・・・・
・・・ (2)λ:波長 、D:摂動子寸法 したがって、遠距離音場においてはXo から2XO位
の範囲では非常に狭い超音波ビーム(8)となってしま
う。
〔発明が解決し:うとする問題点〕
上記のように平板振動子(1)が具備されただけの超音
波探触子においては試験体(5)の周方向では広い超音
波ビーム(6)となり、感度低下、S/N低下をまねく
問題となる。
さらに試験体(5)の軸方向では近距離音場限界距離焉
から2XO付近までの遠距離音場内では狭い超音波ビー
ム(8)となるために、全面探傷を実施する場合に、試
験体(5)の搬送速度を遅くするか、探触子の数を多く
するかの対策が必要となり、試験体(5)の生産能力を
低下させたり、超音波探傷装置の大形化、コストアップ
化となる問題がめった。
この発明は上記問題点を解決するため(二なされたもの
で、試験体の周方向には収束した狭い超音波ビームを形
成し、試験体の軸方向には振動子寸法とほぼ同程度の広
い超音波ビームを遠距離まで形成する超音波探触子を得
ることを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
この発明による超音波探触子は、試験体の周方向に超音
波ビームを収束するための音響レンズを有し、さらに、
試験体の軸方向には超音波ビームを拡散させるための曲
率な有する曲面振動子を具備させたものである。
〔作 用〕
この発明においては、試験体の周方向には音響レンズに
より超音波ビームを収束させるために試験体中での超音
波ビームは狭く、欠陥の検出感度が向上できる。
又、試験体の軸方向には超音波が拡散する曲面振動子に
より超音波ビームが遠距離まで平行、もしくは拡散ぎみ
に広くなるため、試験体の全面探傷を行う場合でも、試
験体の搬送速度を遅くしたり、探触子の数量を増やした
りすることは不要となり、低価格の探傷装置を供給でき
ることになる。
〔実施例〕
第1図はこの発明の一実施例を示す超音波探触子の断面
図でるり、第1図<a>は垂直探触子の正門断面図、第
1図(b)は垂直探触子の横断面図である。
図において(1つは一方向にのみ超音波が拡散する曲率
を有する曲面振動子、(2)はダンパー材、(3)は曲
面振動子(1つを収納するケース、(4)は接触媒質、
(5)は試験体、(9)は超音波を収束させる音響レン
ズ、 C1lは音響レンズ(9)により収束された超音
波ビーム、 dllは曲面振動子(1′)により拡散さ
れた超音波ビームである。
第2図はこの発明の他の実施例を示す斜角形の超音波探
触子の斜視図でるる。
図において(1つは曲面振動子、C2はアクリル樹脂等
から成る楔、Rは上記曲面振動子(1′)の曲率方向と
直交する方向で、接触媒質(4)に当接する楔αΔの面
上に設けられた超音波を収束させるための曲率でるる。
上記のように構成された超音波探触子においては1例え
ば試験体(5)が丸棒や管材等の場合には9周方向にお
いては曲面振動子(1′)の曲率が付いていないために
、平板形振動子(1)と見なせる。したがって、第1図
(a)に示すような収束形の音響レンズ(9)を摂動子
(1′)が接触媒質(4)に対向する面上(二具備させ
る事により。
試験体(5)中に収束された細い超音波ビームuQを形
成させる事が可能となる。一方、上記音響レンズ(9)
の曲率とは直交する方向、すなわち、試験体(5)の軸
方向においては超音波が拡散する曲面振動子(1′)の
曲率が付いている方向となり、拡散形レンズを上記曲面
振動子(1′)に当接する面上に具備させる事により第
1図(b)(−示すように超音波ビームaυをほぼ平行
、又はわずかに拡散ぎみに形成させる事が可能となる。
又、斜角形の超音波探触子においても楔(laが音響レ
ンズ(9)の効果を有するため、上記喫QX5の曲面振
動子(1′)を取付ける面(=必要な屈折角度が得られ
る角度を設け、上記角度を有した楔α2の振動子α′)
と同じ曲率を設け、さらに上記曲面振動子(1つの曲率
方向とは直交する方向でかつ接触媒質(4)に当接する
面上に超音波を収束させるための曲率Rを設けることに
より一方には収束された超音波ビームα1.他の一方に
は拡散ぎみの超音波ビーム1υを形成させることが可能
となる。
尚、斜角形の超音波探触子においては、第3図に示す構
造でも同様な効果を得ることができる。
第3図はこの発明の請求範凹の第2項の実施例を示す斜
角形の超音波探触子の斜視図である。
図において(1つは超音波を収束させる曲率を有する曲
面振動子、 (12’)は楔、Aは上記楔(1z)の接
触媒体(4)に当接する面である。
上記第3図に示す超音波探触子(二おいては、 喫(1
2’)が音響レンズの効果を有するため。
上記喫(12’)の曲面振動子(1つを取付けろ面に必
要な屈折角度が得られる角度を設け、上記角度を有した
喫(12つの振動子(1つ取付は面には上記曲面振動子
(1つと同じ曲率を設け、超音波ビームを収束させる。
一方、上記曲面振動子(1つの曲率方向とは直交する方
向で、かつ接触媒質(4)に当接する楔(12’)の面
A上に、超音波を拡散させる曲率な設けることにより超
音波ビームを拡散させ。
第1図(a)、 (b)に示す超音波ビームQl、αυ
を形成可能にできる。
〔発明の効果〕
この発明は以上説明したように、一方には超音波を収束
、又は拡散させる音響レンズを設け、上記音響レンズの
曲率方向と直交する方向には超音波が拡散又は収束する
音響レンズ、及び曲面振動子を具備させることにより欠
陥検出感度が向上し、さらに全面探傷の要求に対しても
超音波探触子の数が少ない低価格の超音波探傷装置を供
給できる効果がろる
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明による垂直形の超音波探触子の断面図
、第2図はこの発明による他の実施例でろろ斜角形の超
音波探触子の斜視図、第3図はこの発明(=よる第2の
他の実施例である斜角形の超音波探触子の斜視図、第4
図は従来の垂直形の超音波探触子の断面図でるる。 図において(1)は平板形振動子、 (1’)は超音波
拡散形の曲面振動子、(1ツは超音波収束形の曲面振動
子、(2)はダンパー材、(3)はケース、(4)は接
触媒質、(5)は試験体、(6)は拡散する超音波ビー
ム、(7]は近距離音場内の広い超音波ビーム、(8)
は遠距離音場内の狭い超音波ビーム、(9)は音響し/
ズ、α1は音響レンズで収束された狭い超音波ビーム、
 [111は曲面振動子で拡散された広い超音波ビーム
、 Qa、 (12’)は喫でめる。 尚、各図中同一符号は同−又は相当部分を示す、。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)丸棒、板材、管材等の欠陥を非破壊で検査する超
    音波探傷装置用の超音波探触子において、接触媒質に当
    接する面に設けられた音響レンズと、上記音響レンズの
    曲率・方向と直交する方向で振動子と当接する面に設け
    られた音響レンズ及び曲面振動子とを具備した事を特徴
    とする超音波探触子。
  2. (2)2つの音響レンズの一方は超音波を収束させ、ま
    た他方は超音波を拡散させる構成である特許請求の範囲
    第(1)項記載の超音波探触子。
JP61171108A 1986-07-21 1986-07-21 超音波探触子 Pending JPS6327748A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02280049A (ja) * 1989-04-20 1990-11-16 Mitsubishi Electric Corp 超音波探触子
JPH0496805A (ja) * 1990-08-13 1992-03-30 Yutaka Sangyo Kk 曲面創成用データー作成装置
JP2012526975A (ja) * 2009-05-14 2012-11-01 ジーイー インスペクション テクノロジーズ ゲ−エムベーハー 超音波による非破壊検査用試験プローブ群と同様の試験プローブおよび試験装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5054384A (ja) * 1973-05-04 1975-05-14
JPS5642092B2 (ja) * 1975-02-03 1981-10-02

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5054384A (ja) * 1973-05-04 1975-05-14
JPS5642092B2 (ja) * 1975-02-03 1981-10-02

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02280049A (ja) * 1989-04-20 1990-11-16 Mitsubishi Electric Corp 超音波探触子
JPH0496805A (ja) * 1990-08-13 1992-03-30 Yutaka Sangyo Kk 曲面創成用データー作成装置
JP2012526975A (ja) * 2009-05-14 2012-11-01 ジーイー インスペクション テクノロジーズ ゲ−エムベーハー 超音波による非破壊検査用試験プローブ群と同様の試験プローブおよび試験装置

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