JPS64605Y2 - - Google Patents

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JPS64605Y2
JPS64605Y2 JP3006582U JP3006582U JPS64605Y2 JP S64605 Y2 JPS64605 Y2 JP S64605Y2 JP 3006582 U JP3006582 U JP 3006582U JP 3006582 U JP3006582 U JP 3006582U JP S64605 Y2 JPS64605 Y2 JP S64605Y2
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JP
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axis
angle
ultrasonic
cylinder
probe
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JP3006582U
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JPS58132867U (ja
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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
  • Transducers For Ultrasonic Waves (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は超音波斜角探触子の形状に関するもの
である。
斜角探触子とは、適度な角度のクサビによつ
て被検体中へ斜めに超音波パルスを発射し、被検
体中のキズによつて反射された超音波エコーを検
出するための超音波発信受信素子である。キズの
位置は、送信パルスとエコーパルスの時間差から
求められる。
第1図は、中空円筒形被検体のキズを円筒内側
面から探傷する従来の斜角探触子1である。第2
図は上記斜角探触子1を円筒2の内側面に内接さ
せて超音波3を発射したときの、円筒軸方向から
見た側面図である。第1図に示すように、従来の
斜角探触子1の底面4は、円筒内側面に内接する
円筒形の一部になつており、その上面5に超音波
トランスデユーサー6が設けられている。上記上
面は円筒の軸と平行な直線を中心として適当な角
度だけ回転した面になつているので、その面上
にある超音波トランスデユーサー6から発射され
る超音波ビーム3は被検体2に傾斜して入射す
る。その結果、超音波ビーム3は、上記円筒面の
軸に対して垂直で、かつ上記超音波トランスデユ
ーサー6を含む面内で、円筒の外側面と内側面の
間で反射を繰返しつつ、第2図に示すように、進
行する。被検体中にキズがあると、超音波3は反
射されて、上記の径路を逆にたどつて超音波トラ
ンスデユーサー6に戻り、エコーパルスとして検
出される。
なお探触子1中の超音波音速と被検体中の音速
が等しくない場合には、第3図に示すように、そ
の境界面において屈折が生じる。
この超音波の入射角をθ()、屈折角をθ()
とし、超音波媒質,の超音波の速度をV
(),V()とすると屈折について次の式が成
立つ。
sinθ()/sinθ()=V()/V() しかしこの屈折の効果は、本考案の本質とは直
接には関係しない。
従来の斜角探触子1から放射された超音波3
は、第2図に示すように、円筒軸に対して垂直な
面内を進行する。従つて、第4図に示すような、
円筒軸にほぼ平行なキズ7に対してほぼ直角に、
超音波3が照射される。この場合反射波はほぼ入
射経路を逆にたどつて超音波はトランスデユーサ
ー6に戻り、そしてキズが検出される。
しかし従来の斜角探触子を、第5図に示すよう
なテーパー状の被検体に適用し、内側表面あるい
は外側表面近傍にあり、それぞれの母線にほぼ平
行なキズを探傷するために使用する場合には非常
に効率が悪い。その理由は、第6図に示すよう
に、超音波の進行方向に対して垂直な面内にある
キズaの反射波3aは入射波と逆方向に進行する
が、その面内にないキズbの反射波3bは入射波
と逆方向には進行しない。従つてエコーが超音波
トランスデユーサー6に戻る効率が悪く、ほとん
どエコーが戻らない。さらに具体的に説明する
と、第5図に示すようなテーパー状の被検体の内
側円筒に、従来の斜角探触子を内接させて超音波
を発信すると、超音波の進行方向は内側円筒の軸
方向に垂直な面内にあるので、外側表面近傍にあ
り、外側円錐の母線にほぼ沿つている線状のキズ
7の反射波は超音波トランスデユーサー6にほと
んど戻らない。また内側面近傍にあり、円筒軸に
ほぼ平行な線状のキズ8を検出するために、超音
波を一度外側面によつて反射させてからそのキズ
に照射させる場合においても、超音波の進行方向
と、そのキズの方向が直角でないので、やはり反
射エコーが超音波トランスデユーサー6にほとん
ど戻らず、そのキズの検出が困難であつた。
本考案は斜角探触子の構造に改良を加えて、テ
ーパー状被検体の表面近傍にあり、テーパー外側
円錐の母線あるいはテーパー内側円筒の軸にほぼ
平行な線状のキズ7,8に対して超音波3を直角
に照射することによりそのエコーを容易に検出す
ることを可能としたものである。
第7図は本考案に係る斜角探触子9の斜視図で
ある。
第7図に示す斜角探触子は、第1図の斜角探触
子の超音波トランスデユーサーを含む上面を、角
度θだけさらにz軸を中心として回転したもので
ある。この結果、超音波が底面を横切る点におけ
る接平面に含まれ円筒の軸に平行な軸をy軸、上
記接平面に含まれy軸に直角な軸をx軸、x軸お
よびy軸に直交する軸をz軸とするとき、従来の
斜角探触子における超音波の進行方向の方向余弦
が(−sin,0,−cos)であるのに対して、第
7図に示す斜角探触子9における超音波トランス
デユーサから放射される超音波のメインローブの
進行方向の方向余弦は(−cosθsin,−sinθsin,
−cos)に変わる。
底面への入射角θ()はz軸との方向余弦で
定まるので、第1図と第7図の斜角探触子は同一
の入射角度を有する。斜角探触子中に被検体中
の超音波の音速が同一でない場合には第3図のよ
うに屈折が生じるが、屈折の態様は、第1図と第
7図の斜角探触子において変化がない。他方、超
音波の進行方向には顕著な差が、二種の斜角探触
子において現われる。すなわち第1図の斜角探触
子においては、超音波の進行方向の方向余弦にy
成分が含まれていないが、第7図の斜角探触子に
おいては、超音波の進行方向が円筒の軸、すなわ
ちy軸と直交せず、y成分をも含んでいる。
第8図はテーパー状の被検体の内側円筒に、第
7図の斜角探触子を内接させて超音波を発射した
時の側面図である。超音波の進行方向はy成分を
含んでいるので、角度θ,の値いを選ぶことに
より、超音波がテーパー部外側円錐に当る点で
の、円錐の母線に対して超音波が直角になるよう
に調節することができる。このように調節すると
この母線の近傍にあり、この母線にほぼ平行なキ
ズがあればエコーが超音波トランスデユーサー6
に効率よくもどる。また、外側円筒で一度反射し
た超音波が、内側円筒に当る点での円筒の母線に
対して、超音波が直角になるように角度θ,を
調節することもできる。このように調節すると上
と同様に内側円筒近傍のキズを探傷することがで
きる。この場合の角度θの値いは、外側表面近傍
のキズを探傷する場合のほぼ2倍となる。
以上に説明したように、適当な角度θを選び、
斜角探触子を内側面の周方向あるいは軸方向に移
動することにより、テーパー部の外側面あるいは
内側面の母線にほぼ平行なキズを高感度で探傷す
ることができる。なお、テーパーの形状が種々あ
る場合には、角度θ,を可変にしておく必要が
ある。
本考案に係る斜角探触子は、内側面が円錐形で
外側面が円柱形であるテーパー部にも、当然容易
に応用することができる。また直接接触形のみで
なく水浸法においても同様な考え方が成り立つ。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の斜角探触子、第2図は被検体中
の超音波径路を示す側面図、第3図は境界面での
超音波の屈折を示す模式図、第4図は円筒中のキ
ズを示す斜視図、第5図はテーパー部に従来の斜
角探触子を使用した場合の超音波の径路を示す側
面図、第6図は線状のキズによる超音波の反射を
示す模式図、第7図は本考案に係る斜角探触子の
斜視図、第8図は本考案に係る斜角探触子をテー
パー部に使用した場合の超音波の径路を示す側面
図である。 2……被検体、3……超音波ビーム、6……超
音波トランスデユーサー、7,8……キズ。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 円筒面と円錐面からなるテーパー形の管体か
    ら成る被検体の円筒面に密接するように底面が
    円筒の一部で形成され、傾斜した上面に超音波
    トランデユーサが付設されている斜角探触子に
    おいて、超音波が底面を横切る点における接平
    面に含まれ円筒の軸に平行な軸をy軸、上記接
    平面に含まれy軸に直角な軸をx軸、x軸およ
    びy軸に直交する軸をz軸とし、φ,θを0゜以
    外の角度とするとき、上記超音波トランデユー
    サが付設された上面が上記接平面に対して角度
    φだけ傾斜し、上記上面に付設された超音波ト
    ランスデユーサから放射される超音波のメイン
    ローブの進行方向の方向余弦が(−cosθsinφ,
    −sinθsinφ,−cosφ)であり、管体中の超音波
    が管体に当る点における管体の母線の方向に対
    して超音波進行方向が直交するように上記角度
    θ,φが選ばれていることを特徴とするテーパ
    ー用斜角探触子。 (2) 上記角度φと上記角度θまたはその一方が可
    変であることを特徴とする実用新案登録請求の
    範囲第1項記載のテーパー用斜角探触子。
JP3006582U 1982-03-03 1982-03-03 テ−パ−用斜角探触子 Granted JPS58132867U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3006582U JPS58132867U (ja) 1982-03-03 1982-03-03 テ−パ−用斜角探触子

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3006582U JPS58132867U (ja) 1982-03-03 1982-03-03 テ−パ−用斜角探触子

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS58132867U JPS58132867U (ja) 1983-09-07
JPS64605Y2 true JPS64605Y2 (ja) 1989-01-09

Family

ID=30041814

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3006582U Granted JPS58132867U (ja) 1982-03-03 1982-03-03 テ−パ−用斜角探触子

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JP (1) JPS58132867U (ja)

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JPS58132867U (ja) 1983-09-07

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