JPS62225961A - コンタクトプロ−ブ植設方法 - Google Patents
コンタクトプロ−ブ植設方法Info
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- JPS62225961A JPS62225961A JP61069522A JP6952286A JPS62225961A JP S62225961 A JPS62225961 A JP S62225961A JP 61069522 A JP61069522 A JP 61069522A JP 6952286 A JP6952286 A JP 6952286A JP S62225961 A JPS62225961 A JP S62225961A
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- 238000000034 method Methods 0.000 title description 13
- 238000002513 implantation Methods 0.000 description 8
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 7
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- 238000007906 compression Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
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- 241000257465 Echinoidea Species 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/0735—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card arranged on a flexible frame or film
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Standing Axle, Rod, Or Tube Structures Coupled By Welding, Adhesion, Or Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明はプリント配線基板の検査治具に使用されるコン
タクトプローブを植設する方法に関する。
タクトプローブを植設する方法に関する。
従来の技術
第8図は上記検査治具の概略を示す。ブD−ブプレート
1には被検査プリント配4I基板2の測定位置に対応す
る位置にコンタクトプローブ3が植設されており、各コ
ンタクトプローブ3の検出信号はそれぞれケーブル4を
介して比較回路5に入力される。比較回路5では、プリ
ント配線基板2を第8図仮想線位置に示すようにコンタ
ク1へプローブ3に押し当てた状態での検出信号と正常
時の各設定信号とを比較して、両者の一致検出によって
「良品」 「不良品」の判定を行うよう構成されている
。
1には被検査プリント配4I基板2の測定位置に対応す
る位置にコンタクトプローブ3が植設されており、各コ
ンタクトプローブ3の検出信号はそれぞれケーブル4を
介して比較回路5に入力される。比較回路5では、プリ
ント配線基板2を第8図仮想線位置に示すようにコンタ
ク1へプローブ3に押し当てた状態での検出信号と正常
時の各設定信号とを比較して、両者の一致検出によって
「良品」 「不良品」の判定を行うよう構成されている
。
第9図(aHb)はプローブプレート1へのコンタクト
プローブ3の従来の植設過程を示す。
プローブ3の従来の植設過程を示す。
先ず、第9図(a)のようにプローブプレート1の上面
([)側から測定位置に対応する位置の孔6にコンタク
トプローブ3の基端部を差し込んで鍔部7が上面(F)
に当接するJ、で゛圧入し、次いでプローブプレート1
の下面(R>側に突出したコンタクトプローブ3の各基
端部にウーブル4の接続作業が行われる。
([)側から測定位置に対応する位置の孔6にコンタク
トプローブ3の基端部を差し込んで鍔部7が上面(F)
に当接するJ、で゛圧入し、次いでプローブプレート1
の下面(R>側に突出したコンタクトプローブ3の各基
端部にウーブル4の接続作業が行われる。
なお、検査冶具の筺体内部でのケーブル4の引き回しを
考慮して、最近ではケーブル4の中間部の相互を平板状
に接続したフラットケーブルが使用されるため、各コン
タクトプローブ3とケーブル4との接続はコンタクトプ
ローブ3のプローブプレート1への植設完了後の工程で
行われる。
考慮して、最近ではケーブル4の中間部の相互を平板状
に接続したフラットケーブルが使用されるため、各コン
タクトプローブ3とケーブル4との接続はコンタクトプ
ローブ3のプローブプレート1への植設完了後の工程で
行われる。
発明が解決しようどづる問題点
このような従来の植設方法では、コンタク1へプローブ
3はプローブプレー1へ1の上面(F)側からしか植設
できないため、上記のようにケーブル4としてフラット
ケーブルを使用した場合には各ケーブル4の比較回路5
側の端部をプローブプレート1のそれぞれの孔6に通し
て下面(R)側に引き出すようなことができず、コンタ
クドブ[]−プ3とケーブル4との接続は=1ンタクト
プローブ3の圧入の後工稈で行うことが強いられている
ため、検査治具の完成;1:でには艮114間を必要と
覆る。
3はプローブプレー1へ1の上面(F)側からしか植設
できないため、上記のようにケーブル4としてフラット
ケーブルを使用した場合には各ケーブル4の比較回路5
側の端部をプローブプレート1のそれぞれの孔6に通し
て下面(R)側に引き出すようなことができず、コンタ
クドブ[]−プ3とケーブル4との接続は=1ンタクト
プローブ3の圧入の後工稈で行うことが強いられている
ため、検査治具の完成;1:でには艮114間を必要と
覆る。
更に、プローブプレー1−1のL而(「)側からコンタ
ク1〜プローブ3を圧入づる作業は次の点からも好まし
くない。つまり、第10図のJ、うに作業テーブル17
上に被検査プリン1〜配線基板2どプローブプレート1
とを並べ、被検査プリント配線基板2を見ながら測定個
所St 、82.83に対応する位置のプローブプレー
ト1の孔61,62 。
ク1〜プローブ3を圧入づる作業は次の点からも好まし
くない。つまり、第10図のJ、うに作業テーブル17
上に被検査プリン1〜配線基板2どプローブプレート1
とを並べ、被検査プリント配線基板2を見ながら測定個
所St 、82.83に対応する位置のプローブプレー
ト1の孔61,62 。
63に圧入づることになるが、測定個所81〜S3の配
列方向が第10図におい−で一点鎖線Aのように右上り
に配列されているのに対して孔61〜63の配列方向は
一点鎖線Bのように右下りになるため、植設作業に熟練
するまでは測定個所S1゜S3については誤った位置の
孔61’ 、63 ’ にコンタクドブ「l−ブ3を植
設してしまうような事態が発生しやJい。
列方向が第10図におい−で一点鎖線Aのように右上り
に配列されているのに対して孔61〜63の配列方向は
一点鎖線Bのように右下りになるため、植設作業に熟練
するまでは測定個所S1゜S3については誤った位置の
孔61’ 、63 ’ にコンタクドブ「l−ブ3を植
設してしまうような事態が発生しやJい。
本発明はプローブプレートの下面側から圧入することが
でき、植設に先立って予めクープルと接続しておいても
検査治具を組立てることのできる]ンタクトブ[,1−
ブ仙設方法を提供することを目的とする。
でき、植設に先立って予めクープルと接続しておいても
検査治具を組立てることのできる]ンタクトブ[,1−
ブ仙設方法を提供することを目的とする。
問題点を解決覆るための手段
本発明のコンタクトプローブは、植設すべき二」ンタク
1−プローブの大径部が通過1り能な径の孔が穿設され
たプローブプレートの一方の片面に弾性シートを敷設し
、プローブプレー1−の他方の片面側から前記孔にコン
タクトプローブ先端を前記大径部が前記弾性シートを貫
通して通過する位置にまで押し込み、次いでコンタクト
プローブを前記大径部が前記弾性シートの表面に係合す
る位置まで戻して植設することを特徴とする。
1−プローブの大径部が通過1り能な径の孔が穿設され
たプローブプレートの一方の片面に弾性シートを敷設し
、プローブプレー1−の他方の片面側から前記孔にコン
タクトプローブ先端を前記大径部が前記弾性シートを貫
通して通過する位置にまで押し込み、次いでコンタクト
プローブを前記大径部が前記弾性シートの表面に係合す
る位置まで戻して植設することを特徴とする。
作用
この構成によると、プローブプレートに弾性シートが敷
かれているため、被検査プリント配線基板をコンタクト
プローブに押し付けても、前記弾性シートがコンタクト
プローブの大径部とプ0−ブプレートの孔との間に介在
して、コンタクトプローブが抜は落ちない。
かれているため、被検査プリント配線基板をコンタクト
プローブに押し付けても、前記弾性シートがコンタクト
プローブの大径部とプ0−ブプレートの孔との間に介在
して、コンタクトプローブが抜は落ちない。
実施例
以下、本発明の具体的な実施例を第1図〜第7図に基づ
いて説明する。
いて説明する。
第1図は本発明の植設方法によって第9図と同じプロー
ブピン3をプローブプレート1に植設する過程を示す。
ブピン3をプローブプレート1に植設する過程を示す。
プローブプレート1の上面(F)には孔6の位置に対応
して穴8が穿けられたゴムシート9が貼付Cノられてお
り、先ず、第1図(a)のようにコンタクトプローブ3
をプローブプレート1の下面(R>側から押し込んで行
く。ここでプローブプレート1の孔6の内径P2はコン
タクトプローブ3の大径部である鍔部7の直径P1と比
べるとP2≧P1に形成されており、コンタクトプロー
ブ3を押し込んで行くと鍔部7は孔6を通過する。
して穴8が穿けられたゴムシート9が貼付Cノられてお
り、先ず、第1図(a)のようにコンタクトプローブ3
をプローブプレート1の下面(R>側から押し込んで行
く。ここでプローブプレート1の孔6の内径P2はコン
タクトプローブ3の大径部である鍔部7の直径P1と比
べるとP2≧P1に形成されており、コンタクトプロー
ブ3を押し込んで行くと鍔部7は孔6を通過する。
鍔部7が孔6を通過して更に押し込んで行くと、ゴムシ
ート9の穴8が第1図(b)のように鍔部7で広げられ
る。コンタクトプローブ3の押し込みが進むと、鍔部7
は第1図(C)のようにゴムシート9を通過する。そし
て最後に第1図(C)の状態にあるコンタクトプローブ
3を鍔部7がゴムシート9の上面に当接するまで下側(
R>側にコンタクトプローブ3を引き戻して植設が完了
する。
ート9の穴8が第1図(b)のように鍔部7で広げられ
る。コンタクトプローブ3の押し込みが進むと、鍔部7
は第1図(C)のようにゴムシート9を通過する。そし
て最後に第1図(C)の状態にあるコンタクトプローブ
3を鍔部7がゴムシート9の上面に当接するまで下側(
R>側にコンタクトプローブ3を引き戻して植設が完了
する。
このようにして植設しているため、コンタクトプローブ
3の先端に被検査プリン1〜配線基板2が押し付けられ
てコンタクトプローブ3に下面(R)に向かう力が作用
しても、ゴムシート9がコンタクトプローブ3の鍔部7
とプローブプレート1の−〇 − 孔6との間に介在するため、P2≦P1であってもコン
タクトプローブ3はプローブプレート1の孔6から抜は
落ちない。
3の先端に被検査プリン1〜配線基板2が押し付けられ
てコンタクトプローブ3に下面(R)に向かう力が作用
しても、ゴムシート9がコンタクトプローブ3の鍔部7
とプローブプレート1の−〇 − 孔6との間に介在するため、P2≦P1であってもコン
タクトプローブ3はプローブプレート1の孔6から抜は
落ちない。
更に、このようにプローブプレート1の下面(R)側か
らコンタクドブ0−ブ3を植設できるため、従来では得
られない次のような効果を奏する。
らコンタクドブ0−ブ3を植設できるため、従来では得
られない次のような効果を奏する。
第1に、ケーブル4としてフラットケーブルを使用する
場合であっても、予めコンタクトプローブ3の基端部に
ケーブルを接続しておいても検査冶具を組み立てられる
ため、従来のようなコンタクトプローブ植設後の後■稈
を簡略化できる。
場合であっても、予めコンタクトプローブ3の基端部に
ケーブルを接続しておいても検査冶具を組み立てられる
ため、従来のようなコンタクトプローブ植設後の後■稈
を簡略化できる。
第2に、コンタクトプローブ3の植設作業を第2図のよ
うに作業テーブル17上に被検査プリント配線基板2と
プローブプレート1とを並べて被検査プリント配線基板
2の測定個所81〜$3を見ながら行う場合、プローブ
プレート1における測定個所81〜S3に対応する孔6
1〜63の配列方向は一点鎖線Cのように一点鎖線へと
同じ右上りであるため、第10図の場合と比べると作業
に熟練が要求されない。
うに作業テーブル17上に被検査プリント配線基板2と
プローブプレート1とを並べて被検査プリント配線基板
2の測定個所81〜$3を見ながら行う場合、プローブ
プレート1における測定個所81〜S3に対応する孔6
1〜63の配列方向は一点鎖線Cのように一点鎖線へと
同じ右上りであるため、第10図の場合と比べると作業
に熟練が要求されない。
第3図〜第6図は第1図とは胃なる新規な形式のコンタ
クトプローブを植設する場合の様子を示プ。
クトプローブを植設する場合の様子を示プ。
この新規な形状のコンタクトプローブは、第3図〜第5
図に詳細を示すように、プローブピン10の中間部に外
筒11が装着されており、中間突起12と外筒11の基
端側の絞り部13との間には圧縮ばね14が介装されて
おり、プローブピン10の前記中間突起12が外筒11
の先端側の絞り部15に当接して停止するよう付勢され
ている。前記外筒11のプローブピン10の先端側には
基端部側の径よりも大きな大径部16が形成されており
、大径部16には第4図のように2ケ所の割りW418
が形成されている。
図に詳細を示すように、プローブピン10の中間部に外
筒11が装着されており、中間突起12と外筒11の基
端側の絞り部13との間には圧縮ばね14が介装されて
おり、プローブピン10の前記中間突起12が外筒11
の先端側の絞り部15に当接して停止するよう付勢され
ている。前記外筒11のプローブピン10の先端側には
基端部側の径よりも大きな大径部16が形成されており
、大径部16には第4図のように2ケ所の割りW418
が形成されている。
このように構成された新規な形式のコンタクトプローブ
3′も、第6図(a)〜(d)に示すように第1図(a
)〜(d)と同様の過程でプローブプレート1の下面(
R>側から植設できる。
3′も、第6図(a)〜(d)に示すように第1図(a
)〜(d)と同様の過程でプローブプレート1の下面(
R>側から植設できる。
なお、第6図の過程ではプローブピン10の先端は外筒
11から突出したままの状態でプローブプレート1の孔
6への押し込みが行われているが、これは第7図のよう
にすることによって、より小さな押し込み力だけで植設
できる。
11から突出したままの状態でプローブプレート1の孔
6への押し込みが行われているが、これは第7図のよう
にすることによって、より小さな押し込み力だけで植設
できる。
つまり、第7図では先ず(a)のようにプローブピン1
0の基端部を外筒11に対して圧縮ばね14の付勢に抗
して下方に引いた状態にして、プローブピン10の先端
を大径部16よりも後退させた状態でプローブプレート
1の下面(R>側から孔6に押し込むと、大径部16に
は割り溝18が形成されているため、大径部16がゴム
シー1〜9の六8を通過する際に大径部16は第7図(
b)のJ、うに縮径力向に押さえ付けられて弾性変形し
て縮径した状態で通過し、大径部16がゴムシート9を
通過すると、第7図fc)のように縮径しでいた前記大
径部16は自己の弾性力で復帰する。この状態でプロー
ブピン10の下方への前記引っばり力を解除づると、プ
ローブピン10の先端部は圧縮ばね14の付勢力で外筒
11の大径部16を通過した位置に復帰する。第7図(
d)は第6図(d)と同様である。
0の基端部を外筒11に対して圧縮ばね14の付勢に抗
して下方に引いた状態にして、プローブピン10の先端
を大径部16よりも後退させた状態でプローブプレート
1の下面(R>側から孔6に押し込むと、大径部16に
は割り溝18が形成されているため、大径部16がゴム
シー1〜9の六8を通過する際に大径部16は第7図(
b)のJ、うに縮径力向に押さえ付けられて弾性変形し
て縮径した状態で通過し、大径部16がゴムシート9を
通過すると、第7図fc)のように縮径しでいた前記大
径部16は自己の弾性力で復帰する。この状態でプロー
ブピン10の下方への前記引っばり力を解除づると、プ
ローブピン10の先端部は圧縮ばね14の付勢力で外筒
11の大径部16を通過した位置に復帰する。第7図(
d)は第6図(d)と同様である。
このようにして植設すれば、第7図(b)で大径−〇
一 部16が縮径する分だけ第6図の場合に比べて押し込み
力が小さくても植設することができる。また、第7図(
aHb)のようにプローブピン10に引っばり力を作用
させた状態では、大径部16が縮径できるため、大径部
16の直径をP3とすると、プローブプレート1の孔の
内径P2はP3<P2であっても大径部16は通過可能
である。
一 部16が縮径する分だけ第6図の場合に比べて押し込み
力が小さくても植設することができる。また、第7図(
aHb)のようにプローブピン10に引っばり力を作用
させた状態では、大径部16が縮径できるため、大径部
16の直径をP3とすると、プローブプレート1の孔の
内径P2はP3<P2であっても大径部16は通過可能
である。
上記各実施例においては、弾性シートとしてゴムシート
9を使用したが、これは弾性変形する合成樹脂シートと
しても同様である。
9を使用したが、これは弾性変形する合成樹脂シートと
しても同様である。
発明の詳細
な説明のように本発明の=Jンタク1〜プローブ植設方
法は、弾性シートをプローブプレート上に敷設しCプロ
ーブプレー1・の前記弾性シートが敷設されていない側
から孔にコンタク1〜プローブを押し込むため、補設終
了状態ではコンタクトプローブの大径部とプローブプレ
ートの孔の間に前記弾性シートが介在するため、コンタ
クトプローブが抜は落ちることがない。
法は、弾性シートをプローブプレート上に敷設しCプロ
ーブプレー1・の前記弾性シートが敷設されていない側
から孔にコンタク1〜プローブを押し込むため、補設終
了状態ではコンタクトプローブの大径部とプローブプレ
ートの孔の間に前記弾性シートが介在するため、コンタ
クトプローブが抜は落ちることがない。
更に、被検査プリン1〜配線基板の配設側とは反−10
= 対側の面からプローブプレートに植設できるため、比較
回路との接続用ケーブルにフラットケーブルが使用され
る場合においても植設よりも前にコンタクトプローブの
基端部にケーブルを接続することができ、検査治具組み
立てにおいて植設後の配線工程を省くことができ、予じ
めケーブルの接続作業を実施しておくことによって、加
ニスピードを大幅に向上させることができるものである
。
= 対側の面からプローブプレートに植設できるため、比較
回路との接続用ケーブルにフラットケーブルが使用され
る場合においても植設よりも前にコンタクトプローブの
基端部にケーブルを接続することができ、検査治具組み
立てにおいて植設後の配線工程を省くことができ、予じ
めケーブルの接続作業を実施しておくことによって、加
ニスピードを大幅に向上させることができるものである
。
第1図〜第7図は本発明の具体的な実施例を示し、第1
図は本発明の植設過程の説明図、第2図は第1図の植設
時の作業テーブル上の平面図、第3図〜第5図は新規な
コンタクトプローブの正面図とx−x’矢視図および縦
断面図、第6図と第7図はそれぞれ第3図のコンタクト
プローブの植設過程の説明図、第8図は検査治具の構成
図、第9図は従来のコンタクトプローブの植設過程の説
明図、第10図は第9図の植設作業時の作業デープル上
の平面図である。 1・・・プローブプレート、2・・・被検査プリント配
421<板、3,3′・・・コンタクトプローブ、6・
・・プローブプレートの孔、7・・・鍔部〔大径部〕、
9・・・ゴムシー1〜〔弾性シート〕、10・・・プ[
1−ブピン、16・・・大径部、18・・・割り溝、F
・・・プ]」−1プレートの上面、R・・・プローブプ
レートの下面代即人 森 本 義 弘 第7図 第1図 、〆2 一一、−−−−乙
図は本発明の植設過程の説明図、第2図は第1図の植設
時の作業テーブル上の平面図、第3図〜第5図は新規な
コンタクトプローブの正面図とx−x’矢視図および縦
断面図、第6図と第7図はそれぞれ第3図のコンタクト
プローブの植設過程の説明図、第8図は検査治具の構成
図、第9図は従来のコンタクトプローブの植設過程の説
明図、第10図は第9図の植設作業時の作業デープル上
の平面図である。 1・・・プローブプレート、2・・・被検査プリント配
421<板、3,3′・・・コンタクトプローブ、6・
・・プローブプレートの孔、7・・・鍔部〔大径部〕、
9・・・ゴムシー1〜〔弾性シート〕、10・・・プ[
1−ブピン、16・・・大径部、18・・・割り溝、F
・・・プ]」−1プレートの上面、R・・・プローブプ
レートの下面代即人 森 本 義 弘 第7図 第1図 、〆2 一一、−−−−乙
Claims (1)
- 1、植設すべきコンタクトプローブの大径部が通過可能
な径の孔が穿設されたプローブプレートの一方の片面に
弾性シートを敷設し、プローブプレートの他方の片面側
から前記孔にコンタクトプローブ先端を前記大径部が前
記弾性シートを貫通して通過する位置にまで押し込み、
次いでコンタクトプローブを前記大径部が前記弾性シー
トの表面に係合する位置まで戻して植設するコンタクト
プローブ植設方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61069522A JPS62225961A (ja) | 1986-03-26 | 1986-03-26 | コンタクトプロ−ブ植設方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61069522A JPS62225961A (ja) | 1986-03-26 | 1986-03-26 | コンタクトプロ−ブ植設方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62225961A true JPS62225961A (ja) | 1987-10-03 |
JPH042908B2 JPH042908B2 (ja) | 1992-01-21 |
Family
ID=13405137
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61069522A Granted JPS62225961A (ja) | 1986-03-26 | 1986-03-26 | コンタクトプロ−ブ植設方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62225961A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0233363U (ja) * | 1988-06-10 | 1990-03-02 | ||
WO2008084627A1 (ja) * | 2006-12-19 | 2008-07-17 | Nhk Spring Co., Ltd. | 導電性接触子ユニット |
CN102388313A (zh) * | 2009-04-03 | 2012-03-21 | Dtg国际股份有限公司 | 用于测试印刷电路板的测试装置的接触连接单元 |
-
1986
- 1986-03-26 JP JP61069522A patent/JPS62225961A/ja active Granted
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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