JPS62222649A - チツプ吸着装置 - Google Patents
チツプ吸着装置Info
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- JPS62222649A JPS62222649A JP61064886A JP6488686A JPS62222649A JP S62222649 A JPS62222649 A JP S62222649A JP 61064886 A JP61064886 A JP 61064886A JP 6488686 A JP6488686 A JP 6488686A JP S62222649 A JPS62222649 A JP S62222649A
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- Japan
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- chip
- collet
- light
- suction
- suction port
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- Pending
Links
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- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 claims description 6
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims description 2
- 239000002390 adhesive tape Substances 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 206010008631 Cholera Diseases 0.000 description 1
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Landscapes
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- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[a業上の利用分野]
本発明は、チップ吸着装置にかかるものであり、特にダ
イボンディング装置に好適なチップ吸着装置に関するも
のである。
イボンディング装置に好適なチップ吸着装置に関するも
のである。
[従来の技術]
半導体装置の製造に使用されるボンディング装置として
は、例えば第3図に示すものがある。この図において、
(1)は装置本体、(りは操作パネル、(3)はボンデ
ィングヘッド、(4)はボンディングステージ、(5)
はプリアライメント部、(6)はダイピッカー、(7)
はコレット、(8)はトレイ、(9)はトレイローダ、
Q[]lはボンディング用の顕微鏡、(II)はチップ
吸着用の顕微鏡、(財)はボンディング用のカメラ、0
3はチップ吸着用のカメラ、α旬はモニターである。
は、例えば第3図に示すものがある。この図において、
(1)は装置本体、(りは操作パネル、(3)はボンデ
ィングヘッド、(4)はボンディングステージ、(5)
はプリアライメント部、(6)はダイピッカー、(7)
はコレット、(8)はトレイ、(9)はトレイローダ、
Q[]lはボンディング用の顕微鏡、(II)はチップ
吸着用の顕微鏡、(財)はボンディング用のカメラ、0
3はチップ吸着用のカメラ、α旬はモニターである。
以上のような装置において、トレイローダ(9)は回転
可能に構成されており、トレイ(8)には、半導体チッ
プを乗せた粘着性シートが収納されている。トレイロー
ダ(9)の回転によってコレット(7)の位置に送られ
たチップは、第4図に示すチップ吸着装置によって粘着
テープから取り出される。
可能に構成されており、トレイ(8)には、半導体チッ
プを乗せた粘着性シートが収納されている。トレイロー
ダ(9)の回転によってコレット(7)の位置に送られ
たチップは、第4図に示すチップ吸着装置によって粘着
テープから取り出される。
取り出されたチップは、プリアライメント部(5)にお
いて所定の位置決めが行われ、更にボンディングステー
ジ(4)上に送られて所定のボンディングか行われる。
いて所定の位置決めが行われ、更にボンディングステー
ジ(4)上に送られて所定のボンディングか行われる。
次に、第4図を参照しながら、チップ吸着装蓋について
説明する。この図において、コレット(7)の位置に送
られたチップ0均は、矢印FAの方向に■;動可能な突
出棒(16)によって、粘着テープ(17)から剥がさ
れる。そして、矢印FBのごとく真空吸引されており、
かつ、矢印FCの方向に移動可能なコレット(7)によ
り、チップ0!51の吸着が行われる。
説明する。この図において、コレット(7)の位置に送
られたチップ0均は、矢印FAの方向に■;動可能な突
出棒(16)によって、粘着テープ(17)から剥がさ
れる。そして、矢印FBのごとく真空吸引されており、
かつ、矢印FCの方向に移動可能なコレット(7)によ
り、チップ0!51の吸着が行われる。
以上の操作の後、突出した突出棒(18)は元の位置に
戻り、吸着されチップ(1ωはコレット(7)により所
望の位置に搬送される。これらのシーケンスは、比較的
高速で行われる。
戻り、吸着されチップ(1ωはコレット(7)により所
望の位置に搬送される。これらのシーケンスは、比較的
高速で行われる。
[発明が解決しようとする問題点]
ところで、以上のような従来の装置においては、チップ
(I5)がコレット(7)に吸着されたか否かを確認す
る装置が備えられていないため、吸着ミスが発生した場
合でも、所定のシーケンスに応じて作業が進められてし
まうという不都合がある。
(I5)がコレット(7)に吸着されたか否かを確認す
る装置が備えられていないため、吸着ミスが発生した場
合でも、所定のシーケンスに応じて作業が進められてし
まうという不都合がある。
本発明はかかる点に鑑みてなされたものであり、半導体
チップの吸着ミスを防止して不良品の発生を低減するこ
とができるチップ吸着装置を1是供することをその目的
とするものである。
チップの吸着ミスを防止して不良品の発生を低減するこ
とができるチップ吸着装置を1是供することをその目的
とするものである。
[問題点を解決するための手段]
本発明にかかるチップ吸着装置は、発光手段および受光
手段を含み、これらの手段のうち、いずれか一方を、前
記コレット内に半導体チップの吸着口に向って配置し、
他方を、前記コレットの移動範囲内のいずれかの位置で
、前記コレットの半導体チップの吸着口に向って配置し
たことを特徴とするものである。
手段を含み、これらの手段のうち、いずれか一方を、前
記コレット内に半導体チップの吸着口に向って配置し、
他方を、前記コレットの移動範囲内のいずれかの位置で
、前記コレットの半導体チップの吸着口に向って配置し
たことを特徴とするものである。
[作用]
本発明によれば、チップ吸着のミスが生じたか否かかが
、受光手段から出力される信号により判断される。
、受光手段から出力される信号により判断される。
[実施例]
以下本発明の実施例について詳細に説明する。
なお、上述した従来例と同様の構成部分については、同
一の符号を用いることとする。
一の符号を用いることとする。
第1図には、本発明の一実施例にかかるチップ吸着装置
が示されている。この図において、コレットmの真空吸
着用の通路内には、発光素子(イ)が配置されている。
が示されている。この図において、コレットmの真空吸
着用の通路内には、発光素子(イ)が配置されている。
この発光素子(社)は、適宜の電源に)に接続されてお
り、その光は、コレット翰の吸着口の方向に出力される
ようになっている。
り、その光は、コレット翰の吸着口の方向に出力される
ようになっている。
他方、コレラhmの吸着口の下方には、受光素子−が配
置されており、発光素子□□□の光が受光されるように
なっている。なお、この受光素子−の配置は、コレット
wの移動範囲のうちの適宜位置である。すなわち、チッ
プ(面を吸着したコレット(7)が移動する途中におい
て受光素子(イ)が発光素子(2)の光を受光できるよ
うになっている。
置されており、発光素子□□□の光が受光されるように
なっている。なお、この受光素子−の配置は、コレット
wの移動範囲のうちの適宜位置である。すなわち、チッ
プ(面を吸着したコレット(7)が移動する途中におい
て受光素子(イ)が発光素子(2)の光を受光できるよ
うになっている。
次に上記実施例の作用について説明する。まず、チップ
(15)の吸着ミスが生じていない場合について説明す
る。この場合には、第2図(A)に示すように、発光素
子■の光が受光素子−に受光されることがないため、受
光素子(イ)から信号が出力されることはない。
(15)の吸着ミスが生じていない場合について説明す
る。この場合には、第2図(A)に示すように、発光素
子■の光が受光素子−に受光されることがないため、受
光素子(イ)から信号が出力されることはない。
他方、チップ(Iωの吸着ミスが生じているときは、チ
ップ(1ツかないため、第2図(B)に示すように、発
光素子(至)の光が受光素子−に受光されることとなり
、受光素子−から信号が出力されることとなる。
ップ(1ツかないため、第2図(B)に示すように、発
光素子(至)の光が受光素子−に受光されることとなり
、受光素子−から信号が出力されることとなる。
従って、受光素子−からの信号により、チップ(!団の
吸着ミスが生じているか否かの判断が行われ、これに基
いて例えば装置の駆動停止が行われる。
吸着ミスが生じているか否かの判断が行われ、これに基
いて例えば装置の駆動停止が行われる。
なお、本発明は、何ら上記実施例に限定されるものでは
なく、例えば、発光素子と受光素子の配置を逆にして、
コレットの内部に受光素子を配置するようにしてもよい
。
なく、例えば、発光素子と受光素子の配置を逆にして、
コレットの内部に受光素子を配置するようにしてもよい
。
[発明の効果]
以上説明したように、本発明によれば、半導体チップの
吸着もれを検知して半導体チップが吸着されないまま次
のシーケンスに穆る誤動作を防止することができるとと
もに、半導体チップの吸着ミスによる不良品の発生を低
減することができるという効果がる。
吸着もれを検知して半導体チップが吸着されないまま次
のシーケンスに穆る誤動作を防止することができるとと
もに、半導体チップの吸着ミスによる不良品の発生を低
減することができるという効果がる。
第1図は本発明の実施例を示す構成図、第2図は上記実
施例の作用を示す説明図、第3図はボンディング装置の
一例を示す斜視図、第4図は従来の装置例を示す構成図
である。 図において、(15)はチップ、06)は突出棒、Q7
)は粘着テープ、翰はコレット、(社)は発光素子、翰
は受光素子である。 なお、各図中同一符号は、同−又は相当部分を示すもの
とする。
施例の作用を示す説明図、第3図はボンディング装置の
一例を示す斜視図、第4図は従来の装置例を示す構成図
である。 図において、(15)はチップ、06)は突出棒、Q7
)は粘着テープ、翰はコレット、(社)は発光素子、翰
は受光素子である。 なお、各図中同一符号は、同−又は相当部分を示すもの
とする。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 粘着シート上に配置された半導体チップをコレットによ
り吸着して搬送するチップ吸着装置において、 該装置は、発光手段および受光手段を含み、これらの手
段のうち、いずれか一方は、前記コレット内に半導体チ
ップの吸着口に向って配置されており、 他方は、前記コレットの移動範囲内のいずれかの位置で
、前記コレットの半導体チップの吸着口に向って配置さ
れていることを特徴とするチップ吸着装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61064886A JPS62222649A (ja) | 1986-03-25 | 1986-03-25 | チツプ吸着装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61064886A JPS62222649A (ja) | 1986-03-25 | 1986-03-25 | チツプ吸着装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62222649A true JPS62222649A (ja) | 1987-09-30 |
Family
ID=13271026
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61064886A Pending JPS62222649A (ja) | 1986-03-25 | 1986-03-25 | チツプ吸着装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62222649A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01121864U (ja) * | 1988-02-12 | 1989-08-18 | ||
WO1997046071A1 (fr) * | 1996-05-31 | 1997-12-04 | Advantest Corporation | Detecteur de materiau aspire, procede de detection de materiau aspire, procede de detection de decalages a l'aide dudit detecteur, et procede de nettoyage recourant audit detecteur |
JP2006135159A (ja) * | 2004-11-08 | 2006-05-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 部品吸着検出装置及び検出方法、並びに部品実装装置及び部品実装方法 |
JP2008093736A (ja) * | 2006-10-05 | 2008-04-24 | Canon Machinery Inc | ピックアップ装置 |
-
1986
- 1986-03-25 JP JP61064886A patent/JPS62222649A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01121864U (ja) * | 1988-02-12 | 1989-08-18 | ||
WO1997046071A1 (fr) * | 1996-05-31 | 1997-12-04 | Advantest Corporation | Detecteur de materiau aspire, procede de detection de materiau aspire, procede de detection de decalages a l'aide dudit detecteur, et procede de nettoyage recourant audit detecteur |
JP2006135159A (ja) * | 2004-11-08 | 2006-05-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 部品吸着検出装置及び検出方法、並びに部品実装装置及び部品実装方法 |
JP2008093736A (ja) * | 2006-10-05 | 2008-04-24 | Canon Machinery Inc | ピックアップ装置 |
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