JPS62219568A - 固体撮像素子 - Google Patents

固体撮像素子

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JPS62219568A
JPS62219568A JP61062617A JP6261786A JPS62219568A JP S62219568 A JPS62219568 A JP S62219568A JP 61062617 A JP61062617 A JP 61062617A JP 6261786 A JP6261786 A JP 6261786A JP S62219568 A JPS62219568 A JP S62219568A
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color
sensor
pixel
area
color pixels
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JP61062617A
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Shoichi Tanaka
正一 田中
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Original Assignee
Individual
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/148Charge coupled imagers
    • H01L27/14868CCD or CID colour imagers

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Color Television Image Signal Generators (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明はCCV固体撮像素子に関し、特にフレーム転送
CCD固体撮像素子(FTセンサ)の改良に関する。
背景技術 重置CCI)が画素列を兼ねろFTセンサはインタライ
ン転送CCD固体撮像素子より簡単な構造とより高い水
平解像度を達成できる利点を持つ。しかし、従来のFT
センサは光感度特に、nT感度が悪い欠点が打った。こ
の問題を改善する為に、各画素領域にそれぞれ受光窓(
本明細書では開口領域と略称される。)を設置する技術
(開[1技術と略称される。)は周知であり、青感度政
商の何力な手段であった。また、上記の開口技術の特殊
技術として、単相クロック転送技術または本出願人によ
って出願された変形1ト〕/R転送技術を使用して、一
部の画素の開口率を100%とする事も周辺下余白 知である。また、本出願人によって、高い導電率を持つ
奇(偶)数行の転送電極と、高い青感度を持つ偶(奇)
数行の転送電極を接続して実質的に1画素行の転送電極
を構成し、そして上記の奇(偶)数行の転送電極の下に
電位障壁領域を設置し、」二足の偶(奇)数行の転送電
極の下に電位井戸を設置する技術も提案されている。
また、固体撮像素子において重要な問題であるブルーミ
ング問題をを改善するする為に、N形基板の上にPウェ
ル領域を設置し、そしてその表面にN形バルクチャンネ
ル領域を設置する技術(縦型オーバーフロー技術と略称
される。)を使用する事は周知である。
発明の開示 (従来技術の問題点) しかし、上記の開口技術の欠点は各画素の必要面積が増
加するので、より高い水平画素数を達成する事が困難に
なる事である。即ち、所要ダイナミックレンジと最低ノ
イズレベルから決定される最大信号電荷量は大体一定で
あり、一般に、150000電子から400000電子
である。従って、上記の最大信号電荷量から主感光領域
の必要面積が決定される。従って、水平画素数の増加は
開口面積の減少によって達成される。その結果、水平画
素数の増加によって、各画素の青感度が低下する3、奇
(偶)数置素行の画素が100%の開口率を持ち、偶(
奇)数置素行の画素が0%の開口率を持ついわゆるバー
チャルCCV構造のFTセンサまたは変形IE/B転送
FTセン→ノ゛は、露出された画素の電位障壁電位と電
位井戸電位を固定するので、各画素のダイナミックレン
ジが小さくなる欠点を持つ。そして奇(偶)数置素行の
青感度が悪いので、限定された色画素配列しか採用でき
ず、水平輪郭部で偽色輪郭が発生する欠点を持−)。ま
た、奇(偶)数行の転送電極と偶(奇)数行の転送電極
を接続して実質的に1行の転送電極を構成する技術は非
常に薄いポリシリコン電極を設置する必要があり、」二
足の非常に薄いポリシリコン電極の厚さまたは不純物濃
度のばらつきによって、青感度がばらつく欠点を持つ。
また、上記の縦型オーバーフ[J−技術は垂直CCVの
バルクチャンネル領域のI・のI〕ウェル領域を空乏化
する必要がある。その結果、−上記の空乏化I〕ウェル
領域に人力する光電子の多くが基板に吸収されるので、
光感度が低下し、そして空乏化Pウェル領域に一時的に
滞在する光ホールによってバルクチャンネル領域の電位
が変動する欠点を持つ。
発明の目的 従って、本発明の目的は上記の問題を改善し、高い光感
度を持つFTセンサを開発する事である。
本発明の第2の目的は高い青感度と大きな水平画素数を
持つFTセンサの開発である。
上記の目的を達成する為に、本明細書は複数の独立発明
を開示する。それらは共通の目的を持ち、−緒に実施す
る事によって、相乗効果が期待できるのて一緒に説明さ
れる。
以下余白 本発明の基本的な特徴が以下上記載されろ。
(1)、 それぞれ異なる分光感度を有する複数の色画
素を備えろ単板カラーまたは2板カラーフレーム転送C
CDエリアセンサ(以下において、カラーF′rセンサ
と略称される。)において、各色画素はクロック電圧を
印加される転送電極(クロック転送電極と略称される。
)の下に設置される感光領域(主感光領域と略称される
。)を備え、そして少なくとも一部の色画素はクロック
転送電極をその」一方に持たない感光領域(開口領域と
略称される。)を備え、そしてより高い青感度を有する
色画素(B系色画素と略称される。)の開口領域は残り
の色画素の内の少なくとも1種類の色画素の開口領域よ
り広い面積を持つ事を特徴とするカラーFTセンサ。
(2)、少なくとも1種類の色画素は開口領域を持たな
い事を特徴とする第1項記載のカラーFTセンサ。
(3)、上記のB系色画素を含む奇(偶)数画素列は上
記のB系色画素を含まない偶(奇)数画素列より広い水
平幅を持つ事を特徴とする第1項記載のカラーFTセン
サ。
(4)、  B系色画素の開口領域は同じB系色画素の
主感光領域の両側に設置される事を特徴とする第1項記
載のカラーFTセンサ。
(5)、上記のB系色画素の開口領域の上に設置される
色フィルタは入力される緑色光を半分以下に減衰させる
事を特徴とする第4項記載のカラーFTセンサ。
(6)、  N形基板と、N形基板のLに作られたPウ
ェル領域と、Pウェル表面に作られた垂直ccDのN形
バルクチャンネル領域と、隣接する垂直CCVのバルク
チャンネル領域を電気的に分離するチャンネルストップ
領域を備え、そして」二足の垂直CCV (Aレジスタ
)は画素列を兼ねるフレーム転送CCDエリアセンサ(
FTセンサと略称されろ。)において、 上記のN形バルクチャンネル領域の下のPウェル領域(
第1Pウエル領域と略称される。)の濃度または/そし
て厚さは上記のチャンネルストップ領域の下のPウェル
領域(第2Pウエル領域と略称される。)の濃度または
/そして厚さと異なり、そして上記の垂直C’CDのN
形バルクチャンネル領域に発生した過剰信号電荷(ブル
ーミング電荷と略称される。)は1記の第2Pウエル領
域を介してN形基板にオーバーフローする事を特徴とす
るFTセンサ。
(7)、 上記の第2Pウエル領域は奇(偶)数番目の
チャンネルストップ領域の下に設置され、そして少なく
とも一部の偶(奇)数番目のチャンネルストップ領域の
下に設置されない事を特徴とする第6項記載のFTセン
サ。
以下余白 各発明の詳細な特徴と効果が以下に説明される。
独立発明1.クレート1 本発明は甲板カラーまたは2板力ラー固体撮像装置を構
成するF Tセンサ(カラーFTセンサ)がそれぞれ異
なる分光感度を持つ複数の色画素を備える事に着目して
為された。即ち、単板カラーまたは2板力ラー固体撮像
装置にJjいて、1個のカラーFTセンサの一部の色画
素だけが高い青感度を要求される。そして」―記のF 
Tセンサの金色画素の最大蓄積信号電荷量は垂直転送時
にオーバーフローするのを防止する為に、人体等しいか
または一定の信号電荷重置−にである必要がある。上記
の条件を満足する為に、本発明のカラーF Tセンサの
金色画素はクロック転送電極の下に配置される主感光領
域を持ち、そしてB系色画素だけが広い開[]領域を持
つ。このようにすれば、各色画素はそれぞれクロック転
送電極を持つので、多くの信ぢ゛電荷を蓄積でき、そし
て上記のクロック転送電極は赤色光(R光)及び緑色光
(G光)にたいして高い感度を持つので、金色画素の赤
感度と緑感度は十分高くできる。そしてより高い青感度
を要求されるB系色画素の開L1領域が特に広く設定さ
れるので、B系色画素の青感度も高くてきる。そして、
開「I領域の総和は従来より小さくできるので、その結
果、大きい水平1iTij素数を持つカラーFTセンサ
を実現できろ。一般に、中板カラー固体撮像素子は3ま
たは4種類の色画素を持ち、そのIまたは2種類の色画
素が高い青感度を持つ必要かある。
従って、3種類の色画素を備えろ単板カラー固体撮像素
子において、1種類の色画素だけが高い青感度を持つ1
工が好ましい。なお、上記の開口領域である感光領域は
一般にその上にMO3電極を持たないが、垂直転送用ク
ロック電圧を印加されないMOSゲート電極を備える事
は可能である。
従属発明1.クレーム2 クレーム1の好ましい実施例において、少なくとも1種
類の色画素は開口領域を持たない。当然、この色画素は
高い音感度を要求されない色画素である。このようにす
れば、B系色画素の開[」率を増加する事ができる。
従属発明2.クレーム3 クレーl\1の好ましい実施例において、■3系色画素
を含む画素列とB系色画素を含まない画素列が交互に設
置され、そしてB系色画素を含む画素列の水平幅がより
広く設定される。このようにすれば、同じ画素列の各色
画素の主感光領域をほとんど隣接して設置てきるので、
垂直転送効率が改善される。また、各色画素を電気的に
分離するヂャンネルストツプ領域は垂直方向にのみ設置
すれば良いので、感光領域の有効面積を増加できる。一
般に、甲板カラー固体撮像素子または2板力ラー固体撮
像装置の各固体撮像素子において、B系色画素を偶(奇
)数画素列に設置する事は非常に容易であり、本実施例
の実施は簡?11である。
従属発明3.クレー2.4 クレームlの好ましい実施例において、B系色画素の主
感光領域の両側に開1」領域が設置される。
このようにすれば、■3系色画素の青信号の水平方向の
重心は」二足のB系色画素の中心に一致し、偽解像が減
少する。もし、B系色画素の主感光領域の片側に開口領
域を設置すれば、それから得られる青信号の重心はB系
色画素の中心に一致しない。
従属発明4.クレーム5 クレーム4の好ましい実施例において、上記のB系色画
素の2個の開口領域上には少なくともG光を半分以下に
減衰させる色フィルタが設置される。
即ち、他の色画素よりB系色画素の感光面積が広い特徴
を持つ本発明において、各色画素の最大信号電荷量は垂
直CCVの転送能力、即ち各色画素の主感光領域面積で
決定されている。従って、少なくともB系色画素の感光
面積が大きい分だけ、その上に設置される色フィルタは
特にR光とB光に対して低感度である必要がある。上記
のB系色画素の色フィルタが青色フィルタであるならば
、B系色画素から発生ずる青色信号電荷は比較的小さい
ので、垂直CCVのダイナミックレンジ以下である。し
かし、」二足のB系色画素が補色系色フィルタ(たとえ
ばシアン色フィルタ(Cy)または透明色フィルタ(W
)など)である場合、B系色画素の色フィルタのR感度
とG感度を低下する必要がある。そしてB系色画素の主
感)し領域のR,G感度を低下オろよりも開口領域のR
,G感度を低下すて水平方向に隣接する色画素のクロク
トークが減少するからである。
なお、クレーム1の他の実施例において、」二足のB糸
色画素は1種類の色フィルタを備える。このようにすれ
ば色フイルタプロセスが簡単になる。
独立発明2.クレーム6 独立発明Iに開示されるFTセンサは透明電極を使用せ
ずに、高い青感度と高い水平解像度を達成できる。しか
し、固体撮像素子はブルーミング防止構造を必要とし、
従来のFTセンサは横型オーバーフロードレン構造を採
用していたので、1記の横型オーバーフロードレン構造
の占有面積だけ各色画素の感光面積が低下し、光感度が
低下していた。インクライン転送CCD固体撮像素子(
ITセンサ)と同様に、周知である縦型オーバーフロー
ドレン構造の採用すれば、各色画素の光感度または水平
解像度は大幅に改9(fされる。しかし、以下余白 ■?ゴセンサは垂直CCV (Aレジスタ)が画素列を
兼ねるので、縦型オーバーフロードレン構造を採用すれ
ば、上記の縦型オーバーフロードレン構造の1一方を信
号電荷が転送されろ事になる1、縦型オーバーフロート
レン構造において、画素列の下のI)ウェル領域(第1
Pウエル領域)は一般に空乏化する必要がある。しかし
、垂直CCVの下の第1Pウエル領域を空乏化すれば、
人力される光によって発生した光ホールが一時的に上記
の第1Pウエル領域に蓄積され、その結果、垂直CCD
のバルクチャンネル領域の電位は静電的に変動する。こ
の問題は過剰な光が入力される時に、特に重大になる。
また、縦型オーバーフロードレン構造を持つI Tセン
サのように、画素の一部の領域の下のだけ、空乏化する
事も可能であるが、その結果、空乏化されたI〕ウェル
領域の−Lのバルクチャンネル領域部分だけ、特別の電
位井戸になってしまうので、垂直転送効率が低下する欠
点がある。また、画素の下の空乏化■)ウェル領域の光
電子のがなりの部分はN形基板にドリフトするので、光
感度が低下する欠点を持つ。本発明はこれらの欠点を改
善する事を目的とする。
本発明の糸本的な特徴は画素列を兼ねろ垂直ccDのバ
ルクチャンネル領域の両側に設置されるチャンネルスト
ップ領域の下に存在するPウェル領域(第2Pウエル領
域)の不純物濃度または/そして1ワさを」二足の第1
1)ウェル領域の濃度または/そして厚さより減らず事
である。このようにすれば、上記の第1Pウエル領域の
濃度または厚さを十分大きく設定できるので、光感度と
垂直転送効率は改善される。従って、本発明において、
バルクチャンネルの過剰な光電子はチートンネルストッ
プ領域の側面の第1Pウエル領域と、チャンネルストッ
プ領域の下の第2Pウエル領域を介して、N形基板にパ
ンデスルーまたはドリフトする。上記の第2Pウエル領
域を1形化またはN形化する事ム可能である。本発明の
他の利点はF’Tセンセン周辺回路領域のPウェル領域
の濃度または厚さが大きいので、設計が非常に楽になる
事である。なお、好ましい実施例において、必要なチャ
ンネルストップ領域上にマスクを設置し、その上からボ
ロンなどのイオンが注入される。特に、チャンネリング
効果を利用してイオン注入を実施すれば、横方向のイオ
ン拡散が小さく、厚い第1Pウエル領域が作る事ができ
る。
従属発明1.クレーム#7 クレーム7の好ましい実施例において、上記の第2Pウ
エル領域は奇(偶)数番目のチャンネルストップ領域の
下に設置され、そして偶(奇)数番目のチャンネルスト
ップ領域の下に設置されない。このようにすれば、低濃
度の第2Pウエル領域のバルクチャンネル領域または第
1Pウエル領域への影響が半減するので、光感度はより
改善される。そして第1Pウエル領域の抵抗が低下し、
第1Pウエル領域の電位はより安定する。
−)二足の各発明の他の特徴と効果が以下の実施例によ
って説明される。
発明を実施するための最良の形態 図1は本発明の1実施例を表す単板カラーFTセンサの
画素図である。ヂャンネルストツブ領域lて分割されて
、画素列CI、C2,C3が設置され色画素3Cを交互
に備える。色画素3aと3Cは光遮断領域(光シールド
領域)2で分離されている。
そして画素列C2は色画素(3b−!−71b)と色画
素(3d→/Id)を交互に備え、色画素(3b+−4
b)と色画素(3d+、4d)は光遮断領域2で分離さ
れている。
そして画素行R1,R3は色画素3Cと色画素(3d1
4d)を交互に備え、画素行1j2.R4は色画素3c
と色画素(3d+ /I d)を交O:に備える。」二
足の領域3 a、3 b、3 c、、3 dはその」−
にクロック転送電極が設置される主感光領域である。そ
して上記の領域4b、4dは開口領域である。光遮断領
域2のににはクロック転送電極が設置される。そしてチ
ャンネルストップ領域1の」二方と、光遮断領域2のに
のクロック転送電極の−に方には光シールド層が設置さ
れる。当然、画素列CI、C3において、領域2.3a
、3c+、l:N形バルクチャンネル領域である。そし
て画素列C2において、領域2.3b、3dはN形バル
クチャンネル領域である。領域2.3(aからd)の−
にに絶縁膜を介して設置されるクロック転送電極は多く
の垂直転送用り〔ノック電圧を受は取る事ができる。代
表的なりロック電圧は2相り「ノック電圧、4相り[ノ
ック電圧、I 1=: / I3転送りロック電圧、2
 E/ B転送りロック電圧である。
2相クロツク電圧とI E、/ B転送り[ノック電圧
を上記のクロック転送電極に印加する時に、周知のよう
に、3(aからd)は電位井戸領域となり、そして2は
電位障壁領域になる。上記の電位障壁と電位井戸が絶縁
膜厚またはバルクチャンネル領域へのイオン注入によっ
て、実施される事は周知である。4相クロツク電圧と2
 E / T3転送りロック電圧を上記のり[ノック転
送電極に印加ずろ時に、領域2と領域3(aからd)と
のヂャンネル電位差は必ずしも必要では無い1,上記の
2相、4相クロツク電圧を使用する時に、垂直方向に隣
接する2画素の信号電荷は混合して出力される。ストラ
イブ色フィルタ配列またはフィールド蓄積モート色フィ
ルタ配列は隣接2画素混合出力形式に適した色画素配列
であり、この場合、必ずしも領域2の」二の光遮断層は
必要では無い。上記のI E/B転送りロック電圧、2
 E / B転送り[ノック電圧を使用する時に、各色
画素の信号電荷は独立に垂直転送される。
この隣接2画素行独立出力形式に適した色画素配列方式
は過去において、多く提案されている。この場合、領域
2の上の光遮断膜は設置される事が好ましい。一般に、
領域2上のクロック転送電極と主感光領域3(aからd
)」−のクロック転送電極は異なる層の転送電極である
。上記の各種転送法及びクロック転送電極構造は周知で
あり、本発明の説明と深く関係しないので、図1におい
てクロック転送電極は省略されている。図1において重
要な事はB系色画素である色画素(3bキ4b)。
(3d+4 d)だけが開口領域領域を持つ事である。
図39図4は図1の色画素構造を持つ隣接2画素行独立
出力形単板カラーFTセンサの周知の色画素配列図であ
る。図5は奇(偶)数画素列が透明(W)色画素とシア
ン色画素(Cy)を持ち、そして偶(奇)数画素列がG
色画素と黄色(Ye)色画素を持つフィールド蓄積モー
ド単板カラーFTセンサの色画素配列図である。図5に
おいて、色差信号R十Bと色信号■3が得られる。他に
も図1の構造のFTセンサが使用できろ多くの色画素配
列が周知である。
図2は図1のFTセンサのΔ−A’断面図である。
N形基板5の表面にイオン注入ににって、Pウェル領域
6が作られる。そして上記のPウェル領域6の表面に、
N形バルクチャンネル領域10が設置され、そして各垂
直CCDのN形バルクチャンネル領域は2酸化シリコン
分離領域8とその下にドープされたP形チャンネルスト
ップ領域7で分離される。そして−上記のバルクチャン
ネル領域IOの」〕に薄い絶縁膜9を介して、クロック
転送電極11が設置される。ただし、クロック転送電極
11は開口領域I2の1−には設置されない。上記の開
口領域12は電位を浅く設定する為にP形化する事が好
ましいが、N形バルクチャンネル領域IOに弱くボロン
などのイオンを注入してN−形化もよい。上記の開口領
域12の電位をクロック転送電極の下の主感光領域の信
号電荷蓄積電位より負にする事は周知である。そして−
上記のPウェル領域6は画素列の下の第1Pウエル領域
6aと、P形チャンネルストップ領域7の下の第2 P
ウエル領域6b、6b”に分類される。そして奇(偶)
数番目のP形チャンネルストップ領域7(または酸化物
絶縁分離領域8)の下の第2Pウエル領域6b“の濃度
と厚さは小さくされる。上記の第2Pウエル領域6b”
の濃度と厚さの低減はイオン11−犬侍に、その−1−
にマスクを設置する事によって、簡単に実施できる。こ
のようにすれば、図2に示されろように、過剰信号電子
e−は第2Pウエル領域6b’を介してN形基板5にパ
ンデスルーされる。
図6は図1の変形実施例であり、B系色画素である色画
素(3a−1−4a)と色画素(3d+4d)がそれぞ
れ開口領域4a、4dを持つ実施例を表す。この実施例
は単板カラーFTセンサに応用できる。図7はB系色画
素(3d+ 4 d)だけが開口領域4dを持つ単板カ
ラーFTセンサの1実施例平面図である。
図7は特に、図3の色画素配列(ベイヤー配列)に好ま
しい。図8は本発明の2板カラーFTセンサの実施例平
面図である。各領域はけ基本的に図1の構造と同じ構造
を持つ。ただし、15aは第1FTセンサの色画素配列
を表し、15bは第2FTセンサの色画素配列を表す。
この実施例の特徴は第1F”[’センサ15aの色画素
3a、3bは開口領域を持たず、第2FTセンサ15b
の色画素(3c十4c)と(3d−1−、Id)だけが
開口領域4c、4dを持ら、そして第2FTセンサ15
bにより多くのB光が入力されるように、光分割器の分
光特性が選定される。このようにすれば、実質的に青感
度を改善する事ができる。
なお、本明細書に説明された独立発明1.2は他のタロ
ツク転送電極構造または他の転送方式のF]゛センセン
応用できる。
【図面の簡単な説明】
図1は独立発明1を使用するm板カラーFTセンサの1
実施例画素領域図である。図2は図1のA−Δ°断面図
である。図3、図4、図5はそれぞれ図Iのの構造を持
つFTセンサに使用できる1実施例色画素配列図である
。図6と図7は図1の変形実施例を表す画素領域図であ
る。図8は本発明の2板カラーFTセンサの画素領域図
である。 図ノ

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)、それぞれ異なる分光感度を有する複数の色画素
    を備える単板カラーまたは2板カラーフレーム転送CC
    Dエリアセンサ(以下において、カラーFTセンサと略
    称される。)において、各色画素はクロック電圧を印加
    される転送電極(クロック転送電極と略称される。)の
    下に設置される感光領域(主感光領域と略称される。)
    を備え、そして少なくとも一部の色画素はクロック転送
    電極をその上方に持たない感光領域(開口領域と略称さ
    れる。)を備え、そしてより高い青感度を有する色画素
    (B系色画素と略称される。)の開口領域は残りの色画
    素の内の少なくとも1種類の色画素の開口領域より広い
    面積を持つ事を特徴とするカラーFTセンサ。
  2. (2)、少なくとも1種類の色画素は開口領域を持たな
    い事を特徴とする第1項記載のカラーFTセンサ。
  3. (3)、上記のB系色画素を含む奇(偶)数画素列は上
    記のB系色画素を含まない偶(奇)数画素列より広い水
    平幅を持つ事を特徴とする第1項記載のカラーFTセン
    サ。
  4. (4)、B系色画素の開口領域は同じB系色画素の主感
    光領域の両側に設置される事を特徴とする第1項記載の
    カラーFTセンサ。
  5. (5)、上記のB系色画素の開口領域の上に設置される
    色フィルタは入力される緑色光を半分以下に減衰させる
    事を特徴とする第4項記載のカラーFTセンサ。
  6. (6)、N形基板と、N形基板の上に作られたPウェル
    領域と、Pウェル表面に作られた垂直CCDのN形バル
    クチャンネル領域と、隣接する垂直CCDのバルクチャ
    ンネル領域を電気的に分離するチャンネルストップ領域
    を備え、そして上記の垂直CCV(Aレジスタ)は画素
    列を兼ねるフレーム転送CCDエリアセンサ(FTセン
    サと略称される。)において、 上記のN形バルクチャンネル領域の下のPウェル領域(
    第1Pウェル領域と略称される。)の濃度または/そし
    て厚さは上記のチャンネルストップ領域の下のPウェル
    領域(第2Pウエル領域と略称される。)の濃度または
    /そして厚さと異なり、そして上記の垂直CCDのN形
    バルクチャンネル領域に発生した過剰信号電荷(ブルー
    ミング電荷と略称される。)は上記の第2Pウェル領域
    を介してN形基板にオーバーフローする事を特徴とする
    FTセンサ。
  7. (7)、上記の第2Pウェル領域は奇(偶)数番目のチ
    ャンネルストップ領域の下に設置され、そして少なくと
    も一部の偶(奇)数番目のチャンネルストップ領域の下
    に設置されない事を特徴とする第6項記載のFTセンサ
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5121192A (en) * 1989-10-19 1992-06-09 Sanyo Electric Co., Ltd. Solid-state color imaging device
US6325902B1 (en) * 1999-11-24 2001-12-04 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Mask for sputtering

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5121192A (en) * 1989-10-19 1992-06-09 Sanyo Electric Co., Ltd. Solid-state color imaging device
US6325902B1 (en) * 1999-11-24 2001-12-04 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Mask for sputtering

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