JPS62212508A - 面振れ測定法 - Google Patents
面振れ測定法Info
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- JPS62212508A JPS62212508A JP5612286A JP5612286A JPS62212508A JP S62212508 A JPS62212508 A JP S62212508A JP 5612286 A JP5612286 A JP 5612286A JP 5612286 A JP5612286 A JP 5612286A JP S62212508 A JPS62212508 A JP S62212508A
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- lens
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Links
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 19
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims abstract description 10
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 abstract description 4
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
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- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 2
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、レーザー等の光を微小径のスｌットに絞り、
情報を記録再生するときに用いる光学式記録媒体の面振
れを測定する方法に関する。
情報を記録再生するときに用いる光学式記録媒体の面振
れを測定する方法に関する。
従来の面振れ測定の原理を第２図を用いて説明する。１
はＨｅ −Ｎ ｏレーザー等の光源、２は反射ミラーで
レーザー光を記録媒体面へ入射させる、３は集光レンズ
で、レーザー光を記録媒体面上に集光する。４は光学式
情報記録媒体で、４４面が記録膜の付着して−る面であ
る。レーザー光はこの面に焦点を結ぶ、記録媒体からの
反射光は、集光レンズ５で集光され位置センサ６へ入射
する、今、図示のように、入射光束の入射角θ。を集光
レンズ５の倍率鶴に対し、（２）θ６ ＝１／７；電］
−にすると記録媒体の面振れによって生じる反射光束の
移動が記録媒体向に平行になり、センサ６上での移動用
ａｔと面振れ量ΔＸとの関係は、を夕２ｓにΔＸになる
。このようにして、センサ上の変位ｔから面振れ盪ΔＸ
を測定することができる。
はＨｅ −Ｎ ｏレーザー等の光源、２は反射ミラーで
レーザー光を記録媒体面へ入射させる、３は集光レンズ
で、レーザー光を記録媒体面上に集光する。４は光学式
情報記録媒体で、４４面が記録膜の付着して−る面であ
る。レーザー光はこの面に焦点を結ぶ、記録媒体からの
反射光は、集光レンズ５で集光され位置センサ６へ入射
する、今、図示のように、入射光束の入射角θ。を集光
レンズ５の倍率鶴に対し、（２）θ６ ＝１／７；電］
−にすると記録媒体の面振れによって生じる反射光束の
移動が記録媒体向に平行になり、センサ６上での移動用
ａｔと面振れ量ΔＸとの関係は、を夕２ｓにΔＸになる
。このようにして、センサ上の変位ｔから面振れ盪ΔＸ
を測定することができる。
しかし、前述の従来技術では、記録媒体の上下振れに供
い媒体面の傾きが生じ、反射光束の変位を起こす可能性
がある。ｔた、反射ミラー、集光レンズ、位置センサ等
の設定も困難であり、光学系の光路長が長−ため経時変
化に弱いという問題点を有していた。そこで本発明はこ
のような問題点を解決するもので、その目的とするとこ
ろは、媒体面の傾きの影響が少なく光学系の設定が容易
な而振れ測定方法を提供することにある。
い媒体面の傾きが生じ、反射光束の変位を起こす可能性
がある。ｔた、反射ミラー、集光レンズ、位置センサ等
の設定も困難であり、光学系の光路長が長−ため経時変
化に弱いという問題点を有していた。そこで本発明はこ
のような問題点を解決するもので、その目的とするとこ
ろは、媒体面の傾きの影響が少なく光学系の設定が容易
な而振れ測定方法を提供することにある。
本発明は、情報を光学式記録媒体に記録再生を行なうと
きに用いる光学ピックアップの対物レンズの動きを非接
触式変位計でモニタし、前記対物レンズの動きから前記
光学式記録媒体の面振れを測定することを特徴とする。
きに用いる光学ピックアップの対物レンズの動きを非接
触式変位計でモニタし、前記対物レンズの動きから前記
光学式記録媒体の面振れを測定することを特徴とする。
本発明の上記の構成によれば、フォーカスサーボにより
記録媒体面と対物レンズの距離が常に一定であるので、
媒体向の動きが対物レンズの動きと等しくなり、この対
物レンズの動きをモニタすることにより間接的に記録媒
体の面振れを測定できる。
記録媒体面と対物レンズの距離が常に一定であるので、
媒体向の動きが対物レンズの動きと等しくなり、この対
物レンズの動きをモニタすることにより間接的に記録媒
体の面振れを測定できる。
第１図に本発明の実施例を示す、１１は半導体レーザー
等の光源、１２は集光レンズであり、発散する半導体レ
ーザーの光を略平行尤にする。
等の光源、１２は集光レンズであり、発散する半導体レ
ーザーの光を略平行尤にする。
１３は入射ビームの断面形状を変換し、略円形のビーム
断面を有する光を出射するビーム整形プリズムである。
断面を有する光を出射するビーム整形プリズムである。
１４はビームスプリッタ、１５は全反射ミラー、１６は
対物レンズで、入射光を直径１μｍ程度の微小光に絞り
、光学式記録媒体４上に照射する。１７は対物レンズホ
ルダーで、１７α面が後述の変位モニタのために鏡面に
なっている。１８は対物レンズ駆動装置で、対物レンズ
１６を公知のフォーカス制御のために記録媒体４に垂直
方向に駆動する。記録媒体４で反射された光は再び１６
．１５を通り、１４で光路変更され、ビームスプリッタ
１９へ入射スる。１９テ２ｆ＋割された光は、一方はフ
ォーカス誤差信号検出糸へ、もう一方はＲ１信号検出系
へ導かれる。２０は集光レンズ、２１はナイフエッヂ、
２２は２分割光検出器で、この検出器の差信号をとるこ
とにより、フォーカス誤差信号が得られる。そして、２
３は集光レンズ、２４は光検出器で、この検出器からＲ
？倍信号得られる。
対物レンズで、入射光を直径１μｍ程度の微小光に絞り
、光学式記録媒体４上に照射する。１７は対物レンズホ
ルダーで、１７α面が後述の変位モニタのために鏡面に
なっている。１８は対物レンズ駆動装置で、対物レンズ
１６を公知のフォーカス制御のために記録媒体４に垂直
方向に駆動する。記録媒体４で反射された光は再び１６
．１５を通り、１４で光路変更され、ビームスプリッタ
１９へ入射スる。１９テ２ｆ＋割された光は、一方はフ
ォーカス誤差信号検出糸へ、もう一方はＲ１信号検出系
へ導かれる。２０は集光レンズ、２１はナイフエッヂ、
２２は２分割光検出器で、この検出器の差信号をとるこ
とにより、フォーカス誤差信号が得られる。そして、２
３は集光レンズ、２４は光検出器で、この検出器からＲ
？倍信号得られる。
２５は例えば７オトニツクセンサ等の非接触式変位計で
、対物レンズホルダー１７の動きをモニタする。２６は
センサ２５からの信号を増幅する増幅器である。前述の
ように対物レンズ１６にはフォーカス制御をかけるので
、この状態においては記録媒体４と対物レンズ１６との
距離は、制御系の誤差（（Ｌ５μｙｓ）以内で一定に保
たれて−る、したがって、対物レンズホルダ１７の動き
をセンサ２５でモニタすることにより、記録媒体４の面
振れを測定することができる。ｔた、２６からの出力を
ＩＦＦＴアナライザに接続することにより、面振れの周
波数成分を求めることができる。
、対物レンズホルダー１７の動きをモニタする。２６は
センサ２５からの信号を増幅する増幅器である。前述の
ように対物レンズ１６にはフォーカス制御をかけるので
、この状態においては記録媒体４と対物レンズ１６との
距離は、制御系の誤差（（Ｌ５μｙｓ）以内で一定に保
たれて−る、したがって、対物レンズホルダ１７の動き
をセンサ２５でモニタすることにより、記録媒体４の面
振れを測定することができる。ｔた、２６からの出力を
ＩＦＦＴアナライザに接続することにより、面振れの周
波数成分を求めることができる。
以上述べたように本発明によれば、記録媒体の傾斜に対
して影響されに＜＜、通常の光学ピックアップと同等の
ものを用いるので光学的設定も楽であり、経時変化にも
強い、また、測定精度がフォーカス制御の誤差と同じａ
５μＩＫ程度になるので他の方法に比べて高精度である
。
して影響されに＜＜、通常の光学ピックアップと同等の
ものを用いるので光学的設定も楽であり、経時変化にも
強い、また、測定精度がフォーカス制御の誤差と同じａ
５μＩＫ程度になるので他の方法に比べて高精度である
。
第１図は本発明の面振れ測定法を示す概略図、第２図は
従来の面振れ測定法を示す概略図である１・・・・・・
・・・光 源 ２・・・・・・・・・反射ミラー ３・・・・・・・・・集光レンズ ４・・・・・・・・・光学式情報記録媒体５・・・・・
・・・・集光レンズ ６・・・・・・・・・位置センサー ７・・・・・・・・・媒体固定具 １１・・・・・・光 源 １２・・・・・・集光レンズ １３・・・…ビーム整形プリズム １４・・・・・・ビームスプリッタ １５・・・・・・全反射ミラー １６・・・・・・対物レンズ １７・・・・・・対物レンズホルダー １Ｂ・・・・・・対物レンズ駆動装置 １９・・・・・・ビームスプリッタ ２０・・・・・・集光レンズ ２１・・・・・・ナイフエッヂ ２２・・・・・・２分割光検出器 ２３・・・・・・集光レンズ ２４・・・・・・光検出器 ２５・・・・・・非接触式変位計 ２６・・・・・・増幅器 以上 出願人 セイコーエプソン株式会社 悄１図
従来の面振れ測定法を示す概略図である１・・・・・・
・・・光 源 ２・・・・・・・・・反射ミラー ３・・・・・・・・・集光レンズ ４・・・・・・・・・光学式情報記録媒体５・・・・・
・・・・集光レンズ ６・・・・・・・・・位置センサー ７・・・・・・・・・媒体固定具 １１・・・・・・光 源 １２・・・・・・集光レンズ １３・・・…ビーム整形プリズム １４・・・・・・ビームスプリッタ １５・・・・・・全反射ミラー １６・・・・・・対物レンズ １７・・・・・・対物レンズホルダー １Ｂ・・・・・・対物レンズ駆動装置 １９・・・・・・ビームスプリッタ ２０・・・・・・集光レンズ ２１・・・・・・ナイフエッヂ ２２・・・・・・２分割光検出器 ２３・・・・・・集光レンズ ２４・・・・・・光検出器 ２５・・・・・・非接触式変位計 ２６・・・・・・増幅器 以上 出願人 セイコーエプソン株式会社 悄１図
Claims (1)
- 情報を光学式記録媒体に記録再生するときに用いる光
学ピックアップの対物レンズの動きを非接触式変位計で
モニタし、前記対物レンズの動きから、前記光学式記録
媒体の面振れを測定することを特徴とする面振れ測定法
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5612286A JPS62212508A (ja) | 1986-03-14 | 1986-03-14 | 面振れ測定法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5612286A JPS62212508A (ja) | 1986-03-14 | 1986-03-14 | 面振れ測定法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62212508A true JPS62212508A (ja) | 1987-09-18 |
Family
ID=13018267
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5612286A Pending JPS62212508A (ja) | 1986-03-14 | 1986-03-14 | 面振れ測定法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62212508A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006134415A (ja) * | 2004-11-04 | 2006-05-25 | Funai Electric Co Ltd | 光ディスク装置 |
| KR100653489B1 (ko) * | 1999-11-09 | 2006-12-04 | 엘지전자 주식회사 | 광 디스크의 면진동 검출장치 및 검출방법 |
| KR100813946B1 (ko) * | 2001-09-01 | 2008-03-14 | 삼성전자주식회사 | 광정보저장매체의 기록 및 재생장치, 편향크기 산출 방법, 재생 시스템, 기록 및 재생 시스템 |
-
1986
- 1986-03-14 JP JP5612286A patent/JPS62212508A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100653489B1 (ko) * | 1999-11-09 | 2006-12-04 | 엘지전자 주식회사 | 광 디스크의 면진동 검출장치 및 검출방법 |
| KR100813946B1 (ko) * | 2001-09-01 | 2008-03-14 | 삼성전자주식회사 | 광정보저장매체의 기록 및 재생장치, 편향크기 산출 방법, 재생 시스템, 기록 및 재생 시스템 |
| JP2006134415A (ja) * | 2004-11-04 | 2006-05-25 | Funai Electric Co Ltd | 光ディスク装置 |
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