JPS62211202A - アライメント試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 大容量記憶装置の如き磁気テープカートリッジを大量に
格納する装置において、この磁気テープカートリッジを
運搬するアクセッサのメカニカルハンドが、磁気テープ
カートリッジを収納する棚にアクセス可能か否かを試験
する時、高速且つメモリ容量の小さくて済む方式を提供
する。

〔産業上の利用分野〕

本発明はメカニカルハンドにより物品を把持して運搬す
るアクセッサの試験装置に係り、特に該アクセッサと物
品を収納する棚との位置関係を試験するアライメント試
験方式に関する。

近年、物品のハンドリングを行う機構の発達は目覚まし
く、特にロボットの分野では盛んに利用されている。こ
のようなハンドリング機構は、物品を把持するメカニカ
ルハンドが設けられ、このメカニカルハンドが物品を把
持し、物品の取り出し、運搬及び収納を行っている。

例えば、計算機システムの外部記憶装置に用いられる大
容量記憶装置は、多数の磁気テープカートリッジを収納
する収容棚を設け、この収容棚に磁気テープカートリッ
ジを収納して置き、メカニカルハンドが必要な磁気テー
プカートリッジを収容棚から取り出し、リード／ライト
ステーションに持ち運んでセットし、この磁気テープカ
ートリッジに対しリード／ライトを行わせ、リード／ラ
イト終了後リード／ライトステーションから取り出し、
又持ち運んで収容棚に収納する一種の自動倉庫によって
構成されている。

このような大容量記憶装置に使用される磁気テープカー
トリッジには、近年ビデオテープとして利用されている
偏平角形の磁気テープカートリッジが用いられ、低価格
化が図られている。

従って、上記メカニカルハンドは偏平角形の磁気テープ
カートリッジを把持して運搬するが、この磁気テープカ
ートリッジをリード／ライトステーションにセットする
場合、及び収容棚に再び収納する場合に、確実にセット
又は収納が出来なければならない。

従って、メカニカルハンドが総ての収容棚から、６１１
気テープカートリツジを取り出し、又は収納する際の位
置関係、即ちアライメントに付き試験を行い、円滑に取
り出し又は収納する作業が実施出来ることを確認する必
要がある。

このため、メカニカルハンドを備えたアクセッサを横方
向に移動させて目的の棚位置に停止させ、両壁面に存在
する収容棚にアクセスするために、メカニカルハンドを
回転方向に移動させ、且つ上下方向に移動させて各欄毎
に取り出し及び収納試験を行うが、この試験動作は短時
間で実施出来ることが望ましい。

〔従来の技術〕

第４図は大容量記憶装置の一例を説明する図である。　
　　− 第４図＋ａｌにおいて、１及び７はアクセッサの格納庫
で、ｌはＬＣＦと称する左倉庫で７はＲＣＦと称する右
倉庫であり、装置の両端に設けられ、アクセッサ制御回
路等が設けられるもの、２．３及び６はＳＥＰと称する
格納庫で、両壁面に磁気テープカートリッジの収容棚が
設けられるものである。

４は磁気テープカートリッジのり一ド／ライトを実行す
るＤＥＦと称するリード／ライトステーション、５は外
部から新しい磁気テープカートリッジを投入するための
投入口と、外部に不要な磁気テープカートリッジを排出
するための排出口とり−ド／ライトステーションを設け
た、ＴＥＦと称する磁気テープカートリッジの格納庫で
ある。

指定されたアクセッサはＬＣＦ又はＲＣＦから指定され
たＳＥＦ又はＴＥＦ又はＤＥＦに移動し、メカニカルハ
ンドで指定された棚にある磁気テープカートリッジを把
持して引出し、ＴＥＦ及びＤＥＦ内のり−ド／ライトス
テーションに運搬してセットし、リード／ライト動作を
行わせ、リード／ライト動作が終了すると、この磁気テ
ープカートリッジを把持して引出し、指定されたＳＥＦ
又はＴＥＦ又はＤＥＦに運搬して指定された棚に収容す
る。

この場合、アクセラ、すはアクセッサ制御回路の制御に
より、Ｘ方向の移動距離の指示を受け、例えばＳＥＰの
目的とする棚位置、例えば１０個目に到達すると停止し
、両側に存在する壁面の片方にメカニカルハンドを向け
るため、回転方向、即ちＺ方向の指示と、例えば２５列
ある棚列の目的とする棚列にメカニカルハンドを位置付
けするため、Ｙ方向の移動距離を指示されて、メカニカ
ルハンドを移動させる。

目的とする壁面の目的とする棚列の目的とする棚位置に
メカニカルハンドを位置付けすると、アクセッサはメカ
ニカルハンドを棚に挿入し、磁気テープカートリッジを
把持した後、引き出して運搬する。そしてＴＥＦ又はＤ
ＥＦに運搬した後、把持した磁気テープカートリッジを
リード／ライトステーションにセットする。

磁気テープカートリッジをＴＥＦ又はＤＥＦ中のり一ド
／ライトステーションから取り出し、棚に戻す場合も上
記と同様である。

上記のメカニカルハンドの動作は、棚との相対的な位置
関係、即ちアライメントが正確で無いと、メカニカルハ
ンドが棚及びリード／ライトステーションの縁にぶつか
り、磁気テープカートリッジを出し入れすることが出来
ない。従って、総ての棚に対しアライメントの試験を行
っている。

ところで、第４図（ｂｌ　（Ｃ）はＳＥＰの一例を示す
図で、片面は８に示す如く横方向に１２個磁気テープカ
ートリッジを収納する棚があり、この棚列が縦方向に２
５列並んでいる。又他の片面は９に示す如く、横方向に
１２個と縦方向に２５列の棚があるが、この外に横方向
に磁気テープカートリッジ６個分、縦方向にこの６個分
が１０列分に相当する保守用の窓が設けられている。

又ＴＥＦにも詳細説明は省略するが、磁気テープの投入
、排出口があり、この投入、排出口に対するアライメン
トの試験は不要である。又ＤＥＦやＴＥＦではり−ド／
ライトステーションの設けられた壁面はり一ド／ライト
ステーションに磁気テープカートリッジをセットするの
みであり、リード／ライトステーションに対するアライ
メントのみ試験すれば良い。

ところで、このアライメントの試験を行わせる試験装置
は、上記試験を不要とする゛個所を除き、総ての棚に対
してアライメント試験を行うため、アクセッサに指示す
るｘ、ｙ、ｚのアドレスを送出しているが、このアドレ
スは、試験装置のフロッピーディスク等に２バイトのデ
ータとして格納されている。

〔発明が解決しようとする問題点〕

上記の如く、従来はフロッピーディスク等に格納された
２バイトのアドレスを読出して、アクセッサ制御回路に
送出することで、アクセッサのメカニカルハンドを目的
の棚に位置付けさせ、各種のアライメント試験を行わせ
ているが、多数の棚に対して、一つずつアドレスをフロ
ッピーディスクから読出ずため、試験時間が長くなると
いう問題がある。

又アドレスをメモリに常時格納させておくことは、一つ
のアドレスが２バイトであり、第４図の構成の場合、ア
ライメント試験を必要とする種数は２０００個を越える
ため、メモリの容量が大きくなるという問題がある。

本発明はこのような問題点に鑑み、格納庫のマツプをメ
モリ上に展開し、各棚当たり１ビツトでアライメント試
験を行うか否かを示すこととし、アライメント試験を指
示されたマツプ上の位置からアドレスを作成するように
したものである。

〔問題点を解決するための手段〕

第１図は本発明の原理ブロック図である。

１０は試験装置全体を制御するプロセッサ、１１はプロ
セッサ１０の動作を指示するプログラムを格納するＲＯ
Ｍ、１２はデータを格納するＲＡＭ１１３はフロッピー
ディスク等のディスク１４を制御するディスク制御回路
、１４は被試験装置のマツプを記憶するディスクである
。

１５は試験結果を印刷するプリンタ、１６はプリンタ１
５を制御するプリンタ制御回路、１７は大容量記憶装置
のアクセッサ制御回路２０とデータや命令の授受を行う
インタフェース回路、１８は各種データを表示する表示
部、１９はオペレータが命令やデータを入力するキーボ
ードである。

プロセッサ１０はキーボード１９からの指示により、デ
ィスク１４からＲＡＭ１２に被試験装置のマツプを続出
して展開し、このマツプが指示するアライメント試験個
所からアクセッサのアドレスを演算し、インタフェース
回路を経てアクセッサ制御回路２０に指示する構成とす
る。

〔作用〕

上記構成とすることにより、プロセッサ１０は１００バ
イトで構成される被試験装置のマツプをＲＡＭ１２に展
開するのみで、アクセッサにアライメント試験する棚位
置を指示して試験することが出来る。

〔実施例〕

第２図は本発明の一実施例を説明する図である。

第２図（ａｌは格納庫のマツプの一例を示し、例えば第
４図（Ｃ）に示す棚面９のマツプを表す。最下位の棚列
をｒｌＪとし、最上段の棚列を「２５」とし、窓のある
棚列を「１５」とすると、各棚列は夫々、２バイトで各
欄のアライメント試験の要否を表し、［相］で示すビッ
トは各棚列のアライメント試験を必要とするため“１”
となっている。若しＴＥＦとＤＥＦの如く、一つの棚列
が総て試験する必要のない場合は“０″となる。

＠〜■で示すビットは未使用である。そしてＯ〜■で示
すビットは各欄のアライメント試験の要否を表し、窓の
ある棚列「１５」の窓位置を示す■〜■ビットは“０″
であるが、他の棚列「１」。

ｒ２４’Ｊ、ｒ２５Ｊ等のＯ〜■ビットは総て１”であ
る。

第３図は第１図の動作を説明するフローチャートである
。

第１図において、プロセッサ１０はＩ？０Ｍ１１からプ
ログラムを読出して動作し、キーボード１９から格納庫
アドレスを入力されると、ディスク制御回路１３を経て
ディスク１４から該当ファイルを読出し、ＲＡＭ１２に
展開する。

即ち、キーボード１９から例えば第４図に示すＳＥＦ　
２のアドレスを入力されると、ＳＥＦ　２の両壁面の第
２図（８）に示す如きマツプを読出して、ＲＡＭ１２に
展開する。

このマツプは試験すべき格納庫の構成から、試験を要す
る棚位置は決定されているため、予め作成してディスク
１４に記憶させることが出来る。

プロセッサＩＯは特に指定されない限り、第４図（ｂ）
に示す壁面８からＲＡＭ１２に展開したマツプの棚列番
号をＹ方向に順次読出すため、棚列「１」のビット［相
］を読取る。そしてこのビット■が“１”か“０”かを
調べ、“０”ならば棚列「１」の試験指示を省略し、棚
列「２」のビット■を読取る。

棚列ｒｌＪのビット■が“１”ならば、棚列の各欄に対
応するビットをＸ方向に順次読出すため、ビットＯを読
取る。そして該当ビットが“１″かどうか調べ、′０”
がセットされておれば、試験指示を省略して次のとット
■を読取る。又ビットＯに“１”がセットされていれば
、アドレスの作成を行う。

マツプは５ＥＦ２の壁面８を示しており、棚列「１」の
ピッ）０）の位置は第４図（ｂ）の棚８１の位置に対応
するため、プロセッサ１０は容易にアクセッサの移動す
べきアドレスと、メカニカルハンドのアドレスとを演算
し、インタフェース回路１７を経て、アクセッサ制御回
路２０に送出することが出来る。

第２図（ｂ）はプロセフナ１０が送出する２バイトのア
ドレスの一例であり、２ビツトのフラグにより、磁気テ
ープカートリッジ格納棚にアクセスずｌか、リード／ラ
イトステーションにアクセスするか等を指示し、１ビツ
トのＺで壁面８か９かを指示し、５ビツトでＹ方向のア
ドレスを指示する。

次に４ビツトの格納庫アドレスにより、５ＥＦ２．３，
６．ＤＥＦ４．ＴＥＦ５等のアドレスを指示し、４ビツ
トでＸ方向のアドレスを指示する。

このアドレスを送出した後アクセッサの移動を指示し、
上記動作を棚列が「２５」になる迄繰り返し、「２５」
に達すると壁面８の試験完了とし、次に壁面９の試験を
上記と同様に開始させる。そして壁面９の試験完了によ
り次の指示を待つ。

プロセッサ１０は指示されるとプリンタ制御回路１６を
経てＲＡＭ１２に格納した試験結果をプリンタ１５に送
出して印刷させ、表示部１８にも表示する。

〔発明の効果〕

以上説明した如く、本発明はメモリの使用容量を小さく
することが出来ると共に、アクセッサに対するアドレス
の送出を速くするため、試験処理効率を向上させること
が出来る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の原理ブロック図、 第２図は本発明の一実施例を説明する図、第３図は第１
図の動作を説明するフローチャート、第４図は大容量記
憶装置の一例を説明する図である。 図において、 １．７はプロセッサの格納庫、 ２＋３＋５＋６は磁気テープカートリッジの格納庫、４
はリード／ライトステーション、 １０はプロセッサ、　　　１１はＲＯＭ。 １２はＲＡＭ、　　　　　１３はディスク制御回路、１
４はディスク、　　　　　１５はプリンタ、１６はプリ
ンタ制御回路、１７はインタフェース回路、１８は表示
部、　　　　　　１９はキーボード、２０はアクセッサ
制御回路である。 小児８肋汗理アロツノに 半　１　　口

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 メカニカルハンドにより物品を把持して運搬するアクセ
   ッサの試験装置において、 該アクセッサのメカニカルハンドがアクセスする被試験
   装置の棚に対応して、アライメント試験を実施するか否
   かを指示する該被試験装置毎のマップを格納する記憶手
   段（１４）と、 該被試験装置のアドレスを入力する入力手段（１９）と
   、 該入力手段（１９）が指示する被試験装置のアドレスに
   基づき、前記マップを前記記憶手段（１４）からメモリ
   （１２）に展開し、該マップが指示するアライメント試
   験を実施する棚のアドレスを、該マップに対応して作成
   する作成手段（１０）とを設け、 該作成手段（１０）の送出するアドレスにより、アクセ
   ッサを指定被試験装置の指定棚位置に移動させた後、メ
   カニカルハンドを棚列の並び順毎に、棚の並び順に従っ
   て順次アクセスさせ、アライメント試験を実施すること
   を特徴とするアライメント試験方式。