JPH0794281B2 - アライメント試験装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 大容量記憶装置の如き磁気テープカートリッジを大量に
格納する装置において、この磁気テープカートリッジを
運搬する搬送装置の把持機構が、磁気テープカートリッ
ジを収納する棚にアクセス可能か否かを試験する時、高
速且つメモリ容量の小さくて済む試験装置を提供する。

〔産業上の利用分野〕

本発明は把持機構により物品を把持して運搬する搬送装
置の試験装置に係り、特に該搬送装置と物品を収納する
棚との位置関係を試験するアライメント試験装置に関す
る。

近年、物品のハンドリングを行う機構の発達は目覚まし
く、特にロボットの分野では盛んに利用されている。こ
のようなハンドリング機構は、物品を把持する把持機構
（以下メカニカルハンドという）が設けられ、このメカ
ニカルハンドが物品を把持し、物品の取り出し、運搬及
び収納を行っている。

例えば、計算機システムの外部記憶装置に用いられる大
容量記憶装置は、多数の磁気テープカートリッジを収納
する収容棚を設け、この収容棚に磁気テープカートリッ
ジを収納して置き、メカニカルハンドが必要な磁気テー
プカートリッジを収容棚から取り出し、データ記録装置
（以下リード／ライトステーションという）がに持ち運
んでセットし、この磁気テープカートリッジに対しリー
ド／ライトを行わせ、リード／ライト終了後リード／ラ
イトステーションから取り出し、又持ち運んで収容棚に
収納する一種の自動倉庫によって構成されている。

このような大容量記憶装置に使用される磁気テープカー
トリッジには、近年ビデオテープとして利用されている
偏平角形の磁気テープカートリッジが用いられ、低価格
化が図られている。

従って、上記メカニカルハンドは偏平角形の磁気テープ
カートリッジを把持して運搬するが、この磁気テープカ
ートリッジをリード／ライトステーションにセットする
場合、及び収容棚に再び収納する場合に、確実にセット
又は収納が出来なければならない。

従って、メカニカルハンドが総ての収容棚から、磁気テ
ープカートリッジを取り出し、又は収納する際の位置関
係、即ちアライメントに付き試験を行い、円滑に取り出
し又は収納する作業が実施出来ることを確認する必要が
ある。

このため、メカニカルハンドを備えた搬送装置（以下ア
クセッサという）を横方向に移動させて目的の棚位置に
停止させ、両壁面に存在する収容棚にアクセスするため
に、メカニカルハンドを回転方向に移動させ、且つ上下
方向に移動させて各棚毎に取り出し及び収納試験を行う
が、この試験動作は短時間で実施出来ることが望まし
い。

〔従来の技術〕

第４図は大容量記憶装置の一例を説明する図である。

第４図（ａ）において、１及び７はアクセッサのホーム
ポジションとなる格納庫であり、１はLCFと称する左倉
庫で７はRCFと称する右倉庫であり大容量記憶装置（以
下単に記憶装置という）の両端に設けられ、アクセッサ
制御回路等が装着され、アクセッサが動作していない時
格納されるもの、2,3及び６はSEFと称する格納庫で、両
壁面に磁気テープカートリッジの収容棚が設けられるも
のである。

４は磁気テープカートリッジのリード／ライトを実行す
るDEFと称するリード／ライトステーション、５は外部
から新しい磁気テープカートリッジを投入するための投
入口と、外部に不要な磁気テープカートリッジを排出す
るための排出口とリード／ライトステーションを設け
た、TEFと称する磁気テープカートリッジの格納庫であ
る。

記憶装置の制御プログラムは、アドレスａの棚にある磁
気テープカートリッジを取り出しＡのデータ記憶装置に
取り付ける場合にはアドレスａの棚に近い格納庫をホー
ムポジションとするアクセッサを指定し、このアクセッ
サをアドレスａの棚に位置決めしメカニカルハンドによ
り磁気テープカートリッジを取り出させ、Ａのデータ記
録装置に位置決めしメカニカルハンドにより該磁気テー
プカートリッジを取り付けさせる制御を行うようになっ
ている。指定されたアクセッサはホームポジションであ
るLCF又はRCFから指示されたアドレスａを含む格納庫に
移動し、メカニカルハンドでアドレスａの棚にある磁気
テープカートリッジを把持して引出し、TEF及びDEF内の
リード／ライトステーションに運搬してセットし、リー
ド／ライト動作を行わせ、リード／ライト動作が終了す
ると、この磁気テープカートリッジを把持して引出し、
指定されたSEF又はTEF又はDEFに運搬して指定された棚
に収容する。

この場合、アクセッサはアクセッサ制御回路の制御によ
り、Ｘ方向の移動距離の指定を受け、例えばSEFの目的
とする棚位置、例えば10個目に到達すると停止し、両側
に存在する壁面の片方にメカニカルハンドを向けるた
め、回転方向、即ちＺ方向の指示と、例えば25例ある棚
列の目的とする棚列にメカニカルハンドを位置付けする
ため、Ｙ方向の移動距離を指示されて、メカニカルハン
ドを移動させる。

目的とする壁面の目的とする棚列の目的とする棚位置に
メカニカルハンドを位置付けすると、アクセッサはメカ
ニカルハンドを棚に挿入し、磁気テープカートリッジを
把持した後、引き出して運搬する。そしてTEF又はDEFに
運搬した後、把持した磁気テープカートリッジをリード
／ライトステーションにセットする。

磁気テープカートリッジをTEF又はDEF中のリード／ライ
トステーションから取り出し、棚に戻す場合も上記と同
様である。

上記のメカニカルハンドの動作は、棚との相対的な位置
関係、即ちアライメントが正確で無いと、メカニカルハ
ンドが棚及びリード／ライトステーションの縁にぶつか
り、磁気テープカートリッジを出し入れすることが出来
ない。従って、総ての棚に対しアライメントの試験を行
っている。

ところで、第４図（ｂ）（ｃ）はSEFの一例を示す図
で、片面は８に示す如く横方向に12個磁気テープカート
リッジを収納する棚があり、この棚列が縦方向に25列並
んでいる。又他の片面は９に示す如く、横方向に12個と
縦方向に25列の棚があるが、この外に横方向に磁気テー
プカートリッジ６個分、縦方向にこの６個分が10列分に
相当する保守用の窓が設けられている。

又TEFにも詳細説明は省略するが、磁気テープの投入、
排出口があり、この投入、排出口に対するアライメント
の試験は不要である。又DEFやTEFではリード／ライトス
テーションの設けられた壁面はリード／ライトステーシ
ョンに磁気テープカートリッジをセットするのみであ
り、リード／ライトステーションに対するアライメント
のみ試験すれば良い。

ところで、このアライメントの試験を行わせる試験装置
は、上記試験を不要とする個所を除き、総ての棚に対し
てアライメント試験を行うため、アクセッサに指示する
X,Y,Zのアドレスを送出しているが、このアドレスは、
試験装置のフロッピーディスク等に２バイトのデータと
して格納されている。

〔発明が解決しようとする問題点〕

上記の如く、従来はフロッピーディスク等に格納された
２バイトのアドレスを読出して、アクセッサ制御回路に
送出することで、アクセッサのメカニカルハンドを目的
の棚に位置付けさせ、各棚のアライメント試験を行わせ
ているが、多数の棚に対して、一つずつアドレスをフロ
ッピーディスクから読出すため、試験時間が長くなると
いう問題がある。

又アドレスをメモリに常時格納させておくことは、一つ
のアドレスが２バイトであり、第４図の構成の場合、ア
ライメント試験を必要とする棚数は2000個を越えるた
め、メモリの容量が大きくなるという問題がある。

本発明はこのような問題点に鑑み、格納庫のマップをメ
モリ上に展開し、各棚当たり１ビットでアライメント試
験を行うか否かを示すこととし、アライメント試験を指
示されたマップ上の位置からアドレスを作成するように
したものである。

〔問題点を解決するための手段〕

第１図は本発明の原理ブロック図である。

10は試験装置全体を制御するプロセッサ、11はプロセッ
サ10の動作を指示するプログラムを格納するROM、12は
データを格納するRAM、13はフロッピーディスク等のデ
ィスク14を制御するディスク制御回路、14は格納庫毎に
各棚の配置を図表化し各棚毎に前記アライメント試験を
実施するか否かを指示する符号を付して作成されたマッ
プを記憶するディスクである。

15は試験結果を印刷するプリンタ、16はプリンタ15を制
御するプリンタ制御回路、17は大容量記憶装置のアクセ
ッサ制御回路20とデータや命令の授受を行うインタフェ
ース回路、18は各種データを表示する表示部、19はオペ
レータが命令やデータを入力するキーボードである。

プロセッサ10はキーボード19からの指示により、ディス
ク14からRAM12に被試験装置のマップを読出して展開
し、このマップが指示するアライメント試験個所からア
クセッサのアドレスを演算し、インタフェース回路を経
てアクセッサ制御回路20に指示する構成とする。

〔作用〕

上記構成とすることにより、プロセッサ10は100バイト
で構成される被試験装置のマップをRAM12に展開するの
みで、アクセッサにアライメント試験する棚位置を指示
して試験することが出来る。

〔実施例〕

第２図は本発明の一実施例を説明する図である。

第２図（ａ）は格納庫のマップの一例を示し、例えば第
４図（ｃ）に示す棚面９のマップを表す。最下位の棚列
を「１」とし、最上段の棚列を「25」とし、窓のある棚
列を「15」とすると、各棚列は夫々２バイトで各棚のア
ライメント試験の要否を表し、で示すビットは各棚列
のアライメント試験を必要とするため“1"となってい
る。若しTEFとDEFの如く、一つの棚列が総て試験する必
要のない場合は“0"となる。

〜で示すビットは未使用である。そして〜で示
すビットは各棚のアライメント試験の要否を表し、窓の
ある棚列「15」の窓位置を示す〜ビットは“0"であ
るが、他の棚列「１」，「24」，「25」等の〜ビッ
トは総て“1"である。

第３図は第１図の動作を説明するフローチャートであ
る。

第１図において、プロセッサ10はROM11からプログラム
を読出して動作し、キーボード19から格納庫アドレスを
入力されると、ディスク制御回路13を経てディスク14か
ら該当ファイルを読出し、RAM12に展開する。

即ち、キーボード19から例えば第４図に示すSEF2のアド
レスを入力されると、SEF2の両壁面の第２図（ａ）に示
す如きマップを読出して、RAM12に展開する。

このマップは試験すべき格納庫の構成から、試験を要す
る棚位置は決定されているため、予め作成してディスク
14に記憶させることが出来る。

プロセッサ10は特に指定されない限り、第４図（ｂ）に
示す壁面８からRAM12に展開したマップの棚列番号をＹ
方向に順次読出すため、棚列「１」のビットを読取
る。そしてこのビットが“1"か“0"かを調べ、“0"な
らば棚列「１」の試験指示を省略し、棚列「２」のビッ
トを読取る。

棚列「１」のビットが“1"ならば、棚列の各棚に対応
するビットをＸ方向に順次読出すため、ビットを読取
る。そして該当ビットが“1"かどうか調べ、“0"がセッ
トされておれば、試験指示を省略して次のビットを読
取る。又ビットに“1"がセットされていれば、アドレ
スの作成を行う。

マップはSEF2の壁面８を示しており、棚列「１」のビッ
トの位置は第４図（ｂ）の棚81の位置に対応するた
め、プロセッサ10は容易にアクセッサの移動すべきアド
レスと、メカニカルハンドのアドレスとを演算し、イン
タフェース回路17を経て、アクセッサ制御回路20に送出
することが出来る。

第２図（ｂ）はプロセッサ10が送出する２バイトのアド
レスの一例であり、２ビットのフラグにより、磁気テー
プカートリッジ格納棚にアクセスするか、リード／ライ
トステーションにアクセスするか等を指示し、１ビット
のＺで壁面８か９かを指示し、５ビットでＹ方向のアド
レスを指示する。

次に４ビットの格納庫アドレスにより、SEF2,3,6,DEF4,
TEF5等のアドレスを指示し、４ビットでＸ方向のアドレ
スを指示する。

このアドレスを送出した後アクセッサの移動を指示し、
上記動作を棚列が「25」になる迄繰り返し、「25」に達
すると壁面８の試験完了とし、次に壁面９の試験を上記
と同様に開始させる。そして壁面９の試験完了により次
の指示を持つ。

プロセッサ10は指示されるとプリンタ制御回路16を経て
RAM12に格納した試験結果をプリンタ15に送出して印刷
させ、表示部18にも表示する。

〔発明の効果〕

以上説明した如く、本発明はメモリの使用容量を小さく
することが出来ると共に、アクセッサに対するアドレス
の送出を速くするために、試験処理効率を向上させるこ
とが出来る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の原理ブロック図、 第２図は本発明の一実施例を説明する図、 第３図は第１図の動作を説明するフローチャート、 第４図は大容量記憶装置の一例を説明する図である。 図において、 1,7はアクセッサの格納庫、2,3,5,6は磁気テープカート
リッジの格納庫、４はリード／ライトステーション、10
はプロセッサ、11はROM、12はRAM、13はディスク制御回
路、14はディスク、15はプリンタ、16はプリンタ制御回
路、17はインタフェース回路、18は表示部、19はキーボ
ード、20はアクセッサ制御回路である。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】大量の磁気テープカートリッジを格納する
   複数の棚列を配列した複数の格納庫と、前記磁気テープ
   カートリッジのデータを読出し／書込みするデータ記録
   ・再生装置と、前記格納庫の所定の棚に格納されている
   磁気テープカートリッジを把持機構により把持して所定
   の前記データ記録・再生装置に装着し又は前記データ記
   録装置から取り出し所定の棚に運搬し格納する搬送装置
   とを備えた大容量記憶装置において、前記搬送装置が前
   記各格納庫に正確に位置決めされ、把持機構が各棚に正
   確に位置決めされアクセスすることを確認するアライメ
   ント試験装置において、 前記搬送装置の把持機構がアクセスする前記格納庫毎に
   各棚の配置を図表化し各棚毎に前記アライメント試験を
   実施するか否かを指示する符号を付して作成されたマッ
   プを格納する第１の記憶手段（14）と、 試験すべき格納庫のアドレスが入力され前記アライメン
   ト試験が指示されたとき、前記アドレスの格納庫のマッ
   プを前記第１の記憶手段（14）から第２の記憶手段（1
   2）に展開し該マップが指示する前記アライメント試験
   を実施する棚のアドレスを該マップに対応して作成する
   作成手段と、該作成されたアドレスにより前記搬送装置
   を指定棚位置に移動させた後前記把持機構を棚列の並び
   順毎に棚の並び順に従って順次アクセスさせ前記アライ
   メント試験の実施を制御する試験制御手段とを設け、 前記アライメント試験を実施することを特徴とするアラ
   イメント試験装置。