JPS62209837A - Icテストハンドラ−のコンタクト装置 - Google Patents

Icテストハンドラ−のコンタクト装置

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Publication number
JPS62209837A
JPS62209837A JP61051930A JP5193086A JPS62209837A JP S62209837 A JPS62209837 A JP S62209837A JP 61051930 A JP61051930 A JP 61051930A JP 5193086 A JP5193086 A JP 5193086A JP S62209837 A JPS62209837 A JP S62209837A
Authority
JP
Japan
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pair
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contact
leads
rail
Prior art date
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Pending
Application number
JP61051930A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshiyuki Mishima
由幸 三島
Hidetaka Yamazaki
英孝 山崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP61051930A priority Critical patent/JPS62209837A/ja
Publication of JPS62209837A publication Critical patent/JPS62209837A/ja
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  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、ICデバイスにコンタクトを接触。
導通させてICメモリテストをするICテストノーンド
ラ−のコンタクト装置の改良に関するものである。
〔従来の技術〕
第4図は従来のコンタクト機構を示す斜視図であり、第
5図はそのv−v@tこおける断面図、第6図はその動
作状態を示す断面図である。図に3いて、(1)はIC
デバイス、(2)はこのICデバイス(13の進行を規
制し、且つ案内するレール、(3)はICデバイス(1
)のリード(la)と直接接触し、導通をとる為の接点
(3a)を有゛する一対のコンタクトで、レール12)
を狭ひような形で向い合い配置されている。(4)は一
対のローラ軸で、上記コンタクト13)を傾斜されるた
めのカム面(4a)を有している。(5)は一対のビニ
オフギアでそれぞれ一対のローラ軸(4)と連結してい
る。(6)はアイドルギアで、一対のビニオンギア(5
)を互に反対言回に回転させている。(7)は上記一対
のビニオンギア(5)の方とアイドルギア(6)とかみ
合い、動力を伝達させるランクで、ガイドベース(8)
1こよって確実に直線運動するよう規制されている。(
9)はランク(7)を動作させるシリンダーである。
次に動作番こついて説明する。シリンダー(9)の引込
動作によってランク(7)は、第4図中の右方向へ直進
する。よって、このラック(7)とかみ合っている一方
のビニオン(5)とアイドルギア(6)は反時計方向に
回転し、他方のビニオン(5)はアイドルギア(6)を
介して時間方向iこ回転する。次いで、ビニオン(5)
と同軸上曇こあるローラ軸(4)か連動回転し、コンタ
クト(3)をカム面(4a)かそれぞれ外側より押圧す
る。
この一連の動作により、コンタクト(3)は第5図の開
状態から第6図の閉状態となる。
この結果コンタクト(3)の接点(3a)とICデバイ
ス(1)のリード(la )とが接触し、これらか導通
される。
またシリンダー(9)を押出動作させると、上述の逆動
作となりコンタクト(3)は開状態となる。
〔発明か解決しようとする問題点〕
従来のICテストハンドラーのコンタクト装置は以上の
ように構成されているので、良好な導通をとる為にはラ
ンクと各ビニオンとの微妙なバンクラッシュ調整が必要
となり、ローラ軸並びIこラックガイド部の機械加工曇
こ高精度が要求さnるばかりでな(、またローラ軸が回
転しながらコンタクトに接触しているので、摺動部に摩
耗が発生して寿命が低Fしたり、更には、コンタクトの
押圧力を可変調節する場合には、ローラ軸回りを分解し
ローラ軸そのものを交換する必要がある等の問題点があ
った。
この発明は上記のような問題点を解消する為に成された
もので、組立時の微調整も不用で、部品加工も容易とな
り、また、コンタクトの摩耗を防止でき、更番こは、押
圧力を容易に調節できるICテストハンドラーのコンタ
クト装置を得ることを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
この発明に係るICテストハンドラーのコンタクト装置
は、レール上で位置決めされたICの両側面の各リード
に対向する接点を有し、上記リードに向って傾斜した時
に上記接点が上記各リードに電気的に接触する一対のコ
ンタクト、この一対のコンタクトの夫々に対向し、上記
コンタクトを上記ICの上記リードに向って押圧し得る
一対の押圧部材、上記レールの直線方向に摺動自在に配
置された一対のガイド、この一対のガイドと上記一対の
押圧部材とを夫々連結する複数のリンク、及び上記一対
の押圧部材の一方を上記コンタクトに向って駆動する駆
動手段を備えたものである。
〔作用〕
この発明におけるICテストハンドラーのコンタクト装
置は、駆動手段で押圧部材がコンタクトに向って駆動さ
れると、リンクを介して一対のガイドがレールの直線方
向へ摺動し、他方の押圧部材がコンタクトに向って変位
し、ICの両側面のリードか一対のコンタクトの接点を
接触し、導通される。
〔実施例〕
以ド、この発明の一実施例を図1Cついて説明する。第
1図はコンタクト機構を示す平面図であり。
第2図はその■−■線における断面図、第3図はその動
作状態を示す断面図である。
図に3いて、(9)はコンタクト+3)+こ向って直線
駆動される駆動軸(9a)を有するシリンダ、αQはこ
のシリンダ(9)の駆動軸(9a)に結合されてコンタ
クト(3)に対して往復動するテーブル、(6)はこの
テーブルαQ+こ対向し、上記コンタクト[3)の他方
のコンタクト(3)に対面するテーブル、(6)はこれ
らテーブル(11,Qυに結合され、上記コンタクト(
3)をIC(1)のリード(la) +こ同って押圧す
る一対のグンシャー、(至)は例えばレール(2)上を
直線運動し得る一対のガイドテーブル、α脣はテーブル
αQ、Q])と一対のガイドテーブル(2)を連結する
リンク、(至)はリンクα尋を回動自在に支承するビン
である。その他の符号の説明は従来装置と同様につき省
略する。
次の動作について説明する。シリンダ(9)の押出動作
によって、これと結合されるテーブルαqが直線運動し
、コンタクト(3)側に図中A矢のように変位動作する
またレール12)のド側に配置されているガイドテーブ
ル(2)は、リンクα勾を介しテーブルαQと連結され
ているので、レール(2)に平行な直線運動を行ないI
Cデバイス(1)に対し遠ざかる図中C矢の方向昏こ動
作する。ここで、ビン(ト)はリンクα4を回転自在に
支承しているので、リンクα弔は自由薔こ賀位される。
一方、ガイドテーブルαηはリンクα勇を介しガイドテ
ーブル(至)と連結されているので、直線運動してコン
タクト(3)側に図中B矢方向に動作する。よって、ガ
イドテーブルQQ 、(ロ)上に取付けられている一対
のフッシャーは、それぞれコンタクト(3)を水平方向
より無理なく押圧して、接点(3a)とリード(la 
)とを導通させることになる。
この一連の動作番こよりコンタクト(3)は第2図の開
状態から第3図の閉状態となる。この結果コンタクト(
3)とICデバイス(1)のリード(1a)とが接触し
導通が成ざnる。
また、フンシャー(6)とガイドテーブルα0.0とは
、ネジ締め付けとし、7°ソシヤー@側に長穴をあける
と、フッシャー@とコンタクト(3)との隙間を任意の
位置にて調整、取付けが可能となる。
尚、上記実施側番こ3いては、駆動用アクチュエータと
してシリンダーを採用したが、ソレノイド等を用いても
良いことは言うまでもない。
〔発明の効果〕
以上のようにこの発明は、レール上で位置決めされたI
Cの両側面の各リート1こ対向する接点を有し、上記リ
ードに向って順斜した時に上記接点が上記各リードに電
気的番こ接触する一対のコンタクト、この一対のコンタ
クトの夫々に対向し、上記コンタクトを上記ICの上記
リードに向って押圧し得る一対の押圧部材、上記レール
の直線方向Iこ摺動自在に配置された一対のカイト、こ
の一対のガイドと上記一対の押圧部材とを夫々連結する
複数のり/り、及び上記一対の押圧部材の一方を上記コ
ンタクトに向って駆動する駆動手段を備えたので、組立
時の微t4整が不用で、且つ部品加工も容易となり、コ
ンタクトの摩耗を防止できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示す平面図、第2図はそ
の■−…純における断面図、第3図はその動作状態を示
す断面図、第4図は従来装置を示す斜視図、第5図はそ
のV−VSにおける断面図、第6図はその動作状態を示
す断面図である。 図において、(1)はICデバイス、(2)はレール、
(3)はコンタクト、(3m)は接点、(9)はシリン
ダ、αO9αυはテーブル、(2)はプッシャー、(至
)はガイドテーブル、α尋はリンク、cL9はビンであ
る。 なお、各図中同一符号は同一、又は相当部分を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  レール上で位置決めされたICの両側面の各リードに
    対向する接点を有し、上記リードに向つて傾斜した時に
    上記接点が上記各リードに電気的に接触する一対のコン
    タクト、この一対のコンタクトの夫々に対向し、上記コ
    ンタクトを上記ICの上記リードに向つて押圧し得る一
    対の押圧部材、上記レールの直線方向に摺動自在に配置
    された一対のガイド、この一対のガイドと上記一対の押
    圧部材とを夫々連結する複数のリンク、及び上記一対の
    押圧部材の一方を上記コンタクトに向つて駆動する駆動
    手段を備えたICテストハンドラーのコンタクト装置。
JP61051930A 1986-03-10 1986-03-10 Icテストハンドラ−のコンタクト装置 Pending JPS62209837A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61051930A JPS62209837A (ja) 1986-03-10 1986-03-10 Icテストハンドラ−のコンタクト装置

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JP61051930A JPS62209837A (ja) 1986-03-10 1986-03-10 Icテストハンドラ−のコンタクト装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS62209837A true JPS62209837A (ja) 1987-09-16

Family

ID=12900588

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61051930A Pending JPS62209837A (ja) 1986-03-10 1986-03-10 Icテストハンドラ−のコンタクト装置

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JP (1) JPS62209837A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01143983A (ja) * 1987-11-30 1989-06-06 Teru Kyushu Kk プローブ装置
JPH01284776A (ja) * 1988-05-11 1989-11-16 Matsushita Electron Corp フラットパッケージタイプの半導体装置の測定装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01143983A (ja) * 1987-11-30 1989-06-06 Teru Kyushu Kk プローブ装置
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