CN114690017A - 芯片测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种芯片测试装置，其包括固定架、连接柱、夹持部以及间距调节组件。连接柱设置于固定架上，夹持部设置于固定架，夹持部包括多个夹持单元，夹持单元包括第一夹持部和第二夹持部，第一夹持部与第二夹持部之间形成用于夹持芯片管脚的开口，第一夹持部与第二夹持部中的一者与连接柱电连接，间距调节组件设置于固定架，间距调节组件包括第一调节组件和第二调节组件，第一调节组件与第二调节组件之间通过联动调节件连接，多个第一夹持部和第二夹持部分别连接于第一调节组件和第二调节组件。本发明实施例提供的芯片测试装置能够使芯片管脚与测试装置快速且有效实现电连接，降低操作难度。

Description

芯片测试装置

技术领域

本发明属于电路测试技术领域，尤其涉及一种芯片测试装置。

背景技术

目前，在基站和通信产品的开发测试过程中，通常会使用到各种芯片，例如，通信芯片、电源芯片、ASIC芯片等。随着芯片制造工艺的提升，芯片的尺寸越来越小，管脚也越来越多，从几个到上百个不等，也造成了芯片管脚越来越密集，使得传统测试方法难以适应，在调测过程中很难快速有效的对特定管脚进行定位、测试。

因此，亟需一种新的芯片测试装置。

发明内容

本发明实施例提供了一种芯片测试装置，使芯片管脚与测试装置快速且有效实现电连接，以降低操作难度。

一方面，本发明实施例提供了一种芯片测试装置，包括固定架、连接柱、夹持部以及间距调节组件。其中，连接柱设置于固定架上，夹持部设置于固定架，夹持部包括多个夹持单元，夹持单元包括第一夹持部和第二夹持部，第一夹持部与第二夹持部之间形成用于夹持芯片管脚的开口，第一夹持部与第二夹持部中的一者与连接柱电连接，间距调节组件设置于固定架，间距调节组件包括第一调节组件和第二调节组件，第一调节组件与第二调节组件之间通过联动调节件连接，以使得第一调节组件与第二调节组件联动，多个第一夹持部和第二夹持部分别连接于第一调节组件和第二调节组件，以实现各个夹持单元中的第一夹持部与第二夹持部之间的分合。

根据本发明实施例的一个方面，第一夹持部和第二夹持部均沿第一方向延伸并且延伸出固定架一部分。

根据本发明实施例的一个方面，第一调节组件和第二调节组件上均设置有沿第一方向延伸的连接件，第一夹持部与第二夹持部分别通过连接件连接于第一调节组件和第二调节组件；第一调节组件与第二调节组件均包括多个调节单元，多个调节单元通过第一连接轴依次连接，连接件连接于第一连接轴上；调节单元包括第一连杆和第二连杆，第一连杆与第二连杆通过第二连接轴交叉连接。

根据本发明实施例的一个方面，联动调节件包括第一联动滑轨和第二联动滑轨，第一联动滑轨和第二联动滑轨的两侧均具有与第一连接轴相匹配的连接槽，第一连接轴插接于连接槽并与连接槽滑动配合。

根据本发明实施例的一个方面，固定架包括相对设置的第一固定板和第二固定板，第一调节组件与第二调节组件通过第二连接轴设置于第一固定板与第二固定板之间，第一固定板与第二固定板的内侧表面均具有沿第二方向延伸并与第二连接轴相匹配的限位槽，第二连接轴插接于限位槽与并限位槽滑动配合，第一方向与第二方向相交。

根据本发明实施例的一个方面，第一夹持部与第二夹持部均包括基座和夹持块，其中，基座固定于连接件，基座与夹持块的一者设置有轴孔，另一者设置有与轴孔相匹配的转轴，转轴插接于轴孔与并轴孔转动配合。

根据本发明实施例的一个方面，基座与夹持块之间设置有弹性块，夹持块与弹性块接触连接，夹持块靠近弹性块的一端为偏心结构，以使夹持块转动时具有向芯片管脚靠近的回弹力；基座的两侧设置有限位块，以将夹持块限制于预设位置；第一夹持部与第二夹持部中与连接柱电连接的一者还包括电连接件，电连接件固定于夹持块朝向相邻的另一夹持块的一侧表面，另一夹持块为绝缘体。

根据本发明实施例的一个方面，第一调节组件进一步包括传动切换机构、第一传动齿条和第二传动齿条，传动切换机构设置于第二固定板且包括第一传动齿轮，第一传动齿轮与第一传动齿条啮合连接，以驱动第一传动齿条，第一传动齿条滑动连接于固定架的一内侧表面并与第二传动齿条通过对向齿轮啮合传动连接，以使第一传动齿条与第二传动齿条的移动方向相反，第一传动齿条与第二传动齿条中一者连接于第一调节组件的第一连杆，另一者连接于第一调节组件上位第二连杆；第一传动齿条一端设置有沿第二方向延伸的第一调节块，第二传动齿条远离第一调节块的一端设置有沿第二方向延伸的第二调节块，第一调节块和第二调节块中的一者活动连接于第一连杆，另一者活动连接于第二连杆；第一传动齿条与第一调节以及第二传动齿条与第二调节块均为一体式结构。

根据本发明实施例的一个方面，传动切换机构进一步包括第二传动齿轮、第一主动齿轮以及第二主动齿轮，其中，第一主动齿轮与第一传动齿轮啮合传动连接，第二主动齿轮与第二传动齿轮啮合传动连接，第一传动齿轮的径向尺寸大于第二传动齿轮的径向尺寸，第一主动齿轮的径向尺寸小于第二主动齿轮的径向尺寸，第一主动齿轮与第一传动齿轮或第二主动齿轮与第二传动齿轮中的一组能够处于啮合状态，使得传动切换机构能够进行速度或精度切换；第一主动齿轮与第二主动齿轮通过转轴同轴连接，第一传动齿轮与第二传动齿轮通过传动轴同轴连接，转轴与传动轴均垂直于第二固定板并与第二固定板可转动连接，第一主动齿轮与第二主动齿轮之间的距离大于第一传动齿轮与第二传动齿轮之间的距离；转轴远离第二固定板的一端固定有旋转钮。

根据本发明实施例的一个方面，第二固定板与第二主动齿轮之间设置有复位弹簧，当复位弹簧被外力压缩，第二主动齿轮与第二传动齿轮处于啮合状态，当外力撤去后，复位弹簧回弹，使得第一主动齿轮与第一传动齿轮处于啮合状态；转轴为伸缩的杆状结构体，复位弹簧套设于转轴上。

根据本发明实施例的一个方面，第二调节组件进一步包括沿第一方向延伸的移动件和与移动件连接的调节机构，移动件分别活动连接于第二调节组件的第一连杆与第二连杆，调节机构通过移动件驱动第二调节组件的多个调节单元往复移动。

根据本发明实施例的一个方面，调节机构包括与第二固定板可转动连接的调节轮，调节轮位于移动件靠近调节单元的一侧且与移动件可接触连接，调节轮为偏心结构，以通过转动调节轮带动移动件沿第二方向往复移动；调节轮与第二固定板通过转轴可转动连接，调节轮具有连接孔，转轴插接于连接孔且与连接孔可接触连接，以使调节轮对转轴施加传动摩擦力；调节机构还包括与调节轮固定连接的调节臂，调节臂与调节轮为一体式结构；调节臂沿第一方向延伸并延伸出第二固定板一部分，第二固定板有与调节臂相应的限位槽，以用于将调节臂限制于第二固定板的预设位置。

根据本发明实施例的一个方面，调节机构进一步包括固定于第二固定板的固定件，固定件位于移动件远离调节轮的一侧，固定件与移动件之间设置有分离弹簧，分离弹簧始终处于压缩状态，以使移动件产生向远离固定件移动的趋势；移动件靠近固定件的一侧设置有滑动杆，固定件设置有与滑动杆相匹配的轴孔，滑动杆插接于轴孔与并轴孔滑动配合，分离弹簧套设在滑动杆上。

与现有技术相比，根据本发明实施例提供的芯片测试装置，夹持部包括多个夹持单元，每个夹持单元固定一个芯片管脚，进而避免多个芯片管脚之间接触短路问题，同时，芯片管脚可通过夹持单元及连接柱与测试探头形成稳定连接，进而避免手扶探头测试带来的信号抖动问题。此外，通过第一调节组件与第二调节组件之间联动调节相邻夹持单元之间的间距，以适应芯片管脚间距不同的芯片，提高普适性，同时，通过第二调节组件调节相邻第二夹持部之间的间距，使第二夹持部靠近第一夹持部，进而使第一夹持部和第二夹持部与芯片管脚实现固定连接，无需焊接，降低操作难度。

附图说明

通过阅读以下参照附图对非限制性实施例所作的详细描述，本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显,其中，相同或相似的附图标记表示相同或相似的特征。

图1和图2示出本发明实施例提供的芯片测试装置的结构示意图；

图3示出本发明实施例提供的芯片测试装置的间距调节组件的部分结构示意图；

图4示出本发明实施例提供的芯片测试装置的夹持部与间距调节组件的连接示意图；

图5示出本发明实施例提供的芯片测试装置的调节单元的结构示意图；

图6示出本发明实施例提供的芯片测试装置的第一调节组件与第二调节组件的连接示意图；

图7示出本发明实施例提供的芯片测试装置的夹持部的结构示意图；

图8示出本发明实施例提供的芯片测试装置的第一调节组件的部分结构示意图；

图9示出本发明实施例提供的芯片测试装置的传动切换机构的结构示意图；

图10示出本发明实施例提供的芯片测试装置的第二调节组件的部分结构示意图。

附图中：

110-固定架，111-第一固定板，112-第二固定板；

120-连接柱；

130-夹持单元，131-第一夹持部，131a-基座，131b-夹持块，131c-弹性块，131d-限位块，131e-电连接件；132-第二夹持部；

140-第一调节组件，141-连接件，142-调节单元，142a-第一连杆，142b-第二连杆，143传动切换机构，143a-第一传动齿轮，143b-第二传动齿轮，143c-第一主动齿轮，143d-第二主动齿轮，143e-旋转钮，143f-复位弹簧，144第一传动齿条，144a-第一调节块，145-第二传动齿条，145a-第二调节块，146-对向齿轮；

150-第二调节组件，151-移动件，152-调节机构，152a-调节轮，152b-调节臂，152c-固定件，152d-分离弹簧，152e-滑动杆；

160-联动调节件，161-第一联动滑轨，162-第二联动滑轨；

X-第一方向，Y-第二方向。

具体实施方式

下面将详细描述本发明的各个方面的特征和示例性实施例，为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及具体实施例，对本发明进行进一步详细描述。应理解，此处所描述的具体实施例仅被配置为解释本发明，并不被配置为限定本发明。对于本领域技术人员来说，本发明可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本发明的示例来提供对本发明更好的理解。

下述描述中出现的方位词均为图中示出的方向，并不是对本发明的实施例的具体结构进行限定。本发明的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是直接相连，也可以间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可视具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

请一并参阅图1至图4，图1和图2示出本发明实施例提供的芯片测试装置的结构示意图，图3示出本发明实施例提供的芯片测试装置的间距调节组件的部分结构示意图，图4示出本发明实施例提供的芯片测试装置的夹持部与间距调节组件的连接示意图。其中本申请中的层结构示意图均为在结构原理上的示意，芯片测试装置包含的各部件的实际尺寸、细节位置等可依据实际情况调整。

本发明实施例提供的芯片测试装置，包括固定架110、连接柱120、夹持部以及间距调节组件。

连接柱120设置于固定架110上，夹持部设置于固定架110，夹持部包括多个夹持单元130，夹持单元130包括第一夹持部131和第二夹持部132，第一夹持部131与第二夹持部132之间形成用于夹持芯片管脚的开口，第一夹持部131与第二夹持部132中的一者与连接柱120电连接，间距调节组件设置于固定架110，间距调节组件包括第一调节组件140和第二调节组件150，第一调节组件140与第二调节组件150之间通过联动调节件160连接，以使得第一调节组件140与第二调节组件150联动，多个第一夹持部131和第二夹持部132分别连接于第一调节组件140和第二调节组件150，以实现各个夹持单元130中的第一夹持部与131第二夹持部132之间的分合。

根据本发明实施例提供的芯片测试装置，夹持部包括多个夹持单元，每个夹持单元130固定一个芯片管脚，进而避免多个芯片管脚之间接触短路问题，同时，芯片管脚可通过夹持单元及连接柱120与测试探头形成稳定连接，进而避免手扶探头测试带来的信号抖动问题。

此外，通过第一调节组件140与第二调节组件150之间联动调节相邻夹持单元130之间的间距，以适应芯片管脚间距不同的芯片，提高普适性，同时，通过第二调节组件调节相邻第二夹持部之间的间距，使多个第二夹持部132靠近第一夹持部131，进而使第一夹持部131和第二夹持部132与芯片管脚实现固定连接，无需焊接，降低操作难度。

可以理解的是，本发明实施例提供的芯片测试装置，夹持单元130的数量也就是第一夹持部131和第二夹持部132的数量可以根据实际需要进行选择，本申请对此不作具体限制。

在一些可选的实施例中，第一夹持部131和第二夹持部132可以均沿第一方向X延伸并且延伸出固定架110一部分，方便芯片管脚与第一夹持部131和第二夹持部132之间固定连接。

可选地，第一调节组件140和第二调节组件150上可以均设置有沿第一方向X延伸的连接件141，第一夹持部140与第二夹持部150分别通过连接件141连接于第一调节组件140和第二调节组件150。

可选地，第一调节组件140与第二调节组件150均包括多个调节单元142，多个调节单元142通过连接轴依次连接。

连接件141在第一调节组件140和第二调节组件150上的设置位置不作限定，例如在一些可选的实施例中，连接件141可以设置在第一调节组件140和第二调节组件150的调节单元上，当然，在其他实施例中，连接件141也可以设置在相邻的调节单元之间，即设置于第一连接轴上，方便连接件141与第一调节组件140和第二调节组件150进行连接。

可选地，连接件141可以为沿第一方向X延伸板状结构体，连接件141上可以具有沿第一方向X延伸的长条形连接孔，连接件141通过连接孔与调节单元之间的两个第一连接轴连接。

请参阅图5，图5示出本发明实施例提供的芯片测试装置的调节单元的结构示意图。

进一步地，调节单元142包括第一连杆142a和第二连杆142b，第一连杆142a与第二连杆142b通过第二连接轴交叉连接，第一连杆142a与第二连杆142b组成的调节单元142以及多个调节单元142组成的第一调节组件140和第二调节组件150，结构简单。

请参阅图6，图6示出本发明实施例提供的芯片测试装置的第一调节组件与第二调节组件的连接示意图。

在一些可选的实施例中，联动调节件160包括第一联动滑轨161和第二联动滑轨162，第一联动滑轨161和第二联动滑轨162的两侧均具有与第一连接轴相匹配的连接槽，调节单元142之间的两个第一连接轴分别插接于第一联动滑轨161外侧的连接槽以及第二联动滑轨162外侧的连接槽并与连接槽滑动配合，实现第一调节组件140和第二调节组件150联动。通过以上设置，只需调节第一调节组件140和第二调节组件150中的一者，即可实现相邻夹持单元130的靠近或远离。

在一些可选的实施例中，固定架110包括相对设置的第一固定板111和与第二固定板112，第一调节组件140与第二调节组件150通过所述第二连接轴设置于所述第一固定板111与所述第二固定板112之间，第一固定板111与第二固定板112的内侧表面均具有沿第二方向Y延伸并与第二连接轴相匹配的限位槽，第二连接轴插接于限位槽与并限位槽滑动配合，以将第一调节组件140与第二调节组件150限制在预设位置，增加第一调节组件140与第二调节组件150滑动地稳定性。

可选地，第一方向X与第二方向Y可以相交，进一步地，为方便芯片管脚与第一夹持部131和第二夹持部132之间固定连接，第一方向X与第二方向Y垂直。

可选地，连接柱可以固定于第二固定板111，连接柱120与第二固定板111之间的连接方式不作限定，可以为固定连接或可拆卸连接，还可以为一体式结构。

进一步地，连接柱可以包括本体及与本体可拆卸连接的活动件，本体从第一固定板上的通孔内穿过，并与第一固定板上的连接件连接，以方便测试探头，可选地，本体与活动件可以为螺纹连接，活动件可以为螺丝。

可选地，连接柱120的数量与夹持单元130的数量可以相同。

可选地，第一固定板111和第二固定板112可以为可拆卸连接，

请参阅图7，图7示出本发明实施例提供的芯片测试装置的夹持部的结构示意图。

在一些可选的实施例中，第一夹持部131与第二夹持部132均包括基座131a和夹持块131b，其中，基座131a固定于连接件141，基座131a与夹持块131b的一者设置有轴孔，另一者设置有与轴孔相匹配的转轴，转轴插接于轴孔与并轴孔转动配合，夹持块131b在夹持芯片管脚时会适当的根据管脚的际间距适当转动，反馈使用者夹持块131b正确接触芯片管脚，同时也保证了夹持块131b的直接移动对芯片管脚造成损伤。

进一步地，基座131a与夹持块131b之间设置有弹性块131c，夹持块131b与弹性块131c接触连接，夹持块131b靠近弹性块131c的一端为偏心结构，以使夹持块131b转动时具有向芯片管脚靠近的回弹力，使夹持块131b始终与芯片管脚端接触，进而防止夹持块131b调整距离不够而造成的电连接接触不良。

可选地，弹性块131c可以为橡胶块或其他具有弹性的块状结构，本申请对此不作具体限制。

在一些可选的实施例中，基座131a的两侧可以设置有限位块131d，以将夹持块131b限制于预设位置，防止夹持块131b过度旋转，进而防止夹持块131b与相邻的另一夹持单元的夹持块131b相接触。

可选地，基座131a可以与限位块131d为一体式结构，利于成型。

在一些可选的实施例中，第一夹持部131与所述第二夹持部132中与所述连接柱120电连接的一者还包括电连接件131e，电连接件131e固定于夹持块131b朝向相邻的另一夹持块131b的一侧表面，另一夹持块131b为绝缘体，在夹持过程中另一夹持块131b与芯片管脚有接触也不会造成短接。

示例性地，电连接部131e固定于第一夹持部131的夹持块131b朝向第二夹持部的夹持块131b的一侧表面，第一夹持部131通过电连接部131e与连接柱120形成电连接，第二夹持部132的夹持块131b为绝缘体。

可选地，电连接件131e可以为板状金属件或其他金属件，本申请对此不作具体限定。可选地，电连接件131e与连接柱120可以通过导线或其他导电介质实现电连接。进一步地，为避免导线影响调节单元142的伸长或缩短，导线可以与连接件141固定连接。

请一并参阅图8和图9，图8示出本发明实施例提供的芯片测试装置的第一调节组件的部分结构示意图，图9示出本发明实施例提供的芯片测试装置的传动切换机构的结构示意图。

在一些可选的实施例中，第一调节组件140进一步包括传动切换机构143、第一传动齿条144和第二传动齿条145，传动切换机构设置于第二固定板112且包括第一传动齿轮143a，第一传动齿轮143a与第一传动齿条144啮合连接，以驱动第一传动齿条144，第一传动齿条144滑动连接于固定架110的一内侧表面并与第二传动齿条145通过对向齿轮146啮合传动连接，以使第一传动齿条144与第二传动齿条145的移动方向相反，第一传动齿条144与第二传动齿条145中一者连接于第一调节组件140的第一连杆142a，另一者连接于第一调节组件140上位第二连杆142b，通过传动切换机构使第一传动齿条144和第二传动齿条145产生对向移动，进而转换为第一调节组件140的多个调节单元142的伸长或缩短，以此实现相邻夹持单元130的靠近或远离。

进一步地，第一传动齿条144一端设置有沿第二方向Y延伸的第一调节块144a，第二传动齿条145远离第一调节块144a的一端设置有沿第二方向Y延伸的第二调节块145a，第一调节块144a和第二调节块145a中的一者活动连接于第一连杆142a，另一者活动连接于第二连杆142b。

示例性地，第一传动齿条144通过第一调节块144a与第一调节组件140的第一连杆142a活动连接，第二传动齿条145通过第二调节块145a与第一调节组件140的第二连杆142b活动连接，驱动第一传动齿轮143a，第一传动齿条144和第二传动齿条145产生对向移动，使得第一调节组件140和第二调节组件150的多个调节单元142同时伸长或缩短，进而使得相邻的夹持单元130远离或靠近。

可选地，第一调节块144a和第二调节块145a上可以均具有连接孔，第一调节块144a和第二调节块145a通过连接孔与所述第一连杆142a以及第二连杆142b铰接。

可选的，第一传动齿条与144第一调节块144a之间、第二传动齿条145与第二调节块145a之间可以为分体式结构，彼此之间固定连接或者可拆卸连接。当然，在有些实施例中，第一传动齿条与144第一调节块144a之间、第二传动齿条145与第二调节块145a之间也可以为一体式结构，利于成型。

在一些可选的实施例中，传动切换机构143还可以进一步第二传动齿轮143b、第一主动齿轮143c以及第二主动齿轮143d，第一传动齿轮143a、第二传动齿轮143b、第一主动齿轮143c以及第二主动齿轮143d的模数相同，第一主动齿轮143c与第一传动齿轮143a啮合传动连接，第二主动齿轮143d与第二传动齿轮啮合143b啮合传动连接，第一传动齿轮143a的径向尺寸大于第二传动齿轮143b的径向尺寸，第一主动齿轮143c的径向尺寸小于第二主动齿轮143d的径向尺寸，也就是说，第一传动齿轮143a和第二主动齿轮143d为大齿轮，第二传动齿轮143b和第一主动齿轮143c为小齿轮，第一主动齿轮143c与第一传动齿轮143a或第二主动齿轮143d与第二传动齿轮143b中的一组能够处于啮合状态，使得传动切换机构能够进行速度或精度切换，可根据第一夹持部131和第二夹持部132与芯片管脚之间的距离对传动切换机构速度调节或精度调节进行切换，以提高芯片管脚夹持过程中的移动速度及精度。

可以理解的是，第一主动齿轮143c与第一传动齿轮143a啮合连接，此时，第二主动齿轮143d与第二传动齿轮143b啮合脱离，小齿轮带动大齿轮，即大传动比传动，传动切换机构进行速度调节，第二主动齿轮143d与第二传动齿轮143b啮合连接，此时，第一主动齿轮143c与第一传动齿轮143a啮合脱离，大齿轮带动小齿轮，即小传动比传动，传动切换机构进行精度调节。

可选地，第一主动齿轮143c与第二主动齿轮143d可以通过转轴同轴连接，第一传动齿轮143a与第二传动齿轮143b通过传动轴同轴连接，转轴与传动轴垂直于第二固定板112且与第二固定板112可转动连接，第一主动齿轮143c与第二主动齿轮143d之间的距离大于第一传动齿轮143a与第二传动齿轮143b之间的距离。

可以理解的是，第二主动齿轮143d与第二传动齿轮143b啮合连接时，传动切换机构143处于精度调节状态，第一主动齿轮143c与第一传动齿轮143a啮合连接时，传动切换机构143处于速度调节状态，例如，假设传动切换机构143初始状态为精度调节状态，即第二主动齿轮143d与第二传动齿轮143b啮合连接，下压或上提转轴，使第一主动齿轮143c与第一传动齿轮143a啮合连接，传动切换机构143切换至速度调节状态。

可选地，转轴远离第二固定板112的一端可以固定有旋转钮143e，通过旋转钮143e驱动第一主动齿轮143c与第二主动齿轮143d旋转，方便对传动切换机构143进行调节。

可以理解的是，第一传动齿条143a可以具有三排沿第一方向X延伸的轮齿，分别与第一传动齿轮143a、第二传动齿轮143b及对向齿轮146啮合连接。

在一些可选的实施例中，第二固定板112与第二主动齿轮143d之间设置有复位弹簧143f，当复位弹簧143f被外力压缩，第二主动齿轮143d与第二传动齿轮143b处于啮合状态，当外力撤去后，复位弹簧143f回弹，使得第一主动齿轮143c与第一传动齿轮143a处于啮合状态，也就是说，在不施加外力的条件下，第二主动齿轮143d与第二传动齿轮143b始终处于啮合状态，即传动切换机构143处于精度调节状态。

可以理解的是，相邻的夹持单元130较远时，可以下压旋转钮，使第一主动齿轮143c与第一传动齿轮143a啮合连接，传动切换机构进行速度调节，使相邻的夹持单元130快速靠近或远离，缩短夹持单元与芯片管脚的连接固定时间。

可选地，转轴可以为伸缩的杆状结构体，例如两段或多段式的伸缩杆，本申请在此不作具体限定，复位弹簧143f套设于转轴上。

请参阅图10，图10示出本发明实施例提供的芯片测试装置的第二调节组件的部分结构示意图。

在一些可选的实施例中，第二调节组件150进一步包括沿第一方向X延伸的移动件151和与移动件151连接的调节机构152，移动件151分别活动连接于第二调节组件150的第一连杆142a与第二连杆142b，调节机构152通过移动件151驱动第二调节组件150的多个调节单元142往复移动，也就是说，调节机构152为动力源。

示例性的，第二调节组件150的多个调节单元142通过连接件141与第二夹持部132连接，即可以通过调节机构152使多个第二夹持部132往复移动。

可选地，移动件151可以为长条状的板状结构体或其他形状的结构体，本申请在此不作具体限定。

可选地，调节机构152可以包括与第二固定板112可转动连接的调节轮152a，调节轮152a位于移动件151靠近调节单元142的一侧且与移动件151可接触连接，调节轮152a为偏心结构，以通过转动调节轮带动移动件沿第二方向Y往复移动。

可以理解的是，调节轮152a与移动件151可接触连接，调节轮152a为偏心结构，调节轮152a转动时，其轴心与移动件151之间的距离会发生变化，以此推动移动件151产生直线位移。

调节轮152a与第二固定板112通过转轴可转动连接，所述调节轮152a具有连接孔，所述转轴插接于所述连接孔且与所述连接孔可接触连接，以使所述调节轮152a对所述转轴施加传动摩擦力。

可以理解的是，调节轮152a与转轴接触端存在摩擦力，能够使调节轮152a在转动停止后不再发生移动，进而能够使第二调节组件150的多个调节单元142不再发生移动，第一夹持部131与第二夹持部132夹紧芯片管脚。

在一些可选的实施例中，调节机构152进一步包括与调节轮152a固定连接的调节臂152b，以通过调节臂152b驱动调节轮152a转动，调节臂152b与所述调节轮152a为一体式结构，利于成型。

进一步地，调节臂152b可以沿第一方向X延伸并延伸出第二固定板一部分，以方便驱动调节轮152a，转动第二固定板112有与调节臂152b相应的限位槽，以用于将调节臂152b限制于第二固定板的预设位置。

可选地，调节机构还可以进一步包括固定于第二固定板112的固定件152c，固定件152c位于移动件151远离调节轮152a的一侧，固定件152c与移动件151之间设置有分离弹簧152d，分离弹簧152d始终处于压缩状态，以使移动件151产生向远离固定件152c移动的趋势，进而使芯片管脚落入第一夹持部131与第二夹持部132之间之前，第一夹持部131与第二夹持部132始终具有相互远离的趋势。

可选地，可选地，固定件152c可以为长条状的板状结构体或其他形状的结构体，本申请在此不作具体限定。

在一些可选的实施例中，移动件151靠近固定件152c的一侧设置有滑动杆152e，固定件设置有与滑动杆152e相匹配的轴孔，滑动杆152e插接于轴孔与并轴孔滑动配合，分离弹簧152d套设在滑动杆152e上，以增加移动件151的稳定性，避免分离弹簧152d脱离。

示例性地，夹持单元130在夹紧芯片管脚时，可以先根据各芯片管脚的间距旋转旋转钮143e调节各第一夹持部131的间距，以使各第一夹持部131的间距与各芯片管脚的间距匹配，并使芯片管脚落入第一夹持部131与第二夹持部132之间，旋转旋转钮143e，以使第一夹持部131的电连接部与芯片管脚接触，调节时可根据第一夹持部131与芯片管脚之间的距离，选择性的使用精度调节或速度调节两种模式来控制第一夹持部131的移动速度，使用者可根据第一夹持部131的夹持块131b的角度变化来判断第一夹持部131是否与芯片管脚发生接触，以及使第一夹持部131具有一定的容错率，防止第一夹持部131直接与芯片管脚硬性接触而损伤芯片管脚，当第一夹持部131的间距与芯片管脚接触后，再转动调节臂152b调节第二夹持部132与第一夹持部131之间的距离，第一夹持部131与第二夹持部132将芯片管脚夹持在其之间，通过第一夹持部131和连接柱120之间连接的导线实现连接柱120与芯片管脚电连接，夹持完成后可通过测试设备的连接部分直接与分散设置的连接柱120电连接，进而使芯片管脚与测试设备的连接变得十分容易，不会出现误触的问题，还可选择多种连接方式与连接柱120相连，连接的过程轻松方便。

在本申请中，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。术语“多个”指两个或两个以上，除非另有明确的限定。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的公开后，将容易想到本发明的其它实施方案。本申请旨在涵盖本发明的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本发明的一般性原理并包括本申请未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本发明的真正范围和精神由下面的权利要求指出。

应当理解的是，本申请并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本申请的范围仅由所附的权利要求来限制。

Claims (13)

1.一种芯片测试装置，其特征在于，包括：

固定架；

连接柱，设置于所述固定架上；

夹持部，设置于所述固定架，所述夹持部包括多个夹持单元，所述夹持单元包括第一夹持部和第二夹持部，所述第一夹持部与所述第二夹持部之间形成用于夹持芯片管脚的开口，所述第一夹持部与所述第二夹持部中的一者与所述连接柱电连接；

间距调节组件，设置于所述固定架，所述间距调节组件包括第一调节组件和第二调节组件，所述第一调节组件与所述第二调节组件之间通过联动调节件连接，以使得所述第一调节组件与所述第二调节组件联动，多个所述第一夹持部和所述第二夹持部分别连接于所述第一调节组件和所述第二调节组件，以实现各个夹持单元中的所述第一夹持部与所述第二夹持部之间的分合。

2.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，所述第一夹持部和所述第二夹持部均沿第一方向延伸并且延伸出固定架一部分。

3.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，所述第一调节组件和所述第二调节组件上均设置有沿第一方向延伸的连接件，所述第一夹持部与所述第二夹持部分别通过所述连接件连接于所述第一调节组件和所述第二调节组件；

所述第一调节组件与所述第二调节组件均包括多个调节单元，多个所述调节单元通过第一连接轴依次连接，所述连接件连接于所述第一连接轴上；

所述调节单元包括第一连杆和第二连杆，所述第一连杆与所述第二连杆通过第二连接轴交叉连接。

4.根据权利要求3所述的芯片测试装置，其特征在于，所述联动调节件包括第一联动滑轨和第二联动滑轨，所述第一联动滑轨和所述第二联动滑轨的两侧均具有与所述第一连接轴相匹配的连接槽，所述第一连接轴插接于所述连接槽并与所述连接槽滑动配合。

5.根据权利要求3所述的芯片测试装置，其特征在于，所述固定架包括相对设置的第一固定板和第二固定板，所述第一调节组件与所述第二调节组件通过所述第二连接轴设置于所述第一固定板与所述第二固定板之间，所述第一固定板与所述第二固定板的内侧表面均具有沿第二方向延伸并与所述第二连接轴相匹配的限位槽，所述第二连接轴插接于所述限位槽与并所述限位槽滑动配合，所述第一方向与所述第二方向相交。

6.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，所述第一夹持部与所述第二夹持部均包括基座和夹持块，其中，所述基座固定于所述连接件，所述基座与所述夹持块的一者设置有轴孔，另一者设置有与所述轴孔相匹配的转轴，所述转轴插接于所述轴孔与并所述轴孔转动配合。

7.根据权利要求6所述的芯片测试装置，其特征在于，所述基座与所述夹持块之间设置有弹性块，所述夹持块与所述弹性块接触连接，所述夹持块靠近所述弹性块的一端为偏心结构，以使所述夹持块转动时具有向芯片管脚靠近的回弹力；

所述基座的两侧设置有限位块，以将所述夹持块限制于预设位置；

所述第一夹持部与所述第二夹持部中与所述连接柱电连接的一者还包括电连接件，所述电连接件固定于所述夹持块朝向相邻的另一夹持块的一侧表面，所述另一夹持块为绝缘体。

8.根据权利要求5所述的芯片测试装置，其特征在于，所述第一调节组件进一步包括传动切换机构、第一传动齿条和第二传动齿条，所述传动切换机构设置于所述第二固定板且包括第一传动齿轮，所述第一传动齿轮与所述第一传动齿条啮合连接，以驱动第一传动齿条，所述第一传动齿条滑动连接于所述固定架的一内侧表面并与所述第二传动齿条通过对向齿轮啮合传动连接，以使所述第一传动齿条与所述第二传动齿条的移动方向相反，所述第一传动齿条与所述第二传动齿条中一者连接于所述第一调节组件的所述第一连杆，另一者连接于所述第一调节组件上位所述第二连杆；

所述第一传动齿条一端设置有沿所述第二方向延伸的第一调节块，所述第二传动齿条远离所述第一调节块的一端设置有沿所述第二方向延伸的第二调节块，所述第一调节块和所述第二调节块中的一者活动连接于所述第一连杆，另一者活动连接于所述第二连杆；

所述第一传动齿条与所述第一调节以及所述第二传动齿条与所述第二调节块均为一体式结构。

9.根据权利要求8所述的芯片测试装置，其特征在于，所述传动切换机构进一步包括第二传动齿轮、第一主动齿轮以及第二主动齿轮，其中，所述第一主动齿轮与所述第一传动齿轮啮合传动连接，所述第二主动齿轮与所述第二传动齿轮啮合传动连接，所述第一传动齿轮的径向尺寸大于所述第二传动齿轮的径向尺寸，所述第一主动齿轮的径向尺寸小于所述第二主动齿轮的径向尺寸，所述第一主动齿轮与所述第一传动齿轮或第二主动齿轮与所述第二传动齿轮中的一组能够处于啮合状态，使得所述传动切换机构能够进行速度或精度切换；

所述第一主动齿轮与所述第二主动齿轮通过转轴同轴连接，所述第一传动齿轮与所述第二传动齿轮通过传动轴同轴连接，所述转轴与所述传动轴均垂直于所述第二固定板并与所述第二固定板可转动连接，所述第一主动齿轮与所述第二主动齿轮之间的距离大于所述第一传动齿轮与所述第二传动齿轮之间的距离；

所述转轴远离所述第二固定板的一端固定有旋转钮。

10.根据权利要求9所述的芯片测试装置，其特征在于，所述第二固定板与所述第二主动齿轮之间设置有复位弹簧，当所述复位弹簧被外力压缩，所述第二主动齿轮与所述第二传动齿轮处于啮合状态，当所述外力撤去后，所述复位弹簧回弹，使得所述第一主动齿轮与所述第一传动齿轮处于啮合状态；

所述转轴为伸缩的杆状结构体，所述复位弹簧套设于所述转轴上。

11.根据权利要求5所述的芯片测试装置，其特征在于，所述第二调节组件进一步包括沿所述第一方向延伸的移动件和与所述移动件连接的调节机构，所述移动件分别活动连接于所述第二调节组件的所述第一连杆与所述第二连杆，所述调节机构通过所述移动件驱动所述第二调节组件的多个所述调节单元往复移动。

12.根据权利要求11所述的芯片测试装置，其特征在于，所述调节机构包括与所述第二固定板可转动连接的调节轮，所述调节轮位于所述移动件靠近所述调节单元的一侧且与所述移动件可接触连接，所述调节轮为偏心结构，以通过转动所述调节轮带动所述移动件沿所述第二方向往复移动；

所述调节轮与第二固定板通过转轴可转动连接，所述调节轮具有连接孔，所述转轴插接于所述连接孔且与所述连接孔可接触连接，以使所述调节轮对所述转轴施加传动摩擦力；

所述调节机构还包括与所述调节轮固定连接的调节臂，所述调节臂与所述调节轮为一体式结构；

所述调节臂沿所述第一方向延伸并延伸出所述第二固定板一部分，所述第二固定板有与所述调节臂相应的限位槽，以用于将所述调节臂限制于所述第二固定板的预设位置。

13.根据权利要求12所述的芯片测试装置，其特征在于，所述调节机构进一步包括固定于所述第二固定板的固定件，所述固定件位于所述移动件远离所述调节轮的一侧，所述固定件与所述移动件之间设置有分离弹簧，所述分离弹簧始终处于压缩状态，以使所述移动件产生向远离所述固定件移动的趋势；

所述移动件靠近所述固定件的一侧设置有滑动杆，所述固定件设置有与所述滑动杆相匹配的轴孔，所述滑动杆插接于所述轴孔与并所述轴孔滑动配合，所述分离弹簧套设在所述滑动杆上。

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