JPS62206936A - 電子機器の試験方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、例えば無線機のように内部にＣＰＵを有し比
較的小型の電子機器の動作確認等に適した電子機器の試
験方法に関する。

従来の技術 従来、例えば携帯無線機のように内部にマイクロコンピ
ュータ−（ＯＰ　Ｕ）のような制御部１と、例えば送受
の切替やチャンふル指定等、ＣＰＵによって制御される
被制御部ごとを備えた電子機器において、最近は機器の
小形化の要求により制御部１、被制御部２とを他の制御
に直接関係しない部分（図示省略）も含めて一枚のプリ
ント基板３上に搭載することが多くなって来た。

このような場合に、第２図に示すように制御部１或いは
被制御部２の動作テストを行うために、制御部１と被制
御部２とにそれぞれコネクタ４．５とを同一プリント基
板上に設けておき、コネクタ４と５の間を多数の制御線
６、制御線６の両端にコネクタ４．５に対応するコネク
タ７．８とを有するケーブル９により接続しておき、動
作テストに際しては、第３図に示すように正常に動作す
ることが保証され、かつ被テスト機器のプリント基板３
と同一の構成のテスト電子機器のプリント基板３ａ（制
御部１、被制御部２、コネクタ４．５、ケーブル９と同
様の構成の制御部１ａ、被制御部２ａ、コネクタ４ａ、
５ａ、ケーブル９ａが搭載されている。）を用意してお
き、ケーブル９．９ａを取り去り、代りに延長ケーブル
１ｏにより、最初は制御部１と被制御部２ａを、次に被
制御部２と制御部１ａとを接続してテスト状態として動
作テストを行えば、被テスト用のプリント基板３上の被
制御部２及び制御部１の動作確認が順次行える。

発明が解決しようとする問題点 しかしながら上記従来の試験方法ではプリント基板３上
にコネクタ４．５とケーブル９とを設けなければならず
、このためコストアップや取付はスペースを必要とし、
またチェックに際しては、ケーブル９の着脱や、延長ケ
ーブル１ｏの接続替え等操作手間も多く要する欠点があ
った。

本発明は上記のような従来の問題点を解決し、プリント
基板のより小形化が行え、まだ操作手間も短縮出来る電
子機器の試験方法を提供することを目的とするものであ
る。

問題点を解決するための手段 本発明は上記目的を達成するために、テスト用の電子機
器と被テスト用の電子機器それぞれの電子機器の制御部
と被制御部との間を接続する制御線等をコネクタに並列
に取り出しておき、これら２組のコネクタの間をテスト
ケーブルで接続すると共に、テストケーブルの中間等に
設けた切替器により、テスト用の電子機器或いは被テス
ト用電子機器のいずれかの制御部を不動作状態にして、
被制御部の動作チェックを行い、その結果により被テス
ト用電子機器の制御部と非制御部の良否を個別に試験出
来るように構成したものでちる。

作用 従って本発明によれば、試験に際しての操作が簡単にな
ると共に、プリント基板上のコネクタ或いは接続ケーブ
ル等を省略出来る効果を有する。

実施例 以下に本発明の一実施例について第１図と共に説明する
。同図で、被テスト用の電子機器Ａとテスト用の電子機
器Ｂとは同一の構成を有するものとし、以下テスト用電
子機器には便宜上Ｂの添字をまた被テスト用の電子機器
には同じくＡを副えて区別するものとする。１１は制御
部で■／７６ポート２０を有し、ボー）　Ｐ２〜ＰＮと
リセット端子Ｐ、を備えている。１２は被制御部で、ボ
ー）　Ｐ２〜ＰＮに対応するボー）　Ｑ２〜ｑＮｅ設け
である。１３は制御部１１、被制御部１２等を搭載した
プリント基板、１４はテスト用のコネクタで、ボートＰ
ｉ〜ＰＮにそれぞれ対応する接続部ｒ１〜ｒＨを設けで
ある。次に１５はテストケーブルであり両端にそれぞれ
コネクタ１６．１７を有し、コネクタ１６．１７には接
続部ｒ１〜ｒ）４にそれぞれ対応する接続部１６．〜１
７Ｎが設けられている。

また１８はテストケーブル１５の中間に設けられ、接点
ａ、ｂ、ｃを備えた切替器である。

次に上記実施例の動作を説明する。テスト用電子機器Ｂ
は被テスト用電子機器Ａと同一の構成であるがその動作
は適正であることがあらがじめ保証されているものとす
る。遺初にコネクタ１４Ａ、１４Ｂにテストケーブル１
５のコネクタ１６と１７とを互に接続することによって
、テスト用電子機器Ｂと被テスト用電子機器Ａの各ボー
トがケーブル１５を介して接続される。今■／６ボー）
２ＯＡ、２０ＢのボートＰ２Ａ、　Ｐ２Ｂを接地線であ
るとし、これに対応するテストケーブル１５の結合線１
５２．１６２と切替器１８の共通端子Ｃに接続しておけ
ば、例えば切替器１８の共通端子Ｃを端子Ｂ側に接続す
ることにより制御部１１ＢのＩ１０ボート２０Ｂのリセ
ット端子Ｐ１Ｂを接地し、制御部１１Ｂをリセットする
ことによりテスト用電子機器Ｂの制御動作を停止出来る
。従って、被テスト用電子機器Ａの制御部１１Ａの各種
信号がテスト用電子機器Ｂの被制御部１２ｓとテストケ
ーブル１５を経由して交信出来ることになり、その動作
結果によって、制御部１１Ａの動作確認が出来る。

また、切替器１８の端子ａに共通端子Ｃに接続するよう
に切替えることによって、逆に制御部１１Ａ動作を停止
させ、制御部１１Ｂによシ、被制御部１２Ａの動作チェ
ックを行え、結局被テスト用電子機器Ａの制御部１１Ａ
と被制御部１２Ａの動作確認（良否判定）が出来ること
になる。

なお、上記実施例では制御部１１Ａ或いはＩＩＢを不動
作にする方法として、リセット端子ＰＩＡ、或いはＰＩ
Ｂをグランドレベルに接地する方法を示したが、接地の
代シに電源電圧レベルに切替えても良い。また、前記切
替器１８の切替に連動して、使用しない側の被制御部１
２Ａ又は１２ＢのボートＱｚＡ−ｑ！Ｎ又はＱ２Ｂ〜ｑ
ＮＢをハイインピーダンスになるようにしても良い。さ
らに、テスト用の電子機器として被テスト用の電子機器
と全く同じ構成でなく、例えば複数のプリント基板で構
成し、或いはテスト用の表示器、制御器とを付加したも
のであっても良い。

発明の効果 以上実施例により説明したように本発明によれば、動作
テストを行うに際して、テスト用の電子機器或いは被テ
スト用の電子機器の制御部をテストケーブルの接続状態
で単に切替器の切替だけで片方を不動作にすることが出
来るので、テスト機器の制御部と被制御部のそれぞれに
ついて良否の判定がケーブルの接続替えを行うことなく
簡単に判定出来る利点を有する。

また、テスト時に取りはずし、通常の使用状態では制御
部と被制御部との間を接続しておくだめのコネクタ及び
接続ケーブルを省略出来るので、プリント基板の小形化
が図れ、特に一枚プリント基板の場合に有効である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例における電子機器の試験方法
に用いる試験装置の構成を示すブロック図、第２図は従
来の試験装置における電子機器の構成を示すブロック図
、第３図は同装置による試験方法を説明するだめの説明
図である。 １１・・・制御部、１２・・・被制御部、１４・・・コ
ネクタ、１５・・・テストケーブル、１８・・・切替器
、２０・・・Ｉ１０ボート。 代理人の氏名　弁理士　中　尾　敏　男　ほか１名第１
図 第２図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 制御部と前記制御部により制御される被制御部と、前記
   制御部と被制御部の間を結合する制御線とが一枚のプリ
   ント基板上に搭載された被テスト用の電子機器の試験を
   行うに際して、前記プリント基板と同様の構成を備え、
   その動作が保証されたテスト用の電子機器を用意し、前
   記テスト用と被テスト用の電子機器それぞれの制御線の
   間を前記テスト用と被テスト用の電子機器のそれぞれに
   設けたコネクタを介してテスト用ケーブルにより接続す
   ると共に、前記テスト用と被テスト用の電子機器の各制
   御部を前記テスト用ケーブルの一部に設けた切替器によ
   り順次不動作にして前記被テスト用の電子機器の制御部
   と被制御部の動作テストを行ない、良否の個別判定を行
   うようにした電子機器の試験方法。