JPH073965B2 - 電子機器の試験方法 - Google Patents
電子機器の試験方法Info
- Publication number
- JPH073965B2 JPH073965B2 JP61048829A JP4882986A JPH073965B2 JP H073965 B2 JPH073965 B2 JP H073965B2 JP 61048829 A JP61048829 A JP 61048829A JP 4882986 A JP4882986 A JP 4882986A JP H073965 B2 JPH073965 B2 JP H073965B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- electronic device
- control unit
- controlled
- cable
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
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- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、例えば無線機のように内部にCPUを有し比較
的小型の電子機器の動作確認等に適した電子機器の試験
方法に関する。
的小型の電子機器の動作確認等に適した電子機器の試験
方法に関する。
従来の技術 従来、例えば携帯無線機のように内部にマイクロコンピ
ューター（CPU）のような制御部１と、例えば送受の切
替やチャンネル指定等、CPUによって制御される被制御
部２とを備えた電子機器において、最近は機器の小形化
の要求により制御部１、被制御部２とを他の制御に直接
関係しない部分（図示省略）も含めて一枚のプリント基
板３上に搭載することが多くなって来た。
ューター（CPU）のような制御部１と、例えば送受の切
替やチャンネル指定等、CPUによって制御される被制御
部２とを備えた電子機器において、最近は機器の小形化
の要求により制御部１、被制御部２とを他の制御に直接
関係しない部分（図示省略）も含めて一枚のプリント基
板３上に搭載することが多くなって来た。
このような場合に、第２図に示すように制御部１或いは
被制御部２の動作テストを行うために、制御部１と被制
御部２とにそれぞれコネクタ４、５とを同一プリント基
板上に設けておき、コネクタ４と５の間を多数の制御線
６、制御線６の両端にコネクタ４、５に対応するコネク
タ７、８とを有するケーブル９により接続しておき、動
作テストに際しては、第３図に示すように正常に動作す
ることが保証され、かつ被テスト機器のプリント基板３
と同一の構成のテスト電子機器のプリント基板3a（制御
部１、被制御部２、コネクタ４、５、ケーブル９と同様
の構成の制御部1a、被制御部2a、コネクタ4a、5a、ケー
ブル9aが搭載されている。）を用意しておき、ケーブル
９、9aを取り去り、代りに延長ケーブル10により、最初
は制御部１と被制御部2aを、次に被制御部２と制御部1a
とを接続してテスト状態として動作テストを行えば、被
テスト用のプリント基板３上の被制御部２及び制御部１
の動作確認が順次行える。
被制御部２の動作テストを行うために、制御部１と被制
御部２とにそれぞれコネクタ４、５とを同一プリント基
板上に設けておき、コネクタ４と５の間を多数の制御線
６、制御線６の両端にコネクタ４、５に対応するコネク
タ７、８とを有するケーブル９により接続しておき、動
作テストに際しては、第３図に示すように正常に動作す
ることが保証され、かつ被テスト機器のプリント基板３
と同一の構成のテスト電子機器のプリント基板3a（制御
部１、被制御部２、コネクタ４、５、ケーブル９と同様
の構成の制御部1a、被制御部2a、コネクタ4a、5a、ケー
ブル9aが搭載されている。）を用意しておき、ケーブル
９、9aを取り去り、代りに延長ケーブル10により、最初
は制御部１と被制御部2aを、次に被制御部２と制御部1a
とを接続してテスト状態として動作テストを行えば、被
テスト用のプリント基板３上の被制御部２及び制御部１
の動作確認が順次行える。
発明が解決しようとする問題点 しかしながら上記従来の試験方法ではプリント基板３上
にコネクタ４、５とケーブル９とを設けなければなら
ず、このためコストアップや取付けスペースを必要と
し、またチェックに際しては、ケーブル９の着脱や、延
長ケーブル10の接続替え等操作手間も多く要する欠点が
あった。
にコネクタ４、５とケーブル９とを設けなければなら
ず、このためコストアップや取付けスペースを必要と
し、またチェックに際しては、ケーブル９の着脱や、延
長ケーブル10の接続替え等操作手間も多く要する欠点が
あった。
本発明は上記のような従来の問題点を解決し、プリント
基板のより小形化が行え、また操作手間も短縮出来る電
子機器の試験方法を提供することを目的とするものであ
る。
基板のより小形化が行え、また操作手間も短縮出来る電
子機器の試験方法を提供することを目的とするものであ
る。
問題点を解決するための手段 本発明は上記目的を達成するために、テスト用の電子機
器と被テスト用の電子機器それぞれの電子機器の制御部
と被制御部との間を接続する制御線等をコネクタに並列
に取り出しておき、これら２組のコネクタの間をテスト
ケーブルで接続すると共に、テストケーブルの中間等に
設けた切替器により、テスト用の電子機器或いは被テス
ト用電子機器のいずれかの制御部を不動作状態にして、
被制御部の動作チェックを行い、その結果により被テス
ト用電子機器の制御部と被制御部の良否を個別に試験出
来るように構成したものである。
器と被テスト用の電子機器それぞれの電子機器の制御部
と被制御部との間を接続する制御線等をコネクタに並列
に取り出しておき、これら２組のコネクタの間をテスト
ケーブルで接続すると共に、テストケーブルの中間等に
設けた切替器により、テスト用の電子機器或いは被テス
ト用電子機器のいずれかの制御部を不動作状態にして、
被制御部の動作チェックを行い、その結果により被テス
ト用電子機器の制御部と被制御部の良否を個別に試験出
来るように構成したものである。
作 用 従って本発明によれば、試験に際しての操作が簡単にな
ると共に、プリント基板上のコネクタ或いは接続ケーブ
ル等を省略出来る効果を有する。
ると共に、プリント基板上のコネクタ或いは接続ケーブ
ル等を省略出来る効果を有する。
実施例 以下に本発明の一実施例について第１図と共に説明す
る。同図で、被テスト用の電子機器Ａとテスト用の電子
機器Ｂとは同一の構成を有するものとし、以下テスト用
電子機器には便器上Ｂの添字をまた被テスト用の電子機
器に同じくＡを副えて区別するものとする。11は制御部
でI/ポート20を有し、ポートP2〜PNとリセット端子P1
を備えている。12は被制御部で、ポートP2〜PNに対応す
るポートq2〜qNを設けてある。13は制御部11、被制御部
12等を搭載したプリント基板、14はテスト用のコネクタ
で、ポートP1〜PNにそれぞれ対応する接続部r1〜rNを設
けてある。次に15はテストケーブルであり両端にそれぞ
れコネクタ16、17を有し、コネクタ16、17には接続部r1
〜rNにそれぞれ対応する接続部161〜17Nが設けられてい
る。また18はテストケーブル15の中間に設けられ、接続
ａ、ｂ、ｃを備えた切替器である。
る。同図で、被テスト用の電子機器Ａとテスト用の電子
機器Ｂとは同一の構成を有するものとし、以下テスト用
電子機器には便器上Ｂの添字をまた被テスト用の電子機
器に同じくＡを副えて区別するものとする。11は制御部
でI/ポート20を有し、ポートP2〜PNとリセット端子P1
を備えている。12は被制御部で、ポートP2〜PNに対応す
るポートq2〜qNを設けてある。13は制御部11、被制御部
12等を搭載したプリント基板、14はテスト用のコネクタ
で、ポートP1〜PNにそれぞれ対応する接続部r1〜rNを設
けてある。次に15はテストケーブルであり両端にそれぞ
れコネクタ16、17を有し、コネクタ16、17には接続部r1
〜rNにそれぞれ対応する接続部161〜17Nが設けられてい
る。また18はテストケーブル15の中間に設けられ、接続
ａ、ｂ、ｃを備えた切替器である。
次に上記実施例の動作を説明する。テスト用電子機器Ｂ
は被テスト用電子機器Ａと同一の構成であるがその動作
は適正であることがあらかじめ保証されているものとす
る。最初にコネクタ14A、14Bにテストケーブル15のコネ
クタ16と17とを互に接続することによって、テスト用電
子機器Ｂと被テスト用電子機器Ａの各ポートがケーブル
15を介して接続される。今I/ポート20A、20Bのポート
P2A、P2Bを接地線であるとし、これに対応するテストケ
ーブル15の結合線12、162と切替器18の共通端子ｃに接
続しておけば、例えば切替器18の共通端子Ｃを端子Ｂ側
に接続することにより制御部11BのI/ポート20Bのリセ
ット端子P1Bを接地し、制御部11Bをリセットすることに
よりテスト用電子機器Ｂの制御動作を停止出来る。従っ
て、被テスト用電子機器Ａの制御部11Aの各種信号がテ
スト用電子機器Ｂの被制御部12Bとテストケーブル15を
経由して交信出来ることになり、その動作結果によっ
て、制御部11Aの動作確認が出来る。
は被テスト用電子機器Ａと同一の構成であるがその動作
は適正であることがあらかじめ保証されているものとす
る。最初にコネクタ14A、14Bにテストケーブル15のコネ
クタ16と17とを互に接続することによって、テスト用電
子機器Ｂと被テスト用電子機器Ａの各ポートがケーブル
15を介して接続される。今I/ポート20A、20Bのポート
P2A、P2Bを接地線であるとし、これに対応するテストケ
ーブル15の結合線12、162と切替器18の共通端子ｃに接
続しておけば、例えば切替器18の共通端子Ｃを端子Ｂ側
に接続することにより制御部11BのI/ポート20Bのリセ
ット端子P1Bを接地し、制御部11Bをリセットすることに
よりテスト用電子機器Ｂの制御動作を停止出来る。従っ
て、被テスト用電子機器Ａの制御部11Aの各種信号がテ
スト用電子機器Ｂの被制御部12Bとテストケーブル15を
経由して交信出来ることになり、その動作結果によっ
て、制御部11Aの動作確認が出来る。
また、切替器18の端子ａに共通端子ｃに接続するように
切替えることによって、逆に制御部11A動作を停止さ
せ、制御部11Bにより、被制御部12Aの動作チェックを行
え、結局被テスト用電子機器Ａの制御部11Aと被制御部1
2Aの動作確認（良否判定）が出来ることになる。
切替えることによって、逆に制御部11A動作を停止さ
せ、制御部11Bにより、被制御部12Aの動作チェックを行
え、結局被テスト用電子機器Ａの制御部11Aと被制御部1
2Aの動作確認（良否判定）が出来ることになる。
なお、上記実施例では制御部11A或いは11Bを不動作にす
る方法として、リセット端子P1A、或いはP1Bをグランド
レベルに接地する方法を示したが、接地の代りに電源電
圧レベルに切替えても良い。また、前記切替器18の切替
に連動して、使用しない側の被制御部12A又は12Bのポー
トq2A〜q2N又はq2B〜qNBをハイインピーダンスになるよ
うにしても良い。さらに、テスト用の電子機器として被
テスト用の電子機器と全く同じ構成でなく、例えば複数
のプリント基板で構成し、或いはテスト用の表示器、制
御器とを付加したものであっても良い。
る方法として、リセット端子P1A、或いはP1Bをグランド
レベルに接地する方法を示したが、接地の代りに電源電
圧レベルに切替えても良い。また、前記切替器18の切替
に連動して、使用しない側の被制御部12A又は12Bのポー
トq2A〜q2N又はq2B〜qNBをハイインピーダンスになるよ
うにしても良い。さらに、テスト用の電子機器として被
テスト用の電子機器と全く同じ構成でなく、例えば複数
のプリント基板で構成し、或いはテスト用の表示器、制
御器とを付加したものであっても良い。
発明の効果 以上実施例により説明したように本発明によれば、動作
テストを行うに際して、テスト用の電子機器或いは被テ
スト用の電子機器の制御部のテストケーブルの接続状態
で単に切替器の切替だけで片方を不動作にすることが出
来るので、テスト機器の制御部と被制御部のそれぞれに
ついて良否の判定がケーブルの接続替えを行うことなく
簡単に判定出来る利点を有する。
テストを行うに際して、テスト用の電子機器或いは被テ
スト用の電子機器の制御部のテストケーブルの接続状態
で単に切替器の切替だけで片方を不動作にすることが出
来るので、テスト機器の制御部と被制御部のそれぞれに
ついて良否の判定がケーブルの接続替えを行うことなく
簡単に判定出来る利点を有する。
また、テスト時に取りばずし、通常の使用状態では制御
部と被制御部との間を接続しておくためのコネクタ及び
接続ケーブルを省略出来るので、プリント基板の小形化
が図れ、特に一枚プリント基板の場合に有効である。
部と被制御部との間を接続しておくためのコネクタ及び
接続ケーブルを省略出来るので、プリント基板の小形化
が図れ、特に一枚プリント基板の場合に有効である。
第１図は本発明の一実施例における電子機器の試験方法
に用いる試験装置の構成を示すブロック図、第２図は従
来の試験装置における電子機器の構成を示すブロック
図、第３図は同装置による試験方法を説明するための説
明図である。 11……制御部、12……被制御部、14……コネクタ、15…
…テストケーブル、18……切替器、20……I/ポート。
に用いる試験装置の構成を示すブロック図、第２図は従
来の試験装置における電子機器の構成を示すブロック
図、第３図は同装置による試験方法を説明するための説
明図である。 11……制御部、12……被制御部、14……コネクタ、15…
…テストケーブル、18……切替器、20……I/ポート。
Claims (1)
- 【請求項１】制御部と、前記制御部により制御される被
制御部と、前記制御部と被制御部の間を結合する制御線
とが一枚のプリント基板上に搭載された被テスト用の電
子機器の試験を行うに際して、前記プリント基板と同様
の構成を備え、その動作が保証されたテスト用の電子機
器を用意し、前記テスト用と被テスト用の電子機器それ
ぞれの制御線の間を前記テスト用と被テスト用の電子機
器のそれぞれに設けたコネクタを介してテスト用ケーブ
ルにより接続すると共に、前記テスト用と被テスト用の
電子機器の各制御部を前記テスト用ケーブルの一部に設
けた切替器により順次不動作にして前記被テスト用の電
子機器の制御部と被制御部の動作テストを行ない、良否
の個別判定を行うようにした電子機器の試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61048829A JPH073965B2 (ja) | 1986-03-06 | 1986-03-06 | 電子機器の試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61048829A JPH073965B2 (ja) | 1986-03-06 | 1986-03-06 | 電子機器の試験方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62206936A JPS62206936A (ja) | 1987-09-11 |
| JPH073965B2 true JPH073965B2 (ja) | 1995-01-18 |
Family
ID=12814119
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61048829A Expired - Lifetime JPH073965B2 (ja) | 1986-03-06 | 1986-03-06 | 電子機器の試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH073965B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9115216B2 (en) | 2011-02-21 | 2015-08-25 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Method for producing alkali cellulose comprising removal of cellulose particles |
| US9371398B2 (en) | 2011-02-21 | 2016-06-21 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Methods for preparing alkali cellulose and cellulose ether |
| US9371399B2 (en) | 2011-02-21 | 2016-06-21 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Methods for producing alkali cellulose and cellulose ether |
| US9481738B2 (en) | 2011-02-21 | 2016-11-01 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Method for producing cellulose ether |
-
1986
- 1986-03-06 JP JP61048829A patent/JPH073965B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9115216B2 (en) | 2011-02-21 | 2015-08-25 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Method for producing alkali cellulose comprising removal of cellulose particles |
| US9371398B2 (en) | 2011-02-21 | 2016-06-21 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Methods for preparing alkali cellulose and cellulose ether |
| US9371399B2 (en) | 2011-02-21 | 2016-06-21 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Methods for producing alkali cellulose and cellulose ether |
| US9481738B2 (en) | 2011-02-21 | 2016-11-01 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Method for producing cellulose ether |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62206936A (ja) | 1987-09-11 |
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