JPS62206459A - 基板検査機 - Google Patents

基板検査機

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JPS62206459A
JPS62206459A JP61048289A JP4828986A JPS62206459A JP S62206459 A JPS62206459 A JP S62206459A JP 61048289 A JP61048289 A JP 61048289A JP 4828986 A JP4828986 A JP 4828986A JP S62206459 A JPS62206459 A JP S62206459A
Authority
JP
Japan
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board
inspection
loading
circuit board
unit
Prior art date
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Application number
JP61048289A
Other languages
English (en)
Inventor
Mitsuaki Kageyama
蔭山 光明
Tsuneo Yamaha
山羽 常雄
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Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
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Publication date
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、印刷回路基板または同様な基板(この明細
書では基板と総称する)の導通検査、絶縁検査などの検
査を行う基板検査機に関する。
[従来の技術] 最近、このような基板検査機は自動化が進んでおり、検
査ステージの基板受は台への検査すべき基板の搬入と、
その基板受は台からの検査済み基板の搬出は基板搬入搬
出系によって自動的に行われるようになっている。
[解決しようとする問題点コ さて、現在大量に生産されている基板は3001角以下
の大きさのものが多いが、それより大きな基板も生産さ
れている。しかし従来の自動化基板検査機は、基板の搬
入搬出はすべて基板搬入搬出系によって行われるように
なっており、手操作によって基板台に基板をセットした
り、基板台から基板を取り出したりすることができない
。そのため、検査の対象となることが殆どないような大
形の基板も扱い得るように、基板搬入搬出系を大形にす
る必要があり、基板検査機全体の大形化、設置スペース
の増大なとを招いている。
また、このような自動化基板検査機は、基板の検査のた
めのネットデータを基板から直接作り出す機能(吸い上
げ機能)を持っている。従来の自動化基板検査機では、
その吸い−1−げのための基板の搬入搬出も基板搬入搬
出機構によって行わせる必殻がある。そこで実際的には
、基板の検査を開始できるように多数の基板をセットす
るなどの段取りを行い、その中の数枚の基板を順次検査
ステージに供給し、ネットデータの吸い−1−げを行わ
せている。そして、吸い−1−げたネットデータの正常
性を確認し、市営ならばそのデータを使用して実際の検
査に移行する。
ところが、吸い−1−げデータが正常でない場合、吸い
」二げを再度行う必要があるため、基板のセットなどの
段取りをやり直す必要があり、作業」二の無駄が多かっ
た。このような無駄をなくすには、データ吸い−にげの
時は基板のセットと取り出しを手操作によって行い、吸
い」二げデータの正常性が確認されてから基板を自動的
に搬入搬出できるように段取りをする方が能率的である
[発明の[1的コ したがって、この発明の[1的は、構造を格別複雑化す
ることなく、前述のような従来の問題点を解決した基板
検査機を提供することにある。
[問題点を解決するための手段] この目的を達成するために、この発明は、検査ステージ
の基板受は台への基板の搬入と、そのノ、(仮受は台か
らの基板の搬出を自動的に行うための基板搬入搬出系を
有する基板検査機において、基板を手操作によって出し
入れするための開放可能部を検査ステージに有し、また
基板受は台を基板搬入搬出系によって基板を搬入搬出す
るための第1の位置と前記開放可能部に臨む第2の位置
との間で移動させるための手段を備えるものである。
[作用] 基板受は台を第2の位置に移動させ、それに開放可能部
より基板を手操作によってセットし、それから基板受は
台を第1の位置に戻せば、その基板の検査またはネット
データの吸い」二げを行うことができる。検査またはネ
ットデータ吸い−1−げが終了したならば、基板受は台
を第2の位置に酊び移動させ、開放可能部を介して手操
作によって基板受は台から基板を取り出すことができる
このように、基板を手操作にて基板受は台にセットした
り、基板受は台から取り出したりすることができるため
、大■ルに扱う基板のサイズに合わせて基板搬入搬出系
を設計しても、大形の基板の検査などは手差しによって
支障なく行うことができる。したがって、基板搬入搬出
系を小型化し、基板検査機全体のサイズおよび設置スペ
ースを削減できる。また、基板のネットデータの吸い上
げは基板の手差しによって行うことができるから、従来
のような段取りの無駄を回避できる。
さらに、基板受は台を移動させる手段は簡単な構成とす
ることができるものであり、また検査ステージは保守な
どの目的で少なくとも一部は開放できるようにする必要
があるから、手操作による基板の出し入れのための開放
可能部を設けることは格別問題がない。したがって、こ
の発明は基板検査機の構造を格別複雑化させることなく
、実施できるものである。
[実施例コ 以下、この発明の一実施例について図面を参照し説明す
る。
第1図は、この発明による基板検査機の全体的構成を簡
略化して示す概略斜視図である。
この基板検査機は、供給エレベータ100、検査ステー
ジ200、収納エレベータ300,400、テスターユ
ニット500、ピックアップ/プレースユニット600
,700、搬送ユニット800、制御ユニット900、
さらに図示されていないコンソールユニットなどから構
成されている。
ピックアップ/プレースユニット600.700および
搬送ユニット800は、基板搬入搬出系を構成するもの
である。
供給エレベータ100は検査すべき基板を多数枚積み重
ねて収容し、最−に部の基板の高さがほぼ一定となるよ
うに基板の減少につれて基板群を徐々に」1昇させるも
のである。
ピックアップ/プレースユニット600は、供給エレベ
ータ100から基板を1枚ずつピックアップし、ロード
位置まで運び搬送ユニット800に渡すものである。
ピックアップ/プレースユニット700は、搬送ユニッ
ト800によってアンロード位置まで運ばれた検査済み
の基板をピックアップし、それを収納エレベータ300
または400の真」二まで運び、収納エレベータ300
または400に渡すものである。
収納エレベータ300,400はピックアップ/プレー
スユニッ)700から渡された検査済み基板を積み重ね
て収容するものであり、最」二部の基板がほぼ一定の高
さとなるように、基板の収容枚数の増加に従い徐々に基
板群を降下させるように作用する。なお、検査の結果、
良品と判定された基板は収納エレベータ300に収納さ
れ、不良品と判断された基板は収納エレベータ400に
収納される。
搬送ユニット800は、ロード側チャック部802とア
ンロード側チャック部806を持っており、各チャック
部はそれぞれ基板をその前後端部にて保持するための保
持爪804,808と、それらを内外に移動させるため
の手段を含む。搬送ユニット800は全体的に移動する
ようになっており、ロード側チャック部802が図示の
ロード位置にある時には、アンロード側チャック部80
6は図示のように検査ステージ200の中央部に来る。
また、ロード側チャック部802が検査ステージ200
の中央部に移動した時には、アンロード側チャック部8
06はアンロード位置に移動する。
この搬送ユニット800の役割は、ピックアップ/プレ
ースユニット600によりロード位置に運ばれた検査す
べき基板をロード側チャック部802に保持し、それを
検査ステージ200の中央部まで搬送し、検査ステージ
200に渡す働きと、検査ステージ200から検査済み
の基板をアンロード側チャック部806で受は取り、ア
ンロード位置まで運びピックアップ/プレースユニット
700に渡すことである。
検査ステージ200は、テスターユニット500と協動
して基板の導通検査または絶縁検査を実行するものであ
る。より詳細には、この検査ステージ200は、搬送ユ
ニット800によって中央部に運ばれて来た基板を位置
決めして受は取り、それをブローバボード220の下面
側に植設されている多数のプローブピンに押し付け、プ
ローブピンを介して基板のテストポイントをテスターユ
ニット800と電気的に接続して検査を実行し、基板の
検査が完了すると、その基板を搬送ユニット800に渡
すように動作する。
この検査ステージ200は、ブローバボード220、基
板の位置決め受は取りのための基板受は台2101基板
をプローブピンに押し付けるためのプレスエレベータ2
16などから構成されている。基板受は台210は全体
として前後に移動できるようになっているが、これにつ
いては後述する。
基板を手差しする場合、検査ステージ200の筐体前面
の開放可能部に臨む位置まで、図示のように基板受は台
210は押し出される。しかし、基板搬送系によって基
板の搬入搬出を自動的に行う場合には、基板受は台21
0はブローバボード220の真ドまで引き込まれる。
テスターユニット500は、基板の導通検査または絶縁
検査のための電子回路を含み、また検査結果データの処
理、記憶などを司るものである。
制御ユニツト900は、基板検査機の各部の機構なとの
動作、全体的動作シーケンスの制御などを行うものであ
る。そのような制御のために、テスターユニット500
から検査終了、検査結果などの情報が制御ユニット90
0に報告され、また各部に設けられているセンサ(図示
せず)からの検出信号も制御ユニット900に入力され
、制御に利用される。
第2図は基板受は台210の概略正面図であり、第3図
はその概略甲面図である。これらの図を参照し、基板受
は台210とその関連部分について説明する。
230は底板であり、プレスエレベータ216に固定さ
れた一対のガイドレール231に案内されて前後にスラ
イド可能に支持されている。その前後移動のため動力源
として、エアーシリンダ232がプレスエレベータ21
E3に固定されており、−1〇− その作動部は底板230に結合されている。
底板230には、前後一対の垂直板233が固設され、
その−に端に一11板234が固定されている。
235は1j1′降板であり、案内軸236と軸受23
7によって−1−ドに移動可能に」1板234に取り付
けられている。238は昇降板235を十Fに移動させ
るためのエアーシリンダである。昇降板235の上には
、検査すべき基板に対応して交換可能なパレット239
が載置固定されている。基板はこのパレット2391に
位置決めされる。図示されていないが、このパレット2
39には、基板の位置決め穴に対応した位置決めピンが
突設されている。
240はストッパ軸であり、パレット239にt上移動
可能に支承されている。241はストッパ軸240を−
1−Fに移動させるためのエアーシリンダであり、その
作動部は部材242を介してストッパ軸240の一ド端
に結合されている。その部材242はガイド軸243に
案内されて−1−下に移動するようになっている。
このような基板受は台210の前後移動については、第
3図に明瞭に示されている。基板を自動的に搬入搬出す
る場合には、基板受は台210は実線で7J<す位置に
占位させられる。この位置を規正するためのストッパ2
44がプレスエレベータ216に設けられている。
基板を手操作によって出し入れする場合には、基板受は
台210は想像線21OAで示す位置まで押し出される
。この位置を規正するために、ガイドレール231の前
端にストッパ245が設けられている。なお、246は
検査ステージの前面板であり、これには基板を手操作に
よって出し入れするための開放可能部としてのドア24
7が設けられている。
次に、基板の搬入搬出を自動的に行いながら検査を行う
場合の全体的動作を説明する。
(動作段階1) 搬送ユニット800は第1図に示されるように左側に移
動させられてロード側チャック部802はローF 位置
に位置付けられ、アンロード側チャック部806は検査
ステージ200の中央部(基板受は台210の真−に位
置)に来る。
(動作段階2) 供給エレベータ100に多数枚積み重ねられて収容され
ている基板の最上部の一枚がピックアップ/プレースユ
ニット600によって取り上げられ、それがロード位置
まで右側に運ばれてロード側チャック部802に渡され
、その基板はその前後端部において保持爪804により
保持される。
この動作と並行して、検査ステージ200で基板の検査
が実行されている。基板を搬送ユニット800に渡した
ピックアップ/プレースユニット600は、次の基板の
取り」二げのために供給エレベータ100の真上位置ま
で戻る(第1図に示す状態)。
(動作段階3) 検査ステージ200において検査中の基板の検査が終了
すると、プレスエレベータ216;6(下Rする。プレ
スエレベータ216の下降完了後または下降途中に、基
板受は台210の昇降板235がエアーシリンダ238
によって押し」二げられ、最終的に検査済み基板は基板
搬送高さに停止する。
この−ヒ昇位置の規正のために、ガイド軸236の下端
にストッパ251が設けられている。
そして、その基板は搬送ユニット800のアンロード側
チャック部806に渡され、保持爪808によって保持
される。その後、基板受は台210の昇降板235は下
降し、そのパレット239は搬送ユニット800の移動
の妨げにならない高さに来る。なお、ストッパ軸240
も同様な高さまで下降している。
(動作段階4) 搬送ユニット800が第1図の右方向に移動する。アン
ロード側チャック部806が基板受は台210上を通過
した直後に、基板受は台210のストッパ軸240が基
板搬送高さ以−にに一ヒ昇する。
搬送ユニット800の移動によってチャック部802に
保持された基板の先端(第1図および第3図では右端)
がストッパ軸240に係止され、搬送方向(第1図およ
び第3図では左右方向)の粗=14− 位置決めがなされる。なお、保持爪804.808に保
持された基板は、その長手方向(基板搬送方向)につい
て、保持爪804,808に対して相対的に移動可能で
ある。
チャック部802が基板受は台210の真−ヒまで移動
すると、搬送ユニッl−800は停止上する。
アンロード側チャック部806はアンロード位置に来る
。基板受は台210の昇降板235が上昇し、パレット
239に突設されている位置決めピン(図示せず)が基
板の位置決め穴に嵌入し、基板の最終的な位置決めがな
される。この位置決めの後、チャック部802の保持爪
804が開かれ、基板は第3図の符号250で示すよう
に基板受は台210」−に位置決めされる。
この後、昇降板235およびストッパ軸240が下降す
る。
このような動作と並行して、アンロード位置に来ている
ピックアップ/プレースユニット700にアンロード側
チャック部806から検査済み基板が渡される。この基
板は、それが良品ならば収納エレベータ300へ、また
不良品ならば収納エレベータ400へ、ピックアップ/
プレースユニット700によって運ばれ収納される。
以1−の動作段階1〜4を順次繰り返すこきにより、基
板の搬入、搬出および検査が連続的に実行される。
さて、基板搬入搬出系で扱うことができないような大形
の基板の検査、および基板のネットデータの吸い」−げ
は、基板を手操作によって出し入れして行うことができ
る。
この場合、図示しないコンソールユニットニ設けられて
いる操作スイッチにより、手差し検査または吸い1−げ
を指示すると、制御ユニット900の制御によってエア
ーシリンダ232が作動させられ、基板受は台210は
第3図の想像線21OAに示す位置まで押し出される。
この時、基板受は台210の昇降板235およびストッ
パ軸240は下降している。
また、基板受は台210の部分から搬送ユニット800
を退避させるために、搬送ユニット800は第1図に示
す位置よりさらに左側に移動させられる。
これでドア247を開き、そこから基板を検査ステージ
200内に挿入して基板受は台210上にセットするこ
とができる。
次に操作スイッチで指示すると、制御ユニット900に
よってエアーシリンダ232が逆方向に作動させられ、
基板受は台210は第3図に実線で示す位置まで引き込
まれる。
この引き込みが完了すると、制御ユニット900の制御
によってプレスエレベータ216は上昇させられ、基板
受は台210にセットされた基板がブローバボード22
0のプローブピンに押し付けられる。
この後、その基板の導通検査などの検査、またはネット
データの吸い−1−げがテスターユニット500によっ
て実行される。これが終了すると、テスターユニット5
00から終了報告が制御ユニット900に送られる。
この報告に応答し、制御ユニット900によってプレス
エレベータ216が降下させられる。次にエアーシリン
ダ232が作動させられて基板受は台210は再び第3
図の想像線210Aの位置まで押し出されるので、ドア
247の部分から手を入れて基板受は台21O」―の基
板を掴み、それを取り出すことができる。
このように、この基板検査機にあっては、基板搬入搬出
系を用いないで手操作にて基板を基板受は台にセットし
たり取り出したりすることができる。したがって、基板
のネットデータの吸い一ヒげなどを能率的に行うことが
できる。また、基板搬入搬出機構のサイズを稀にしか検
査を行わない大形基板に合わせる必要がないため、基板
搬入搬出機構の小型化、ひいては基板検査機全体の小型
化を図ることができる。
以上、一実施例について説明したが、この発明はそれだ
けに限定されるものではなく、この発明の要旨を逸脱し
ない範囲内で、各部機構の構造、動作制御などについて
様々な変形が許されるものである。
また、この発明は、J、(板のパターンの形状検査など
を行う基板検査機についても同様に適用し得るものであ
る。
[発明の効果] 以」−説明したように、この発明は、検査ステージの基
板受は台への基板の搬入と、その基板受は台からの基板
の搬出を自動的に行うための基板搬入搬出系を有する基
板検査機において、基板を手操作によって出し入れする
ための開放可能部を検査ステージに有し、また基板受は
台を基板搬出搬入系によって基板を搬入搬出するための
第1の位置と前記開放可能部に臨む第2の位置との間で
移動させるための手段を備えるものであって、手操作に
よって基板を基板受は台にセットしまた取り出すことが
できるようになる。
したがって、基板ネヅトデータの吸い一]二げを能ネ(
的に行うことができ、また基板搬入搬出系で扱うことが
できない大形基板の検査が可能な基板検査機を実現でき
る。また、基板搬入搬出系を小型化し、基板検査機の小
型化、その設置スペースの削減を図ることができる。し
かも、検査ステージにはその保守などの目的で開放可能
部を備えているのが普通であるから、手操作による基板
のセット、取り出しを可能とするために必要な構成の変
更は、実質的には基板受は台を移動させる手段を追加す
るたけであり、基板検査機の構造の複雑化を避けること
ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明による基板検査機の一実施例の全体的
構成を簡略化して示す概略斜視図、第2図は同基板検査
機の基板受は台の概略部分断面正面図、第3図は同基板
受は台とその関連部分を示す概略平面図である。 100・・・供給エレベータ、200・・・検査ステー
ジ、210・・・基板受は台、216・・・プレスエレ
ベータ、220・・・プローバボード、231・・・ガ
イドレール、235・・・昇降板、232,238.2
43・・・エアーシリンダ、240・・・ストツバ軸、
247・・・ドア(開放可能部)、300,400・・
・収納エレベータ、500・・・テスターユニット、6
00・・・ロード側ピックアップ/プレースユニット、
700・・・アンロード側ピックアップ/プレースユニ
ット、800・・・搬送ユニット、802・・・ロート
側チャック部、804,808・・・保持爪、806・
・・アンロード側チャック部、900・・・制御ユニッ
ト。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)検査ステージの基板受け台への基板の搬入と、そ
    の基板受け台からの基板の搬出を自動的に行うための基
    板搬入搬出系を有する基板検査機において、基板を手操
    作によって出し入れするための開放可能部を前記検査ス
    テージに有し、また前記基板受け台を前記基板搬入搬出
    系によって基板を搬入搬出するための第1の位置と前記
    開放可能部に臨む第2の位置との間で移動させるための
    手段を備えることを特徴とする基板検査機。
JP61048289A 1986-03-07 1986-03-07 基板検査機 Pending JPS62206459A (ja)

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JP61048289A JPS62206459A (ja) 1986-03-07 1986-03-07 基板検査機

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100464172B1 (ko) * 1997-09-13 2005-04-06 삼성전자주식회사 번인테스트 공정용 소터의 이송모듈
CN113428632A (zh) * 2021-07-28 2021-09-24 深圳市长荣科机电设备有限公司 一种pcb板传送装置及飞拍跟踪系统

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100464172B1 (ko) * 1997-09-13 2005-04-06 삼성전자주식회사 번인테스트 공정용 소터의 이송모듈
CN113428632A (zh) * 2021-07-28 2021-09-24 深圳市长荣科机电设备有限公司 一种pcb板传送装置及飞拍跟踪系统
CN113428632B (zh) * 2021-07-28 2022-07-01 深圳市长荣科机电设备有限公司 一种pcb板传送装置及飞拍跟踪系统

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