JPS62200Y2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPS62200Y2
JPS62200Y2 JP1980139120U JP13912080U JPS62200Y2 JP S62200 Y2 JPS62200 Y2 JP S62200Y2 JP 1980139120 U JP1980139120 U JP 1980139120U JP 13912080 U JP13912080 U JP 13912080U JP S62200 Y2 JPS62200 Y2 JP S62200Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
row
extraction
socket
extracting
fork
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP1980139120U
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5761841U (ja
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP1980139120U priority Critical patent/JPS62200Y2/ja
Publication of JPS5761841U publication Critical patent/JPS5761841U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPS62200Y2 publication Critical patent/JPS62200Y2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は半導体装置の抜取装置に係り、特にプ
リント板に整列実装されたICソケツトからICを
抜取る為のIC抜取装置に関するものである。
一般にICのエージング試験を行なう場合、プ
リント板等に実装された複数のICソケツトに被
試験ICを装着し、エージング試験後ICソケツト
から前記ICを抜取る作業を行なつている。従
来、前記IC抜取作業はピンセツトあるいはこれ
に代わる治具等で行なつていた為、作業者の疲労
を招くばかりでなく、作業能率の向上も期待でき
ない。また最近のエージング用プリント板につい
ては基板の大形化、ICソケツトの高密度実装化
に伴ない直接手作業では非能率であることは明ら
かである。
そこで本考案の目的はプリント板に整列実装さ
れた半導体ソケツトから簡単に半導体装置を抜取
る為の抜取装置を提供することにある。
本考案の抜取装置は、2列以上多数並列に実装
されたソケツトから半導体装置を抜取る為のソケ
ツト実装配列に適合した各列のフオーク状の刃先
の長さを違えたことを特徴としている。
本考案によれば、多数並列に実装されたICソ
ケツトでもICソケツト実装配列ピツチに適合し
たICを抜取る為のフオーク状の刃先の長さが各
列違うので、全ての列のICが同時に抜取られる
ことをなくすことができるので軽い力で抜取操作
が可能となる。又、同時に抜きとられるICの数
は列の数よりも小とすることができるから、1つ
1つのICになるべく均一の力を作用させて抜き
とることができる。さらに、ICの各列につい
て、1本づつの刃先が挿入されるから、その挿入
作業は容易に行なわれる。又、プリント板の外形
位置案内部材、連続部材、案内棒の機構により、
位置出しが正確となるから、抜取作業が容易とな
る。
以下、本考案の実施例について図面を参照し、
具体的に説明する。第1図は本考案のIC抜取装
置の上面図、第2図はICソケツトからICを抜取
る状態の斜視図を示す。
第1図において本考案のIC抜取装置の取扱い
について説明する。まずプリント板1に多数並列
に実装された各列のICソケツト2の取付ピツチ
に合わせたIC抜取用フオーク3a〜3fが並列
にセツトされた連結部材4を治具本体6の左右に
ある案内棒7に沿つて上部へ動かすことにより、
ICソケツト2からICが抜取られ、装置本体6に
傾斜が付いているので抜取られたICは自然落下
し、前記IC抜取用フオーク3a〜3fのカバー
8a〜8fで保護されながら前記フオークの延長
線上の下部にセツトされている。トレー9a〜9
fに収納される。
ここで特に注目する点は並列に取付けてある各
列のIC抜取用フオークの長さが違うことにあ
る。
第2図で示すようにプリント板1に、各列ごと
に、複数のICソケツト2がその凹部溝10が直
線状に一致するよう配列されている。平列にセツ
トされた長さの違う各列のIC抜取用フオーク3
a−3fの刃先が、前記ICソケツトの各列に1
本づつ滑り込んで遂次ICを抜きとつてゆく。こ
れにより全ての列のICを同時に抜きとらないよ
うにすることができる。又、IC抜取用フオーク
の刃先がテーパ状であるため、ICとICソケツト
の溝に入り易い。
以上のように本考案のIC抜取装置によれば従
来ピンセツトあるいはこれに代わる治具等で行な
つていたIC抜取作業と比較して作業能率の向上
は計り知れないものがある。また、本考案のIC
抜取装置はIC抜取りからトレー収納まで一度に
処理できるので作業の省力化、自動化等効果は大
いに期待できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案のIC抜取装置の上面図、第2
図はICソケツトからICを抜取る状態の斜視図を
示す。 なお図において、1……プリント板、2……
ICソケツト、3a〜3f……IC抜取用フオー
ク、4……連結部材、5……プリント板の外形位
置案内部材、6……装置本体、7……案内棒、8
a〜8f……カバー、9a〜9f……トレー、1
0……凹部溝、11……ICである。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 複数列に半導体装置を配列したかたちで該半導
    体装置を実装したプリント基板上のソケツトか
    ら、各列の該半導体装置を抜取るためのIC抜取
    用フオークを該各列毎に備えた半導体装置の抜取
    装置において、治具本体に前記プリント基板の位
    置出し部材を設け、該治具本体の両側に案内棒を
    設け、連結部材に前記ICソケツトの各列に相当
    するIC抜取用フオークをその刃先位置がそれぞ
    れ異なるようにセツトし、該連結部材を該案内棒
    に沿つて動かすことにより前記IC抜取用フオー
    クのそれぞれの刃先が1本づつ前記ICソケツト
    列に前記連結部材のそれぞれ異なる位置において
    挿入されていくようにしたことを特徴とする半導
    体装置の抜取装置。
JP1980139120U 1980-09-30 1980-09-30 Expired JPS62200Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1980139120U JPS62200Y2 (ja) 1980-09-30 1980-09-30

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1980139120U JPS62200Y2 (ja) 1980-09-30 1980-09-30

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5761841U JPS5761841U (ja) 1982-04-13
JPS62200Y2 true JPS62200Y2 (ja) 1987-01-07

Family

ID=29499106

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1980139120U Expired JPS62200Y2 (ja) 1980-09-30 1980-09-30

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS62200Y2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0743412B2 (ja) * 1986-01-22 1995-05-15 株式会社日立製作所 着脱装置

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5360764U (ja) * 1976-10-26 1978-05-23

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5761841U (ja) 1982-04-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE19581661C2 (de) Ic-Aufnahmeschalen-Lagervorrichtung und Montagevorrichtung für diese
DE19680785B4 (de) Halbleiterbauelement-Testgerät und Halbleiterbauelement-Testsystem, das eine Mehrzahl von Halbleiterbauelement-Testgeräten enthält
DE19817123C2 (de) Vorrichtung zum Herausnehmen und zum Lagern von Halbleiterbauelement-Tabletts
US20080054925A1 (en) Test chip socket
US20070018673A1 (en) Electronic component testing apparatus
DE19616809A1 (de) Prüfmanipulator mit Drehtisch
JPS62200Y2 (ja)
CN2466659Y (zh) 能以不同高度插置试管的试管架
CN218412742U (zh) 一种ic卡读卡自动化测试装置
DE19746955A1 (de) Prüfsystem für Halbleiterbauelemente
DE4441347C2 (de) Verfahren zum Prüfen von elektronischen Schaltungen auf Leiterplatten und Vorrichtung zum Durchführen des Verfahrens
US6119893A (en) Component advancement and extraction method and apparatus
CN212207578U (zh) 一种半测烧录治具
KR100612501B1 (ko) 알파칩 핸들러
JPS6010634A (ja) 半導体素子製造における自動選別装置
JP2570469B2 (ja) Ic挿抜機のバーンインボード位置決め方法
KR0124549Y1 (ko) 메모리 모듈용 트레이
CN216323384U (zh) 一种厚薄分选机
JPH0353505Y2 (ja)
CN210604712U (zh) 一种hub自动化检测设备的固定装置
DE102018207730B4 (de) Sondierungskarten-Halteeinschub, Behälter, System und Verfahren zur Lagerung und zum Transportieren einer oder mehrerer Sondierungskarten
JPS5931461A (ja) 半導体装置抜取り機構
JP2610166B2 (ja) 部品整列皿
JPH02122645A (ja) Ic製造用トレー
JPS6373167A (ja) 挿入方法及び挿入装置