JPS62200206A - 透明フィルムのエッジ検出装置 - Google Patents
透明フィルムのエッジ検出装置Info
- Publication number
- JPS62200206A JPS62200206A JP4343686A JP4343686A JPS62200206A JP S62200206 A JPS62200206 A JP S62200206A JP 4343686 A JP4343686 A JP 4343686A JP 4343686 A JP4343686 A JP 4343686A JP S62200206 A JPS62200206 A JP S62200206A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- transparent object
- transparent
- edge
- transparent matter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 13
- 238000003708 edge detection Methods 0.000 claims description 10
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 claims description 9
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- -1 polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、透明フィルムのような透明物体のエツジの位
置を光学的に検出する透明物体のエツジ検出装置に関す
る。
置を光学的に検出する透明物体のエツジ検出装置に関す
る。
〈従来の技術〉
例えば、透明フィルムを製造するラインや透明フィルム
を使用するライン上において、帯状の透明フィルムの位
置を正確に検出する装置が使用されることがある。
を使用するライン上において、帯状の透明フィルムの位
置を正確に検出する装置が使用されることがある。
このような透明物体の位置を光学的に検出する場合、従
来では、透明物体をはさんで一方の側に投光器を他方の
側に受光器を対向して設置し、透明物体のエツジ位置に
光を通し、透明物体を透過する光の割合に応じて変化す
る受光信号をとらえて検出を行なっていた。
来では、透明物体をはさんで一方の側に投光器を他方の
側に受光器を対向して設置し、透明物体のエツジ位置に
光を通し、透明物体を透過する光の割合に応じて変化す
る受光信号をとらえて検出を行なっていた。
〈発明が解決しようとする問題点〉
しかしながら、透明物体であるために検出光が通過する
際の光の減衰率は小さく、その透明物体における光吸収
率の大きい波長の光を使用したり偏光フィルタを用いる
ことにより、透明物体を通過する光と通過しない光の光
量差を大きくし、透明物体のエツジ検出を正確に行なう
ようにしているが、ある透明物体に対しては光量差が大
きくとれるが、別の透明物体に対しては光量差が全くと
れないという問題があり、各種の透明物体のエツジ位置
を正確に検出できる汎用性の高いエツジ検出器が望まれ
ていた。
際の光の減衰率は小さく、その透明物体における光吸収
率の大きい波長の光を使用したり偏光フィルタを用いる
ことにより、透明物体を通過する光と通過しない光の光
量差を大きくし、透明物体のエツジ検出を正確に行なう
ようにしているが、ある透明物体に対しては光量差が大
きくとれるが、別の透明物体に対しては光量差が全くと
れないという問題があり、各種の透明物体のエツジ位置
を正確に検出できる汎用性の高いエツジ検出器が望まれ
ていた。
く問題点を解決するための手段〉
本発明は、上記の問題点を解決するためになされたもの
で、透明物体の種類にかかわらず、透明物体のエツジ位
置を正確に検出し得る透明物体のエツジ検出装置を提供
するものであり、以下のように構成される。
で、透明物体の種類にかかわらず、透明物体のエツジ位
置を正確に検出し得る透明物体のエツジ検出装置を提供
するものであり、以下のように構成される。
すなわち、本発明の透明物体のエツジ検出装置は、透明
物体に対し斜向きに設置され透明物体のエツジを含む像
が映されるイメージセンサを内蔵したイメージカメラと
透明物体に対し斜に且つイメージカメラに向けて光を出
す光源とイメージカメラのイメージセンサを走査し透明
物体のエツジ位置でレベル差のあるイメージ信号を出力
する制御回路と、イメージ信号を入力して二次微分する
微分回路と、エツジ位置に対応した微分信号のゼロクロ
ス点を検出するゼロクロス検出回路と、前記イメージ信
号の立上り時からゼロクロス点までの時間をカウントす
るカウンタを備えて構成される。
物体に対し斜向きに設置され透明物体のエツジを含む像
が映されるイメージセンサを内蔵したイメージカメラと
透明物体に対し斜に且つイメージカメラに向けて光を出
す光源とイメージカメラのイメージセンサを走査し透明
物体のエツジ位置でレベル差のあるイメージ信号を出力
する制御回路と、イメージ信号を入力して二次微分する
微分回路と、エツジ位置に対応した微分信号のゼロクロ
ス点を検出するゼロクロス検出回路と、前記イメージ信
号の立上り時からゼロクロス点までの時間をカウントす
るカウンタを備えて構成される。
〈実施例〉
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第１図は、例えば長い帯状の透明な合成樹脂フィルム（
以下、透明物体ｌという）のエツジ位置を検出するエツ
ジ検出装置の構成図を示し、第２図と第３図イメージカ
メラ２の配置図を示している。イメージカメラ２内には
ホトダイオードアレイを１列に配列した１次元のイメー
ジセンサ３が配設それ、レンズ４を介して透明物体ｌの
エツジ部（片側の側端部）の像をイメージセンサ３上に
映すように構成され、イメージセンサ３の長手方向に沿
って透明物体１の幅方向が位置するようにイメージカメ
ラは設置される。また、このイメージカメラ２は、透明
物体ｌに対し斜上方からその像をとらえるように、透明
物体ｌの平面の長手方向線に対し角度αの傾斜角をもつ
ように設置され、イメージカメラ２の反対側に光源４が
配置される。光源５はイメージカメラ２の受光軸上に位
置し、光源５がイメージカメラ２に向けて投光する際の
透明物体に対する角度もαであり、また光源５は透明物
体ｌの幅方向に長い形状となっている。なお、透明物体
１に対するイメージカメラ２の傾斜角αは透明物体１の
透明度が高いほど小さく、透明度が低いほど大きくする
ように設定され、一般的な透明ポリエチレンフィルムで
あれば１０〜３０度が適当である。
以下、透明物体ｌという）のエツジ位置を検出するエツ
ジ検出装置の構成図を示し、第２図と第３図イメージカ
メラ２の配置図を示している。イメージカメラ２内には
ホトダイオードアレイを１列に配列した１次元のイメー
ジセンサ３が配設それ、レンズ４を介して透明物体ｌの
エツジ部（片側の側端部）の像をイメージセンサ３上に
映すように構成され、イメージセンサ３の長手方向に沿
って透明物体１の幅方向が位置するようにイメージカメ
ラは設置される。また、このイメージカメラ２は、透明
物体ｌに対し斜上方からその像をとらえるように、透明
物体ｌの平面の長手方向線に対し角度αの傾斜角をもつ
ように設置され、イメージカメラ２の反対側に光源４が
配置される。光源５はイメージカメラ２の受光軸上に位
置し、光源５がイメージカメラ２に向けて投光する際の
透明物体に対する角度もαであり、また光源５は透明物
体ｌの幅方向に長い形状となっている。なお、透明物体
１に対するイメージカメラ２の傾斜角αは透明物体１の
透明度が高いほど小さく、透明度が低いほど大きくする
ように設定され、一般的な透明ポリエチレンフィルムで
あれば１０〜３０度が適当である。
１０はイメージセンサ３の制御回路で、イメージセンサ
３のホトダイオードアレイを一定時間毎に走査し、これ
により入力した時系列のイメージ信号をフィルタリング
及び波形整形して出力し、また後段のゲート回路等との
同期をとるために、クロックパルス信号を後述のゲート
回路、ゼロクロス検出回路に送る。
３のホトダイオードアレイを一定時間毎に走査し、これ
により入力した時系列のイメージ信号をフィルタリング
及び波形整形して出力し、また後段のゲート回路等との
同期をとるために、クロックパルス信号を後述のゲート
回路、ゼロクロス検出回路に送る。
制御回路ｌＯの出力側には二次微分を行なう微分回路１
１が接続され、微分回路１１の出力側にはゲート回路１
２が接続され、ゲート回路１２は制御回路１０から入力
されるイメージ信号における透明物体１のエツジ位置に
対応した信号のみを通すタイミングのゲート信号を作り
ゲートを開くように構成される。ゲート回路１２の出力
側にはゼロクロス検出回路１３が接続され、ゼロクロス
検出回路１３ばゲート回路１２を介して送られる微分波
形のゼロクロス点を検出し、イメージ信号の立上りに同
期して立上りゼロクロス点で立下るような高レベル信号
を出力する。１４はゼロクロス検出回路１３の出力側に
接続されるゲート回路で、制御回路１０から送られるク
ロックパルス信号を入力し、ゼロクロス検出回路１３か
らの高レベル信号をゲート信号として高レベルの間ゲー
トを開き、この間のクロックパルス信号を出力する。ゲ
ート回路１４の出力側にはカウンタ１５が接続され、カ
ウンタは入力されるクロックパルス信号の数つまり時間
をカウントし、この数値が透明物体ｌのエツジ位置を示
すことになる。１６はＤ・Ａコンバータ、１７はバッフ
ァ回路で、共にカ６一 ウンタ１５の出力側に接続され、Ｄ・Ａコンバータ１６
の出力側は例えば透明物体１の位置を調整するアナログ
入力の装置に接続され、バッファ回路１７の出力側は記
録計或はパルスモータを使用する位置ＷＪ整装置などに
接続される。
１が接続され、微分回路１１の出力側にはゲート回路１
２が接続され、ゲート回路１２は制御回路１０から入力
されるイメージ信号における透明物体１のエツジ位置に
対応した信号のみを通すタイミングのゲート信号を作り
ゲートを開くように構成される。ゲート回路１２の出力
側にはゼロクロス検出回路１３が接続され、ゼロクロス
検出回路１３ばゲート回路１２を介して送られる微分波
形のゼロクロス点を検出し、イメージ信号の立上りに同
期して立上りゼロクロス点で立下るような高レベル信号
を出力する。１４はゼロクロス検出回路１３の出力側に
接続されるゲート回路で、制御回路１０から送られるク
ロックパルス信号を入力し、ゼロクロス検出回路１３か
らの高レベル信号をゲート信号として高レベルの間ゲー
トを開き、この間のクロックパルス信号を出力する。ゲ
ート回路１４の出力側にはカウンタ１５が接続され、カ
ウンタは入力されるクロックパルス信号の数つまり時間
をカウントし、この数値が透明物体ｌのエツジ位置を示
すことになる。１６はＤ・Ａコンバータ、１７はバッフ
ァ回路で、共にカ６一 ウンタ１５の出力側に接続され、Ｄ・Ａコンバータ１６
の出力側は例えば透明物体１の位置を調整するアナログ
入力の装置に接続され、バッファ回路１７の出力側は記
録計或はパルスモータを使用する位置ＷＪ整装置などに
接続される。
次に、」１記構成のエツジ検出装置の動作を説明する。
イメージカメラ２は光源５からの光を受け、そのイメー
ジセンサ３上に透明物体１のエツジの像を映す。このと
き、透明物体１の像をつくる光源５からの光は傾斜角α
で透明物体１に入りここを通過するため、光が透明物体
ｌに入る際のその表面での反射率は大きく、透過光量が
減るため透明物体ｌの像は物体が無い部分に比べかなり
暗く映ることになる。このようにして透明物体であって
もイメージセンサ３上にはその像が影としてはっきり映
り、エツジの位置も明確に表われる。このとき、制御回
路１０はイメージセンサ３を一定時間毎に走査し、これ
により入力した時系列のイメージ信号をフィルタリング
及び波形整形して第４図に示すようなイメージ信号ａを
各走査毎に出力する。このイメージ信号ａにおいて前半
の高レベル部分が透明物体の無い部分、後半の中レベル
部分が透明物体の部分であり、透明物体１のエツジ位置
が高レベル部分と中レベル部分のレベル差で明確に示さ
れる。イメージ信号ａは微分回路１１に送られて二次微
分が行なわれ、微分信号すがゲート回路１２に送られる
。微分信号すは１個のイメージ信号につきその最初の立
上り部とエツジ位置を示す立下り部と最後の立下り部の
３箇所で微分波形をもち、この微分信号すがゲート回路
１２に送られ。すると、ゲート回路１２では制御回路ｌ
Ｏからのクロック信号に基づきエツジ位置を示す中央の
微分波形のみを通すタイミングのゲート信号Ｃをつくっ
てゲートを開き、エツジ位置を示す微分信号ｄを出力す
る。微分信号ｄはゼロクロス検出回路１３に送られ、ゼ
ロクロス検出回路１３では微分信号ｄのゼロクロス点を
検出すると共に、イメージ信号ａの立上りに同期して立
」ニリ、ゼロクロス点で立下るような高レベル信号ｅを
出力する。この高レベル信号ｅはゲート回路１４にゲー
ト信号として入力され、ゲート回路１４は高レベル信号
ｅの間だけゲートを開き、制御回路１０からのクロック
パルス信号ｆを高レベル信号ｅの聞出力する。ゲート回
路１４から出力される１回分のクロックパルス信号ｇの
数つまり時間が透明物体１のエツジ信号を示すことにな
り、このクロックパルス信号ｇはカウンタ１５に送られ
てカウントされ、カウント１５の各走査毎のカウント値
はＤ−Ａコンバータ１６とバッファ回路１７に送られる
。
ジセンサ３上に透明物体１のエツジの像を映す。このと
き、透明物体１の像をつくる光源５からの光は傾斜角α
で透明物体１に入りここを通過するため、光が透明物体
ｌに入る際のその表面での反射率は大きく、透過光量が
減るため透明物体ｌの像は物体が無い部分に比べかなり
暗く映ることになる。このようにして透明物体であって
もイメージセンサ３上にはその像が影としてはっきり映
り、エツジの位置も明確に表われる。このとき、制御回
路１０はイメージセンサ３を一定時間毎に走査し、これ
により入力した時系列のイメージ信号をフィルタリング
及び波形整形して第４図に示すようなイメージ信号ａを
各走査毎に出力する。このイメージ信号ａにおいて前半
の高レベル部分が透明物体の無い部分、後半の中レベル
部分が透明物体の部分であり、透明物体１のエツジ位置
が高レベル部分と中レベル部分のレベル差で明確に示さ
れる。イメージ信号ａは微分回路１１に送られて二次微
分が行なわれ、微分信号すがゲート回路１２に送られる
。微分信号すは１個のイメージ信号につきその最初の立
上り部とエツジ位置を示す立下り部と最後の立下り部の
３箇所で微分波形をもち、この微分信号すがゲート回路
１２に送られ。すると、ゲート回路１２では制御回路ｌ
Ｏからのクロック信号に基づきエツジ位置を示す中央の
微分波形のみを通すタイミングのゲート信号Ｃをつくっ
てゲートを開き、エツジ位置を示す微分信号ｄを出力す
る。微分信号ｄはゼロクロス検出回路１３に送られ、ゼ
ロクロス検出回路１３では微分信号ｄのゼロクロス点を
検出すると共に、イメージ信号ａの立上りに同期して立
」ニリ、ゼロクロス点で立下るような高レベル信号ｅを
出力する。この高レベル信号ｅはゲート回路１４にゲー
ト信号として入力され、ゲート回路１４は高レベル信号
ｅの間だけゲートを開き、制御回路１０からのクロック
パルス信号ｆを高レベル信号ｅの聞出力する。ゲート回
路１４から出力される１回分のクロックパルス信号ｇの
数つまり時間が透明物体１のエツジ信号を示すことにな
り、このクロックパルス信号ｇはカウンタ１５に送られ
てカウントされ、カウント１５の各走査毎のカウント値
はＤ−Ａコンバータ１６とバッファ回路１７に送られる
。
透明物体１が帯状のフィルムで、図示しないロール間の
空間を走行し、透明物体１が蛇行することを防止するよ
うな制御装置にエツジ検出装置が使用される場合には、
Ｄ＠Ａコンバータ１６（７）出力或はバッファ回路１７
の出力が制御信号としてその制御装置に送られ、透明物
体のエツジ位置を一定にするようなフィードバック制御
が行なわれる。一方、バッファ回路１７の出力を表示器
や記録計に接続すれず、エツジ位置を数値として表示−
９〜 し或は記録することができる。
空間を走行し、透明物体１が蛇行することを防止するよ
うな制御装置にエツジ検出装置が使用される場合には、
Ｄ＠Ａコンバータ１６（７）出力或はバッファ回路１７
の出力が制御信号としてその制御装置に送られ、透明物
体のエツジ位置を一定にするようなフィードバック制御
が行なわれる。一方、バッファ回路１７の出力を表示器
や記録計に接続すれず、エツジ位置を数値として表示−
９〜 し或は記録することができる。
〈発明の効果〉
以上説明したように、本発明のエツジ検出装置によれば
、透明物体の平面に対し受光軸が傾斜するようにイメー
ジカメラを斜に配置し、光源を透明物体の反対側におけ
る受光軸上に配置したから、光源からの光は透明物体に
斜に入るためにその表面での反射率は大きくなり、透明
物体を通過する光量が少なくなって、透明物体のエツジ
を含む部分を明確な影としてイメージセンサ上に映すこ
とができる。このため透明物体の透明度にかかわらず、
イメージセンサからのイメージ信号においてエツジ位置
を示すレベル差を大きくすることができ、各種透明物体
のエツジ位置を正確に安定して検出することができる。
、透明物体の平面に対し受光軸が傾斜するようにイメー
ジカメラを斜に配置し、光源を透明物体の反対側におけ
る受光軸上に配置したから、光源からの光は透明物体に
斜に入るためにその表面での反射率は大きくなり、透明
物体を通過する光量が少なくなって、透明物体のエツジ
を含む部分を明確な影としてイメージセンサ上に映すこ
とができる。このため透明物体の透明度にかかわらず、
イメージセンサからのイメージ信号においてエツジ位置
を示すレベル差を大きくすることができ、各種透明物体
のエツジ位置を正確に安定して検出することができる。
また、イメージ信号を二次微分した後、そのゼロクロス
点を検出する構成とすることにより、比較的簡単な回路
でエツジ位置を示す信号を得ることができる。
点を検出する構成とすることにより、比較的簡単な回路
でエツジ位置を示す信号を得ることができる。
図は本発明の実施例を示し、第１図はエツジ検ｉｏ−
出装置の構成図、第２図はイメージカメラの配置を示す
側面図、第３図は同正面図、第４図は検出装置の各回路
から出力される信号の波形図である１・・・透明物体、 ２・・・イメージカメラ、 ３・・・イメージセンサ、 ５・・・光源、 １０・・・制御回路、 １１・・・微分回路、 １３・・・ゼロクロス検出回路、 １５・・・カウンタ。 特 許 出 願 人 東洋電子株式会社
側面図、第３図は同正面図、第４図は検出装置の各回路
から出力される信号の波形図である１・・・透明物体、 ２・・・イメージカメラ、 ３・・・イメージセンサ、 ５・・・光源、 １０・・・制御回路、 １１・・・微分回路、 １３・・・ゼロクロス検出回路、 １５・・・カウンタ。 特 許 出 願 人 東洋電子株式会社
Claims (1)
- 透明物体に対し斜向きに設置され該透明物体のエッジを
含む像が映されるイメージセンサを内蔵したイメージカ
メラと、該透明物体に対し斜に且つ前記イメージカメラ
に向けて投光する光源と、前記イメージセンサを走査し
該透明物体のエッジ位置でレベル差のあるイメージ信号
を出力する制御回路と、該イメージ信号を入力して二次
微分する微分回路と、前記エッジ位置に対応した微分信
号のゼロクロス点を検出するゼロクロス検出回路と、前
記イメージ信号の立上り時から前記ゼロクロス点までの
時間をカウントするカウンタとを備えたことを特徴とす
る透明物体のエッジ検出装置
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61043436A JPH0660805B2 (ja) | 1986-02-27 | 1986-02-27 | 透明フィルムのエッジ検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61043436A JPH0660805B2 (ja) | 1986-02-27 | 1986-02-27 | 透明フィルムのエッジ検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62200206A true JPS62200206A (ja) | 1987-09-03 |
| JPH0660805B2 JPH0660805B2 (ja) | 1994-08-10 |
Family
ID=12663644
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61043436A Expired - Fee Related JPH0660805B2 (ja) | 1986-02-27 | 1986-02-27 | 透明フィルムのエッジ検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0660805B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0375502A (ja) * | 1989-08-18 | 1991-03-29 | Central Glass Co Ltd | 積層体のエッジ検出装置 |
| US7106458B2 (en) | 2001-12-14 | 2006-09-12 | Heidelberger Druckmaschinen Ag | Device for detecting edges of sheet-shaped materials |
| JP2008020379A (ja) * | 2006-07-14 | 2008-01-31 | Topy Ind Ltd | 無限軌道帯用履板の計測システムおよび計測方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5687803A (en) * | 1979-12-19 | 1981-07-16 | Toyo Kikai Kk | Detecting method for deflection of selvedge of travelling web |
| JPS56166452A (en) * | 1980-05-27 | 1981-12-21 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | Detecting method for distortion defect of transparent plate |
-
1986
- 1986-02-27 JP JP61043436A patent/JPH0660805B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5687803A (en) * | 1979-12-19 | 1981-07-16 | Toyo Kikai Kk | Detecting method for deflection of selvedge of travelling web |
| JPS56166452A (en) * | 1980-05-27 | 1981-12-21 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | Detecting method for distortion defect of transparent plate |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0375502A (ja) * | 1989-08-18 | 1991-03-29 | Central Glass Co Ltd | 積層体のエッジ検出装置 |
| US7106458B2 (en) | 2001-12-14 | 2006-09-12 | Heidelberger Druckmaschinen Ag | Device for detecting edges of sheet-shaped materials |
| JP2008020379A (ja) * | 2006-07-14 | 2008-01-31 | Topy Ind Ltd | 無限軌道帯用履板の計測システムおよび計測方法 |
| JP4716433B2 (ja) * | 2006-07-14 | 2011-07-06 | トピー工業株式会社 | 無限軌道帯用履板の計測システムおよび計測方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0660805B2 (ja) | 1994-08-10 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3781531A (en) | Flaw detector system utilizing a laser scanner | |
| JPH0674907A (ja) | 透明板状体の欠点検出方法 | |
| US5367379A (en) | Luster detector | |
| JPH01143945A (ja) | テープ欠陥検出方法 | |
| GB2039032A (en) | Electronic bottle inspector having particle and liquid detection capabilities | |
| US3415997A (en) | Radiation sensitive ampoule testing apparatus and method | |
| JPH0219898B2 (ja) | ||
| JPS61200409A (ja) | 透明物体の壁厚測定方法及び装置 | |
| US4099051A (en) | Inspection apparatus employing a circular scan | |
| JPH05223746A (ja) | 透明物体の欠陥検出方法とその装置 | |
| JPS62200206A (ja) | 透明フィルムのエッジ検出装置 | |
| US5724140A (en) | Method and apparatus for determining the quality of flat glass sheet | |
| EP0284347B1 (en) | A device for inspecting the degree of vacuum in a sealed vessel | |
| US5461481A (en) | System, apparatus and/or method for analyzing light intensities of light reflected from a surface of a sample | |
| US6844537B2 (en) | Method and device for measuring the velocity of a moving surface | |
| RU2002118214A (ru) | Устройство для непрерывного передвижения предметов с симметрией вращения, применяемое для визуального осмотра и проверки | |
| US4636633A (en) | Document sensing apparatus that detects non-specular reflected light | |
| JPS61176838A (ja) | 透明または半透明の板状体の欠点検査方法 | |
| JPS61176839A (ja) | 透明または半透明の板状体の欠点検査装置 | |
| JPH03115844A (ja) | 表面欠点検出方法 | |
| JPS56158977A (en) | Presence detector | |
| SU1500917A1 (ru) | Устройство контрол концентрации взвешенных частиц | |
| JPS5918656B2 (ja) | 表面検査方法 | |
| JPS59220635A (ja) | シ−ト状物の欠陥検出方法 | |
| JPS577505A (en) | Detecting method for excess and deficient turn-tightening of cap and device thereof |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |