JPS6219516B2 - - Google Patents

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JPS6219516B2
JPS6219516B2 JP58047175A JP4717583A JPS6219516B2 JP S6219516 B2 JPS6219516 B2 JP S6219516B2 JP 58047175 A JP58047175 A JP 58047175A JP 4717583 A JP4717583 A JP 4717583A JP S6219516 B2 JPS6219516 B2 JP S6219516B2
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JP
Japan
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anode
defective
anodes
thickness
detection
Prior art date
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Application number
JP58047175A
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English (en)
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JPS59173285A (ja
Inventor
Tomoji Honma
Kuninobu Yamamura
Akihiro Matsunaga
Tetsuo Saeki
Kohei Kimura
Harunori Aoyama
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Eneos Corp
Original Assignee
Nippon Mining Co Ltd
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Publication date
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Priority to JP58047175A priority Critical patent/JPS59173285A/ja
Publication of JPS59173285A publication Critical patent/JPS59173285A/ja
Publication of JPS6219516B2 publication Critical patent/JPS6219516B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P10/00Technologies related to metal processing
    • Y02P10/20Recycling

Landscapes

  • Electrolytic Production Of Metals (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、電解用の金属アノードを整形する際
に、不良アノードを検知して良品アノードとは別
に排出する不良アノードの検知および排出方法に
関する。
[従来の技術] 金属の電解精製においては、単位床面積当りの
電解能力向上と低コスト化のために電解槽中のア
ノードとカソードの間隔を出来るだけ小さくする
ことが要求される。
製錬によつて得た粗銅、粗ニツケル、粗鉛、粗
錫などを、第1図に示すように一縁両端から左右
に突出延長する耳E,Eをする四角板状に鋳造
し、耳E,Eを電解槽の縁に掛け可溶性アノード
Aとして電解を行なつている。このアノードAの
鋳造は鋳型の管理の最も簡単な開放水平鋳造によ
る鋳造が最も普遍的に行われており、自動秤量さ
れた溶融金属が鋳型に注ぎ込まれる。
[発明が解決しようとする問題点] ところが、鋳型より取り出されたアノードA
は、必ずしも平坦でなく反りや捻れがあり、かつ
耳の下部に鋳張りなどがあることから、電解槽内
に精製した金属の薄板をカソードとして鉛直に吊
り下げて、これに並べて上記の如く鋳造した未矯
正のアノードAを電解槽に耳E,Eを掛けて吊り
下げると、隣接のアノードA同志あるいはアノー
ドAとカソードが接触して短絡、アノードAの溶
解不均一をおこし、その結果電解製品の電着状態
不良、電解電力および鋳返率の増大などを招く。
したがつて、鋳造されたアノードAには、反り
や捻れの矯正及び耳の加工などの一連の整形を必
ず施す必要がある。しかしながら、鋳造されたア
ノードAの中には、重量あるいは厚みが所定の規
準に合つていないいわゆる不良アノードが存在す
ることから、この不良アノードに対してまで整形
加工を施すのは無駄であり、アノードの整形作業
効率を著しく低下させることになる。
[問題点を解決するための手段] そこで、本発明者らは、これらの問題を解決す
るために種々研究した結果、アノードを水平状態
に保持しつつアノードの単重量あるいは厚み測定
を行ない、いずれかの測定値において所定の合格
範囲から外れた不良アノードを良品アノードとは
別に単独で排出させるようにすることが、アノー
ドの整形作業効率向上において最も効果的である
という結論に達し、それをおし進めることによつ
て下記の本発明に至つた。
したがつて、本発明の不良アノード検知および
排出方法は、電解用金属アノードを搬入する受入
れ工程と整形終了後のアノードを搬出する搬出工
程と、の間で、不良アノード検知および排出工程
を行なわせるようにした不良アノード検知および
排出方法であつて、上記不良アノード検知および
排出工程は、アノードを水平状態に保持しつつア
ノードの単重量測定あるいは厚み測定を行ない、
いずれかの測定値において所定の合格範囲から外
れた不良アノードを排除し、この不良アノードを
良品アノードとは別に単独で排出するようにした
ことを特徴としている。
[実施例] 以下、図示の一実施例により本発明を説明す
る。
第2図は、本発明に係る不良アノードの検知お
よび排出方法を実施するためのアノード整形シス
テムの平面図、第3図は、同システムの説明図、
第4図は、第2図矢視からみたアノード整形シ
ステムの側面図である。
上記アノード整形システムは、製錬工場で生成
されたアノードA(たとえば銅アノード)が製錬
工場から直接あるいは未整形アノードストツクヤ
ードから通常アノードAの両耳E,Eを垂直懸垂
状態で支持されて搬入される受入れ工程S1と、該
受入れ工程S1のアノードAを一枚づつ垂直懸垂状
態から水平支持状態に転換する反転工程S2と、該
反転工程S2により水平にされたアノードAを水平
支持状態で搬送し、その途中でプレス装置Pより
複数点プレスしてアノードAの反りおよび捻れを
矯正する曲り矯正工程S3と、該曲り矯正工程S3
おいて矯正されたアノードAを水平支持状態で単
重量測定及び厚み測定を行ない、いずれかの測定
値において所定の合格範囲から外れたアノードを
不良アノードANと判定して良品アノードAGと区
別し、かつ不良アノードANを排除し、良品アノ
ードAGとは別に単独で排出する不良アノード検
知および排出工程S4と、上記良品アノードAGの
両耳E,Eの下部E,Fを整形加工する二系列の
耳加工工程S5,S6と、両耳加工工程S5,S6におい
て加工され整形終了した良品アノードAGを集合
して良品アノードAGを一枚ずつ水平支持状態か
ら垂直懸垂状態にもどす反転工程S6と、垂直懸垂
状態の良品アノードAGを所定枚数集めて、図示
しない外部搬送装置に搬出する搬出工程S7により
構成されている。
上記曲り矯正工程S3から不良アノード検知およ
び搬出工程S4へのアノードAの搬送は、両工程
S5,S4を貫くコンベアWCにより行うようになつ
ており、このコンベアWCは一定ストロークずつ
アノードAを水平支持状態で曲り矯正工程S3から
不良アノード検知および排出工程S4に送ることが
できるようになつている。
次に上記不良アノード検知および排出工程S4
ついて詳述する。不良アノード検知および排出工
程S4を成す不良アノード検知および排出装置は、
第5図から第7図に示すように、上記コンベア
WCにより水平支持状態で一枚ずつ搬送されてく
るアノードAが所定位置に達したときに該アノー
ドAを検知すると、たとえば投光器1aとその受
光器1bから成り遮光により検知信号が出力され
るアノード検知装置1と、上記コンベアWCで搬
送されてくるアノードAの最大厚みを、上記所定
位置付近で測定し、あらかじめ設定した厚み範囲
外の不良アノードANを検知する、たとえば厚み
の上限をチエツクするタツチセンサなどのアノー
ドの厚み測定装置2と、上記アノード検知装置1
の検知信号に基づいて所定位置のアノードAを重
量不良アノードANと判定するアノードの単重量
測定装置3と、上記厚み不良あるいは重量不良の
不良アノードANを良品アノードAGとは別系統に
排出する不良アノードの排出機4と、により構成
されている。
上記単重量測定装置3は、第5図から第7図に
示すように、基台5と、この基台5にガイドロツ
ド6を介して取り付けられ、操作シリンダ7によ
り昇降自在とされる昇降フレーム8と、該昇降フ
レーム8上のコンベアWCの外側位置に3個所設
けられたロードセル9と、該ロードセル9の上部
に取り付けられたピン9aを有しており、上記操
作シリンダ7が伸長された状態では、各ロードセ
ル9のピン9aの上端位置は、少くとも上記コン
ベアWCが下降した場合のアノードAの支持レベ
ル位置L―Lより上方であり、また、操作シリン
ダ7が収縮された状態では、ピン9aの上端位置
は、支持レベル位置L―Lより下方になる。
次に、上記不良アノードの排出機4は、第5
図、第6図および第8図に示すように、上記ロー
ドセル9により単重量測定の結果、重量不良と判
定されるか、あるいは上記厚み測定装置2により
厚み不良と判定された不良アノードANを、上記
ロードセル9が下降された状態においてコンベア
WCの搬送方向FWと直交する方向にコンベアWC
上から排除するプツシヤ10と、該プツシヤ10
により排除された不良アノードANを水平支持状
態から垂直支持状態に転換する傾転機11と、垂
直支持状態の不良アノードAの両耳E,E付近を
シリンダ12aの伸長作動により排除方向に押す
プツシヤヘツド12,12と、該プツシヤヘツド
12により押された不良アノードANを両耳E,
Eを介して垂直懸垂状態で吊り下げて集合整列さ
せる架台13を有している。
上記傾転機11は、単重量測定装置3に近接さ
れており、傾転シリンダ14aの伸縮により断面
L字形の傾転台14が水平状態あるいは垂直状態
の二位置に設定されるようになつている。また、
上記架台13の左右にはスライドレール13a,
13aが水平に設けられていてこのスライドレー
ル13a,13a上に不良アノードANの両耳
E,Eが掛けられるようになつている。
次に、以上の構成における実施例のアノード整
形方法を説明する。
第3図に示すように受入れ工程S1のアノードA
が一枚ずつ反転工程S2において垂直懸垂状態から
水平支持状態に転換されてコンベアWC上に水平
に載置され、搬送方向FWに送られて曲り矯正工
程S3のプレス装置Pにおいて、両耳E,Eを含む
複数点がプレスされる。プレスされて反りや捻れ
の除去されたアノードAは、第6図Aから第6図
Bおよび第7図Aから第7図Bに示すように、さ
らにコンベアWCにより水平支持状態のままで搬
送されて、単重量測定装置3上の所定位置付近に
達する時点で厚み測定装置2により最大厚みが測
定される。例えばアノードを垂直懸垂状態で搬送
してくれば、厚み測定に際して、アノードを新た
に設定した測定基準位置に位置決めしなければな
らないが、本実施例においては、アノードAはコ
ンベアWCによつて所定の支持レベルで水平状態
を保つて搬送されてくるので、厚み測定に際して
は測定上の基準面を新たに設ける必要がない。こ
の厚み測定装置2により測定されたアノードAの
最大厚みが所定の合格範囲内に入つていれば厚み
に関しては良品アノードAGであり、合格範囲外
であれば厚みに関して不良アノードANと判断さ
れる。
次に、第5図、第6図Bおよび第7図Cに示す
ように、厚みが測定されたアノードAはコンベア
WCにより単重量測定装置3上の所定位置に水平
支持状態で位置決めされると、該アノードAはア
ノード検知装置1よりその存在が検知される。そ
の検知信号に基づいて第7図Cに示すように単重
量測定装置3の操作シリンダ7が伸長され、各ロ
ードセル9のピン9a上にアノードAが水平支持
状態で載置されてアノードAの単重量が測定され
る。例えば、アノードを垂直懸垂状態で搬送する
と、アノードには揺れがおきやすく、この揺れが
重量測定における誤差の原因になる。ところが本
実施例では、アノードAはコンベアWCによつて
水平支持状態で搬送されてくるので、アノードに
揺れが起こることはなく、前記単重量の測定は正
確かつ速やかに行なうことができる。この測定さ
れたアノードAの単重量が所定の合格範囲内に入
つていれば単重量に関しては良品アノードAGで
あり、合格範囲外であれば単重量に関して不良ア
ノードANと判断される。尚、単重量の測定が終
ると即座に操作シリンダ7が収縮してアノードA
は再び架台上に載置される。
しかして、厚み測定装置2により厚み合格でか
つ単重量測定装置3により単重量合格と判定され
たアノードAは、良品アノードAGとして次の耳
加工工程S5,S5に搬送されて所定の耳Eの下部F
の加工が施されたのち反転工程S6で水平支持状態
から垂直支持状態に転換されて、排出工程S7で集
合整列されてから整形ずみのアノードストツクヤ
ードあるいは電解工場に運搬される。
一方、厚み測定装置2により厚み不合格あるい
は単重量測定装置3により単重量不合格と判定さ
れたアノードAは、不良アノードANとして第8
図と、第6図Bに示すようにプツシヤ10により
コンベアWCの搬送方向FKと直交する方向にコ
ンベアWC上から排除される。本実施例ではアノ
ードAを水平支持状態で搬送していることから、
不良アノードANと良品アノードAGとを別々に振
分ける操作は、前記プツシヤ10のような単純な
動作をする装置によつて容易に行なえるものであ
る。コンベアWCから排除された不良アノード
ANは、第5図に示すように、傾転機11の傾転
機14上に載置され、傾転シリンダ14aの伸長
により傾転台14及び不良アノードANは反時計
回りに回転して起立されて不良アノードANは水
平支持状態から垂直支持状態になると共に、両耳
E,Eは架台13のスライドレール13a,13
aに掛けられる。そして、該不良アノードAN
は、プツシヤヘツド12,12により架台13側
に押され、両耳E,Eを介して架台13に垂直懸
垂状態に保持される。この様に、不良アノード
ANは、検知されるごとにプツシヤ10でコンベ
アWC上より排除され、傾転機11で垂直にされ
た後に順次プツシヤヘツド12,12により架台
13に集合整列され、一定数量集まるごとに再び
鋳造工場へ返却されることになる。
尚、この実施例では、厚み測定装置2をタツチ
センサで構成したが、これに限ることはなく非接
触式のセンサーを用いてもよい。また単重量測定
装置3はロードセルに限ることなくその他種々の
ものが考えられる。
以上説明したように、本発明によれば、未整形
アノードの受入れ工程と、整形終了後のアノード
を搬出する搬出工程との間に設けられた不良アノ
ード検知および排出工程を、アノードを水平状態
に保持しつつアノードの単重量測定あるいは厚み
測定を行い、いずれかの測定値において所定の合
格範囲から外れた不良アノードを排除し、これを
良品アノードとは別に単独で排出するようにした
ので、重量物のアノードの良、不良を安定かつ確
実に判定して良品アノードとは別にして不良アノ
ードを排除でき、アノード整形作業の際良品アノ
ードのみに整形加工を施すことができることにな
り、アノードの整形作業効率を著しく向上させる
ことができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は、アノードの一般的形状を示す平面
図、第2図は、本発明に係る不良アノード検知お
よび排出方法を実施するためのアノード整形シス
テムの一例を示す平面図、第3図は、同システム
の説明図、第4図は、第2図の矢視からみた側
面図、第5図は、不良アノードの検知および排除
工程を示す側面図、第6図A,Bは、同工程にお
けるアノードの検知および測定を示す説明図、第
7図A,B,Cは、同工程におけるアノード検知
および測定を示す説明図、第8図は、不良アノー
ド排出機の正面図である。 S1……受入れ工程、S7……搬出工程、S4……不
良アノード検知および排出工程、1……アノード
検知装置、2……アノード厚み測定装置、3……
アノード単重量測定装置、4……不良アノード排
出機、AG……良品アノード、AN……不良アノー
ド。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 電解用金属アノードを搬入する受入れ工程と
    整形終了後のアノードを搬出する搬出工程と、の
    間で、不良アノード検知および排出工程を行なわ
    せるようにした不良アノード検知および排出方法
    において、上記不良アノード検知および排出工程
    は、アノードを水平状態に保持しつつアノードの
    単重量測定あるいは厚み測定を行ない、いずれか
    の測定値において所定の合格範囲から外れた不良
    アノードを排除し、この不良アノードを良品アノ
    ードとは別に単独で排出するようにしたことを特
    徴とする不良アノード検知および排出方法。
JP58047175A 1983-03-23 1983-03-23 不良アノ−ド検知および排出方法 Granted JPS59173285A (ja)

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JP7342582B2 (ja) * 2019-10-02 2023-09-12 住友金属鉱山株式会社 設備稼働管理システム

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59133387A (ja) * 1983-01-21 1984-07-31 Nippon Mining Co Ltd アノ−ド整形方法

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