JP5137865B2 - 電解精製用陽極板の垂直性検査装置及び垂直性検査方法 - Google Patents

電解精製用陽極板の垂直性検査装置及び垂直性検査方法 Download PDF

Info

Publication number
JP5137865B2
JP5137865B2 JP2009015335A JP2009015335A JP5137865B2 JP 5137865 B2 JP5137865 B2 JP 5137865B2 JP 2009015335 A JP2009015335 A JP 2009015335A JP 2009015335 A JP2009015335 A JP 2009015335A JP 5137865 B2 JP5137865 B2 JP 5137865B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
anode plate
verticality
electrolytic purification
anode
electrolytic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2009015335A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2010174268A (ja
Inventor
裕 片岡
英一 青井
敬三 松岡
誠 成田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Pan Pacific Copper Co Ltd
Original Assignee
Pan Pacific Copper Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Pan Pacific Copper Co Ltd filed Critical Pan Pacific Copper Co Ltd
Priority to JP2009015335A priority Critical patent/JP5137865B2/ja
Publication of JP2010174268A publication Critical patent/JP2010174268A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5137865B2 publication Critical patent/JP5137865B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Electrolytic Production Of Metals (AREA)

Description

本発明は、電解精製用陽極板の垂直性検査装置及び垂直性検査方法に関し、さらに詳しくは電解精製に供される陽極板の垂直性をチェックし電解精製中に発生する通電不良を防止するための電解精製用陽極板の垂直性検査装置及び垂直性検査方法に関する。
非鉄金属の電解精製、例えば、銅の電解精製では、精製炉において粗銅を酸化、還元して得られた純度約99.5%の精製粗銅を板状粗銅に鋳造した銅アノードを陽極とし、パーマネントカソード法(PC法)の場合はステンレス製の薄板、コンベンショナル法(種板法)の場合は高純度の銅からなる薄板状の種板を陰極としてそれぞれ交互に電解槽内に配列し、印加することでステンレス製の陰極板表面又は種板表面に銅を電着させ、PC法の場合は後工程で電着した電気銅をステンレス製の薄板から剥ぎ取ることにより製品とし、種板の場合はそのままの状態で製品として出荷している。
電解精製における陽極板である銅アノードと陰極板であるステンレス製カソード板又は種板とは電着性能を向上させるためにかなり短い間隔で配置される。そのため、両者における垂直性の悪さは通電不良につながり、生産性を大きく阻害する要因となる。従って、銅アノードは事前にプレス加工を行い、垂直性を改善させている。
図9に示すように、銅アノード3は、左右の上端側がそれぞれ突出して形成された耳部4と本体部5が一体に成型されており、耳部4を図示しない搬送コンベアに掛止することにより懸垂状態で搬送したり電解槽のブスバーに掛止して懸垂状態で電解精製が行われるようになっている。ここで、プレス装置を用いて銅アノード3をプレス加工するに際し、たとえ本体部5が平らであっても銅アノードを懸垂状態としたときの垂直性が悪いと通電不良を発生させることになる。
そのため、特許文献1では、この改善策として、随時任意に選んだ複数の銅アノードに対し、垂直性を左右する耳プレス変数である懸垂方向の耳受角度および板圧方向の耳受け位置のいずれか一方または両方の値を変えてプレス矯正した後垂直性を評価し、その結果を基に耳プレス変数を調整する電解用陽極板の矯正方法を開示している。
しかしながら、特許文献1の方法によって従来よりも垂直性は改善されるであろうが、それでも垂直性の悪い銅アノードが発生するおそれがある。また、特許文献1の方法は任意に選んだ複数の銅アノードを対象としているので垂直性の悪い銅アノードが混在していた場合に評価対象から外れるおそれがある。さらに、銅アノードの垂直性の評価のためには複数の銅アノードをラインから抜き出して別途評価に供する必要がある。また、特許文献1の方法は、銅アノードの垂直性の評価結果に基づいてプレス装置の耳プレス変数の調整を行うものであって、垂直性の悪い銅アノードが存在していた場合にそれをラインから排除する構成とはなっていない。
特開2001−89891号公報
従って、本発明が解決しようとする課題は、ライン中に垂直性の悪い電解精製用陽極板、例えば銅アノードが存在していた場合に銅アノードの搬送から電解精製に至る一連のラインの中で垂直性の検査を行うことが可能な電解精製用陽極板の垂直性検査装置及び垂直性検査方法を提供することにある。また、垂直性の悪い電解精製用陽極板が存在していた場合にはそれを自動的に排除することが可能な電解精製用陽極板の垂直性検査装置及び垂直性検査方法を提供することにある。
上記課題を解決するために請求項1に記載の本発明は、プレス加工による平面性の矯正が事前に終了し、昇降コンベアによって水平方向から垂直方向へ搬送される懸垂状態の電解精製用陽極板と正対する位置である測定位置に配置され、垂直方向に搬送されてくる電解精製用陽極板が所定位置に来たときに電解精製用陽極板の表面からの水平距離を少なくとも左右の2ヶ所においてそれぞれ上下の2点を非接触で計測する距離測定手段と、左右の2ヶ所における上下方向の測定距離との差に基づいて垂直性の良又は不良検出する垂直性検出手段とを備え、搬送中の前記電解精製用陽極板を搬送ラインから抜き出すことなく垂直性の検査を行うことを可能としたことを特徴とする電解精製用陽極板の垂直性検査装置を提供する。
上記課題を解決するために請求項2に記載の本発明は、請求項1に記載の電解精製用陽極板の垂直性検査装置において、距離測定手段は、電解精製用陽極板の表面からの水平距離を測定するための測定位置と、測定位置から離れた待機位置との間を移動可能に形成されていることを特徴とする。
上記課題を解決するために請求項3に記載の本発明は、請求項1又は2に記載の電解精製用陽極板の垂直性検査装置において、距離測定手段は、一定の拡がりを有するラインビーム又はエリアビームを照射すると共にその反射光を検知するレーザ距離センサによって電解精製用陽極板の表面からの水平距離を非接触で計測することを特徴とする。
上記課題を解決するために請求項4に記載の本発明は、請求項1から3のいずれか1項に記載の電解精製用陽極板の垂直性検査装置において、垂直性検出手段により垂直性が不良と判断された電解精製用陽極板をラインから排除する排除手段をさらに備えてなることを特徴とする。
上記課題を解決するために請求項5に記載の本発明は、プレス加工による平面性の矯正が事前に終了し、昇降コンベアによって水平方向から垂直方向へ搬送される懸垂状態の電解精製用陽極板と正対する位置である測定位置に配置された距離測定手段によって垂直方向に搬送されてくる電解精製用陽極板が所定位置に来たときに電解精製用陽極板の表面からの水平距離を少なくとも左右の2ヶ所においてそれぞれ上下の2点を非接触で計測する工程と、垂直性検出手段によって左右の2ヶ所における上下方向の測定距離の差に基づいて垂直性の良又は不良検出する工程と、垂直性検出手段により垂直性が不良と判断された電解精製用陽極板を排除手段によってラインから排除する工程とを備えて構成され、搬送中の前記電解精製用陽極板を搬送ラインから抜き出すことなく垂直性の検査を行うことを可能としたことを特徴とする電解精製用陽極板の垂直性検査方法を提供する。
上記課題を解決するために請求項6に記載の本発明は、請求項4に記載の電解精製用陽極板の垂直性検査方法において、電解精製用陽極板の表面からの非接触による水平距離の計測は、一定の拡がりを有するラインビーム又はエリアビームを照射すると共にその反射光を検知するレーザ距離センサによって行うことを特徴とする。
本発明に係る電解精製用陽極板の垂直性検査装置及び垂直性検査方法によれば、電解精製用陽極板の搬送から電解精製に至る一連のラインの中で垂直性を検査することとしたので電解精製用陽極板を垂直性の検査のために搬送ラインから抜き出して検査する必要がなく、しかも余計な作業等の負担をかけることなく電解精製用陽極板の全数について検査を実施することができるという効果がある。また、本発明に係る電解精製用陽極板の垂直性検査装置及び垂直性検査方法によれば、垂直性の悪いものを搬送ラインから自動的に排除することとしたので、電解精製用陽極板の垂直性不良による通電不良を防止できるという効果がある。従って、電解精製の効率もアップするという効果がある。
また、本発明に係る電解精製用陽極板の垂直性検査装置及び垂直性検査方法によれば、距離測定手段を電解精製用陽極板の表面からの水平距離を測定するための測定位置と測定位置から離れた待機位置との間を移動可能に形成したので、垂直搬送中の電解精製用陽極板が万一昇降コンベアから落下した場合でも距離測定手段を測定位置から待機位置へ移動させることで落下した電解精製用陽極板を回収することができるという効果がある。また、垂直性不良の電解精製用陽極板をこの位置で排除することもできる。
さらに、本発明に係る電解精製用陽極板の垂直性検査装置及び垂直性検査方法によれば、電解精製用陽極板の表面からの非接触による水平距離の計測は、一定の拡がりを有するラインビーム又はエリアビームを照射すると共にその反射光を検知するレーザ距離センサによって行うこととしたので電解精製用陽極板の表面の凹凸の影響を受けることなく測定することができ、電解精製用陽極板の垂直性判定の精度が向上するという効果がある。
銅アノードの搬送ライン一実施形態を示す概要図である 本発明に係る電解精製用陽極板の垂直性検査装置の一実施形態の正面図である。 図2に示す電解精製用陽極板の垂直性検査装置の側面図である。 図2に示す電解精製用陽極板の垂直性検査装置の平面図である。 距離測定手段の一実施形態を示す斜視図である。 距離測定位置を示す銅アノードの正面図である。 銅アノードの湾曲状態を示す側面図である。 本発明に係る電解精製用陽極板の垂直性検査方法の一実施形態のフローチャートである。 銅アノードの一例を示す正面図である。
本発明に係る電解精製用陽極板の垂直性検査装置及び垂直性検査方法の好ましい一実施形態について図面を参照しつつ説明する。はじめに電解精製用陽極板である銅アノードの垂直性を検査する垂直性検査装置を備えた搬送ラインの概要について説明する。図1は銅アノードの搬送ライン一実施形態を示す概要図である。粗銅を鋳造することによって形成された銅アノード3は、図示しないプレス機により事前に平面性の矯正が行われた後、搬送コンベア7によって耳部4が掛止されて懸垂状態で水平方向に搬送される。搬送コンベア7によって水平方向に搬送される銅アノード3は今度は昇降コンベア8(図5参照)によって上方に向かって垂直方向に搬送される。そして、銅アノード3が垂直方向に搬送される際の銅アノード3の本体部5とちょうど正対する位置に電解精製用陽極板の垂直性検査装置1(以下「垂直性検査装置1」という。)の距離測定手段10が位置するように配置されている。距離測定手段10には後述するように4つの距離測定センサ11が配置されており、距離測定センサ11によって銅アノード3の表面までの距離が4点において計測される。
垂直性検査装置1は、距離測定センサ11による銅アノード3の表面までの距離の測定結果に基づいて銅アノード3の垂直性を検出する垂直性検出手段30を備えており、垂直性検出手段30は計測した銅アノード3の垂直性が良好であるか不良であるかを判定する機能を備えている。そして、垂直性検出手段30による判定の結果は排除手段50に送られ、垂直性が不良と判断された銅アノード3aは排除手段50によりリジェクトコンベア51へ移載され、垂直性が良好と判断された銅アノード3bは排除手段50により搬送コンベア53へ移載される。そして、垂直性が良好である銅アノード3bのみが電解精製に供され、これにより、図示しない電解槽内に浸漬される電解精製用陽極板と陰極板との接触を回避することができ、電解精製用陽極板の垂直性不良による通電不良を防止が可能となる。
次に上述した垂直性検査装置1についてさらに詳細に説明する。図2(a)(b)はそれぞれ垂直性検査装置1の正面図、図3は図2に示す垂直性検査装置の側面図、図4は図2に示す垂直性検査装置の平面図である。
図示された垂直性検査装置1は、概略として、距離測定手段10と、垂直性検出手段30と、排除手段50を備えて構成されている。
垂直性検査装置1は、床面G上に立設されたフレーム21構造を有し、このフレーム21上に距離測定手段10を水平方向に移動させる水平移動機構22と、さらに距離測定手段10を垂直方向に移動させる垂直移動機構23を備えて構成されている。距離測定手段10は銅アノード3の本体部5の形状に即した平面形状を有する測定板13を備え、測定板13はエアシリンダ23bによって上下方向に移動可能なように支持体23aに支持されている。測定板13の表面の4ヶ所には距離測定センサ11が配置されている。この支持体23a及びエアシリンダ23bは距離測定手段10を上下方向に移動可能とする垂直移動機構23を構成している。一方、水平移動機構22は、転動面間にボール又はローラーなどの転動体を介在させた直動機構によって支持体23a及び支持体23aに支持された測定板13、すなわち距離測定手段10を水平移動させるもので、少ない摩擦抵抗によって距離測定手段10を精密に移動させることができるようになっている。
上述したように水平移動機構22及び垂直移動機構23によって距離測定手段10を銅アノード3の表面と正対してその距離を測定するための測定位置(図2(a)に示す位置)と、この測定位置から離れた位置の待機位置(図2(b)に示す位置)との間を移動させることとしたのは、昇降コンベア8による搬送中の銅アノード3が万一落下したような場合や距離測定手段10のメンテナンスを行うような場合などの作業性を考慮したためである。
次に、距離測定手段10による垂直性の検出について説明する。距離測定手段10の測定板13を測定位置に位置させた状態で昇降コンベア8によって運ばれてくる銅アノード3が測定板13と正対する位置に来たときに4つの距離測定センサ11でそれぞれの距離を計測する(図5参照)。測定の位置は、図6に示すように、銅アノード3の本体部5の左右の2ヶ所についてそれぞれ上下の2点(即ち計4ヶ所)について計測を行う。そして、4つの距離測定センサ11によって計測された銅アノード3の表面までの距離の計測データは垂直性検出手段30に送られ、左右の2ヶ所における上下の測定距離の差に基づいて垂直性が判断される。すなわち、銅アノード3の本体部5のR2とR1との差およびL1とL2との差を算出する。具体的には、R2とR1との差およびL1とL2の差のいずれか一方でも±7mmを越えるような場合、すなわち、−7mm≦(R2−R1)≦7mmかつ−7mm≦(L2−L1)≦7mmの場合に垂直性不良とする。
このように、左右の2ヶ所について計測を行うこととしたので検出精度が向上すると共に、銅アノード3の歪みも検知することができる。尚、ここで得られた計測データに基づいて図示しないプレス機の加圧調整のためにフィードバックすることで銅アノード3に垂直性のさらなる向上を図るようにすることももちろん可能である。
また、各距離測定センサ11は、発光素子及び受光素子を備えたセンサヘッドを有し、出射されるレーザビームはスポットビームではなく、一定の拡がりを有するラインビーム又はエリアビームが用いられる。レーザビームを一定の拡がりを有するラインビーム又はエリアビームとすることで平均化効果により銅アノード3の表面の凹凸の影響をうけることなく安定した計測が可能となる。
垂直性検出手段30は、さらに、上下の測定距離の差に基づく垂直性の判定結果に基づきその銅アノード3の垂直性が不良であると判断した場合にはその銅アノード3aをリジェクトコンベア51へ移載し、その銅アノード3の垂直性が良好であると判断した場合にはその銅アノード3aを搬送コンベア53に移載するよう排除手段50に対し制御信号を送出するように構成されている。これにより、垂直性が不良である銅アノード3aは一連の搬送ラインから排除されるので垂直性が不良である銅アノード3aが電解精製に供されることが防止される。
次に、上述した垂直性検査装置1の動作を説明すると共に、本発明に係る電解精製用陽極板の垂直性検査方法の好ましい一実施形態について説明する。図7は本発明に係る電解精製用陽極板の垂直性検査方法の一実施形態のフローチャートである。
まず、粗銅を鋳造することによって形成された銅アノード3は、図示しないプレス機により事前に平面性の矯正が行われた後、搬送コンベア7によって耳部4が掛止されて懸垂状態で水平方向に搬送されてくる(ステップS1)。搬送コンベア7の端部近傍まで搬送されてきた銅アノード3は今度は昇降コンベア8によって上方に向かって垂直方向に搬送される(ステップS2)。そして、垂直方向に搬送される銅アノード3が所定の位置に来たときに銅アノード3の本体部5と正対する位置から垂直性検査装置1の距離測定手段10に備えられた4つの距離測定センサ11によって銅アノード3の表面までの距離が4点(R1とR2、L1とL2)において計測される(ステップS3)。距離測定センサ11による計測は、上述したように、銅アノード3の本体部5の左右の2ヶ所についてそれぞれ上下の2点、計4ヶ所について計測を行う。
4つの距離測定センサ11によって計測された銅アノード3の表面までの距離の計測データは垂直性検出手段30に送られ、垂直性検出手段30によって左右の2ヶ所における上下の測定距離の差に基づく垂直性が判断される(ステップS4)。そして、垂直性検出手段30は、上下の測定距離の差に基づく垂直性の判定結果に基づきその銅アノード3の垂直性が不良であると判断した場合にはその銅アノード3aをリジェクトコンベア51へ移載し、その銅アノード3の垂直性が良好であると判断した場合にはその銅アノード3aを搬送コンベア53へ移載に移載するよう排除手段50に対し制御信号を送出する(ステップS5)。これにより、垂直性が不良である銅アノード3aは一連の搬送ラインから排除されて垂直性が不良である銅アノード3aが電解精製に供されることが防止される。
以上のように、本発明の好ましい実施形態について詳述したが、本発明は係る特定の実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形・変更が可能であることはいうまでもない。
1 垂直性検査装置
3 銅アノード
4 耳部
5 本体部
7 搬送コンベア
8 昇降コンベア
10 距離測定手段
11 距離測定センサ
13 測定板
21 フレーム
22 水平移動機構
23 垂直移動機構
23a 支持体
23b エアシリンダ
30 垂直性検出手段
50 排除手段
51 リジェクトコンベア
53 搬送コンベア
G 床面

Claims (6)

  1. プレス加工による平面性の矯正が事前に終了し、昇降コンベアによって水平方向から垂直方向へ搬送される懸垂状態の電解精製用陽極板と正対する位置である測定位置に配置され、垂直方向に搬送されてくる前記電解精製用陽極板が所定位置に来たときに当該電解精製用陽極板の表面からの水平距離を少なくとも左右の2ヶ所においてそれぞれ上下の2点を非接触で計測する距離測定手段と、
    左右の2ヶ所における上下方向の測定距離との差に基づいて垂直性の良又は不良検出する垂直性検出手段と、
    を備え
    搬送中の前記電解精製用陽極板を搬送ラインから抜き出すことなく垂直性の検査を行うことを可能としたことを特徴とする電解精製用陽極板の垂直性検査装置。
  2. 請求項1に記載の電解精製用陽極板の垂直性検査装置において、
    前記距離測定手段は、前記電解精製用陽極板の表面からの水平距離を測定するための前記測定位置と、前記測定位置から離れた待機位置との間を移動可能に形成されていることを特徴とする電解精製用陽極板の垂直性検査装置。
  3. 請求項1又は2に記載の電解精製用陽極板の垂直性検査装置において、
    前記距離測定手段は、一定の拡がりを有するラインビーム又はエリアビームを照射すると共にその反射光を検知するレーザ距離センサによって前記電解精製用陽極板の表面からの水平距離を非接触で計測することを特徴とする電解精製用陽極板の垂直性検査装置。
  4. 請求項1から3のいずれか1項に記載の電解精製用陽極板の垂直性検査装置において、
    前記垂直性検出手段により垂直性が不良と判断された電解精製用陽極板をラインから排除する排除手段をさらに備えてなることを特徴とする電解精製用陽極板の垂直性検査装置。
  5. プレス加工による平面性の矯正が事前に終了し、昇降コンベアによって水平方向から垂直方向へ搬送される懸垂状態の電解精製用陽極板と正対する位置である測定位置に配置された距離測定手段によって垂直方向に搬送されてくる前記電解精製用陽極板が所定位置に来たときに当該電解精製用陽極板の表面からの水平距離を少なくとも左右の2ヶ所においてそれぞれ上下の2点を非接触で計測する工程と、
    垂直性検出手段によって左右の2ヶ所における上下方向の測定距離の差に基づいて垂直性の良又は不良検出する工程と、
    前記垂直性検出手段により垂直性が不良と判断された電解精製用陽極板を排除手段によってラインから排除する工程と、
    を備えて構成され、
    搬送中の前記電解精製用陽極板を搬送ラインから抜き出すことなく垂直性の検査を行うことを可能としたことを特徴とする電解精製用陽極板の垂直性検査方法。
  6. 請求項5に記載の電解精製用陽極板の垂直性検査方法において、
    前記電解精製用陽極板の表面からの非接触による水平距離の計測は、一定の拡がりを有するラインビーム又はエリアビームを照射すると共にその反射光を検知するレーザ距離センサによって行うことを特徴とする電解精製用陽極板の垂直性検査方法。
JP2009015335A 2009-01-27 2009-01-27 電解精製用陽極板の垂直性検査装置及び垂直性検査方法 Active JP5137865B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009015335A JP5137865B2 (ja) 2009-01-27 2009-01-27 電解精製用陽極板の垂直性検査装置及び垂直性検査方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009015335A JP5137865B2 (ja) 2009-01-27 2009-01-27 電解精製用陽極板の垂直性検査装置及び垂直性検査方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010174268A JP2010174268A (ja) 2010-08-12
JP5137865B2 true JP5137865B2 (ja) 2013-02-06

Family

ID=42705515

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009015335A Active JP5137865B2 (ja) 2009-01-27 2009-01-27 電解精製用陽極板の垂直性検査装置及び垂直性検査方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5137865B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105593408A (zh) * 2013-10-11 2016-05-18 奥图泰(芬兰)公司 用于制备在金属的电解精炼中使用的铸造阳极的方法和布置

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6788840B2 (ja) * 2017-02-07 2020-11-25 住友金属鉱山株式会社 アノード形状測定方法およびアノード搬送設備
CN111217127A (zh) * 2020-02-25 2020-06-02 金川集团股份有限公司 一种在线检测始极片悬垂度的装置
CN118581552A (zh) * 2024-08-06 2024-09-03 宁波德洲精密电子有限公司 适用于大尺寸汽车散热片电镀工艺的共振式限流组件

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59133387A (ja) * 1983-01-21 1984-07-31 Nippon Mining Co Ltd アノ−ド整形方法
JP2561019B2 (ja) * 1993-12-24 1996-12-04 住友金属鉱山株式会社 電解用極板の平坦度測定装置
JP3627400B2 (ja) * 1996-10-22 2005-03-09 三菱マテリアル株式会社 電解用アノード板矯正装置
JP4282175B2 (ja) * 1999-09-20 2009-06-17 三井金属鉱業株式会社 電解用陽極板の矯正方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105593408A (zh) * 2013-10-11 2016-05-18 奥图泰(芬兰)公司 用于制备在金属的电解精炼中使用的铸造阳极的方法和布置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2010174268A (ja) 2010-08-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5137865B2 (ja) 電解精製用陽極板の垂直性検査装置及び垂直性検査方法
WO2014017420A1 (ja) 板状体の反り検査装置及びその反り検査方法
KR101106045B1 (ko) 강판 정보 계측 방법
CN103770448B (zh) 丝网印刷装置及其基板夹紧位置的设定方法
JP2009236771A (ja) ガラス基板検査装置およびガラス基板検査方法
US20230166354A1 (en) Skid state determination device, skid state determination method, and laser processing system
JP6624121B2 (ja) 鋼板形状矯正装置
CN103770450B (zh) 丝网印刷装置及其基板夹紧位置的设定方法
JP5147762B2 (ja) 電解精錬における陰極板の懸垂性の測定装置、電解装置、陰極板の懸垂性の測定方法、及び電解装置の操業方法
JP5983311B2 (ja) 鋼板形状矯正方法
JP6788840B2 (ja) アノード形状測定方法およびアノード搬送設備
US20200406344A1 (en) Mold-shift detection device for upper and lower molds and mold-shift detection method for upper and lower molds
JPH10245690A (ja) 電解製錬の異常検出方法及びそれを実施する異常検出システム
JP5559637B2 (ja) アノードの垂直性矯正方法及び装置
JP2017148851A (ja) 鋼板形状矯正方法および鋼板製造方法
KR20190104788A (ko) 판형 유리 이송장치의 이상 진단방법
JP2013248670A (ja) 差厚鋼板の自動矯正制御装置
JP4243837B2 (ja) 透明基板の表面検査方法及び検査装置
JP2018151222A (ja) 鋼板の歪み評価方法
JP2012125825A (ja) 二枚重ね鋼板検出装置
JP2012062524A (ja) 陰極板のvグルーブ管理方法及びシステム
JP4863117B2 (ja) 高温鋼材の表面検査装置
JP2000131026A (ja) Ccdレーザ式非接触積層板厚み測定検査装置
JP2022162283A (ja) 種板選別設備及びこれを用いた種板選別方法
CN108160517A (zh) 一种太阳能电池片印刷质量在线检测回收装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100917

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110519

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120828

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20121019

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20121113

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20121113

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5137865

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151122

Year of fee payment: 3

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250