JPS62194450A - 画像中における粒子像分析方法 - Google Patents
画像中における粒子像分析方法Info
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- JPS62194450A JPS62194450A JP61036924A JP3692486A JPS62194450A JP S62194450 A JPS62194450 A JP S62194450A JP 61036924 A JP61036924 A JP 61036924A JP 3692486 A JP3692486 A JP 3692486A JP S62194450 A JPS62194450 A JP S62194450A
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 10
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
- G01N15/1468—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry with spatial resolution of the texture or inner structure of the particle
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は分析装置又は撮像装置より得られる分析対象像
に基づいてこの像中の孤立粒子と密集粒子とを弁別して
自動的に計数する方法に関する。
に基づいてこの像中の孤立粒子と密集粒子とを弁別して
自動的に計数する方法に関する。
［従来の技術］
鉄鋼等の表面の分析にＸ線マイクロアナライザが広範に
使用されている。特に最近では、鉄鋼等の表面を、コン
ピュータ制御のもとて電子線により二次元的にデジタル
走査し、その際得られる反射電子検出信号を各画素毎に
デジタル値としてメモリに記憶させ、この記憶データに
基づいて画像を表示するようにしている。通常、鉄鋼中
にはアルミナクラッドのような介在物粒子が存在する。
使用されている。特に最近では、鉄鋼等の表面を、コン
ピュータ制御のもとて電子線により二次元的にデジタル
走査し、その際得られる反射電子検出信号を各画素毎に
デジタル値としてメモリに記憶させ、この記憶データに
基づいて画像を表示するようにしている。通常、鉄鋼中
にはアルミナクラッドのような介在物粒子が存在する。
このような粒子が孤立して存在する場合は問題が少ない
が、密集して存在すると鉄鋼の強度を弱める上で問題と
なる。そこで、従来よりこのような密集粒子の単位面積
あたりの個数を計数することが行なわれていた。
が、密集して存在すると鉄鋼の強度を弱める上で問題と
なる。そこで、従来よりこのような密集粒子の単位面積
あたりの個数を計数することが行なわれていた。
［発明が解決しようとする問題点］
ところで、従来においては、上記計数は得られた像の目
視により行なっていたため、計数に時間がかかり、又、
計数値に誤差が生じ易かった。
視により行なっていたため、計数に時間がかかり、又、
計数値に誤差が生じ易かった。
本発明は、このような従来の欠点を解決し、画像中の孤
立粒子と密集粒子を自動的に弁別して密集粒子の個数を
計数することのできる画像中における粒子像分析方法を
提供することを目的としている。
立粒子と密集粒子を自動的に弁別して密集粒子の個数を
計数することのできる画像中における粒子像分析方法を
提供することを目的としている。
Ｕ問題点を解決するための手段］
そのため本発明は、分析又は撮像装置により粒子分布画
像データを得、該粒子分布画像データに基づいて該画像
中の粒子像を分析する方法において、前記粒子分布画像
に含まれる各粒子像の各々を一定量拡大させ、該拡大に
より密集して存在する粒子像を単一の粒子像に統合させ
てｎ個の粒子像ｒ１ 、 ｒ２ 、・・・、ｒ１、由、
ｒｎを含む画像に対応した粒子拡大処理画像データを求
め、該粒子拡大処理画像データに基づき、順次前記各ｉ
について、前記第１番目の粒子像をメモリに転写し、該
転写により得られる画像と前記粒子分布画像の対応する
画素データのＡＮＤをとって弁別画像データを求め、該
弁別画像データに基づいて該弁別画像中の粒子像の個数
が設定個数以上である場合に密集粒子として該粒子数を
計数することを特徴としている。
像データを得、該粒子分布画像データに基づいて該画像
中の粒子像を分析する方法において、前記粒子分布画像
に含まれる各粒子像の各々を一定量拡大させ、該拡大に
より密集して存在する粒子像を単一の粒子像に統合させ
てｎ個の粒子像ｒ１ 、 ｒ２ 、・・・、ｒ１、由、
ｒｎを含む画像に対応した粒子拡大処理画像データを求
め、該粒子拡大処理画像データに基づき、順次前記各ｉ
について、前記第１番目の粒子像をメモリに転写し、該
転写により得られる画像と前記粒子分布画像の対応する
画素データのＡＮＤをとって弁別画像データを求め、該
弁別画像データに基づいて該弁別画像中の粒子像の個数
が設定個数以上である場合に密集粒子として該粒子数を
計数することを特徴としている。
［実施例］
以下、図面に基づき本発明の実施例を詳述する。
第２図は本発明を実施するための装置を例示するための
もので、図中１は電子銃であり、電子銃１よりの電子線
ＥＢは集束レンズ３により細く集束されて試料４に照射
される。試料４は試料ステージ５上に載置されており、
試料ステージ５は駆動機構６により水平方向に移動でき
るようになっている。７は偏向器であり、偏向器７には
走査回路８より走査信号が送られる。２は反射電子検出
器であり、検出器２よりの信号は反射電子検出回路９に
おいて増幅及びＡＤ変換処理を受けて、第１の画像メモ
リ１０に送られる。第１の画像メモリ１０には前記走査
回路８より走査に同期した信号が送られている。１３は
付属するメモリ１４を有する中央演算処理装置であり、
中央演算処理装置１３には前記第１の画像メモリ１０と
共に第２゜第３の画像メモリ１１．１２が接続されてい
る。
もので、図中１は電子銃であり、電子銃１よりの電子線
ＥＢは集束レンズ３により細く集束されて試料４に照射
される。試料４は試料ステージ５上に載置されており、
試料ステージ５は駆動機構６により水平方向に移動でき
るようになっている。７は偏向器であり、偏向器７には
走査回路８より走査信号が送られる。２は反射電子検出
器であり、検出器２よりの信号は反射電子検出回路９に
おいて増幅及びＡＤ変換処理を受けて、第１の画像メモ
リ１０に送られる。第１の画像メモリ１０には前記走査
回路８より走査に同期した信号が送られている。１３は
付属するメモリ１４を有する中央演算処理装置であり、
中央演算処理装置１３には前記第１の画像メモリ１０と
共に第２゜第３の画像メモリ１１．１２が接続されてい
る。
これら客画像メモリは深さ方向に４ビツトを有しており
、充分な階調で粒子像を記憶できるようになっている。
、充分な階調で粒子像を記憶できるようになっている。
中央演算処理装置１３には試料ステージ制御回路１７も
接続されており、試料ステージ制御回路１７は中央演算
処理装置１３よりの信号に基づいて駆動機構６を稼働さ
せる。中央演算処理装置１３には操作卓１５と共に、分
析画像や計数値データを表示するためのＣＲＴ１６が接
続されている。
接続されており、試料ステージ制御回路１７は中央演算
処理装置１３よりの信号に基づいて駆動機構６を稼働さ
せる。中央演算処理装置１３には操作卓１５と共に、分
析画像や計数値データを表示するためのＣＲＴ１６が接
続されている。
このような構成の装置を用いて、走査回路８より偏向器
７に走査信号を送って電子線ＥＢにより試料４を二次元
的に走査する。その結果、この走査に伴って原画像デー
タＳ（ｘ、ｙ）が第１のメモリ１０に記憶される。そこ
で、中央演算処理装置１３はこの原画像データを読み出
して予め設定した基準レベルと比較して２値化し、第３
図（ａ＞に示す画像に対応した粒子分布画像データα（
Ｘ。
７に走査信号を送って電子線ＥＢにより試料４を二次元
的に走査する。その結果、この走査に伴って原画像デー
タＳ（ｘ、ｙ）が第１のメモリ１０に記憶される。そこ
で、中央演算処理装置１３はこの原画像データを読み出
して予め設定した基準レベルと比較して２値化し、第３
図（ａ＞に示す画像に対応した粒子分布画像データα（
Ｘ。
ｙ）を第２のメモリ１１に記憶させる。尚、Ｘ。
ｙは各画素の位置を表わすパラメータである。いま、こ
の第１種画像中にｍ個の粒子像が存在するものとすると
、第１図のフローチャートのステップ１８に示すように
、中央演算処理装置１３は、前記粒子分布画像データα
（Ｘ、Ｖ）に基づいてこの画像中の各粒子像を均等に一
定量拡大して粒子拡大処理画像データε（ｘ、Ｖ）を求
め、第２の画像メモリ１１に記憶させる。その結果、第
２の画像メモリ１１には、第１種画像中の密集粒子像が
単一の粒子像として統合されたため、ｎ（ｎ≦ｍ）個の
粒子像ｒ１ 、 ｒ２ 、・・・、ｒｉ、・・・、ｒｎ
を含む第３図（ｂ）の画像に対応するデータが記憶され
る。尚、２個の粒子が密集して存在するものと看なすた
めの２粒子間の距離は予め設定されており、この距離を
し０とすれば、上記ステップにおいては距離１０に対応
する画素数より僅かに多い画素数だけ、各方向に各粒子
像を拡大する。
の第１種画像中にｍ個の粒子像が存在するものとすると
、第１図のフローチャートのステップ１８に示すように
、中央演算処理装置１３は、前記粒子分布画像データα
（Ｘ、Ｖ）に基づいてこの画像中の各粒子像を均等に一
定量拡大して粒子拡大処理画像データε（ｘ、Ｖ）を求
め、第２の画像メモリ１１に記憶させる。その結果、第
２の画像メモリ１１には、第１種画像中の密集粒子像が
単一の粒子像として統合されたため、ｎ（ｎ≦ｍ）個の
粒子像ｒ１ 、 ｒ２ 、・・・、ｒｉ、・・・、ｒｎ
を含む第３図（ｂ）の画像に対応するデータが記憶され
る。尚、２個の粒子が密集して存在するものと看なすた
めの２粒子間の距離は予め設定されており、この距離を
し０とすれば、上記ステップにおいては距離１０に対応
する画素数より僅かに多い画素数だけ、各方向に各粒子
像を拡大する。
次に中央演算処理装置１３は第１図のステップ１９に示
すように、第２の画像メモリ１１に記憶された粒子拡大
処理画像データε（ｘ、ｙ）に基づいて、各粒子像ｒ１
、 ｒ２ 、・・・、ｒｉ、・・・、 ｒｎを形成す
る画素のデータを各粒子像毎に異なった値１１に変換し
て第２の画像メモリ１１に記憶させ、ラベリングを行な
う。そのため、第２の画像メモリ１１には第３図（Ｃ）
に示す画像に対応した階調付画像データξ（ｘ、ｙ）が
記憶される。
すように、第２の画像メモリ１１に記憶された粒子拡大
処理画像データε（ｘ、ｙ）に基づいて、各粒子像ｒ１
、 ｒ２ 、・・・、ｒｉ、・・・、 ｒｎを形成す
る画素のデータを各粒子像毎に異なった値１１に変換し
て第２の画像メモリ１１に記憶させ、ラベリングを行な
う。そのため、第２の画像メモリ１１には第３図（Ｃ）
に示す画像に対応した階調付画像データξ（ｘ、ｙ）が
記憶される。
次に中央演算処理装置１３は第１図のステップ２０に示
すように前記粒子の番号を表わす変数ｉを初期値１にセ
ットし、第１図のステップ２１に示すように前記階調付
画像データξ（ｘ、ｙ）を用いて値Ｉｉ ＝１１の画素
から成る粒子像ｒ１を第３の画像メモリ１２に転写する
。その結果、第３の画像メモリ１２には第３図（ｄ）に
示す画像に対応した第１番目の転写画像データλ（ｘ、
ｙ）１が格納される。次に中央演算処理装置１３は第１
図のステップ２２に示すように、第１の画像メモリ１０
に記憶されている粒子分布画像データα（ｘ、ｙ）と共
に、第３の画像メモリ１２に記憶されている転写画像デ
ータλ（ｘ、ｙ）１を読み出して対応する画素データ同
志のＡＮＤをとることにより第１番目の弁別画像データ
ω（ｘ、ｙ）１を求め、このデータを第３の画像メモリ
１２に記憶させる。そのため、第３の画像メモリ１２に
は第３図（ｅ）に示す画像に対応した画像データが記憶
される。そこで、中央演算処理装置１３は第１図のステ
ップ２３に示すように、弁別画像データω（ｘ、ｙ）１
に基づいてこの弁別画像中に含まれる粒子の個数を計数
する。前記距離ＬＯ以内に１個の粒子しか存在しない場
合を孤立粒子、２個以上存在する場合を密集粒子と決め
ておけば、中央演算処理装置１３はこの計数において粒
子が１個の場合にはメモリ１４に保持している孤立粒子
の累積計数値Ｕを１だけカウントアツプさせ、２個以上
の場合には、メモリ１４に保持している密集粒子の累積
計数値■を１だけカウントアツプさせる。次に中央演算
処理装置１３は第３の画像メモリ１２の内容を消去した
後、第１図のステップ２４に示すように、現在の粒子の
番号１が最終番号ｎに等しいか否かを判断する。最初の
段階では等しくないため、第１図のステップ２５におい
て、ｉ ＝ ｉ ＋１として、即ち、次の番号の粒子像
を対象にした後、ステップ２１に戻り、ステップ２１以
降の過程を繰り返させる。説明の簡単のための、第３図
（ａ）に示すように単純化した粒子分布画像に対する処
理においては、この粒子分布画像と粒子像ｒ２の転写画
像とのＡＮＤ操作により第３図（ｆ）の画像に対応した
弁別画像データω（ｘ、ｙ）２が得られ、粒子分布画像
と粒子像ｒ３の転写画像とのＡＮＤ操作により第３図（
ｇ）の画像に対応した弁別画像データω（ｘ、ｙ）３が
得られる。そのため、ｉ＝１とした最初のデータ処理に
より孤立粒子の累積計数値Ｕが１．密集粒子の累積計数
値Ｖが０１１＝２とした２回目の７’ −’ｌ 処理ニ
ヨ’０、Ｕ＝１＋１＝２．Ｖ＝Ｏ１ｉ＝３とした最終回
の処理によりＵ＝２．Ｖ＝４となり、この値が付属メモ
リ１４に保持される。この実施例の場合最終番号ｎは３
であるから、ステップ２０においてｉ＝３を設定した場
合には、ステップ２４において作業の終りが判断される
ため、中央演算処理装置１３は繰り返し作業を停止させ
て、付属メモリ１４に保持されている前記Ｕ、■の値を
ＣＲＴ１６に表示させる。そのため、操作者は、この表
示値により、被検試料の単位面積に存在する密集粒子の
個数や、孤立粒子の個数を簡単且つ計数誤差なく知るこ
とができる。
すように前記粒子の番号を表わす変数ｉを初期値１にセ
ットし、第１図のステップ２１に示すように前記階調付
画像データξ（ｘ、ｙ）を用いて値Ｉｉ ＝１１の画素
から成る粒子像ｒ１を第３の画像メモリ１２に転写する
。その結果、第３の画像メモリ１２には第３図（ｄ）に
示す画像に対応した第１番目の転写画像データλ（ｘ、
ｙ）１が格納される。次に中央演算処理装置１３は第１
図のステップ２２に示すように、第１の画像メモリ１０
に記憶されている粒子分布画像データα（ｘ、ｙ）と共
に、第３の画像メモリ１２に記憶されている転写画像デ
ータλ（ｘ、ｙ）１を読み出して対応する画素データ同
志のＡＮＤをとることにより第１番目の弁別画像データ
ω（ｘ、ｙ）１を求め、このデータを第３の画像メモリ
１２に記憶させる。そのため、第３の画像メモリ１２に
は第３図（ｅ）に示す画像に対応した画像データが記憶
される。そこで、中央演算処理装置１３は第１図のステ
ップ２３に示すように、弁別画像データω（ｘ、ｙ）１
に基づいてこの弁別画像中に含まれる粒子の個数を計数
する。前記距離ＬＯ以内に１個の粒子しか存在しない場
合を孤立粒子、２個以上存在する場合を密集粒子と決め
ておけば、中央演算処理装置１３はこの計数において粒
子が１個の場合にはメモリ１４に保持している孤立粒子
の累積計数値Ｕを１だけカウントアツプさせ、２個以上
の場合には、メモリ１４に保持している密集粒子の累積
計数値■を１だけカウントアツプさせる。次に中央演算
処理装置１３は第３の画像メモリ１２の内容を消去した
後、第１図のステップ２４に示すように、現在の粒子の
番号１が最終番号ｎに等しいか否かを判断する。最初の
段階では等しくないため、第１図のステップ２５におい
て、ｉ ＝ ｉ ＋１として、即ち、次の番号の粒子像
を対象にした後、ステップ２１に戻り、ステップ２１以
降の過程を繰り返させる。説明の簡単のための、第３図
（ａ）に示すように単純化した粒子分布画像に対する処
理においては、この粒子分布画像と粒子像ｒ２の転写画
像とのＡＮＤ操作により第３図（ｆ）の画像に対応した
弁別画像データω（ｘ、ｙ）２が得られ、粒子分布画像
と粒子像ｒ３の転写画像とのＡＮＤ操作により第３図（
ｇ）の画像に対応した弁別画像データω（ｘ、ｙ）３が
得られる。そのため、ｉ＝１とした最初のデータ処理に
より孤立粒子の累積計数値Ｕが１．密集粒子の累積計数
値Ｖが０１１＝２とした２回目の７’ −’ｌ 処理ニ
ヨ’０、Ｕ＝１＋１＝２．Ｖ＝Ｏ１ｉ＝３とした最終回
の処理によりＵ＝２．Ｖ＝４となり、この値が付属メモ
リ１４に保持される。この実施例の場合最終番号ｎは３
であるから、ステップ２０においてｉ＝３を設定した場
合には、ステップ２４において作業の終りが判断される
ため、中央演算処理装置１３は繰り返し作業を停止させ
て、付属メモリ１４に保持されている前記Ｕ、■の値を
ＣＲＴ１６に表示させる。そのため、操作者は、この表
示値により、被検試料の単位面積に存在する密集粒子の
個数や、孤立粒子の個数を簡単且つ計数誤差なく知るこ
とができる。
上述した実施例は本発明の実施例の一部に過ぎず、更に
変型して実施することができる。
変型して実施することができる。
例えば、上述した実施例においては、距離ＬＯ以内に２
個以上の粒子が存在する場合を密集粒子としたが、距離
ＬＯ以内にＫ（Ｋ２Ｓ）個以上の粒子像が存在する場合
を密集粒子とし、（Ｋ−１）以下の粒子像が存在する場
合を孤立粒子として扱うようにしても良い。
個以上の粒子が存在する場合を密集粒子としたが、距離
ＬＯ以内にＫ（Ｋ２Ｓ）個以上の粒子像が存在する場合
を密集粒子とし、（Ｋ−１）以下の粒子像が存在する場
合を孤立粒子として扱うようにしても良い。
又、上述した実施例は、Ｘ線マイクロアナライザによっ
て得られた鉄鋼等の走査画像中における介在物粒子を孤
立粒子と密集粒子に弁別して計数する場合に本発明を適
用した例であるが、本発明は上記のような画像に対する
処理に限定されない。
て得られた鉄鋼等の走査画像中における介在物粒子を孤
立粒子と密集粒子に弁別して計数する場合に本発明を適
用した例であるが、本発明は上記のような画像に対する
処理に限定されない。
即ち、電子顕微鏡や光学顕微鏡等によって得られる画像
や、熱放射体映像装置等によって得られる画像中の孤立
粒子像と密集粒子像を弁別して計数する必要のある場合
に同様に適用することができる。
や、熱放射体映像装置等によって得られる画像中の孤立
粒子像と密集粒子像を弁別して計数する必要のある場合
に同様に適用することができる。
［発明の効果］
上述した説明から明らかなように本発明によれば、粒子
分布画像データに基づいて各粒子像を一定量拡大し、こ
の拡大により密集粒子を単一の粒子像に統合させて粒子
拡張処理画像データを求め、粒子拡張処理画像の各粒子
像を順次メモリに転写し、この転写画像データと前記粒
子分布画像データとのＡＮＤをとることにより孤立粒子
と密集粒子を弁別することのできる弁別画像データを求
め、この弁別画像に基づいて粒子像の計数を行なうよう
にしているため、粒子分布画像中の密集粒子を孤立粒子
と弁別して、短時間且つ正確に自動計数することができ
る。
分布画像データに基づいて各粒子像を一定量拡大し、こ
の拡大により密集粒子を単一の粒子像に統合させて粒子
拡張処理画像データを求め、粒子拡張処理画像の各粒子
像を順次メモリに転写し、この転写画像データと前記粒
子分布画像データとのＡＮＤをとることにより孤立粒子
と密集粒子を弁別することのできる弁別画像データを求
め、この弁別画像に基づいて粒子像の計数を行なうよう
にしているため、粒子分布画像中の密集粒子を孤立粒子
と弁別して、短時間且つ正確に自動計数することができ
る。
第１図は本発明の一実施例を示すためのフローチャート
であり、第２図は本発明を実施するための装置の一例を
示すための図、第３図は第１図のフローチャートの流れ
に沿って変化する画像データを説明するための図である
。 １：電子銃 ２：反射電子検出器３：集束レ
ンズ ４：試料 ５：試料ステージ ６：駆動機構 ７：偏向器 ８：走査回路 ９：反射電子検出回路 １０．１１．１２：画像メモリ １３：中央演算処理装置 １４：試料ステージ制御回路 １５：操作卓 １６ ： ＣＲＴ１７：試料ス
テージ制御回路
であり、第２図は本発明を実施するための装置の一例を
示すための図、第３図は第１図のフローチャートの流れ
に沿って変化する画像データを説明するための図である
。 １：電子銃 ２：反射電子検出器３：集束レ
ンズ ４：試料 ５：試料ステージ ６：駆動機構 ７：偏向器 ８：走査回路 ９：反射電子検出回路 １０．１１．１２：画像メモリ １３：中央演算処理装置 １４：試料ステージ制御回路 １５：操作卓 １６ ： ＣＲＴ１７：試料ス
テージ制御回路
Claims (1)
- 分析又は撮像装置により粒子分布画像データを得、該粒
子分布画像データに基づいて該画像中の粒子像を分析す
る方法において、前記粒子分布画像に含まれる各粒子像
の各々を一定量拡大させ、該拡大により密集して存在す
る粒子像を単一の粒子像に統合させてｎ個の粒子像ｒ１
、ｒ２、・・・、ｒｉ、・・・、ｒｎを含む画像に対応
した粒子拡大処理画像データを求め、該粒子拡大処理画
像データに基づき、順次前記各ｉについて、前記第ｉ番
目の粒子像をメモリに転写し、該転写により得られる画
像と前記粒子分布画像の対応する画素データのＡＮＤを
とって弁別画像データを求め、該弁別画像データに基づ
いて該弁別画像中の粒子像の個数が設定個数以上である
場合に密集粒子として該粒子数を計数することを特徴と
する画像中における粒子像分析方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61036924A JPH0697214B2 (ja) | 1986-02-21 | 1986-02-21 | 画像中における粒子像分析方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61036924A JPH0697214B2 (ja) | 1986-02-21 | 1986-02-21 | 画像中における粒子像分析方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62194450A true JPS62194450A (ja) | 1987-08-26 |
| JPH0697214B2 JPH0697214B2 (ja) | 1994-11-30 |
Family
ID=12483307
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61036924A Expired - Lifetime JPH0697214B2 (ja) | 1986-02-21 | 1986-02-21 | 画像中における粒子像分析方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0697214B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5305476A (en) * | 1990-04-13 | 1994-04-26 | The Nisshin Oil Mills, Ltd. | Shower bathing device |
| JP2006038541A (ja) * | 2004-07-26 | 2006-02-09 | Tdk Corp | 評価用データの生成方法および評価方法 |
| EP2508868A3 (en) * | 2011-04-08 | 2017-12-27 | Rolls-Royce plc | An apparatus and a method of determining the proportions of different powders in a powder |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6275774A (ja) * | 1985-09-28 | 1987-04-07 | Toshiba Corp | 画像処理装置 |
-
1986
- 1986-02-21 JP JP61036924A patent/JPH0697214B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6275774A (ja) * | 1985-09-28 | 1987-04-07 | Toshiba Corp | 画像処理装置 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5305476A (en) * | 1990-04-13 | 1994-04-26 | The Nisshin Oil Mills, Ltd. | Shower bathing device |
| JP2006038541A (ja) * | 2004-07-26 | 2006-02-09 | Tdk Corp | 評価用データの生成方法および評価方法 |
| EP2508868A3 (en) * | 2011-04-08 | 2017-12-27 | Rolls-Royce plc | An apparatus and a method of determining the proportions of different powders in a powder |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0697214B2 (ja) | 1994-11-30 |
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