JPS62188916A - 合焦検出素子を用いた測光装置 - Google Patents

合焦検出素子を用いた測光装置

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JPS62188916A
JPS62188916A JP10255086A JP10255086A JPS62188916A JP S62188916 A JPS62188916 A JP S62188916A JP 10255086 A JP10255086 A JP 10255086A JP 10255086 A JP10255086 A JP 10255086A JP S62188916 A JPS62188916 A JP S62188916A
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photometry
circuit
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spot
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JP10255086A
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Tokuji Ishida
石田 徳治
Hiroshi Mukai
弘 向井
Hiroshi Otsuka
博司 大塚
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Minolta Co Ltd
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  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、合焦検出中の被写体の輝度を測光する際に、
スポット測光と平均測光とを測光条件に応じて自動的に
切り換え得るようにした合焦検出素子を用いた測光装置
に関するものである。
(従来の技術) 特開昭60−129732号公報には、自動焦点検出用
の第1の測光素子を用いてスポット測光を行い、別設の
第2の測光素子を用いて平均測光を行い、第1の測光素
子によるスポット測光出力と第2の測光素子による平均
測光出力とを比較することにより、逆光検知を行うよう
にしたカメラの日中シンクロ装置が開示されている。こ
の従来例にあっては、アクティブタイプの自動焦点検出
用の測光素子を用いてスポット測光を行っているので、
スポット測光が可能な場合と不可能な場合とが生じるこ
とはなく、スポット測光から平均測光への自動切り換え
の必要性が生じなかった。
特公昭60−1603号公報には、自動焦点検出装置の
合焦検出素子を時分割的に用いて測距演算と自動露出演
算とを行うこと、及び、上記の自動焦点検出装置とは別
に測光素子を設ける旨の開示があるが、自動焦点検出装
置の合焦検出素子による測光ができないときには警告す
るのみであり、自動的に平均測光に切り換えるという思
想は開示されていない。
(発明が解決しようとする問題点) 平均測光とスポット測光との両方の測光機能を持つカメ
ラが従来から知られている。これらのカメラはそれぞれ
の測光のために、個別の受光素子を用いている。一方、
最近のカメラには自動焦点検出装置を備えているものが
多く、この自動焦点検出装置の検出部としてCCDライ
ンセンサのような合焦検出素子が使用されている。そし
て、このCCDラインセンサには、アレイ状に配置され
た複数の受光部と、各受光部の受光量に応じて電荷を蓄
積する蓄積部と、蓄積部への蓄積時間を制御するための
モニター用の受光部とが設けられており、これらの受光
部を用いて測光を行うことが考えられる0合焦検出素子
の測距エリアはスボ・ント的になるために、その測光出
力をスポット測光出力とすれば、特別なスポット測光用
の素子及び光学系を必要としない。しかしながら、自動
焦点検出装置では、レンズの種類によってはスポット測
光を行えない場合があり、また、特殊な条件下で自動焦
点検出を行う場合にもスポット測光を行えない場合があ
るという間組を有していた。
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、そ
の目的とするところは、合焦検出素子によるスポット測
光が不可能な場合においても、自動的に平均測光による
測光が行なわれるようにした合焦検出素子を用いた測光
装置を提供するにある。
(問題点を解決するための手段) 本発明に係る合焦検出素子を用いた測光装置にあっては
、上述のような問題点を解決するために、添付図面に示
されるように、合焦検出素子を用いてスポット測光を行
う第1の測光手段と、平均測光を行う第2の測光手段と
、合焦検出素子によるスポット測光が可能であるか否か
を判別する判別手段と、前記判別手段によりスポット測
光が可能であると判別されたときには、第1及び第2の
測光手段の出力から露出値を演算し、スポット測光が不
可能であると判別されたときには、第2の測光手段の出
力から露出値を演算する演算手段とを備えるものである
(作用) 本発明にあっては、判別手段により、合焦検出素子によ
るスポット測光が可能であると判別されたときには、合
焦検出素子を用いた第1の測光手段によるスポット測光
出力と、第2の測光手段による平均測光出力とから演算
手段により露出値が演算される。この際、スポット測光
は合焦検出素子にて行なわれるので、合焦検出中の被写
体の輝度をスポット測光することができ、しかも、スポ
ット測光のためのjll光累子や光学系を別設する必要
はない、また、判別手段によって、合焦検出素子による
正確なスポット測光は不可能であると判別されたときに
は、第2の測光手段による平均測光出力のみから演算手
段により露出値が演算される。
したがって、合焦検出素子をスポット測光用の測光素子
として兼用していても、露出値が不正確になるようなこ
とはなく、いかなる場合においても少なくとも平均測光
による露出値と同程度の露出値は確実に得ることができ
、多くの場合には、それ以上の良好な露出値を得ること
ができるものである。
(実施例) 以下、本発明の好ましい実施例を図面と共に説明する。
第2図は本発明の一実施例に係る測光装置に用いる合焦
検出装置の光学系を示す。第2図において、(TL)は
撮影レンズ、(F)はフィルム等価面、(CL)はコン
デンサーレンズ、(L 1 )、(R2〉は結像レンズ
、(M)は結像レンズに入射する光を制限する絞り、(
11)、(I 2)は電荷蓄積型イメージセンサ−であ
って、フィルム等価面(F)のA、Bの範囲の像を、コ
ンデンサーレンズ(CL)、結像レンズ(Ll)、(R
2>によってイメージセンサ−(I 1)、(I 2)
上に各々像(A 1 )、(B 1 )及び(A2>、
(B2>として再形成する。イメージセンサ−(I 1
)、(I 2)は、その上に形成された2つの像の強度
分布に対応する2つの像信号をマイクロコンピュータで
構成される焦点検出回路に送出し、焦点検出回路ではそ
れぞれの像信号がある相関関係を持つことにより、像の
ずれ量及び合焦状態を判定する。
第13図は、第2図に示したイメージセンサ−(I1)
或いは(I2)によって測距される測距範囲を示す図で
あり、図中(a)がその範囲を示す。この範囲は、ファ
インダー(図示せず)を覗いて見ることができる0図中
(b)はイメージセンサ−(11)の近傍に設けられた
モニター用受光素子の測光範囲を示す、この測光範囲は
、実際には示されておらず、ファインダーを覗いても見
ることはできない、このモニター用受光素子は、イメー
ジセンサ−(11)、(12)に蓄えられる電荷の量を
制御するために設けられたものであり、この受光素子に
入ってくる光の強さに応じて、イメージセンサ−(11
)、(12)の積分時間を制御するものである。
第12図に、このモニター用受光素子(MPI)及びイ
メージセンサ−(11)を示す、第2図に示した光学系
からもわかるようにイメージセンサ−(11)、(12
>は同一の範囲を測距しており、これら2つのイメージ
センサ−(11)、(12)に入射する光量は同じなの
で、この光量を制御するには、各々のイメージセンサ−
(11)、(12)の両方に、モニター用受光素子を設
ける必要はなく、ここでは、イメージセンサ−(11)
の側にのみ設けている。
第3図は、上述のイメージセンサ−(11)、(I2〉
を含む光電変換部を示したもので、この光電変換部は、
P、、B2.− ・−、P(n−1)、Pnからなるフ
ォトセンサーアレイ(PA)、このフォトセンサーアレ
イ(PA)を初期設定する積分クリア回路(ICG)、
前記フォトセンサーアレイ(PA)に蓄えられた蓄積電
荷を後述するCCDシフトレジスタ(SR)に転送する
シフトゲート回路(SG)、R1、R,、HHH、R(
n+2)、R(n+ 3)からなるCCDシフトレジス
タ(SR)を備えている。ここで、前記フォトセンサー
アレイ(PA)から送られてきた蓄積電荷を、転送パル
ス(φ1)、(φ2)に同期して、順次映像信号出力回
路(Vs)に転送する転送部であるCCDシフトレジス
タ(SR)のセル数は、フォトセンサーアレイ(PA)
のフォトセンサー数よりも3個多い。CCDシフトレジ
スタ(SR)のセルR+ 、 R2)Rsは空送り用で
あり、フォトセンサーアレイ(PA)の各フォトセンサ
ーP I+P 2+・・・、P(n−+)、Pnの°蓄
積電荷は、後述のシフトパルス(SH)によってCCD
シフトレジスタ(SR)のセルR4,R5,・・、R(
n+2)、R(n+ 3)に並列的に転送される。各フ
ォトセンサーは第4図に示すように、フすl〜ダイオー
ド(Dl)、PN接台の接合容量を利用した電荷蓄積用
ダイオード(D2)、フォトダイオード(Dl)のカン
−1・と電荷蓄積用ダイオード(D2)のカソードとに
接続され、ゲートが接地されているFET回路(Q10
)、電荷蓄積用ダイオード(D2)のカソードと電源子
■とに直列に接続されたスイッチ(S)から構成されて
いる。このスイッチ(S)は積分クリア回路(工CG)
の半導体スイッチング素子に相当するものであり、この
スイッチが閉成(′vE分クリア信号(ICGS)が送
られ半導体スイッチング素子がON)されると、電荷蓄
積用ダイオード(D2)のカソード側のレベルが電源+
■のレベルまで引き上げられる。すなわち、フォトセン
サーが初期状態にセットされる。スイッチ(S)が開か
れると(積分クリア信号(ICGS)の消滅後、半導体
スイッチング素子がOFFになると)、FET回路(Q
IO)を介してフォトダイオード(Dl)の光電流が、
電荷蓄積用ダイオード(D2)の電荷を放電し、電荷蓄
積用ダイオード(D2)のカソード電圧は時間の経過と
共に降下する。すなわち、光電流積分が行なわれるが、
これはフォトダイオード(Dl)に入射する光の強度に
応した速度で電荷蓄積用ダイオード(D2)のカソード
に貝の電荷が蓄積されると考えてよい。したがって、各
フォトセンサーは入射光強度に応じた速度で電荷を蓄積
すると考えられる。フォトセンサーの電荷の蓄積は、前
記積分クリア信号(ICO8)が消滅してから開始され
、シフトゲート回路(SG)にシフトパルスが入力され
ると終了する。すなわち、シフトパルスの入力によりフ
ォトセンサーの蓄積電荷がCCDシフトレジスタ(SR
)に転送される。CCDシフトレジスタ(SR)では転
送パルス(φ1〉、(φ2)により、転送された蓄積電
荷を1セル分ずつ順次映像信号出力回路(V s)へ出
力する。
第3図の(T8)、(T9)はフォトセンサーアレイ(
PA)、輝度モニター回路(M C)、基準信号発生回
路(RS)、映像信号出力口u(Vs)に電源子■を供
給する為の電源端子とアース端子である。
(MP)は輝度モニター用受光素子でフォトセンサーア
レイ(PA)の近傍に配置されており、前記輝度モニタ
ー回路(M C>、基準信号発生回路(R3)、映像信
号出力回路(Vs)を含めて、これらも光電変換部を構
成している。輝度モニター回路(M C)は、FET回
路(Q 1 )、(Q 2 )、(Q 3 )とコンデ
ンサー(C1)とからなり、FET回路(Ql)のゲー
トは、積分クリア回路(lCG>に接続され、前記積分
クリア信号(ICGS)により導通し、FET回ν各(
Ql)、(C2)のゲートとコンデンサー(C1)の接
続点(Jl)を電源子■に引き上げる。輝度モニター用
受光素子(MP)は、前記フォトセンサーの説明と同じ
動作を行う。すなわち積分クリア信号(ICGS)の消
滅後、輝度モニター用受光素子(MP)は、入射する光
の強度に応じた速度でコンデンサー(C1)に、負の電
荷を蓄積してい(、FET回路(C2)、(C3)はバ
・ソファを構成しており、PET回R(C2)、(C3
)の接続点から引き出されている端子(T1)がち、接
続点(Jl)の電圧と等しい電圧(AGCO8)が出力
される。
第5図は、この出力電圧(A G COS )の時間的
変化を示したものであり、<fl 1 )〜(C7)は
輝度によって電圧降下の速度が変化することを示してい
る。なお、図中に示される立ち上がりの波形は積分クリ
ア信号(ICGS)による誘導ノイズを表している。
第3図に戻って、基準電圧発生回路(R3)は、FET
回路(Q 4 )、(Q 5 )、(Q 6 )及びコ
ンデンサー(C2)から構成されており、接続点(J2
)がFET回路(C4)とFET回路(C5)のゲート
及びコンデンサー(C2)にしか接続されていない点を
除いては、輝度モニター回路(M C)と全く同じであ
り、同一集積回路内につくられる為、各々の特性も同じ
である。したがって、積分クリア信号(工CGS)の消
滅直後の端子(T2)の基準電圧(D。
S)と、輝度モニター回路(M C)の(T1)端子の
電圧(A G COS >とは、はとんど同じである。
この為、時間経過と共に降下する電圧量を測定するため
の基準電圧として用いることができる。
映像信号出力回路(V s)は、l? E T回路(C
7)。
(C8)、(Q9)及びコンデンサー(C3)から構成
され、接続点(J3)は、F E T回路〈C7)とF
ET回路(O8)のゲート及びコンデンサー(O3)に
加えて、CCDシフトレジスタ(SR)の出力に接続さ
れている。FET回路(O7)のゲートは、転送パルス
(φ1)の(I4)端子に接続され、このパルス(φ1
)が入力される毎にFET回路(O7)が導通してコン
デンサー(O3)は電源電圧+■のレベルまで充電され
、映像信号出力回路(Vs)がリセットされる。その後
転送パルス(φ1)により前記コンデンサー(O3)は
転送されるCCDシフトレジスタ(SR)の蓄積電荷に
応じた電荷の放電を繰り返して行い、バッファを形成す
るFET回路(O8)、(Q9)の接続点の端子(I3
)から各フォトセンサーに対応した電圧が、各画素の映
像信号(OS)として出力され、それらが全体で映像信
号を形成する。
第6図は、本実施例におけるCCDシフトレジスタ(S
R)の各セルの機能分担を示すマツプである。セルは1
番から128番まであり、31番から57番間での27
セルが第2図のイメージセンサ−(11)に相当し、8
0番〜114番までの35セルが第2図のイメージセン
サ−(I2)に相当する。イメージセンサ−(I2)に
相当する部分のセル数が多いのは、まず最初に、イメー
ジセンサ−(11)に相当する27セルとイメージセン
サ−(I2)に相当する80番から106番までの27
セルとを対比し、次に一画素ずらし81番がら107番
までの27セルとを対比し、最後に87番から114番
までの27セルとを対比するというように、イメージセ
ンサ−(I2)に相当する出方を1個ずつずらしながら
、順次イメージセンサ−(11)に相当する出力の比較
を行うためである。
前記それぞれの比較による結果の相関をとることによっ
て、合焦、前ピン、後ピンが判断される。
1番〜3番のセルは、空送りセルであり、4番から15
番の半分までは、光が完全に入射しないようにアルミ蒸
着による遮光マスクを施しである黒基準部であり、この
アルミ蒸着によって電気的特性も若干変化している。
第7図は本発明の一実施例の回路構成を示す。
この回路構成において制御回路(11)及び演算判別回
路(12)はマイクロコンピュータ(以下マイコンと言
う)によって構成されている。レリーズボタン(不図示
)の第1ストロークの押下によるスイッチ(Sl)のO
Nが制御回路(11)によって検出されると制御回路(
11)は焦点検出の制御を開始する。まず、制御回路(
11)は積分クリア信号(ICGS)を光電変換回路(
10)に出力し、各フォトセンサーを初期状態にリセッ
トすると共に、上記信号(ICO8)によって輝度モニ
ター回路(MC)の出力(A G COS )を初期状
態の電源電圧レベル味で回復させる。そして、この積分
クリア信号(ICGS)が消滅すると同時に、光電変換
回路(10)の各フォトセンサーが光積分を開始すると
共に、輝度モニター回路(M C)が被写体の輝度の測
定を開始し、その出力(AGCO9)は被写体輝度に応
じた速度で初期状態の電源電圧より降下していく。利得
制御回路(5)は、基準電圧発生回路(R9)の出力で
ある基準電圧(DO3)と輝度モニター回路(Me)の
出力(AGCO3)とを入力とし、基準電圧(DO3)
をもとにして作られた4段階の他の基準電圧を内部でつ
くり、これらの電圧と輝度モニター電圧(AGCO3)
とを比較し、利得を決める。積分クリア信号(ICO3
)の消滅がら所定時間T M 1 (32m5ec)内
に輝度モニター回N(MC)の出力(AGCO3)の電
圧降下が大きく、所定電圧以下になると、利得制御回路
(5)がらHig1ルベルの(TINT)信号が出力さ
れ、制御回路(11)とオア回路(OR)に出力される
。この出力信号はオア回路(OR)を通してシフトパル
ス発生回路(6)に入力され、シフトパルス発生回路(
6)はこれに応答してシフトパルス(SH)を光電変換
回路(10)に出力する。この信号(SH)により光電
変換回路(10)の各フォトセンサーは積分を終了し、
蓄積された電荷がCCDシフトレジスタ(SR)の対応
するセルにパラレルに転送される。
一方、制御回路(11)は撮影準備スイッチ(Sl)が
ONした時間からクロックパルス(CL)を転送パルス
発生図n(7)へ出力する。そして、この転送パルス発
生回路(7)はクロックパルスに基づいて、互いに位相
が180°ずれた転送パルスφ1.φ2を出力する。転
送パルス発生回路(7)は、オア回路(OR)の出力が
!(iH!+レベルになると、これと同期して立ち上が
る転送パルス(φ1)を出力する。すなわち、転送パル
ス(φ1〉はシフトパルス(SH)と同期することにな
るが、CCDシフ)・レジスタ(SR)は、わずかなが
ら光感度を有するため、前記シフトパルス(SH)と転
送パルス(φ1)とが同期していない場合には、同期し
ていないずれ時間だけ、CCDシフトレジスタ(SR)
は光を感じ、光の強度に応じた電荷が誤信号として’M
Mされる。そこで転送パルス(φ1〉をシフトパルス(
SH)に同期させて、前記ずれ時間をなくし、誤信号が
発生しないようにしている。この後、転送パルス発生回
路(7)から前記転送パルス(φ1)、(φ2)が光電
変換口n(10)に送られる。光電変換口26(10)
はこれらの転送パルスのうち(φ1)の立ち下がりに同
期して、CCDシフトレジスタ(SR)に蓄えられた電
荷がセルの端(第6図のセルの1番)から順に、映像信
号(OS)として出力され、減算回路(4)に出力され
る。映像信号(OS)は、対応するフォトセンサーに入
射する光の強度が強い程、低い電圧となっており、減算
回路(4)で基準電圧(DOS>から減算された電圧(
DOS−O3>が画素信号として出力される。
前記積分クリア信号(ICGS)の消滅後、積分制御時
間T M 1 (32+n5ec)以内に輝度モニター
回路<MC)の出力電圧(AGCO3>が所定電圧以下
にならず、利得制御回路(5)から(TINT)信号が
出力されない場合、積分制限時間TM 1 (32m5
ec )の経過後に制御回路(11)は、シフトパルス
発生指令信号(S)IM>をオア回路(OR)を通して
シフトパルス発生回路(6)に出力する。シフトパルス
発生回路〈6)は、この信号を受けてシフトパルス(S
H)を光電変換回路(10)に出力し、フォトセンサー
アレイ(PA)の蓄積電荷をCCDシフトレジスタ(S
R)に転送させる。そして前述の場合と同様に、転送パ
ルス(φ1)、(φ2)によって映像信号出力回路(V
s)から映像信号(OS)が出力され、減算回路(4)
から(D OS−08)が画像信号として出力される。
ピークホールド回路(1)は、CCDシフトレジスタ(
SR)の7番目から10番目のアルミマスク部に対応す
る画素信号(DOS−OS>が出力されたときに、制御
回路(11)から送られてくるサンプルホールド信号(
S/H)を受け、それらの画素信号を保持する。この信
号は利得可変増幅回路(2)に出力され、この信号と減
算回路(4)から出力される11番目以降の画素信号と
が利得可変増幅回路(2)で減算され、この差の出力が
、利得制御回路(5)により制御される利得で増幅され
る。この増幅された信号はA/D変換回路(3)でA/
D変換され、画素信号データとして、制御回路(11)
を通して演算判別回路(12)に出力される。一方、利
得制御回路〈5)で得られた利得制御データも制御回路
く11)を通して演算判別回路〈12)に送られ、その
結果、演算判別回路(12)では、両データの演算が行
なわれる。
この演算の結果、焦点検出可能と判断されたときには、
合焦までの像のずれ藍が演算判別回路(12)で演算さ
れる。また、像のずれ量に相当するだけのレンズの駆動
iも前記画素信号データにもとづいて演算判別回路く1
2)で演算され、レンズ駆動装置(8)に出力される。
この駆動量W(8)は、撮影レンズ(9)を前記レンズ
の駆動量だけ駆動する。そして撮影レンズ(9)が合焦
位置に到達するまで、制御回路(11)は積分クリア信
号0CGS)発生からレンズ駆動までのシーケンスを繰
り返す、前記焦点検出の演算の結果、焦点検出不能と判
断されたときには、表示回路(13)において焦点検出
不能の表示が行なわれる。前記焦点検出が、低輝度(L
O−LIG)(T>の為に焦点検出不能と判断したとき
に、補助光による焦点検出が可能であれば制御回路(1
1)からの指令で、補助光による焦点検出を行う。
第8図は第7図の利得制御回路(5)及び利得可変増幅
回路(2)の−例を示している。第8図において、(T
 11 )、(T I 2)、(T 13)は、各々第
3図の端子(T 1 >、(T 2 >、(T 3 )
に接続される端子である。(T14>は設定された積分
制限時間TM1(32msec)の経過後、制御回路(
11)から出力されるシフトパルス発生指令t= +i
< S ]−] M >を入力する端子、(T15)は
積分制限時間内に第5図におけるゾーン(E)に入った
時に出力される(TINT)信号の出力端子、(T16
)は利得可変増幅回路(2)で増幅された画素信号を、
A/D変換回路(3)に出力するための出力端子である
。(B 1 )。
(B2>、(B3)はバッファ、(4)は映像信号(電
圧)O8と基準電圧(DO8)とを減算する減算回路、
(1)は暗出力補正データを保持するピークホールド回
路である。
まず、利得制御回路(5)から説明すると、積分クリア
信号(ICGS)の消滅後、輝度モニター回路(M C
>の出力電圧(A G COS )の降下の程度をステ
ップ的に判別するコンパレーター(ACI)。
(AC2)、(AC3)、(AC4)が設けられている
各コンパレータの反転入力はバッファ(B1)を介して
輝度モニター回路(M C)の出力電圧(AGCO8)
が入力される端子(Tll)に夫々接続されている。コ
ンパレータ(A C1)、(A C2>、(A O3)
、(AC4)の非反転入力は、抵抗(R4)と定電流(
IS4)との接続点(J4)、抵抗(R3)と定電流(
IS3)との接続点(J5)、抵抗(R2)と定電流(
IS2>との接続点(J6)、抵抗(R1)と定電流(
ISI>との接続点(J7)に夫々接続されている。抵
抗(R1)、(R2)、(R3)、(R4)は、バッフ
ァ(B2)を介して基準電圧(D OS )が入力され
る端子(T12)に接続されている。コンパレーターの
基準電圧は、基準電圧発生回路(R3)の出力電圧(D
O3>から、(抵抗の値)とく定電流の値)とを掛けた
電圧を減算したものであり、抵抗の値と定電流の値とを
適当に選べば任意の基準電圧を作ることが可能である。
このようにして所望のコンパレーターの基準電圧をステ
ップ的に作れば、輝度モニター回路(MC)の出力電圧
(A G COS )の降下の程度に応じて、ステップ
的にコンパレーターを反転させることが可能となる。コ
ンパレーター(ACl)、(AC2)、(AC3)の出
力は、夫々Dフリップフロップ(D F 1 )、(D
 F 2)、(D F 3)のデータ端子(D)に入力
されている。これらのDフリップフロップのデータを取
り込むタイミングを決定するクロックパルスの入力端子
(CP)には、制御回路(11)のシフトパルス発生指
令信号(SHM)が入力される。具体的には、積分制限
時間T M 1 (32m5ec)の経過後にシフトパ
ルス指令信号(SHM)がクロックパルスの入力端子(
CP)に入力され、このタイミングでコンパレーター(
ACl)、(AC2)、(AC3)の情報を取り込む、
コンパレーター(A C4)の出力信号(e)は、積分
制限時間内に輝度モニター回路(MC)の出力電圧(A
GCO8)が第5図のゾーン(E)に入った時に出力さ
れる(TINT)信号である。・アンド回路(ANl)
はDフリップフロップ(D F 1 )の出力Qと、同
じくDフリップフロップ(DF2)の出力Qとを入力と
し、アンド回路(A N 2 )はDフリップフロップ
(DF2)の出力Qと、同じくDフリップフロップ(D
 F 3 )の出力口を入力とし、出力信号を夫々(b
)、(c)としている、また、Dフリップフロップ(D
 F 1 )の出力口の出力信号を(a)、Dフリップ
フロップ(DF3)の出力Qの出力信号を(d)とし、
これらの信号(a) 、 (b) 、 (c) 、 (
d)と(TINT)信号(e)は、それぞれ第5図のゾ
ーン(A)、(B)、(C)。
(D)、(E)に対応している。これらの信号の状態を
第1表に示す。
これらの信号のうち(a) 、 (b) 、 (e) 
、 (d)を受け、各信号に対応する利得が次に説明す
る利得可変増幅回路(2)において設定される。利得可
変増幅回路(2)において、(OP)は演算増幅器であ
り、その入力端子(f)、(g)は入力抵抗(R5)、
(R6)を介して、減算回路(4)、サンプルホールド
回路(1)に夫々接続されている。抵抗(R5)〜(R
14)は利得を決定゛する抵抗であり、抵抗(R5)、
(R6)。
(R7)、(R8)、(R11)、(R12’)の抵抗
値をrとすると、抵抗(R9)、(R13)は2r、抵
抗(RIO)、(R14)は4rとなるような抵抗比を
持つ抵抗値に設定しである。(ASI)〜(AS8)は
アナログスイッチであり、前記(a) 、 (b) 、
 (c) 、 (d)の信号を受け、アナログスイッチ
(A S 1 ’)〜(A S 4 )は抵抗(R7)
〜(RIO)を選択し、演算増幅器(CP)の帰還抵抗
値を決めるのに対し、アナログスイッチ(AS5)〜(
A S 8 )は抵抗(R11)〜(R14)を選択し
、演算増幅器(OP)のバイアス抵抗値を決めている。
前記(a)、(1,)、(c)、(d)の各信号が夫々
rHigJになるときに導通するアナログスイッチ(A
SI)〜(AS8)との対応及びそのときに選択される
抵抗と利得を第2表に示す。
(以下余白) 第1表 第2表 第9図は本実施例に係る測光装置を用いたカメラの動作
を制御する回路の全体構成を示すブロック回路図である
。(21)はカメラ全体を制御するマイコンである。(
22>は交換レンズであり、このレンズには、各種のレ
ンズデータを記憶しているROMが内蔵されており、R
OMの記憶内容は、マイコン(21)の命令によってカ
メラに読み出されるようになっている。(23>は、レ
ンズを駆動するモーター及びこのモーターを制御するオ
ートフォーカス制御部であり、マイコン(21)からの
信号によって制御される。(24)は第7図に示す回路
図の点線で囲まれる制御回路部(15)のうち制御部N
(11)を除いた回路部であるオートフォーカス検出部
、(25)はマイコン〈21)からのデータに基づいて
シャッター及び絞りを制御する露出制御部、(26)は
撮影画面の略全域を測光する受光素子を含む測光部であ
る。(30)は測光部の出力を入力して、光源が蛍光灯
であるか否かを検出する蛍光灯検出回路である。(27
)は容器上にフィルムの特性がコードパターン(以下D
Xコードという)として示されているフィルムのコード
パターンを読み取る回路である。(28)は外部装着さ
れるストロボで、焦点検出時に使用される補助光を有し
ている。(29>は撮影情報及び焦点検出の状態を表示
する表示部である。(Sl)は、レリーズボタンの第1
ストロークでONされる撮影準備スイッチ、(S2)は
レリーズボタンの第2ストロークでONされてレリーズ
を行なう為のレリーズスイッチ、(BLSW)は、波長
が長くなるにつれ、出力(強度)が大きくなる第1光源
の光に対して、波長が長くなってもその出力がほぼ一定
に保たれるように光源、或いは、そのカバーの全体或い
は一部が青くなっている所謂ブルーフラットと呼ばれる
光源を使用するときに撮影者の操作によってONするス
イッチである。
以上から構成される回路の動作を第10図に示したマイ
コン(21)の概略のフローチャー1〜を参照して説明
すると、まず回路全体の電源である電池(El)が装着
されると、端子(CLR)に「L」レベルからrH,レ
ベルに変わる信号が入力し、マイコン(21)は、ステ
ップ#0からのフローを実行する。次に、マイコン(2
1)は、入出力端子及び内部レジスタフラグをすべてイ
ニシャライズして、撮影準備スイッチ(Sl)がONさ
れているかを判定する(#5.10)。このスイッチ(
Sl)がOFFである場合には、ハード的にAP検出部
(24)へのクロックが停止され、フローではレンズを
駆動するモーターの回転を停止させ、測光及びオートフ
ォーカスを停止さぜる(#15〜25)、そして、表示
をすべて消灯させて、給電用トランジスタ(Trl)を
0FFL、、フラグをすべてリセットして、ステップ#
10に移行する(#30〜40〉。
ステップ#10で撮影準備スイッチ(Sl)がONのと
きは、ハード的にAF検出部(24)へのクロックが開
始され、フローではステップ#45に進み、給電トラン
ジスタ(Tri)をONにする。これによって各回路へ
の給電が行なわれる。マイコン(21)は測光をスター
トさせ、DXコードを読みとり、交換レンズ(22)か
らレンズ情報を入力する(#50〜60)。この入力方
法に関しては、例えば特開昭60−4915号公報など
に開示されているが、本発明に直接関係しないので省略
する。
この入力情報としては、開放絞り値、焦点検出可能なレ
ンズか否かを示す信号、開放状態でレンズが最も繰り出
した状態での絞り値〈最も大きい絞り値)、及びデフォ
ーカス量をモーターの回転数に変換する為の変換係数(
KL)が入力されている。
次にAF動作をスタートさせ、CCDへの積分を行なわ
せる(#65.70)、11分が終了すると、映像デー
タを入力し、このデータを所定の演算式に基づいて演算
し、デフォーカスIを求める(#75.80)、この演
算結果にもとづいて、焦点検出可能か否かを判定し、可
能でない場合、所定の処理を行なって撮影画面のスポッ
ト部の輝度(Bvsp)及び略画面全体の輝度(BvA
v)を求める(#85.90,105.110)、一方
、ステップ#85において焦点検出可能であれば、この
ときも所定の処理を行ない、スポット部の輝度をロック
しているかを判定し、ロックしている場合にはステップ
#110へ、ロックしていない場合には、ステップ#1
05に進む(#95,100)、マイコン(21)は、
略画面全体の輝度(Bv、elv)を求めたあと、上記
スポット部の輝度(B vsp)と略画面全体の輝度(
BVAν)とから露出用の輝度を求め(#115)、そ
して露出値を求めて表示する(#115〜125〉。
次に、レリーズスイッチ(S2)がONされているかを
判定して、ONされているときには、レンズ駆動用のモ
ーターを停止して、露出制御を行なう、スイッチ(S2
)がONされていないときはステップ#10に移行して
、以後のフローを実行する。
第11図及び第1図に、第10図のステップ#65のA
P動作スタートからステップ#115の測光演算までの
詳細なフローチャートを示し、説明すると、ステップ#
145で、補助光発光モードを示す補助光フラグがセッ
トされているかを判定し、セットされていないときには
、ステップ#160に移行し、セ・ントされているとき
には、補助光発光を示す発光フラグをセットして補助光
の発光を示す信号を出力する(# 145〜160)。
これによって補助光発光が行なわれる0次にマイコン(
21)は、スポット部測光用のカウンタレジスターをリ
セットする。ここで、AP検出に用いられるモニター用
の受光素子を用いて、スポット部の測光を行なうことを
説明する。
上記マイコン(21)にはタイマーカウント用のレジス
ターが用意され、積分開始からの時間経過をカウントし
、カウント値が2μ1iee毎に1だけカウンタレジス
ターに加算されていくようにする。
このカウント値を読むことによって、スポット部の輝度
が分かる。積分時間が32m5ecを経過すると、積分
が終了するため、積分時間を利用して輝度を求めること
ができない、そこで、32m5ecを経過したときには
、受光素子のモニターの出力を検出することによって輝
度が求められる。具体的には、CCDの積分データを増
幅するためのAGCデータ及び画素出力を用いて行なっ
ている。このスポット部の輝度とカウンタレジスターの
内容及びAGCのデータの関係を第3表及び第4表に示
す。表において、明るさはアペックス値(Bvンで示し
ている。表から明らかなようにBv値が13から3まで
はカウンタレジスタの内容、Bv値が2から−1までは
AGCテータ及びモニター受光部の下にあるCCD画素
(31〜57)の平均を求めている(第6図参照)。そ
して、Bv値の最小41位は’/、Byとしており、こ
れを説明すると、Bv値がコ3から3までは、1が立っ
ている最大ビットのどころをBv値の整数値とし、それ
より下位3ビツトを順に’/2BV、’八Bv、’八B
vとしている。
例えば&1.が1が立っている最大ビットとし、・・・
all、a1G+al+al・・・・=・  ・101
0・とずれば、そのときの明るさは、5・(1八Bv)
となる、Bv値が2から−1までは、AGCデータによ
りBv値の整数値を求め、’/aBv単位は、CCDの
画素出力より求めている。また、別の明るさの求めかた
として、Bv値をAGCデータ1゜2.4に対してそれ
ぞれ]、 、5.0.5 +−0,5とし、そして、C
CD画素がとりうる電圧の半分を基準とし、CCD画素
の平均をこの基準からの偏差として’/e・EvIIi
位の△Bvを求めて、」二記Bv値1.5.0.5.−
0.5に抽圧ずろことも考えられる6 (辺上余白) 第3表 第4表 第11図のフローチャートにもどり、マイコン(21)
はカウンタの内容をリセッl−したのち、積分スタート
を示すパルスの積分クリア信号を出力する。そして積分
の時間を計時するタイマーをリセットしてスタートさせ
る(#170)。上述したようにこの積分の間に、上記
タイマーが125μsec経過する毎に、カウンタレジ
スターはカラン)・アップするようになっている。積分
開始から32 m5ecを経過しない内にモニターの出
力が所定値に達すると、積分終了を示す(TINT)信
号が、利得制御回路〈5)からマイコン(21)に出力
される。マイコン(21)はこれによりステップ#17
5からステップ#200に移行し、上記タイマーをスト
ップさせて、低輝度であることを示す低輝度フラグ(L
LF)をリセットして、ステップ#210に進む(# 
200.205)。一方、32IIISec以内に積分
が終了しない場合、32m5ecを経過すると、ステッ
プ#180から#185に進み、シフトパルス発生指令
信号(SUM)を出力する。そしてタイマーをストップ
させ、低輝度フラグをセットして、補助光発光を停止さ
せる(#190.195.210)、そして、マイコン
(21)は積分の終わったCCDのデータを入力する。
このときピークボールド回路(1)てデータをホールド
する為のサンプルボールド信号を出力する。
この入力したデータにもとづいて、デフォーカス演算を
してデフォーカス量(△ε)を求め、この結果にもとづ
いて、焦点検出可能か否かを判断し、焦点検出が可能な
場合にはステップ#215に進む。ステップ#215で
は、ローコントラストを示すローコントラストフラグ(
LCr’)をリセットし、デフォーカス量(△ε)が所
定値(ε1)よりも小さいか否を判定する(#220>
。この所定値(ε1)よりも小さければ合焦しているこ
とを示し、小さいときには、合焦フラグ(合焦F)をセ
ットして、合焦表示をする(# 225.230)、一
方、ステップ#220で、合焦していないと判定すれば
、合焦フラグ(合焦F)をリセットし、交換レンズ(2
2)から入力した変換係数(KL)をデフォーカス量に
掛けてモーターの回転移動量(n)を求め、この1(回
転数〉だけモーターを駆動する(#235〜245)。
そして、合焦表示を行なったときも同様にステップ#1
00に進んで、スポット部の輝度値をロックしたことを
示すフラグ(BvspLF)を判定し、このフデグがリ
セットされていればステップ#285へ、セットされて
いればステップ#320に進む。
ステップ#85で焦点検出不可と判定すれば、ローコン
トラストフラグ(LCF)をセットして、合焦フラグ(
合焦F)をリセットする。(# 250.255)。次
に利得のデータ(A G C)が2以上であるかを判定
して、2未満であればローコントラストとして、コント
ラストを検出するために、レンズを駆動するモーターを
駆動させる(# 275゜280)、利得データ(A 
G C)が2以上であれば、補助光発光可能か否かを判
定する(#265)、具体的にはストロボが装着され、
その電源が投入されているかをストロボからの信号によ
って判定する。補助光発光不可能であればステップ#2
75に、発光可能であれば補助光フラグ(補助光F)を
セットして、ステップ#285に進む(# 270 )
ステップ#285では低輝度を示す低輝度フラグ(LL
F)を判定し、このフラグがセットされていれば、利得
データ(AGC)を入力して、これにもとづきスポット
部の輝度(B vsp)の整数部分を求め、次に17.
Bν単位を求めるためにCCD画素(31〜57)の部
分の出力データ(データダンプで入力済)を平均してこ
れを1八Bvに直して輝度(Bvsp)を求める。そし
て、低輝度フラグがセットされていなければ、カウンタ
レジスタの内容を判別して、スポットの輝度(Bvsp
)を求める(# 285〜305)、ブルーフラット等
の特定光源の使用を示すスイッチ(BLSW)がONさ
れているとき、スポットの輝度(B vsp)に所定量
(0,5Ev)だけ加えて、新たに輝度(Bvsp)を
求める(#310.315)。ONされていないときに
は、ステップ#315をスキップして、ステップ#31
5と同様に、ステップ#320に進む。
ステップ#320では測光口n(26)から略画面全体
の輝度(BVAVO)を入力して、レンズの開放絞り値
(Avo)をこれに加える(# 320.325)。
そして次のような場合には露出に使用する明るさとして
、略画面全体の輝度(BVAV)を使用する(#370
)。
(i)ローコントラストフラグ(LCF)がセットされ
ているとき(#330)、これは、合焦検出が不可能な
場合、スポット部がどの場所を測光しているかがはっき
りせず、意図している被写体を測光しない可能性がある
からである。
(ii)補助光が発光したことを示す発光フラグ(発光
F)がセットされているとき(#335)、これは補助
光として近赤外光を被写体に向けて発光するので確かな
被写体輝度が得られないからである。
(iii)スポット部の輝度(B vsp)が−1以下
のとき(#340)。この理由としてはまず、それほど
暗い被写体では、平均測光でもスポット測光でも変わら
ないからであり、別の理由としては、−1以下は具体的
な輝度として測れないからである。
(iv)焦点検出ができないレンズが装着されたとき(
#345)。これは、第2図の光学系において、開放絞
り値が大きくなると、光束の一部がけらit、モニター
に入射してくる光が同一の被写体輝度に対して一定とな
らないからである。このことは開放絞り値が大きいま↓
ろ台ばかりでなく、反射望遠タイプのレンズについても
言えることである。
(v)繰り込んだ状態の有効絞り値(Aν。、公称開放
絞り値)と蘇り出した状態の有効絞り値(Avol)と
の差が0.5Ev以上あるとき(#350)。モニター
用の受光素子は、絞りによるけられかない限り、レンズ
の開放絞り値(繰り込んだ状態の有効絞り値)に関係な
く、被写体の輝度(B vsp)そのものを測光してい
る。従って、開放絞り値からの絞りの絞り段数で制仰を
行なう場合、絞り段数が同一のため、上記繰り込んだ状
態の有効絞り値(AvO)と、繰り出した状態の有効絞
り値(Avol)の差の分だけ誤差となって現れる。
(vi)蛍光灯下で撮影が行なわれているとき(#32
8)、なぜなら、蛍光灯下では、蛍光灯の特性により一
定周期内〔1/(使用されている電源周波数の倍の周波
数)〕で、その明るさが時々刻々と変わる。スポットJ
lll光を行なっているモニター用受光素子ては、明る
さの変化を平滑するような組成をとっておらず、積分時
間が上記蛍光灯の周1ullよりも短い場合には、蛍光
灯の特性に応して積分時間が変わり、この積分時間でも
って被写体の明るさを判別している本実施例では、当然
のことながら、測光毎に被写体の明かるさのデータは変
化する。
以上6つの場合は、夫々の理由により、露出用の輝度と
して、略画面全体の輝度(BVAV)を使用する(# 
328〜350,370)。上記以外の場合には、ステ
ップ#355に進み、スポットの輝度(B vsp)と
略画面全体の輝度(BvAv)との差の絶対値が2以上
あるか否かを判定し、2以上ある場合には、逆光状態で
の撮影、あるいは舞台での撮影として、スポットの輝度
(B VSII>を露出用に使い、(あるいは、スポッ
ト輝度に重みづけしたスポット輝度と平均輝度からの合
成輝度を用い)、2未満であれば両者の平均をとって露
出用の輝度とする(# 360.365)。
次にステップ#375に進み、合焦フラグ(合焦F)が
セットされているときには、次の測光でスポット部をメ
モリーするように、フラグ(BvspロックF)をセッ
トし、合焦フラグがセットされていないときには、ステ
ップ#380をスキップし、第10図に示すステップ#
120の露出演算のフローに進む。
以上が本実施例によるマイコンく21)のフローチャー
トである。
なお、上記の説明ではAGCのデータを利用して輝度を
求める場合の1へBv単位の求め方としてCCDの画素
(31〜57)のすべてを平均したが、CCD画素(3
1〜57)の最大値と最小値との平均をとって、これを
1へBν単位に直しても良い。
次に第2の実施例の要部正面図を第14図に示す、第1
4図は、第12図に示したモニター用受光素子(MPI
>をCCDよりなるイメージセンサ−(II)の長さと
同じにし、かつ両側に設けた。
これは第12図に示すモニター(MPI)だけでは受光
範囲が狭すぎるため、その一部に、特に輝度の高いもの
がある場合に、正しい測光値を得る事ができないという
問題があるからである。
尚、このようにすると、第3図に示すモニター回路(M
C)を一部変更しなければならない。それを第15図に
示し、第3図との違いのみを述べると、モニター用受光
素子(M P 11 )とFET[ili]路(C12
)からなる回路に並列に、モニター用受光素子(MPI
2>とPET回路からなる回路を設ける。それ以外は第
3図に示す回Bt14成と同じであるが、受光素子の面
積が0倍かつ2個になったので、これに合わせて、コン
デンサー(C1)の容重を2n倍にしたコンデンサー(
C1l)とする必要がある。これは第3図におけるコン
デンサー(C1)を2n個並列にしても同じである。
前述の実施例では、積分時間及び利得のデータを用いて
スポット部の輝度を求めたが、モニター用受光素子(M
P)の光′c、流を対数圧縮してこの電圧を変換するこ
とによってもスポット部の輝度を求めることができる。
この場合の回路構成を第16図に示して説明すると、モ
ニター用受光素子(MP〉の両端に演算増幅器(OPI
)の入力が図で示されるように接続され、演算増幅器(
OPI)の出力を圧縮ダイオード(DIO)を介して、
入力に帰還をかける構成をとっている。この演算増幅器
(OPi)の出力に伸張トランジスタ<Q30)を設け
、そのコレクターにモニター出力用コンデンサー(C1
)を接続し、このコンデンサーにスイッチングトランジ
スタ(Q31)を並列に接続し、第3図におけるFET
回路(Ql)の代わりを行なわせる。
演算増幅器(OPI)の出力は、バッファ(BuF30
)にも送られ、このバッファ(BuF30)の出力をA
/D変換器(30)でA/D変換してマイコン(21)
に送っている。従ってマイコン(21)でも、これを入
力するための新たな端子が必要となる。
このデジタル信号がスポット部の輝度を示す、これに対
して必要なフローチャートの変更は次の通りである。
(1)第11図に示すステップ#195、#205を削
除する。これに伴ないステップ#285〜#305を削
除し、代わりにA/D変換器(30)の出力を入力する
ように構成する。
(It)ステップ#150及び#335を削除する。
なぜなら、第16図の構成では、積分をしておらず、常
に明るさをモニターしており、また、補助光の発光は積
分終了で終えている。これに加えて、スポット部の輝度
のデータ取り込みはデフォーカス演算が終了した後であ
るので、A/D変換は一度必ず終えており、このデジタ
ル信号は補助光の影響を受けていないから、上記ステッ
プを削除するものである。
モニター用受光素子に用いる回路の第2の変形例を第1
7図に示す、この回路はCCDへの積分を行なっている
ときと、これを終了した後で、受光素子の出力を切り換
えるようにしたものである。
切換信号(I ST)を積分開始時にrLjレベルとし
、積分終了時にrH」レベルとなるようにマイコン(2
1)にて制御するように構成すれば良い、マイコン側で
のフローの変更箇所については上記切換信号(I ST
)の制御用のフローを加えれば、第16図の場合につい
て説明したものと同じである。なお、第16図及び第1
7図の回路では、マイコンはカウンタレジスタを必要と
しない。
第18図はモニター用受光素子の変形例を示し、第19
図はその等価回路及びモニター用受光素子の出力の取り
出し方を示す回路図である。第18図において、(10
0)はCCDのフォトダイオード、(101)はCOD
のフォトダイオードの間に置かれたモニター用の受光素
子たるモニタフォトダイオードである。このフォトダイ
オード(101)の両側には、チャネルストッパー(1
02)を設けてあり、モニター用のフォトダイオード(
101)とCCDのフォトダイオード(100)との間
でおこる電荷の移動を防止している。モニター用のフォ
トダイオードは、一つ毎にモニターに使用するものと、
使用しないものとに別れており、使用する方の出力を平
均している0図では使用しないフォトダイオードのカソ
ードを電源+■に接続しているがオーブンにしても良い
、これは第6図に示したモニター受光部の面積に対応さ
せるためのものであり、第18図のモニター用のフォト
ダイオードの大きさに応じて、モニター用に使用する比
率を変えれば良い、第19図のモニタ一部における出力
の取り出し方は、第4図の回路について説明した方法と
同じである。
このように構成すれば、第6図の構成の場合と比較して
以下のような効果がある。すなわち、第6図の構成では
モニタ一部とCCD画素部の見ている部分が異なるので
、夫々の明るさが異なる場合があり、これによって次の
(イ)(ロ)に示すような測光上及び焦点検出上の問題
点を生じるが、第18図の構成ではこれらの問題点を解
決することができる。
(イ)まず、測光の場合には、第13図に示したように
モニタ一部の領域は表示されないので、撮影者は図中(
a)の測距範囲のみに、写そうとする被写体を入れ、図
中(b)のモニタ一部には入れない事があり、誤測光と
なるが、第18図の構成ではこの問題が生じない、また
、第13図あるいは第6図の構成と比べて、より広い範
囲で平均した測光出力を得ることができる。
(ロ)次に、焦点検出の場合には、モニター用の出力に
よって積分時間を制御しているのて、モニタ一部とCC
D画素部の明るさが異なる場合に、CCD画素の出力が
必要とされるレベル範囲内に入らす、正確な焦点検出が
できないことかある。
例えばモニタ一部のみが非常に明るい場合にはCCD画
素への積分時間が短くなり、CCD画素の出力レベルが
低すぎることになり、逆に、モニタ一部のみが暗い場合
には、CCD画素l\の積分時間が長くなるので、CC
D画素の出力が飽和してしまうことがあるが、第18図
の構成では、この問題は生じない。
次にモニター用受光素子を別設しないで、COD画素出
力を用いて積分時間を制御する方法を説明する。第20
図の構成は、積分時間を制御するためのモニター用フォ
トダイオードを別設せずに、CCD用のフォトダイオー
ドの出力を用いて、積分時間を制御する場合の光電変換
部の要部を示しており、第3図のCCDの部分のみを取
り出したものと同じ構成である。第21図の回路では、
第20図に示ずCCDにおけるフォ1−ダイオードの出
力を用いて、AGC川のモニター出力を作っている。図
においては1つおきの画素毎にアナログスイッチ(Q 
1. Q s 、・・・)が設けられ、カウンタ出力に
応じて順々にボトムホールド回路へ入力される。
第22図はこの状態を示すタイムチャートである。
CCDの績分開如信号ICGによりカウンタはリセット
され、ボトムホールド回路は、電源電圧にサンプルされ
る。アナログスイッチで取り出すCCDのフォトダイオ
ードの画素を1つおきにしているのは、各画素をサンプ
ルする時間を長くとる為で、CCDのフォトダイオード
の画素をとのような間引き方でとりだすかは自由に設定
することができ、例えば10個おきとしても栴わない。
CCDのフォトダイオードの出力(フローティングゲー
トの出力)は光の強く当たっている画素はど電圧レベル
は低くなるので、アナログスイッチで選ばれる画素の中
で最も強く光が当たっている画素の出力がボトムホール
ド回路でホールドされる。
もちろん、カウンタ出力でスキャンするときの各画素毎
の時間ずれは影響されるがCCD積分時間の制御範囲に
対し、スキャン周波数を充分に速くしておけば問題はな
い、ボトムホールド回路の出力は、今までの実施例と同
じくバッファ(ソース2オロワー)を介して、(AGC
O3)として出力されるものであり、その後の処理につ
いては既に述べた実施例と同じである。
以上のように構成すれば、個々のCCD画素、あるいは
、少数の領域毎(間引いた時)のCCD画素のモニター
制御を行なうことができ、CCD画素の最高出力の制御
が行なえ、ダイナミックレンジの広いCCDの画素出力
を得ることができ、焦点検出精度があがる。また、モニ
ター用受光素子を別途必要としない、比較例として、第
20図の構成に代えて、第18図の構成でモニター用受
光素子の1つ1つをモニター制御することも考えられる
が、この場合には各受光素子毎に出力を取り出す為の回
路(第4図参照)が別途必要となる。
ところで、第21図に示されるように、少数のCCD画
素の領域毎に、CCD画素の出力をモニターするという
考えは、第12図に示すモニター用受光素子を複数に分
割することによっても行なえる。これを第23図及び第
24図に示して説明する。上記各図においてiMPDl
)〜(M P D4)は第12図に示したモニター用受
光素子を複数に分割したもので、その出力の取り出し回
n(第24図)の動作は第21図に示したものと同じで
あるので省略する。この考えは第18図に示した構成に
ついても簡単に応用することができ、モニター用受光素
子を複数個(例えば4つずつ)にして、複数個のモニタ
一部をつくればよい、そして、受光素子出力の読み出し
回1l(AGCO8の出力を得る回路)としては、第2
4図に示す回路を使用すれば良い。
次に、モニター用受光素子とCCD画素の出力とを用い
て被写体輝度を求める方法を示す、この方法はモニター
用受光素子の積分時間によって輝度を求め、これにCC
D画素から求めた輝度で袖瓦を行なうようにするもので
ある。このときに必要とされるのは一部分だけが明るい
ときにおこるCCD画素の出力の飽和を防止することで
ある。
これを達成するためには、各画素毎に積分時間を制御す
るモニタ一部を設けて、最も出力の高いモニタ一部で全
体の積分時間を制御すれば良い0例えば第18図及び第
19図に示したモニタ一部の1つ1つにモニター用の制
御回路を設けるか、第21図に示した各CCD画素のフ
ォトダイオードの出力で積分時間を制御すれば良い、な
お、各画素毎に、積分時間を制御するように構成すると
、回路構成が複雑となりコストアップとなるため、第1
8図、第19図、または、第21図などでは、適当に間
引いて少数単位で積分制御するか、あるいは、何個かを
まとめた少数単位で積分制御すれば良い、第25図には
、第18図に示したモニター用受光素子を3個単位で1
つのモニタ一部とし、第21図に示した制御回路で各モ
ニタ一部のボトム値をホールドしている回路を示す、こ
こでは、CCDの(11)部分にこれをおいているので
、9個(27画素)のモニタ一部が形成される。また、
これと同様の回路は第23図、第24図の構成を用いた
ものでも実現できる。このようなモニタ一部を用いるこ
とによって、CCD画素の飽和を防止することができる
このようにして得られるCCD画素の出力を用いた輝度
の求め方を説明すると、まず積分時間を計測することに
よって、輝度を求める(第3表参照)、そして画素出力
の全平均、または、ピーク値とボトム値との平均をとっ
て、1/。Ev単位を求めて上記輝度を補正する。この
補正値の求め方を簡単に説明すると、まず、画素の出力
がとりうるレンジめI/2を決める。そして、このレベ
ルから画素がとりうる最高値までを1へEv単位で分け
、上記平均値がこのレベル範囲内にあるときには、その
量だけ、モニタ一部から得た輝度に加える。
同様にして1八レベルから下方の値に対しても1へEv
単位でレベル範囲を設けて、上記画素出力から得た平均
値がこの下側のレベル範囲にあるときは、モニタ一部か
ら得た輝度から、レベル範囲の量だけ減算して、輝度を
得る。第26図に、このような考え方で第11図のフロ
ーチャートにおける#105の群を変形したフローを示
す、これによって得られる輝度は、CCD上で得られた
被写体の輝度分布をもとにして得られるので、モニタ一
部のみから得る場合よりも精確な輝度データが得られる
(発明の効果) 本発明にあっては、上述のように、合焦検出素子を用い
てスポット測光を行う第1の測光手段と、平均測光を行
う第2の測光手段とを備えるので、スポット測光と平均
測光とを行うことができ、カメラの露出演算に際して平
均測光のみにより露出演算する場合よりも良好な露出が
得られるという効果がある。しかも、合焦検出素子をス
ポット測光用の測光素子として流用しているので、別設
のスポット測光用の測光素子や光学系を必要とせず、コ
ストダウンを図ることができるという効果がある。さら
にまた、合焦検出素子によっては正確なスポット測光が
てきない場合には、平均測光出力のみを使用するように
しているので、最低限、従来の平均測光と同程度の露出
は得ることができ、通常の条件においては、それ以上の
良好な露出を得ることができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例の動作を説明するための
フローチャート、第2図は同上の実施例に用いる光学系
の概略構成図、第3図は同上の実施例に用いる光電変換
部の回路図、第4図は同上の光電変換部の要部動作原理
を説明するための回路図、第5図は同上の実施例に用い
る輝度モニター回路の出力電圧の時間的変化を示す特性
図、第6図は同上の実施例に用いるCODシフトレジス
タの構成を示す概略構成図、第7図は同上の実施例の回
路構成を示すブロック回路図、第8図は同上の実施例に
用いる利得制御回路及び利得可変増幅回路の構成を示す
回路図、第9図は同上の実施例を用いたカメラの動作を
制御する回路の全体構成を示すブロック回路図、第10
図及び第11図は同上の実施例における動作を説明する
ためのフローチャート、第12図は同上の実施例におけ
る測光部の要部正面図、第131mは同上における測距
範囲を示す説明図、第14図は本発明の第2の実施例に
係る測光装置の要部正面図、第15図は同上の実施例に
用いる輝度モニター回路を示す回路図、第16図及び第
17図はそれぞれ第1の実施例に用いる輝度モニター回
路の変形例を示す回路図、第18図は本発明の第3の実
施例に係る測光装置の要部概略構成図、第19図は同上
の実施例における受光素子の出力の読み出し回路の構成
を示す回路図、第20図は本発明の第4の実施例に係る
測光装置の要部概略構成図、第21図は同上における受
光素子の出力の読み出し回路を示す回路図、第22図は
同上の動作説明図、第23図は本発明の第5の実施例に
係る測光装置の要部概略構成図、第24図は同上の実施
例における受光素子の出力の読み出し回路の構成を示す
回路図、第25図は第18図に示す第3の実施例につい
ての受光素子の出力の読み出し回路の他の構成を示す回
路図、第26図は第11図に示すフローチャートの変更
箇所を示すフローチャートである。 (11)はイメージセンサ−1(MP)はモニター用の
受光素子、(26)は測光部、#328〜#350はス
ボッl−8111光可否判別用のステップである。

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)合焦検出素子を用いてスポット測光を行う第1の
    測光手段と、平均測光を行う第2の測光手段と、合焦検
    出素子によるスポット測光が可能であるか否かを判別す
    る判別手段と、前記判別手段によりスポット測光が可能
    であると判別されたときには、第1及び第2の測光手段
    の出力から露出値を演算し、スポット測光が不可能であ
    ると判別されたときには、第2の測光手段の出力から露
    出値を演算する演算手段とを備えて成ることを特徴とす
    る合焦検出素子を用いた測光装置。
  2. (2)特許請求の範囲第1項記載の装置において、前記
    判別手段は、合焦検出できないレンズの装着を検出した
    ときに、スポット測光が不可能であると判別する手段で
    あることを特徴とする合焦検出素子を用いた測光装置。
  3. (3)特許請求の範囲第1項記載の装置において、前記
    判別手段は、レンズの繰り出し量によって、絞り値が大
    きく変化するレンズの装着を検出したときに、スポット
    測光が不可能であると判別する手段であることを特徴と
    する合焦検出素子を用いた測光装置。
  4. (4)特許請求の範囲第1項記載の装置において、前記
    判別手段は、蛍光灯下での測光であることを検出したと
    きに、スポット測光が不可能であると判別する手段であ
    ることを特徴とする合焦検出素子を用いた測光装置。
  5. (5)特許請求の範囲第1項記載の装置において、前記
    判別手段は、合焦検出素子にて焦点検出に必要なコント
    ラストを得るためのレンズ駆動操作中であることを検出
    したときに、スポット測光が不可能であると判別する手
    段であることを特徴とする合焦検出素子を用いた測光装
    置。
  6. (6)特許請求の範囲第1項記載の装置において、前記
    判別手段は、合焦検出素子にて焦点検出に必要なコント
    ラストを得るための補助光が発光されていることを検出
    したときに、スポット測光が不可能であると判別する手
    段であることを特徴とする合焦検出素子を用いた測光装
    置。
  7. (7)特許請求の範囲第1項記載の装置において、前記
    判別手段は、スポット測光値が所定の輝度以下であるこ
    とを検出したときに、スポット測光が不可能であると判
    別する手段であることを特徴とする合焦検出素子を用い
    た測光装置。
JP10255086A 1986-02-14 1986-05-02 合焦検出素子を用いた測光装置 Pending JPS62188916A (ja)

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US07/014,708 US4791446A (en) 1986-02-14 1987-02-13 Light measuring device
US07/248,380 US4843417A (en) 1986-02-14 1988-09-22 Light measuring device

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017227686A (ja) * 2016-06-20 2017-12-28 リコーイメージング株式会社 焦点検出装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2017227686A (ja) * 2016-06-20 2017-12-28 リコーイメージング株式会社 焦点検出装置

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