JPS62187832A - 合焦検出装置を用いた測光装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、合焦検出装置を用いた測光装置に関するもの
であり、合焦検出中の被写体の輝度を測光する用途に用
いられるものである。

（従来の技術） 従来、測距用の受光素子を用いてスポット測光を行う技
術が、特開昭６０−１２９７３２号において提案されて
いるが、この従来例においては、距離検出を行うための
受光素子の出力によって測光を行っており、測距情報と
測光情報とを時分割で取り出しているので、測定に時間
がかかり、また、測距情報と測光情報との測定時点に隔
たりがあるので、測距している場所と測光している場所
とが異なる可能性があった。

また、特公昭６０−１６０３号には、ＣＣＤよりなる光
電素子アレイの出力信号を利用して被写体の輝度を求め
る技術が開示されているが、この従来例にあっては、Ｃ
ＣＤへの蓄積電荷（電圧）のレベルによってのみ輝度を
検出しているので、広範囲の輝度を測定しようとすれば
、ＩＥｖ単位の分解能を上げるか、ＣＣＤの蓄積電荷に
よって生じる電圧レベルの範囲を広くしなければならな
い。

例えば、Ｂｙ＝０〜１３の範囲を測定しようとすれば、
２１３段１１１（＝８１９２段ｌ＠）の分解能が必要で
ある。今、Ｂｙ＝Ｏのときを１０ｍＶとすれば、Ｂｙ＝
１３では８０Ｖとなり、広範囲な電圧レベルが必要とな
る。逆に、Ｂｖ＝１３で６■とすれば、Ｂｙ＝０では７
５０μＶとなって、この電圧を検出しなければならなく
なり、回路的に複雑になるか、あるいは、コストアップ
となる。また、ＣＯＤのみでは暗電流が存在するので、
低い電圧でのＳ／Ｎ比が悪く正確な測光値を得ることが
できなかった。

（発明が解決しようとする問題点） −ｍに、様々な被写体に対して適性露光を得るためには
、平均測光だけでは対応しきれず、スポット測光が必要
となってくるが、スポット測光部を別設することはコス
トアップにつながるという問題がある。

そこで、上述の特開昭６０−１２９７３２号のように測
距用の受光素子を用いてスポット測光を行う技術が提案
されているが、測距情報を得るための受光素子と測光情
報を得るための受光素子とが時分割的に共用されている
ために、上述のように、測定に時間がかかるという問題
があり、また、測定時間がずれれば測距している場所と
測光している場所とが異なる可能性があるという問題を
生じた。

また、特公昭６０−１６０３号の従来例にあっては、Ｃ
ＯＤへの蓄積電荷（電圧）のレベルによってのみ輝度を
検出しているので、上述のように広い範囲の輝度測定を
行うことは困難であり、特に、低輝度レベルにおいてＳ
／Ｎ比が低下するという問題があった。

一方、特開昭６０−２０２４１４号公報に記載された合
焦検出装置では、ＣＣＤよりなる測距用の受光素子と、
このＣＣＤへの積分時間を制御するためのモニター用の
受光素子とを備えるものがある。このモニター用の受光
素子は被写体の輝度・を挟角で測光しているので、本発
明者らは、これをスポット測光部として利用し、測距と
測光とを同時に行う装置を安価に提供することを提案し
たものであるが、モニター用受光素子が被写体がら外れ
た場合には正しい測光ができない可能性があり、また、
モニター用受光素子だけでは測光範囲が狭く、モニター
部の一部に強い光がある場合には、やはり正しい測光が
行えない可能性があった。

本発明は上述のような点に鑑みてなされたものであり、
その目的とするところは、広範囲な領域を測光すること
ができ、しかもコストアップにはならないようにした合
焦検出装置を用いた測光装置を提供するにある。

（問題点を解決するための手段） 本発明に係る合焦検出装置を用いた測光装置にあっては
、上述のような問題点を解決するために、添付図面に示
されるように、アレイ状に配置された複数の受光部と各
受光部の受光量に応じて電荷を蓄積する蓄積部とを含む
光電変換素子と、光電変換素子の蓄積部への蓄積時間を
制御するモニター用の受光手段を有するモニター部とを
備え、光電変換素子の出力から合焦検出を行う合焦検出
装置において、前記モニター用の受光手段と前記光電変
換素子とを用いて合焦検出中の被写体の輝度を検出する
手段を備えるものである。

（作用） 本発明にあっては、このように、光電変換素子の蓄積部
への蓄積時間を制御するモニター用受光素子と、合焦検
出を行うための光電変換素子とを用いて、合焦検出中の
被写体の輝度を検出するようにしたので、測光できる輝
度のレベルについてはモニター用受光素子により充分に
広く確保することができ、しかも、アレイ状に配置され
た複数の受光部を有する光電変換素子により広範囲な領
域を測光することができるものである。

（実施例） 以下、本発明の好ましい実施例を図面と共に説明する。

第３図は本発明の一実施例に係る測光装置に用いる合焦
検出装置の光学系を示す、第３図において、（ＴＬ）は
撮影レンズ、（Ｆ）はフィルム等価面、（ＣＬ）はコン
デンサーレンズ、（Ｌ　１　）、（Ｌ２）は結像レンズ
、（Ｍ）は結像レンズに入射する光を制限する絞り、（
ＩＩ）、（Ｉ２）は電荷蓄積型イメージセンサ−であっ
てフィルム等価面（Ｆ）のＡ、Ｂの範囲の像を、コンデ
ンサーレンズ（ＣＬ）、結像レンズ＜ＬＬ）、（Ｌ２）
によってイメージセンサ−（Ｉ　１）、（Ｉ　２）上に
各々像（Ａ　１　）、（Ｂ　１　）及び（Ａ２）、（Ｂ
２）として再形成する。イメージセンサ−ＣＩ　］、、
　）、（ＩＩ２）は、その上に形成された２つの像の強
度分布に対応する２つの像信号をマイクロコンピュータ
で構成される焦点検出回路に送出し、焦点検出回路では
それぞれの像信号がある相関関係を持つことにより、像
のずれ量及び合焦状態を判定する。

第２図は、第３図に示したイメージセンサ−（１１）或
いは〈Ｉ２）によって測距される測距範囲を示す図であ
り、図中（ａ）がその範囲を示す。この範囲は、ファイ
ンダー（図示せず）を覗いて見ることができる０図中（
ｂ）はイメージセンサ−（１１）の近傍に設けられたモ
ニター用受光素子の測光範囲を示す、この測光範囲は、
実際には示されておらず、ファインダーを覗いても見る
ことはできない、このモニター用受光素子は、イメージ
センサ−（１１）、（１２＞に蓄えられる電荷の量を制
御するために設けられたものであり、この受光素子に入
ってくる光の強さに応じて、イメージセンサ−（１１）
、（１２）の積分時間を制御するものである。

第１図に、このモニター用受光素子及びイメージセンサ
−（１１〉を示す、第３図に示した光学系からもわかる
ようにイメージセンサ−（＋１＞、（１２）は同一の範
囲を測距しており、これら２つのイメージセンサ−（Ｉ
　１）、（１２）に入射する光量は同じなので、この光
量を制御するには、各々のイメージセンサ−＜１１＞、
（１２）の両方に、モニター用受光素子を設ける必要は
なく、ここでは、イメージセンサ−（１１）の側にのみ
設けている。

第４図は、上述のイメージセンサ−（ＩＩ）、（１２）
を含む光電変境部を示したもので、この光電変換部は、
Ｐ、、Ｒ２，・・−、Ｐ（ｎ−、）、Ｐｎからなるフォ
トセンサーアレイ（ＰＡ）、このフォトセンサーアレイ
（ＰＡ）を初期設定する積分クリア回路（ＩＣＧ）、前
記フォトセンサーアレイ（ＰＡ）に蓄えられた蓄積電荷
を後述するＣＣＤシフトレジスタ（ＳＲ）に転送するシ
フトゲート回路（ＳＧ）、Ｒ１、Ｒ２，・・・、Ｒ（ｎ
＋　２）、Ｒ（ｎ　＋ｚ）からなるＣＣＤシフトレジス
タ（ＳＲ）を備えている。ここで、前記フォトセンサー
アレイ（ＰＡ）がら送られてきた蓄積電荷を、転送パル
ス（φ１）、くφ２）に同期して、順次映像信号出力回
路（Ｖｓ）に転送する転送部であるＣＣＤシフトレジス
タ（ＳＲ）のセル数は、フォトセンサーアレイ（ＰＡ）
のフォトセンサー数よりも３個多い、ＣＣＤシフトレジ
スタ（ＳＲ）のセルＲ，，Ｒ，，Ｒ３は空送り用であり
、フォトセンサーアレイ（ＰＡ）の各フォトセンサーＰ
、、Ｐ２．・・・、Ｐ（ｎ−、）、Ｐｎの蓄ｍ電荷は、
後述のシフトパルス（ＳＨ）によってＣＣＤシフトレジ
スタ（ＳＲ）のセルＲ４，Ｒ５，・・・、Ｒ（ｎ＋２）
、Ｒ（ｎ＋３）に並列的に転送される。各フォトセンサ
ーは第５［２に示すように、フォトダイオード（Ｄｌ）
、ＰＮ接きの接合容量を利用した電荷蓄積用ダイオード
（Ｄ２）、フォトダイオード（Ｄｌ）のカソードと電荷
蓄積用ダイオード（Ｄ２）のカソードとに接続され、ゲ
ートが接地されているＦＥＴ回路（ＱＩＯ＞、電荷蓄積
用ダイオード（Ｄ２）のカソードと電源十■とに直列に
接続されたスイッチくＳ）から構成されている。このス
イッチ（Ｓ）は積分クリア回路（ＩＣＧ）の半導体スイ
ッチング素子に相当するらのであり、このスイッチが閉
成（積分クリア信号（■ＣＧＳ）が送られ半導体スイッ
チング素子がＯＮ）されると、電荷蓄積用ダイオード（
Ｄ２）のカソード側のレベルが電源＋Ｖのレベルまで引
き上げられる。すなわち、フォトセンサーが初期状態に
セットされる。スイッチ（Ｓ）が開がれると（積分クリ
ア信号（Ｉ　ＣＧＳ）の消滅後、半導体スイッチング素
子がＯＦＦになると）、ＦＥＴ回路（ＱＩＯ）を介して
フォトダイオード（Ｄｌ）の光電流が、電荷蓄留用ダイ
オード（Ｄ２）の電荷を放電し、電荷蓄留用ダイオード
（Ｄ２）のカソード電圧は時間の経過と共に降下する。

すなわち、光電流積分が行なわれるが、これはフォトダ
イオード（Ｄｌ）に入射する光の強度に応じた速度で電
荷蓄積用ダイオード（Ｄ２）のカソードに負の電荷が蓄
積されると考えてよい、したがって、各フォトセンサー
は入射光強度に応じた速度で電荷を蓄積すると考えられ
る。フォトセンサーの電荷の蓄積は、前記積分クリア信
号（ｒｃＧｓ）が消滅してがら開始され、シフトゲート
回路（ＳＧ）にシフトパルスが入力されると終了する。

すなわち、シフトパルスの入力によりフォトセンサーの
ＭＭ重電荷ＣＣＤシフトレジスタ（ＳＲ）に転送される
。ＣＣＤシフトレジスタ（ＳＲ）では転送パルス（φ１
）、（φ２）により、転送された蓄積電荷を１セル分ず
つ順次映像信号出力回路（Ｖｓ）へ出力する。

第４図の（Ｔ８ン、（Ｔ９）はフォトセンサーアレイ（
ＰＡ）、輝度モニター回路（Ｍ　Ｃ）、基準信号発生回
路（Ｒ３）、映像信号出力回路（Ｖｓ）に電源子Ｖを供
給する為の電源端子とアース端子である。

（Ｍ　Ｐ　）は輝度モニター用受光素子でフォトセンサ
ーアレイ（ＰＡ）の近傍に配置されており、前記輝度モ
ニター回路（Ｍ　Ｃ）、基準信号発生回路（ＲＳ＞、映
像信号出力回路（Ｖｓ）を含めて、これらも光電変換部
を構成している。輝度モニター回路（ＭＣ）は、ＦＥＴ
回路（Ｑ　１　）、（Ｑ　２　）、（Ｑ　３　）とコン
デンサー（Ｃ１）とからなり、ＦＥＴ回路（Ｑｌ）のゲ
ートは、積分クリア回路（ＩＣＧ）に接続され、前記積
分クリア信号（ＩＣＧＳ）により導通し、ＦＥＴ回路（
Ｑ　１　）、（Ｑ　２　）（７）ゲートとコンデンサー
（Ｃ１）の接続点（Ｊｌ）を電源＋Ｖに引き上げる。輝
度モニター用受光素子（ＭＰ）は、前記フォトセンサー
の説明と同じ動作を行う、すなわち積分クリア信号（Ｉ
ＣＧＳ）の消滅後、輝度モニター用受光素子（ＭＰ）は
、入射する光の強度に応じた速度でコンデンサー（Ｃ１
）に、負の電荷を蓄積してい＜、ＦＥＴ回路（Ｃ２）、
（Ｃ３）はバッファを構成しており、ＦＥＴ回路（Ｃ２
）、（Ｃ３）の接続点から引き出されている端子（Ｔ　
Ｉ　）から、接続点（Ｊｌ）の電圧と等しい電圧（ＡＧ
ＣＯ８＞が出力される。

第６図は、この出力電圧（ＡＧＣＯ８）の時間的変化を
示したものであり、（Ｃ１）〜（Ｃ７）は輝度によって
電圧降下の速度が変化することを示している。なお、図
中に示される立ち上がりの波形は積分クリア信号（ＩＣ
ＧＳ）による誘導ノイズを表している。

第４図に戻って、基準電圧発生回路（Ｒ３）は、ＦＥＴ
回路（Ｑ　４　）、（Ｑ　５　）、（Ｑ　６　）及びコ
ンデンサー（Ｃ２）から構成されており、接続点（Ｊ２
）がＦＥＴ回路（Ｃ４）とＦＥＴ回路（Ｃ５）のゲート
及びコンデンサー（Ｃ２）にしか接続されていない点を
除いては、輝度モニター回路（Ｍ　Ｃ）と全く同じであ
り、同一集積回路内につくられる為、各々の特性も同じ
である。したがって、積分クリア信号（ＩＣＧＳ）の消
滅直後の端子〈Ｔ２）の基準電圧（Ｄ。

Ｓ）と、輝度モニター回路（Ｍ　Ｃ）の（Ｔ１）端子の
電圧（ＡＧＣＯ９）とは、はとんど同じである。この為
、時間経過と共に降下する電圧量を測定するための基準
電圧として用いることができる。

映像信号出力回路（Ｖｓ）は、ＦＥＴ回路＜Ｃ７）。

（Ｃ８）、（Ｑ９）及びコンデンサー（Ｃ３）から構成
され、接続点（Ｊ３）は、ＦＥＴ回路（Ｃ７）とＦＥＴ
回路（Ｃ８）のゲート及びコンデンサー（Ｃ３）に加え
て、ＣＣＤシフトレジスタ（ＳＲ）の出力に接続されて
いる。ＦＥＴ回路（Ｃ７）のゲートは、転送パルス（φ
１）の（Ｔ４）端子に接続され、このパルス（φ１）が
入力される毎にＦＥＴ回路（Ｃ７）が導通してコンデン
サー（Ｃ３）は電源電圧＋■のレベルまで充電され、映
像信号出力回路（Ｖｓ）がリセットされる。その後転送
パルス（φ１）により前記コンデンサー（Ｃ３）は転送
されるＣＯＤシフトレジスタ（ＳＲ）の蓄頂電荷に応じ
た電荷の放電な操り返して行い、バッファを形成するＦ
ＥＴ回路（Ｏ８）、（Ｑ９＞の接続点の端子（Ｉ３）か
ら各フォトセンサーに対応した電圧が、各画素の映像信
号（Ｏ８）として出力され、それらが全体で映像信号を
形成する。

第７図は、本実施例におけるＣＣＤシフトレジスタ（Ｓ
Ｒ）の各セルの機能分担を示すマツプである。セルは１
番から１２８番まであり、３１番から５７番間での２７
セルが第３図のイメージセンサ−（１１）に相当し、８
０番〜１１４番までの３５セルが第３図のイメージセン
サ−（Ｉ２）に相当する。イメージセンサ−（Ｉ２）に
相当する部分のセル数が多いのは、まず最初に、イメー
ジセンサ−（ＩＩ）に相当する２７セルとイメージセン
サ−（Ｉ２）に相当する８０番から１０６番までの２７
セルとを対比し、次に一画素ずらし８１番から１０７番
までの２７セルとを対比し、最後に８７番から１１４番
までの２７セルとを対比するというように、イメージセ
ンサ−（Ｉ２）に相当する出力を１個ずつずらしながら
、順次イメージセンサ−（１１）に相当する出力の比較
を行うためである。

前記それぞれの比較による結果の相関分とることによっ
て、合焦、前ビン、後ビンが判断される。

１番〜３番のセルは、空送りセルであり、４番から１５
番の半分までは、光が完全に入射しないようにアルミ蒸
着による遮光マスクを施しである黒基準部であり、この
アルミ蒸着によって電気的特性も若干変化している。

第８図は本発明の一実施例の回路構成を示す。

この回路構成において制御回路（１１）及び演算判別回
路（１２）はマイクロコンピュータ（以下マイコンと言
う）によって構成されている。レリーズボタン（不図示
）の第１ストロークの押下によるスイッチ（Ｓｌ）のＯ
Ｎが制御回１Ｂ（１１）によって検出されると制御回路
（１１）は焦点検出の制御を開始する。まず、制御回路
（１１）は積分クリア信号（ＩＣＧＳ＞を光電変換回路
〈１０）に出力し、各フォトセンサーを初期状態にリセ
ットすると共に、上記信号（ＩＣＧＳ）によって輝度モ
ニター回路（ＭＣ）の出力（ＡＧＣＯＳ）を初期状態の
電源電圧レベルまで回復させる。そして、この積分クリ
ア信号（ＩＣＧＳ）が消滅すると同時に、光電変換回路
（１０）の各フォトセンサーが光積分を開始すると共に
、輝度モニター回路（ＭＣ）が被写体の輝度の測定を開
始し、その出力（ＡＧＣＯＳ）は被写体輝度に応じた速
度で初期状態の電源電圧より降下していく、利得ｆ、Ｉ
Ｊ御回路（５）は、基準電圧発生回路（Ｒ９）の出力で
ある基準電圧（ＤＯＳ）と輝度モニター回路（Ｍ　Ｃ）
の出力（ＡＧＣＯＳ）とを入力とし、基準電圧（Ｄ　Ｏ
Ｓ　）をもとにして作られた４段階の他の基準電圧を内
部でつくり、これらの電圧と輝度モニター電圧（ＡＧＣ
ＯＳ）とを比較し、利得を決める。積分クリア信号（ｆ
ｃＧｓ）の消滅から所定時間Ｔ　Ｍ　１　（３２ｍ５ｅ
ｃ＞内に輝度モニター回路（ＭＣ）の出力（ＡＧＣＯＳ
＞の電圧降下が大きく、所定電圧以下になると、利得制
御回路（５）からＨｉｄｌ】レベルの（ＴＩＮＴ）信号
が出力され、制御回路（１１）とオア回路（ＯＲ＞に出
力される。この出力信号はオア回路（ＯＲ）を通してシ
フトパルス発生回路（６）に入力され５シフトパルス発
生回路（６）はこれに応答してシフトパルス（ＳＨ）を
光電変換回路（１０）に出力する。この信号（Ｓｌ（）
により光電変換回路（１０）の各フォトセンサーは積分
を終了し、蓄積された電荷がＣＣＤシフトレジスタ（Ｓ
Ｒ）の対応するセルにパラレルに転送される。

一方、１１ｍ回路（１１）は撮影準備スイッチ（Ｓｌ）
がＯＮした時間からクロックパルス（ＣＬ）を転送パル
ス発生回路（７）へ出力する。そして、この転送パルス
発生回路（７）はクロックパルスに基づいて、互いに位
相が１８０°ずれた転送パルスφ１．φ２を出力する。

転送パルス発生回路（７）は、オア回路（ＯＲ）の出力
がＨｉｇｈレベルになると、これと同期して立ち上がる
転送パルス（φ１）を出力する。すなわち、転送パルス
（φ１）はシフトパルス（ＳＨ）と同期することになる
が、ＣＣＤシフトレジスタ（ＳＲ）は、わずかながら光
感度を有するため、前記シフトパルス（ＳＨ）と転送パ
ルス（φ１）とが同期していない場合には、同期してい
ないずれ時間だけ、ＣＣＤシフトレジスタ（ＳＲ）は光
を感じ、光の強度に応じた電荷が誤信号として蓄積され
る。そこで転送パルス（φ１）をシフトパルス（ＳＨ）
に同期させて、前記ずれ時間をなくし、誤信号が発生し
ないようにしている。この後、転送パルス発生回路（７
）から前記転送パルス（φ１）、（φ２）が光電変換回
路（１０）に送られる。光電変換回路〈１０〉はこれら
の転送パルスのうち（φ１）の立ち下がりに同期して、
ＣＣＤシフトレジスタ（ＳＲ）に蓄えられた電荷がセル
の端（第７図のセルの１番）から順に、映像信号（ＯＳ
）として出力され、減算回路（４）に出力される。映像
信号（ＯＳ）は、対応するフォトセンサーに入射する光
の強度が強い程、低い電圧となっており、減算回路（４
）で基準電圧（ＤＯＳ）から減算された電圧（ＤＯＳ−
Ｏ３）が画素信号として出力される。

前記積分クリア信号（ＩＣＧＳ）の消滅後、積分制御時
間Ｔ　Ｍ　１　（３２ｍ５ｅｃ＞以内に輝度モニター回
路（Ｍ　Ｃ）の出力電圧（Ａ　Ｇ　ＣＯＳ　”）が所定
電圧以下にならず、利得制御回路（５）から（ＴＩＮＴ
）信号が出力されない場合、積分制限時間ＴＭＩ（３２
ｍｓｅｅ）の経過後に制御回路（１１）は、シフトパル
ス発生指令信号（ＳＨＭ）をオア回路（ＯＲ）を通して
シフトパルス発生回路（６）に出力する。シフトパルス
発生回路（６）は、この信号を受けてシフトパルス（Ｓ
Ｈ）を光電変換回路（１０）に出力し、フォトセンサー
アレイ（ＰＡ）の蓄積電荷をＣＣＤシフトレジスタ（Ｓ
Ｒ）に転送させる。そして前述の場合と同様に、転送パ
ルス（φ１）、（φ２）によって映像信号出力回路（Ｖ
ｓ）から映像信号（Ｏ９）が出力され、減算回路（４）
から（ＤＯＳ−Ｏ３）が画像信号として出力される。ピ
ークホールド回路（１）は、ＣＣＤシフトレジスタ（Ｓ
Ｒ）の７番目から１０番目のアルミマスク部に対応する
画素信号（ＤＯＳ−Ｏ３）が出力されたときに、制御回
路（１１）から送られてくるサンプルホールド信号（Ｓ
／Ｈ）を受け、それらの画素信号を保持する。この信号
は利得可変増幅回路（２）に出力され、この信号と減算
回路（４）から出力される１１番目以降の画素信号とが
利得可変増幅回路（２）で減算され、この差の出力が、
利得制御回路（５）により制御される利得で増幅される
。この増幅された信号はＡ／Ｄ変換回路（３）でＡ／Ｄ
変換され、画素信号データとして、制御回路（１１）を
通して演算判別回路（１２）に出力される。一方、利得
制御回路（５）で得られた利得制御データも制御回路（
１１）を通して演算判別回路（１２）に送られ、その結
果、演算判別回路（１２）では、両データの演算が行な
われる。

この演算の結果、焦点検出可能と判断されたときには、
合焦までの像のずれ量が演算判別回路（１２）で演算さ
れる。また、像のずれ量に相当するだけのレンズの駆動
量も前記画素信号データにもとづいて演算判別回路（１
２）で演算され、レンズ駆動装置（８）に出力される。

この駆動装置（８）は、撮影レンズ（９）を前記レンズ
の駆動量だけ駆動する。そして撮影レンズ（９）が合焦
位置に到達するまで、制御回路（１１）は積分クリア信
号（Ｉ　ＣＧＳ）発生からレンズ駆動までのシーケンス
を繰り返す。前記焦点検出の演算の結果、焦点検出不能
と判断されたときには、表示回路（１３）において焦点
検出不能の表示が行なわれる。前記焦点検出が、低輝度
（ＬＯ−ＬＩＧＨＴ）の為に焦点検出不能と判断したと
きに、補助光による焦点検出が可能であれば制御回路（
１１）からの指令で、補助光による焦点検出を行う。

第９図は第８図の利得制御回路（５）及び利得可変増幅
回路（２）の−例を示している。第９図において、（Ｔ
ｌ　１）、（ＴＩ　２）、（Ｔｌ　３）は、各々第２図
の端子（Ｔ　１　）、（Ｔ　２　＞、（Ｔ　３　）に接
続される端子である。（Ｔ１４）は設定された積分制限
時間ＴＭ１（３２輪５ｅｅ）の経過後、制御回路（１１
）から出力されるシフトパルス発生指令信号（ＳＨＭ）
を入力する端子、（Ｔ１５）は積分制限時間内に第６図
におけるゾーン（Ｅ）に入った時に出力される（ＴＩＮ
Ｔ）信号の出力端子、（Ｔ１６）は利得可変増幅回路（
２）で増幅された画素信号を、Ａ／Ｄ変換回路（３）に
出力するための出力端子である。（Ｂｌ）。

（Ｂ　２　）、（Ｂ　３　’）はバッファ、（４）は映
像信号（電圧）Ｏ８と基準電圧（Ｄ　ＯＳ　）とをｉＩ
ｉ！２算する減算回路、（１）は暗出力補正データを保
持するピークボールド回路である。

まず、利得制御回路〈５）から説明すると、積分クリア
信号（ＪＣＧＳ）の消滅後、輝度モニター回路（Ｍ　Ｃ
）の出力電圧（ＡＧＣＯ９）の降下の程度をステップ的
に判別するコンパレーター（Ａｃｔ＞。

（ＡＣ２）、（ＡＣ３）、＜ＡＣ４）が設けられている
。

各コンパレータの反転入力はバッファ（Ｂ１）を介して
輝度モニター回路（ＭＣ）の出力電圧（Ａ　Ｇ　Ｃ０９
）が入力される端子（Ｔｌｌ）に夫々接続されている。

コンパレータ（Ａ　Ｃ１）、（Ａ　Ｃ２＞、（Ａ　Ｃ３
）、（ＡＣ４）の非反転入力は、抵抗（Ｒ１）と定電流
（ＩＳＩ）との接続点（Ｊ７）、抵抗（Ｒ２）と定電流
（ＩＳ２＞との接続点（Ｊ６）、抵抗（Ｒ３）と定電流
（ＩＳ３）との接続点（Ｊ５）、抵抗（Ｒ４）と定電流
（ＩＳ４）との接続点（Ｊ４）に夫々接続されている。

抵抗（ｒ（１）、（Ｒ２）、（Ｒ３）、（Ｒ４）は、バ
ッファ（Ｂ２）を介して基準電圧（Ｄ　ＯＳ　）が入力
される端子（Ｔ１２）に接続されている。コンパレータ
ーの基準電圧は、基準電圧発生回路（Ｒ３）の出力電圧
（Ｄ　ＯＳ　）から、（抵抗の値）とく定電流の値）と
を掛けた電圧を減算したものであり、抵抗の値と定電流
の値とを適当に選べば任意の基準電圧を作ることが可能
である。このようにして所望のコンパレーターの基ｉ’
ｉ＠電圧をステップ的に作れば、輝度モニター回路（Ｍ
Ｃ）の出力電圧（ＡＧＣＯ３）の降下の程度に応じて、
ステップ的にコンパレーターを反転させることが可能と
なる。コンパレーター（ＡＣ１）、（ＡＣ２）、（ＡＣ
３）の出力は、夫々Ｄフリップフロップ（Ｄ　Ｆ　１　
）、（Ｄ　Ｆ　２）、（Ｄ　Ｆ　３）のデータ端子（Ｄ
）に入力されている。これらのＤフリップフロップのデ
ータを取り込むタイミングを決定するクロックパルスの
入力端子（ＣＰ）には、制御回路（１１）のシフトパル
ス発生指令信号〈ＳＨＭ）が入力される。具体的には、
積分制限時間Ｔ　Ｍ　１　（３２麟５ｅｅ）の経過後に
シフトパルス指令信号（ＳＨＭ）がクロックパルスの入
力端一７’（ＣＰ）に入力され、このタイミングでコン
パレーター〈ＡＣ１）、（ＡＣ２）、（ＡＣ３）の情報
を取り込む。コンパレーター（Ａ　Ｃ４）の出力信号（
ｅ）は、積分制限時間内に輝度モニター回路（ＭＣ）の
出力電圧（ＡＧＣＯ９）が第６図のゾーン（Ｅ）に入っ
た時に出力される（ＴＩＮＴ）信号である。アンド回路
（ＡＮｌ）はＤフリップフロップ（ＤＰＩ）の出力Ｑと
、同じくＤフリップフロップ（ＤＦ２）の出力口とを入
力とし、アンド回路（ＡＮ２）はＤフリップフロップ（
ＤＦ２）の出力Ｑと、同じくＤフリップフロップ（Ｄ　
Ｆ　３　）の出力口を入力とし、出力信号を夫々（ｂ）
、（ｅ）としている。また、Ｄフリップフロップ（Ｄ　
Ｆ　１　）の出力Ｑの出力信号を（ａ）、Ｄフリップフ
ロップ（ＤＦ３）の出力Ｑの出力信号を＜ｃｌ）とし、
これらの信号（ａ）　、　（ｂ）　、　（ｃ）　、　（
ｃｌ）と（ＴＩＮＴ）信号（ｅ）は、それぞれ第６図の
ゾーン（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）。

（Ｄ）、（Ｅ）に対応している。これらの信号の状態を
第１表に示す。

これらの信号のうち（ａ）　、　（ｂ）　、　（ｃ）　
、　（ｄ）を受け、各信号に対応する利得が次に説明す
る利得可変増幅回路（２）において設定される。利得可
変増幅回路〈２〉において、（ＣＰ）は演算増幅器であ
り、その入力端子（ｆ）、（ｇ）は入力抵抗（Ｒ５）、
（Ｒ６）を介して、減算回路（４）、サンプルホールド
回路（１）に夫々接続されている。抵抗（Ｒ５）〜＜Ｒ
１４）は利得を決定する抵抗であり、抵抗（Ｒ５）、（
Ｒ６）。

（Ｒ７）、（Ｒ８）、（Ｒ１１）、（Ｒ１２＞の抵抗値
をｒとすると、抵抗（Ｒ９）、（Ｒ１３）は２「、抵抗
（ＲＩＯ）、（Ｒ１４）は４ｒとなるような抵抗比を持
つ抵抗値に設定しである。（ＡＳＩ）〜（ＡＳ８）はア
ナログスイッチであり、前記（ａ）　、　（ｂ）　、　
（ｅ）　、　（ｄ）の信号を受け、アナログスイッチ（
ＡＳＩ）〜＜Ａ　Ｓ　４　）は抵抗（Ｒ７〉〜くＲ１０
）を選択し、演算増幅器（ＯＰ）の帰還抵抗値と決める
のに対し、アナログスイッチ（ＡＳ５）〜（ＡＳ８）は
抵抗（Ｒ１１）〜（Ｒ，１４）を選択し、演算増幅器（
ＣＰ）のバイアス抵抗値３決めている。前記（ａ）　、
　（ｂ）　、　（ｃ）　、　（ｄ）の各信号が夫々ｒＨ
ｉｇＪになるときに導通するアナログスイッチ（ＡＳＩ
）〜（ＡＳ８）との対応及びそのときに選択される抵抗
と利得を７ｊｃ２表に示す。

（以下余白） 第１表 ＠２表 第１０図は本実施例に係る測光袋ｄ分用いたカメラの動
作を制御する回路の全体構成ご示すブロック回路図であ
る。（２１）はカメラ全体を制御するマイコンである。

（２２）は交換レンズであり、このレンズには、各種の
レンズデータを記憶しているＲＯＭが内蔵されており、
ＲＯＭの記憶内容は、マイコン（２１）の命令によって
カメラに読み出されるようになっている。（２３）は、
レンズを駆動するモーター及びこのモーターをυ制御す
るオートフォーカス制御部であり、マイコンく２１）か
らの信号によって制御される。（２４）は第８図に示す
回路図の点線で囲まれる制御回路部（１５）のうち制御
回路（１１）を除いた回路部であるオートフォーカス検
出部、（２５）はマイコン（２１）からのデータに基づ
いてシャッター及び絞りを制御する露出制御部、（２６
）は撮影画面の略全域を測光する受光素子を含む測光部
である。（３０）は測光部の出力を入力して、光源が蛍
光灯であるが否かを検出する蛍光灯検出回路である。（
２７）は容器上にフィルムの特性がコードパターン（以
下ＤＸコードという）として示されているフィルムのコ
ードパターンを読み取る回路である。（２８）は外部装
着されるストロボで、焦点検出時に使用される補助光を
有している。（２９）は撮影情報及び焦点検出の状態を
表示する表示部である。（ＳＬ＞は、レリーズボタンの
第１ストロークでＯＮされる撮影準備スイッチ、（Ｓ２
）はレリーズボタンの第２ストロークでＯＮされてレリ
ーズを行なう為のレリーズスイッチ、（ＢＬＳＷ）は、
波長が長くなるにつれ、出力（強度）が大きくなる第１
光源の光に対して、波長が長くなってもその出力がほぼ
一定に保たれるように光源、或いは、そのカバーの全体
或いは一部が青くなっている所謂ブルーフラットと呼ば
れる光源を使用するときに撮影者の操作によってＯＮす
るスイッチである。

以上から構成される回路の動作を第１１図に示したマイ
コン（２１）の概略のフローチャートを参照してＳ（！
明すると、まず回路全体の電源である電池（Ｅｌ）が装
着されると、端子（ＣＬＲ）に「Ｌ」レベルからｒＨ，
レベルに変わる信号が入力し、マイコン（２１）は、ス
テップ＃０からのフローを実行する０次に、マイコン（
２１）は、入出力端子及び内部レジスタフラグをすべて
イニシャライズして、撮影準備スイッチ（Ｓｌ）がＯＮ
されているかを判定する（＃５．１０）、このスイッチ
（Ｓｌ）がＯＦＦである場合には、ハード的にＡＰ検出
部（２４）へのクロックが停止され、フローではレンズ
を駆動するモーターの回転を停止させ、測光及びオート
フォーカスを停止させる（＃１５〜２５）、そして、表
示をすべて消灯させて、給電用トランジスタ（Ｔｒｉ）
を０ＦＦＬ、フラグをすべてリセットして、ステップ＃
１０に移行する（＃３０〜４０）。

ステップ＃１０で撮影準備スイッチ（Ｓｌ）がＯＮのと
きは、ハード的にＡＦ検出部（２４）へのクロックが開
始され、フローではステップ＃４５に進み、給電トラン
ジスタ（Ｔｒｉ）をＯＮにする。これによって各回路へ
の給電が行なわれる。マイコンく２１）は測光をスター
トさせ、ＤＸコードを読みとり、交換レンズ（２２）か
らレンズ情報を入力する（＃５０〜６０）、この入力方
法に関しては、例えば特開昭６０−４９１５号公報など
に開示されているが、本発明に直接関係しないので省略
する。

この入力情報としては、１ｍ放絞り値、焦点検出可能な
レンズか否かを示す信号、開放状態でレンズが最も繰り
出しな状態での絞り値く最も大きい絞り値）、及びデフ
ォーカス量をモーターの回転数に変換する為の変換係数
（ＫＬ）が入力されている一次にＡＰ動作をスター１へ
させ、ＣＣＤへの積分を行なわせる（＃６５．７０＞、
積分が終了すると、映像データを入力し、このデータを
所定の演算式に基づいて演算し、デフォーカス量を求め
る（＃７５．８０）、この演算結果にもとづいて、焦点
検出可能か否かを判定し、可能でない場合、所定の処理
を行なって撮影画面のスポット部の輝度（ＢＶｓｐ）及
び略画面全体の輝度（ＢｖＡｖ）を求める（＃８５．９
０，１０５．１１０）、一方、ステップ＃８５において
焦点検出可能であれば、このときも所定の処理を行ない
、スポット部の輝度をロックしているかを判定し、ロッ
クしている場合にはステップ＃１１０へ、ロックしてい
ない場合には、ステップ＃１０５に進む（＃９５．１０
０）。マイコンく２１）は、略画面全体の輝度（ＢＶＡ
Ｖ）を求めたあと、上記スポット部の輝度（Ｂ　ｖｓｐ
）と略画面全体の輝゛度（ＢＶＡＶ）とから露出用の輝
度を求め（＃１１５）、そして露出値を求めて表示する
（＃１１５〜１２次に、レリーズスイッチ（Ｓ２）がＯ
Ｎされているかを判定して、ＯＮされているときには、
レンズ駆動用のモーターを停止して、露出制御を行なう
、スイッチ（Ｓ２）がＯＮされていないときはステップ
＃１０に移行して、以後のフローを実行する。

第１２図及び第１３図に、第１１図のステップ＃６５の
ＡＦ動作スタートからステップ＃１１５の測光演算まで
の詳細なフローチャートを示し、説明すると、ステップ
＃１４５で、補助光発光モードを示す補助光フラグがセ
ットされているかを判定し、セットされていないときに
は、ステップ＃１６０に移行し、セットされているとき
には、補助光発光を示す発光フラグをセットして補助光
の発光を示す信号を出力する（＃　１４５〜１６０）。

これによって補助光発光が行なわれる０次にマイコン（
２１）は、スポット部測光用のカウントレジスターをリ
セットする。ここで、ＡＦ検出に用いられるモニター用
の受光素子を用いて、スポット部の測光を行なうことを
説明する。

上記マイコン（２１）にはタイマーカウント用のレジス
ターが用意され、積分開始からの時間経過をカウントし
、カウント値が２μｓｅｅ毎に１だけカウントレジスタ
ーに加算されていくようにする。

このカウント値を読むことによって、スポット部の輝度
が分かる。積分時間が３２ｍ５ｅｃを経過すると、積分
が終了するため、積分時間を利用して輝度を求めること
ができない。そこで、３２ｍ５ｅｃを経過したときには
、受光素子のモニターの出力を検出することによって輝
度が求められる。具体的には、ＣＣＤの積分データを増
幅するためのＡＧＣデータ及び画素出力を用いて行なっ
ている。このスポット部の輝度とカウントレジスターの
内容及びＡＧＣのデータの関係を第３表及び第４表に示
す６表において、明るさはアペックス値（Ｂν）で示し
ている９表から明らかなようにＢｙ値が１３から３まで
はカウントレジスタの内容、Ｂｙ値が２から−１までは
ＡＧＣデータ及びモニター受光部の下にあるＣＣＤ画素
（３１〜５７）の平均を求めている（第７図参照）、そ
して、Ｂｙ値の最小単位は１八ＢＶとしており、これを
説明すると、ＢＶ値が１３から３までは、１が立ってい
る最大ビットのところをＢｖ値の整数値とし、それより
下位３ビツトを順に’／２ＢＶ、’／、ＢＶ、’／ＩＢ
Ｖとしている。

例えばａｌｌが１が立っている最大ビットとし、・・・
ａｌｌ＋”ｌ。、＆　Ｉ　＋　＆　Ｉ・・・・＝・・・
　１０１０・・とすれば、そのときの明るさは、５・（
’／、　Ｂ　ｖ）となる、Ｂｙ値が２から−１までは、
ＡＧＣデータによりＢｖ値の整数値を求め、１へＢｖ単
位は、ＣＣＤの画素出力より求めている。また、別の明
るさの求めかたとして、Ｉｌｖ値をＡＧＣデータ１゜２
．４に対してそれぞれ１．５．０．５．−０．５とし、
そして、ＣＣＤ画素がとりうる電圧の半分を基準とし、
ＣＣＤ画素の平均をこの基準からの偏差として「八・Ｅ
ｖ単位のΔＢｖを求めて、上記Ｂｖ値１゜５，０．５．
−０．５に補正することも考えられる。

（以下余白） 第３に 第４表 第１２図のフローチャートにもどり、マイコン（２１）
はカウンタの内容をリセットしたのち、積分スタートを
示すパルスの積分クリア信号を出力する。そして積分の
時間を計時するタイマーをリセットしてスタートさせる
（＃１７０）、上述したようにこの積分の間に、上記タ
イマーが１２５μｓｅｃ経過する毎に、カウントレジス
ターはカウントアツプするようになっている。積分開始
から３２　ｍ５ｅｃを経過しない内にモニターの出力が
所定値に達すると、積分終了を示す（ＴＩＮＴ）信号が
、利得制御回路（５）からマイコン（２１）に出力され
る。マイコン（２１）はこれによりステップ゛＃１７５
からステップ＃２００に移行し、上記タイマーをストッ
プさせて、低輝度であることを示す低輝度フラグ（ＬＬ
Ｆ）をリセットして、ステップ＃２１０に進む（＃　２
００．２０５）、一方、３２ｎｓｅｃ以内に研分が終了
しない場合、３２ｍ５ｅｃを経過すると、ステップ＃１
８０から＃１８５に進み、シフｊ〜パルス発生指令信号
（ＳＨＭ）を出力する。そしてタイマーをストップさＵ
゛、低輝度フラグをセットして、補助光発光を停止させ
る（＃１９０．１９５．２１０）、そして、マイコン（
２１）は積分の終わったＣＣＤのデータを入力する。

このときピークホールド回路（１）でデータをホールド
する為のサンプルホールド信号を出力する。

この入力したデータにもとづいて、デフォーカス演算を
してデフォーカス量（Δε）を求め、この結果にもとづ
いて、焦点検出可能か否かを判断し、焦点検出が可能な
場合にはステップ＃２１５に進む、ステップ＃２１５で
は、ローコントラストを示すローコントラストフラグ（
ＬＣＦ）をリセットし、デフォーカスｔ＜Δε）が所定
値（ε１）よりも小さいか否を判定する（＃２２０）、
この所定値（ε１）よりも小さければ合焦していること
を示し、小さいときには、金魚フラグ（合焦Ｆ）をセン
トして、合焦表示をする（’＃　２２５．２３０）。一
方、ステップ＃２２０で、合焦していないと判定すれば
、合焦フラグ（き焦Ｆ）をリセットし、交換レンズ（２
２）から入力した変換係数（ＫＬ）をデフォーカス量に
掛けてモーターの回転移動ｆｆｉ　（ｎ）を求め、この
Ｍ（回転数）だけモーターを駆動する（＃２３５〜２４
５）、そして、合焦表示を行なったときら同様にスデン
プ＃１００に進んで、スボッ１〜部の輝度値をロックし
たことと示すフラグ（ＢｖｓｐＬＦ〉をｆｌｌ定し、こ
のフラグがリセッ１〜されていればステップ＃２８５へ
、セラｌ−されていればステップ＃３２０に進む。

ステップ＃８５で焦点検出不可と判定すれば、ローコン
トラストフラグ き焦フラグ（合焦Ｆ）をリセットするｉ＃２５０、２５
５）。次に利得のデータ（Ａ　Ｇ　Ｃ　’Ｉが２以上で
あるかを判定して、２未満であればローコントラストと
して、コントラストを検出するために、レンズを駆動す
るモーターを駆動させる（＃　２　７　５、２８０）、
利得データ（Ａ　Ｇ　Ｃ　）が２以上であれば、補助光
発光可能か否かを判定する（＃２６５）、具体的にはス
トロボが装着され、その電源が投入されているかをスト
ロボからの信号によって判定する。補助光発光不可能で
あればステップ＃２７５に、発光可能であれば補助光フ
ラグ（補助光Ｆ）をセットして、ステップ＃２８５に進
む（＃２７０）。

ステ・・ノブ＃２８５では低１度を示す低輝度フラグ（
ＬＬＦ）を判定し、このフラグがセラ１へされていれば
、利得データ（Ａ　Ｇ　Ｃ　＞を入力して、これにもと
づきスポット部の輝度（Ｂｖｓｐ）の整数部分を求め、
次に’／ａＢｖ単位を求めるためにＣＣＤ画素り３１〜
５７）の部分の出力データ（データダンプで入力済）を
平均してこれをｌへＢｖに直して輝度（Ｂｖｓｐ）を求
める。そして、低輝度フラグがセントされていなければ
、カウンタレジスタの内容を判別して、スポットの輝度
（Ｂ　ｖｓｐ）を求める（＃　２　８　５〜３０５）、
ブルーフラット等の特定光源の使用を示すスイッチ（Ｂ
ＬＳＷ）がＯＮされているとき、スボッｌ−の輝度（Ｂ
　ｖｓｐ）に所定量（０．５Ｅν）だけ加えて、新たに
輝度（Ｂ　ｖｓｐ）を求める（＃３１０、３１５）。Ｏ
Ｎされていないときには、ステップ＃３１５をスキップ
して、ステップ＃３１５と同様に、ステップ＃３２０に
進む。

ステップ＃３２０では測光回路（２６）から略画面全体
の輝度（ＢＶＡＶＯ）を入力して、レンズの開放絞り値
（Ａｖｏ）をこれに加える（＃　３　２　０，３２５）
。

そして次のような場合には露出に使用する明るさとして
、略画面全体の輝度（ＢｖＡｖｏ＞５：使用する（＃３
７０）。

い）ローコントラストフラグ（ＬＣＦ）がセットされて
いるとき（＃３３０）、これは、合焦検出が不可能な場
合、スポット部がどの場所を測光しているかがはっきり
せず、意図している被写体を測光しない可能性があるか
らである。

（ｉｉン補助光が発光したことを示す発光フラグ〈発光
Ｆ）がセットされているとき（＃３３５）、これは補助
光として近赤外光を被写体に向けて発光するので確かな
被写体輝度が得られないからである。

（ｉｉｉ）スポット部の輝度（Ｂｖｓｐ）が−１以下の
とき（＃３４０）。この理由としてはまず、それほど暗
い被写体では、平均測光でもスポット測光でも変わらな
いからであり、別の理由としては，−１以下は具体的な
輝度として測れないからである９（ｉｖ）焦点検出がで
きないレンズが装着されたとき（＃　３　−′１　５　
）、これは、第３図の光学系において、開放絞り値が大
きくなると、光束の一部がけられ、モニターに入射して
くる光が同一の被写体輝度に対して一定とならないから
である．このことは開放絞り値が大きい場合ばかりでな
く、反射望遠タイプのレンズについても言えることであ
る。

（ｖ）繰り込んだ状態の有効絞り値（　Ａ　ｖ　。公称
開放絞り値）と縁り出した状態の有効絞りｌｉｆｔ　（
　Ａ　ｖ　ｏ　１）との差が０　、５　Ｅｖ以上あると
き（＃３５５）。モニター用の受光素子は、絞りによる
けられかない限り、レンズの開放絞り値（繰り込んだ状
態の有効絞り値）に関係なく、被写体の輝度（Ｂｖｓｐ
）そのものを測光している．従って、開放絞り値からの
絞りの絞り段数で制御を行なう場合、絞り段数が同一の
ため、上記繰り込んだ状態の有効絞り値（Ａｖ。）と、
繰り出した状態の有効絞り値（Ａｖｏｌ）の差の分だけ
誤差となって現れる。

（ｖｉ）蛍光灯下で撮影が行なわれているときく＃３２
８）、なぜなら、蛍光灯下では、蛍光灯の特性により一
定周期内Ｃｌ／（使用されている電源周波数の倍の周波
数）〕で、その明るさが時々刻々と変わる。スポット測
光を行なっているモニター用受光素子では、明るさの変
化を平滑するような構成をとっておらず、積分時間が上
記蛍光灯の周期よりも短い場合には、蛍光灯の特性に応
じて積分時間が変わり、この積分時間でもって被写体の
明るさを判別している本実施例では、当然のことながら
、測光毎に被写体の明かるさのデータは変化する。

以上６つの場合は、夫々の理由により、露出用の輝度と
して、略画面全体の輝度（ＢＹＡＶ）を使用する（＃　
３２８〜３５０．３７０）、上記以外の場合には、ステ
ップ＃３５５に進み、スポットの輝度（Ｂ　ｖｓｐ）と
略画面全体の輝度（ＢｖＡｖ）との差の絶対値が２以上
あるか否かを判定し、２以上ある場合には、逆光状態で
の撮影、あるいは舞台での撮影として、スポットの輝度
（Ｂ　ｖｓｐ）を露出用に使い、（あるいは、スポット
輝度に重みづけしたスポット輝度と平均輝度からの合成
輝度を用い）、２未満であれば両者の平均をとって露出
用の輝度とする（＃　３６０．３６５）。

次にステップ＃３７５に進み、合焦フラグ（合焦Ｆ）が
セットされているときには、次の測光でスボッｌ一部を
メモリーするように、フラグ（ＢｖｓｐロックＦ）をセ
ットし、合焦フラグがセットされていないときには、ス
テップ＃３８０をスキップし、第１１図に示すステップ
＃１２０の露出演算のフローに進む。

以上が本実施例によるマイコン（２１）のフローチャー
トである。

なお、上記の説明ではＡＧＣのデータを利用して輝度を
求める場合の’／ａＢｖ単位の求め方としてＣＣＤの画
素（３１〜５７）のすべてを平均したが、ＣＣＤ画素（
３１〜５７）の最大値と最小値との平均をとって、これ
を’／ｓＢｖ単位に直しても良い。

次に第２の実施例の要部正面図を第１４図に示す、第１
４図は、第１図に示したモニター用受光素子（ＭＰＩ）
をＣＣＤよりなるイメージセンサ−（■１）の長さと同
じにし、かつ両側に設けた。これは第１図に示すモニタ
ー（ＭＰＩ）だけでは受光範囲が狭すぎるため、その一
部に、特に輝度の高いものがある場合に、正しい測光値
を得る事ができないという問題がある・からである。

尚、このようにすると、第４図に示すモニター回路（Ｍ
Ｃ）を一部変更しなければならない、それを第１５図に
示し、第４図との違いのみを述べると、モニター用受光
素子（ＭＰｌｌ）とＦＥＴ回路（Ｃ１２）からなる回路
に並列に、モニター用受光素子（ＭＰＩ２）とＦＥＴ回
路からなる回路を設ける。それ以外は第４図に示す回路
構成と同じであるが、受光素子の面積がｎ倍かつ２個に
なったので、これに合わせて、コンデンサー（Ｃ１）の
容量を２ｎ倍にしたコンデンサー（Ｃ１ｌ）とする必要
がある。これは第４図におけるコンデンサー（Ｃ１）を
２ｎ個並列にしても同じである。

前述の実施例では、積分時間及び利得のデータを用いて
スポット部の輝度を求めたが、モニター用受光素子（Ｍ
Ｐ）の光電流を対数圧縮してこの電圧を変換することに
よってもスポット部の輝度を求めることができる。この
場合の回路構成を第１６図に示して説明すると、モニタ
ー用受光素子（ＭＰ）の両端に演算増幅器（ＯＰＩ）の
入力が図で示されるように接続され、演算増幅器（ＯＰ
Ｉ）の出力を圧縮ダイオード（ＤＩＯ）を介して、入力
に帰還をかける構成をとっている。この演算増幅器（Ｏ
ＰＩ）の出力に伸張トランジスタ（Ｃ３０）を設け、そ
のコレクターにモニター出力用コンデンサー（Ｃ１）を
接続し、このコンデンサーにスイッチングトランジスタ
（Ｃ３１）を並列に接続し、第４図におけるＦＥＴ回路
（Ｑｌ）の代わりを行なわせる。

演算増幅器（ＯＰＩ）の出力は、バッファ（ＢｕＦ３０
）にも送られ、このバッファ（ＢｕＦ３０）の出力をＡ
／Ｄ変換器（３０）でＡ／Ｄ変換してマイコン（２１）
に送っている。従ってマイコン（２１）でも、これを入
力するための新たな端子が必要となる。

このデジタル信号がスポット部の輝度を示す、これに対
して必要なフローチャートの変更は次の通りである。

（Ｎ第１２図に示すステップ＃１９５、＃２０５を削除
する。これに（ｆないステップ＃２８５〜＃３０５を削
除し、代わりにＡ／Ｄ変換器（３０）の出力を入力する
ように構成する。

（ＩＩ）ステップ＃１５０及び＃３３５を削除する。

なぜなら、第１６図の構成では、精分をしておらず、洛
に明るさをモニターしており、また、補助光の発光は積
分終了で終えている。これに加えて、スポット部の輝度
のデータ取り込みはデフォーカス演算が終了した後であ
るので、Ａ　、／　Ｄ変換は一度必ず終えており、この
デジタル信号は補助光の影響を受けていないから、上記
ステップを削除するものである。

モニター用受光素子に用いる回路の第２の変形例を第１
７図に示す、この回路はＣＣＤへの積分を行なっている
ときと、これを終了した後で、受光素子の出力を切り換
えるようにしたものである。

切換信号（Ｉ　ＳＴ＞を積分開始時に「Ｌ」レベルとし
、積分終了時に「Ｉ（」レベルとなるようにマイコン（
２１）にて制御するように構成すれば良い、マイコン側
でのフローの変更箇所については上記切換信号（Ｉ　Ｓ
Ｔ）の制御用のフローを加えれば、第１６図の場合につ
いて説明したものと同じである。なお、第１６図及び第
１７図の回路では、マイコンはカウンタレジスタを必要
としない。

第１８図はモニター用受光素子の変形例を示し、第１９
図はその等価回路及びモニター用受光素子の出力の取り
出し方を示す回路図である。第１８図において、（１０
０）はＣＣＤのフォトダイオード、（１０１）はＣＣＤ
のフォトダイオードの間に置かれたモニター用の受光素
子たるモニタフォ１−ダイオードである。このフォトダ
イオード（１０１）の両側には、チャネルストッパー（
１０２）を設けてあり、モニター用のフォトダイオード
（１０１）とＣＣＤのフォトダイオード（１００）との
間でおこる電荷の移動を防止している。モニター用のフ
ォトダイオードは、一つ毎にモニターに使用するものと
、使用しないものとに別れており、使用する方の出力を
平均している９図では使用しないフォトダイオードのカ
ソードを電極■に接続しているがオーブンにしても良い
、これは第７図に示したモニター受光部の面精に対応さ
せるためのものであり、第１８図のモニター用のフォト
ダイオードの大きさに応じて、モニター用に使用する比
率を変えれば良い、第１９図のモニター部における出力
の取り出し方は、第５図の回路について説明した方法と
同じである。

このように構成すれば、第７図の構成の場合と比較して
以下のような効果がある。すなわち、第７図の構成では
モニター部とＣＣＤ１！ｉｉ素部の見ている部分が異な
るので、夫々の明るさが異なる場合があり、これによっ
て次の（イ）（ロ）に示すような測光上及び焦点検出上
の問題点を生じるが、第１８図の構成ではこれらの問題
点を解決することができる。

（イ）まず、測光の場合には、第２図に示したようにモ
ニター部の領域は表示されないので、撮影者は図中輸）
の測距範囲のみに、写そうとする被写体を入れ、図中（
ｂ）のモニター部には入れない事があり、誤測光となる
が、第１８図の構成ではこの間圧が生じない、また、第
２図あるいは第７図の構成と比べて、より広い範囲で平
均した測光１１」力を１テ）ることかできる。

（ロ）次に、焦点検出の場合には、モニター用の出力に
よって精分時間を制御しているので、モニター部とＣＣ
Ｄ画素部の明るさが異なる場合に。

ＣＣＤ画素の出力が必要とされるレベル範囲内に入らず
、正確な焦点検出ができないことがある。

例えばモニター部のみが非常に明るい場合にはＣＣＤ画
素への積分時間が短くなり、ＣＣＤ画素の出力レベルが
低すぎることになり、逆に、モニター部のみが暗い場合
には、ＣＣＤ画素への精分時間が長くなるので、ＣＣＤ
画素の出力が飽和してしまうことがあるが、第１８図の
構成では、この問題は生じない。

次にモニター用受光素子を別設しないで、ＣＣＤ画素出
力を用いて積分時間を制御する方法を説明する。第２０
図の構成は、積分時間を制御するためのモニター用フォ
トダイオードを別設せずに、ＣＣＤ用のフォトダイオー
ドの出力を用いて、精分時間をｉ、ｌＮ御する場合の光
電変換部の要部を示しており、第４図のＣＣＤの部分の
みを取り出したものと同じ構成である。第２１図の回路
では、第２０図に示すＣＣＤにおけるフォトダイオード
の出力を用いて、ＡＧＣ用のモニター出力を作っている
。図においては１つおきの画素毎にアナログスイッチ（
Ｑ、、Ｑ５．・・・）が設けられ、カウンタ出力に応じ
て順々にボトムボールド回路へ入力される。

第２２図はこの状態を示すタイムチャートである。

ＣＣＤの留分開始信号ＩＣＧによりカウンタはリセット
され、ボトムホールド回路は、電源電圧にサンプルされ
る。アナログスイッチで収り出すＣＣＤのフォトダイオ
ードの画素を１つおきにしているのは、各画素をサンプ
ルする時間を長くとる為で、ＣＣＤのフォトダイオード
の画素をどのような間引き方でとりだすかは自由に設定
することができ、例えば１０個おきとしても構わない。

ＣＣＤのフォトダイオードの出力（フローティングゲー
トの出力）は光の強く当たっている画素はど電圧レベル
は低くなるので、アナログスイッチで選ばれる画素の中
で最も強く光が当たっている画素の出力がボトムホール
ド回路でホールドされる。

もちろん、カウンタ出力でスキャンするときの各画素毎
の時間ずれは影響されるがＣＣＤｆｉｆｆ分時間の制御
範囲に対し、スキャン周波数を充分に速くしておけば問
題はないゃボトムホールド回路の出力は、今までの実施
例と同じくバッファ（ソースフォロワ−）を介して、（
ＡＧＣＯ３＞として出力されるものであり、その後の処
理については既に述べた実施例と同じである。

以上のように構成すれば、個々のＣＣＤ画素、あるいは
、少数の領域毎（間引いた時）のＣＣＤ画素のモニター
制御を行なうことができ、ＣＣＤ画素の最高出力の制御
が行なえ、ダイナミックレンジの広いＣＣＤの画素出力
と得ることができ、焦点検出精度があがる。また、モニ
ター用受光素子を別途必要としない、比較例として、第
２０図の構成に代えて、第１８図の構成でモニター用受
光素子の１つ１つをモニター制御することも考えられる
が、この場合には各受光素子毎に出力を取り出す為の回
路（第５図）が別途必要となる。

ところで、第２１図に示されるように、少数のＣＣＤ画
素の領域毎に、ＣＣＤ画素の出力をモニターするという
考えは、第１図に示すモニター用受光素子を複数に分割
することによっても行なえる。これを第２３図及び第２
４図に示して説明する。上記各図において、（ＭＰＤＩ
）〜（Ｍ　Ｐ　Ｄ　４　）は第１図に示したモニター用
受光素子を複数に分割したもので、その出力の取り出し
回路（第２４図）の動作は第２１図に示したものと同じ
であるので省略する。この考えは第１８図に示した構成
についても簡単に応用することができ、モニター用受光
素子を複数個（例えば４つずつ）にして、複数個のモニ
ター部をつくればよい、そして、受光素子出力の読み出
し回路（ＡＧＣＯ８の出力を得る回路）としては、第２
４図に示す回路を使用すれば良い。

次に、モニター用受光素子とＣＣＤ画素の出力とを用い
て被写本輝度を求める方法を示す、この方法はモニター
用受光素子の研分時間によって輝度な求め、これにＣＣ
Ｄ画素から求めた輝度で補正を行なうようにするもので
ある。このときに必要とされるのは一部分だけが明るい
ときにおこるＣＣＤ画素の出力の飽和を防止することで
ある。

これを達成するためには、各画素毎に積分時間を制御す
るモニター部を設けて、最も出力の高いモニター部で全
体の積分時間を制御すれば良い。例えば第１８図及び第
１９図に示したモニター部の１つ１つにモニター用の制
御回路を設けるか、第２１図に示した各ＣＣＤ画素のフ
ォトダイオードの出力で積分時間を制御すれば良い、な
お、各画素毎に、積分時間を制御するように構成すると
、回路構成が複雑となりコストアップとなるため、第１
８図、第１９図、または、第２１図などでは、適当に間
引いて少数単位で漬汁制御するか、あるいは、何個かを
まとめた少数単位で積分制ｔｎすれば良い。第２５図に
は、第１８図に示したモニター用受光素子を３個単位で
１つのモニター部とし、第２１図に示した制御回路で各
モニター部のボトム値をホールドしている回路を示す。

ここでは、ＣＣＤの（工１）部分にこれをおいているの
で、９個（２７画素）のモニター部が形成される。また
、これと同様の回路は第２３図、第２４図の構成を用い
たものでも実現できる。このようなモニター部な用いる
ことによって、ＣＣＤ画素の飽和を防止することができ
る。

このようにして得られるＣＣＤ画素の出力を用いた輝度
の求め方を説明すると、まず精分時間を計測することに
よって、輝度を求める（第３表参照）。そして画素出力
の全甲均、または、ピーク値とボトム値との平均をとっ
て、１へＥｖ単位を求めて」二足輝度を補正する。この
補正値の求め方を簡単に説明すると、まず、画素の出力
がとりうるレンジの１八を決める。そして、このレベル
から画素がとりうる最高値までを’／、Ｅｖ単位で分け
、上記平均値がこのレベル範囲内にあるときには、その
量だけ、モニター部から得た輝度に加える。

同様にして１７２レベルから下方の値に対しても１へＥ
ｖ単位でレベル範囲を設けて、上記画素出力から得た平
均値がこの下側のレベル範囲にあるときは、モニター部
から得た輝度から、レベル範囲の呈だけ減算して、輝度
を得る。第２６図に、このような考え方で第１２図のフ
ローチャートにおける＃１０５の群を変形したフローを
示すにノ土によって得らｈる輝度は、ＣＣＤ上で得られ
た被写体の輝度分布をもとにして得らｈるので、モニタ
ー部のみから得る場ａよりも精確な輝度データが得られ
る。

（発明の効果） 本発明にあっては、上述のように、充電変換素子の蓄績
部への蓄積時間を制御するモニター用受光素子と、合焦
検出を行うための光電変換素子とを用いて、合焦検出中
の被写体の輝度を検出するようにしたので、充電変換素
子がアレイ状に配置された受光部を有することにより広
範囲な領域を測光することができ、被写体輝度に分布が
存在する場合においても、充電変換素子によりこの分布
に応じた測光値を得ることができるという効果があり、
また、輝度測定の範囲については、モニター用受光素子
により充分に広く確保することができ、測光手段を別設
する必要がないので、コストダウンを図ることができる
という効果があり、さらにまた、合焦検出装置と同一場
所　同一時点の測光が行えるので、写したい被写体の輝
度を精確に測光できるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第１の実施例に係る測光装置の要部正
面図、第２図は同上における測距範囲を示す説明図、第
３図は同上の実施例に用いる光学系の概略構成図、第４
図は同上の実施例に用いる光電変換部の回路図、第５図
は同上の光電変換部の要部動作原理を説明するための回
路図、第６図は同上の実施例に用いる輝度モニター回路
の出力電圧の時間的変化を示す特性図、第７図は同上の
実施例に用いるＣＣＤシフトレジスタの構成を示す概略
Ｆ７！成図、第８図は同上の実施例の回路構成を示すブ
ロック回路図、第９図は同上の実施例に用いる利得制御
回路及び利得可変増幅回路の構成を示す回路図、第１０
図は同上の実施例を用いたカメラの動作を制御する回路
の全体構成を示すブロック回路図、第１１図乃至第１３
図は同上の実施例における動作を説明するためのフロー
チャート、第１４図は本発明の第２の実施例に係る測光
装置の要部正面図、第１５図は同上の実施例に用いる輝
度モニター回路を示す回路図、第１６図及び第１７図は
それぞれ第１の実施例に用いる輝度モニター回路の変形
例を示す回路図、第１８図は本発明の第３の実施例に係
る測光装置の要部概略構成図、第１９図は同上の実施例
における受光素子の出力の読み出し回路の構成な示す回
路図、第２０図は本発明の第４の実施例に係る測光装Ｗ
の要部概略構成図、第２１図は同上における受光素子の
出力の読み出し回路を示す回路図、第２２図は同上の動
１１三説明図、第２３図は本発明の第５の実施例に係る
測光装置の要部概略構成図、第２４図は同上の実施例に
おける受光素子の出力の読み出し回路の構成を示す回路
図、第２５図は第１８図に示す第３の実施例についての
受光素子の出力の読み出し回路の他の構成を示す回路図
、第２６図は第１２図に示すフローチャートの変更箇所
を示すフローチャートである。 （１１）はイメージセンサ−１（Ｍ　Ｐ　）、（Ｍ　Ｐ
　１　）。 （ＭＰ　１１＞、（ＭＰ　１２）はモニター用の受光累
子である。

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. （１）アレイ状に配置された複数の受光部と各受光部の
   受光量に応じて電荷を蓄積する蓄積部とを含む光電変換
   素子と、光電変換素子の蓄積部への蓄積時間を制御する
   モニター用の受光手段を有するモニター部とを備え、光
   電変換素子の出力から合焦検出を行う合焦検出装置にお
   いて、前記モニター用の受光手段と前記光電変換素子と
   を用いて合焦検出中の被写体の輝度を検出する手段を備
   えて成ることを特徴とする合焦検出装置を用いた測光装
   置。
2. （２）特許請求の範囲第１項記載の装置において、モニ
   ター部は、複数のモニター用の受光手段と、前記複数の
   受光手段のうち最も出力の高い受光手段の出力を用いて
   蓄積時間の制御を行う手段とを備えて成ることを特徴と
   する合焦検出装置を用いた測光装置。
3. （３）特許請求の範囲第２項記載の装置において、光電
   変換素子の各受光部の間にモニター用の受光手段を配置
   して成ることを特徴とする合焦検出装置を用いた測光装
   置。
4. （４）特許請求の範囲第１項記載の装置において、蓄積
   時間を制御するモニター用の受光手段は、光電変換素子
   の受光部のうちの１つであることを特徴とする合焦検出
   装置を用いた測光装置。
5. （５）特許請求の範囲第２項記載の装置において、複数
   のモニター用の受光手段は、光電変換素子における複数
   の受光部であることを特徴とする合焦検出装置を用いた
   測光装置。