JPS62177460A - コネクタ接続装置 - Google Patents
コネクタ接続装置Info
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- JPS62177460A JPS62177460A JP61017795A JP1779586A JPS62177460A JP S62177460 A JPS62177460 A JP S62177460A JP 61017795 A JP61017795 A JP 61017795A JP 1779586 A JP1779586 A JP 1779586A JP S62177460 A JPS62177460 A JP S62177460A
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- Japan
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- connector
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- test pin
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- Pending
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 54
- 238000007689 inspection Methods 0.000 abstract description 9
- 230000002265 prevention Effects 0.000 abstract 1
- 230000003449 preventive effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、電子回路部品やプリント配線基板の検査試験
を行なうときに用いる信号接続装置に関するものである
。
を行なうときに用いる信号接続装置に関するものである
。
（従来の技術）
従来、電子回路部品やプリント配線基板はエレクトロニ
クス機器、産業機器に多数使用され、その部品、配線鋸
板の検査、試験用のコネクタを用いた接続装置が使用さ
れている。
クス機器、産業機器に多数使用され、その部品、配線鋸
板の検査、試験用のコネクタを用いた接続装置が使用さ
れている。
第５図は、従来の接続方法の検査システムのブロック図
である。同図において、検査器２１に、オスピンコネク
タ２２を取付けたコネクタ取付基板２３を接続し、被検
査回路基板２４にメスピンコネクタ２５を接続し、検査
、試験時には、オスピンコネクタｚ２とメスピンコネク
タ２５を接続するようにしていた。
である。同図において、検査器２１に、オスピンコネク
タ２２を取付けたコネクタ取付基板２３を接続し、被検
査回路基板２４にメスピンコネクタ２５を接続し、検査
、試験時には、オスピンコネクタｚ２とメスピンコネク
タ２５を接続するようにしていた。
第６図は、第５図のコネクタ接続部の拡大斜視図である
。同図において、コネクタ取付基板２３とメスピンコネ
クタ２５の接続するときに、メスピンコネクタ２５は上
部より垂直にオスピンコネクタ２２へ挿入し、メスピン
とオスピンのおのおののピンが接続される信号接続線２
６を介して検査器２１と電気的に接続される。
。同図において、コネクタ取付基板２３とメスピンコネ
クタ２５の接続するときに、メスピンコネクタ２５は上
部より垂直にオスピンコネクタ２２へ挿入し、メスピン
とオスピンのおのおののピンが接続される信号接続線２
６を介して検査器２１と電気的に接続される。
（発明が解決しようとする問題点）
従来の接続装置においては、メスピンコネクタとオスピ
ンコネクタのピン同士を直接接続するようにしているた
め、被検査基板を大量に検査、試験をしようとする場合
、その被検査基板の枚数分だけメスピンコネクタとオス
ピンコネクタがくり返し使用されるためコネクタ着脱時
の衝撃により、オスピンコネクタのピンおよびハウジン
グには、摩耗、変形が生じ、両コネクタ間の接触不良が
発生し、検査、試験の信頼性が低下する欠点があった。
ンコネクタのピン同士を直接接続するようにしているた
め、被検査基板を大量に検査、試験をしようとする場合
、その被検査基板の枚数分だけメスピンコネクタとオス
ピンコネクタがくり返し使用されるためコネクタ着脱時
の衝撃により、オスピンコネクタのピンおよびハウジン
グには、摩耗、変形が生じ、両コネクタ間の接触不良が
発生し、検査、試験の信頼性が低下する欠点があった。
また、両コネクタ間の接触力を強化するため接触圧を高
くすると、着脱は検査員が手で行なうため、力が余分に
必要となり、検査員の肉体的負荷が大きくなり、作業性
が低下する欠点があった。
くすると、着脱は検査員が手で行なうため、力が余分に
必要となり、検査員の肉体的負荷が大きくなり、作業性
が低下する欠点があった。
本発明の目的は、従来の欠点を解消し、大量の検査、試
験に耐えられ、信頼性の高いコネクタ接続装置を提供す
ることである。
験に耐えられ、信頼性の高いコネクタ接続装置を提供す
ることである。
（問題点を解決するための手段）
本発明のコネクタ接続装置は、絶縁ハウジングの中にコ
ネクタピンが挿入されて取付けられるコネクタにおいて
、コネクタピン抜け止め用の開孔より検査器側テストピ
ンを挿入し、コネクタピンに接触させるようにしたもの
である。
ネクタピンが挿入されて取付けられるコネクタにおいて
、コネクタピン抜け止め用の開孔より検査器側テストピ
ンを挿入し、コネクタピンに接触させるようにしたもの
である。
また、コネクタを着脱自在に保持するコネクタ保持部材
と、テストピンを固定したテストピン固定部材を設け、
コネクタ保持部材はテストピン固定部材に対して離接自
在に設けられ、かつコネクタ保持部材は、コネクタのコ
ネクタ抜け止め用開孔に対応して貫通孔が設けられ、コ
ネクタ保持部材がテストピン固定部材に接する状態にお
いて、テストピンが貫通孔を通して、コネクタのコネク
タピンに接触するように構成したものである。
と、テストピンを固定したテストピン固定部材を設け、
コネクタ保持部材はテストピン固定部材に対して離接自
在に設けられ、かつコネクタ保持部材は、コネクタのコ
ネクタ抜け止め用開孔に対応して貫通孔が設けられ、コ
ネクタ保持部材がテストピン固定部材に接する状態にお
いて、テストピンが貫通孔を通して、コネクタのコネク
タピンに接触するように構成したものである。
′ （作 用）
本装置は、コネクタ保持部材とテストピン固定部材を離
接自在にすることにより、検査、試験しようとするコネ
クタの着脱を容易にし、また、コネクタのコネクタピン
抜け止め用開孔部に対応して、コネクタ保持部材にテス
トピンを抜き差しする貫通孔を設けることにより、この
孔を通してデス１−ピン固定部材に固定したテストピン
が、コネクタ保持部材とテストピン保持部材が接したと
き。
接自在にすることにより、検査、試験しようとするコネ
クタの着脱を容易にし、また、コネクタのコネクタピン
抜け止め用開孔部に対応して、コネクタ保持部材にテス
トピンを抜き差しする貫通孔を設けることにより、この
孔を通してデス１−ピン固定部材に固定したテストピン
が、コネクタ保持部材とテストピン保持部材が接したと
き。
コネクタに挿入されているコネクタピンに対し、コネク
タ抜け止め用開孔部で接触することにより、確実に電気
的に接触される。
タ抜け止め用開孔部で接触することにより、確実に電気
的に接触される。
（実施例）
本発明の一実施例を第１図ないし第４図に基づいて説明
する。
する。
第１図は本発明のコネクタ接続装置の斜視図である。同
図において、コネクタ保持部材１に、接続しようとする
コネクタ２の外形に合わせて、コネクタ２が嵌め込まれ
るようにコネクタ保持穴３を設け、コネクタ保持穴３の
下面から垂直方向にテストピン４が挿入される貫通孔５
は、コネクタ２のコネクタピン抜け止め用開孔部である
。コネクタ保持穴３の外側のコネクタ保持部材１にコネ
クタ保持バネ６をビス６ａにより固定し、コネクタ２が
挿入されたとき、コネクタ保持バネ６が外れないように
仮止めするとともに、テストピン４が貫通孔５を通して
コネクタピンを突き上げたとき、外れないようにしてい
る。コネクタ保持部材１は、テストピン固定部材７に取
付けた着脱用シリンダ８ａ、８ｂのロッドに取付けられ
、エアーホース９を通してエアーが供給されたとき、コ
ネクタ保持部材１がテストピン固定部材７から離脱し、
エアーが供給されないときは、着脱用シリンダ８ａ、８
ｂのバネによりテストピン固定部材７の方に引っばられ
、コネクタ保持部材１がテストピン固定部材７に圧接す
る状態となる。このとき、コネクタ保持部材１のコネク
タ保持穴３に挿入されたコネクタ２のコネクタピン抜け
止め用開孔部のコネクタピンにデス１−ピン４がテスト
ピンの貫通孔５を通して圧接され、コネクタ２のリード
線１０とテストピン４に接続したリード線１１が電気的
に接触され、検査、試験が行なわれることになる。
図において、コネクタ保持部材１に、接続しようとする
コネクタ２の外形に合わせて、コネクタ２が嵌め込まれ
るようにコネクタ保持穴３を設け、コネクタ保持穴３の
下面から垂直方向にテストピン４が挿入される貫通孔５
は、コネクタ２のコネクタピン抜け止め用開孔部である
。コネクタ保持穴３の外側のコネクタ保持部材１にコネ
クタ保持バネ６をビス６ａにより固定し、コネクタ２が
挿入されたとき、コネクタ保持バネ６が外れないように
仮止めするとともに、テストピン４が貫通孔５を通して
コネクタピンを突き上げたとき、外れないようにしてい
る。コネクタ保持部材１は、テストピン固定部材７に取
付けた着脱用シリンダ８ａ、８ｂのロッドに取付けられ
、エアーホース９を通してエアーが供給されたとき、コ
ネクタ保持部材１がテストピン固定部材７から離脱し、
エアーが供給されないときは、着脱用シリンダ８ａ、８
ｂのバネによりテストピン固定部材７の方に引っばられ
、コネクタ保持部材１がテストピン固定部材７に圧接す
る状態となる。このとき、コネクタ保持部材１のコネク
タ保持穴３に挿入されたコネクタ２のコネクタピン抜け
止め用開孔部のコネクタピンにデス１−ピン４がテスト
ピンの貫通孔５を通して圧接され、コネクタ２のリード
線１０とテストピン４に接続したリード線１１が電気的
に接触され、検査、試験が行なわれることになる。
検査試験が行なわれると、着脱用シリンダ８ａ。
８ｂにエアーを供給してコネクタ保持部材１をテストピ
ン固定部材７から離脱し、コネクタ２を容易にコネクタ
保持部材１から取り外すことができる。
ン固定部材７から離脱し、コネクタ２を容易にコネクタ
保持部材１から取り外すことができる。
第２図は本発明のコネクタ接続装置の離脱状態（ａ）と
接続状態（ｂ）における断面図である。同図（ａ）は、
コネクタ保持部材１に設けたコネクタ保持穴３にコネク
タ２がコネクタ保持バネ６により保持され、コネクタ抜
け止め用開孔が丁度テストピンの貫通孔５の位置にあり
、その真下にテストピン固定部材７に固定されたテスト
ピン４が位置する構造になっている。第２図（ｂ）は接
続状態であり、コネクタ保持部材１とテストピン固定部
材７が密着した状態である。テストピン固定部材７に取
付けられたテストピン４が貫通孔５を通してコネクタ２
の開孔よりコネクタピン１２に接触されている。このと
き、テストピン４によりコネクタ２が突き上げられるが
コネクタ保持バネ６によりおさえられて保持され、接触
状態を確実に保っている。
接続状態（ｂ）における断面図である。同図（ａ）は、
コネクタ保持部材１に設けたコネクタ保持穴３にコネク
タ２がコネクタ保持バネ６により保持され、コネクタ抜
け止め用開孔が丁度テストピンの貫通孔５の位置にあり
、その真下にテストピン固定部材７に固定されたテスト
ピン４が位置する構造になっている。第２図（ｂ）は接
続状態であり、コネクタ保持部材１とテストピン固定部
材７が密着した状態である。テストピン固定部材７に取
付けられたテストピン４が貫通孔５を通してコネクタ２
の開孔よりコネクタピン１２に接触されている。このと
き、テストピン４によりコネクタ２が突き上げられるが
コネクタ保持バネ６によりおさえられて保持され、接触
状態を確実に保っている。
次にコネクタ２とテストピン４との接続方法について説
明する。第３図はコネクタの斜視図である。同図におい
て、コネクタピン１２をコネクタ２に挿入したときには
、コネクタピン抜け止め固定用のＩｊＦＪ口孔１３にコ
ネクタピンＩ２の抜け止め切片１４が入り、コネクタピ
ン】２がコネクタ２から抜けない構造になっている。
明する。第３図はコネクタの斜視図である。同図におい
て、コネクタピン１２をコネクタ２に挿入したときには
、コネクタピン抜け止め固定用のＩｊＦＪ口孔１３にコ
ネクタピンＩ２の抜け止め切片１４が入り、コネクタピ
ン】２がコネクタ２から抜けない構造になっている。
第４図は、コネクタの断面図である。同図において、コ
ネクタピンに抜け止め固定用に開孔１３を使用してコネ
クタピン１２の抜け止め切片１４にテストピン４を接触
させるようにして、電気的接続を行なっている。
ネクタピンに抜け止め固定用に開孔１３を使用してコネ
クタピン１２の抜け止め切片１４にテストピン４を接触
させるようにして、電気的接続を行なっている。
（発明の効果）
本発明によれば、コネクタを接続して電子回路部品やプ
リント配線基板等の検査、試験を行なうときに、コネク
タに設けられたコネクタピン抜け止め固定用の開孔を使
用して、内部に挿入されたコネクタピンに検査用テスト
ピンを接触させて接続することにより、従来の接続方法
より簡単に接続することができ、接続不良のない接続が
行なわれ信頼度も高く、またコネクタ保持部材とテスト
ピン固定部材に分けることによってコネクタを容易に簡
単に着脱することができ、検査員の肉体的負荷を軽減で
きる等実用的効果は大である。
リント配線基板等の検査、試験を行なうときに、コネク
タに設けられたコネクタピン抜け止め固定用の開孔を使
用して、内部に挿入されたコネクタピンに検査用テスト
ピンを接触させて接続することにより、従来の接続方法
より簡単に接続することができ、接続不良のない接続が
行なわれ信頼度も高く、またコネクタ保持部材とテスト
ピン固定部材に分けることによってコネクタを容易に簡
単に着脱することができ、検査員の肉体的負荷を軽減で
きる等実用的効果は大である。
第１図は本発明の一実施例によるコネクタ接続装置の斜
視図、第２図Ｃａ”）は同コネクタ接続装置の離脱状態
の断面図、第２図（ｂ）は同接続状態の断面図、第３図
はコネクタの斜視図、第４図は同断面図、第５図は従来
の接続方法のブロック図、第６図は従来のコネクタ接続
部の拡大斜視図である。 １ ・・・コネクタ保持部材、 ２ ・・・コネクタ、
３ ・・・コネクタ保持穴、 ４ ・・・テストピン
、 ５・・・貫通孔、 ６ ・・・コネクタ保持バネ、
６ａ・・・ビス、 ７ ・・・テストピン固定部材、
８ａ、８ｂ・・・着脱用シリンダ、 ９ ・・・エアー
ホース＋ １０．１１・・・リード線、 １２・・・
コネクタピン、１３・・・開孔、１４・・・切片。 第１図 ６ｑ ピ人 第２図 第３図 第４図
視図、第２図Ｃａ”）は同コネクタ接続装置の離脱状態
の断面図、第２図（ｂ）は同接続状態の断面図、第３図
はコネクタの斜視図、第４図は同断面図、第５図は従来
の接続方法のブロック図、第６図は従来のコネクタ接続
部の拡大斜視図である。 １ ・・・コネクタ保持部材、 ２ ・・・コネクタ、
３ ・・・コネクタ保持穴、 ４ ・・・テストピン
、 ５・・・貫通孔、 ６ ・・・コネクタ保持バネ、
６ａ・・・ビス、 ７ ・・・テストピン固定部材、
８ａ、８ｂ・・・着脱用シリンダ、 ９ ・・・エアー
ホース＋ １０．１１・・・リード線、 １２・・・
コネクタピン、１３・・・開孔、１４・・・切片。 第１図 ６ｑ ピ人 第２図 第３図 第４図
Claims (2)
- （１）絶縁ハウジングの中にコネクタピンが挿入して取
付けられたコネクタにおいて、前記コネクタピン抜け止
め用の開孔より検査器側テストピンを挿入して、前記コ
ネクタピンに接触させるようにしたことを特徴とするコ
ネクタ接続装置。 - （２）コネクタを着脱自在に保持するコネクタ保持部材
と、テストピンを固定したテストピン固定部材を設け、
前記コネクタ保持部材はテストピン固定部材に対して離
接自在に設けられ、かつコネクタ保持部材は、前記コネ
クタのコネクタピン抜け止め用開孔に対応して貫通孔が
設けられ、前記コネクタ保持部材がテストピン固定部材
に接する状態において、テストピンが貫通孔を通して、
前記コネクタのコネクタピンに接触するように構成した
ことを特徴とする特許請求の範囲第（１）項記載のコネ
クタ接続装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61017795A JPS62177460A (ja) | 1986-01-31 | 1986-01-31 | コネクタ接続装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61017795A JPS62177460A (ja) | 1986-01-31 | 1986-01-31 | コネクタ接続装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62177460A true JPS62177460A (ja) | 1987-08-04 |
Family
ID=11953645
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61017795A Pending JPS62177460A (ja) | 1986-01-31 | 1986-01-31 | コネクタ接続装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62177460A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0387732A2 (de) * | 1989-03-15 | 1990-09-19 | STOCKO Metallwarenfabriken Henkels und Sohn GmbH & Co | Prüfvorrichtung für Steckverbinder |
| WO1993006495A1 (en) * | 1991-09-23 | 1993-04-01 | David John Kentish | Socket tester gauge |
| JPH0525685U (ja) * | 1991-09-13 | 1993-04-02 | 日本航空電子工業株式会社 | コネクタ |
| EP1124136A1 (en) * | 2000-02-10 | 2001-08-16 | Sumitomo Wiring Systems, Ltd. | Electrical connection testing device and method for connector terminals |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5941591U (ja) * | 1982-09-11 | 1984-03-17 | 武藤工業株式会社 | レ−ル用カ−ソルにおけるコロの取付装置 |
-
1986
- 1986-01-31 JP JP61017795A patent/JPS62177460A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5941591U (ja) * | 1982-09-11 | 1984-03-17 | 武藤工業株式会社 | レ−ル用カ−ソルにおけるコロの取付装置 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0387732A2 (de) * | 1989-03-15 | 1990-09-19 | STOCKO Metallwarenfabriken Henkels und Sohn GmbH & Co | Prüfvorrichtung für Steckverbinder |
| JPH0525685U (ja) * | 1991-09-13 | 1993-04-02 | 日本航空電子工業株式会社 | コネクタ |
| WO1993006495A1 (en) * | 1991-09-23 | 1993-04-01 | David John Kentish | Socket tester gauge |
| EP1124136A1 (en) * | 2000-02-10 | 2001-08-16 | Sumitomo Wiring Systems, Ltd. | Electrical connection testing device and method for connector terminals |
| US6480005B2 (en) | 2000-02-10 | 2002-11-12 | Sumitomo Wiring Systems, Ltd. | Electrical connection testing device and an electrical connection testing method for terminal fittings accommodated in a connector |
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