JPS62167058A - 保護膜とその製造方法 - Google Patents

保護膜とその製造方法

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JPS62167058A
JPS62167058A JP61007836A JP783686A JPS62167058A JP S62167058 A JPS62167058 A JP S62167058A JP 61007836 A JP61007836 A JP 61007836A JP 783686 A JP783686 A JP 783686A JP S62167058 A JPS62167058 A JP S62167058A
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JP
Japan
Prior art keywords
protective film
resistance
gas
och3
abrasion
Prior art date
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Pending
Application number
JP61007836A
Other languages
English (en)
Inventor
Michio Arai
三千男 荒井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TDK Corp
Original Assignee
TDK Corp
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Filing date
Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は耐摩耗性保護膜及びその製造法に関し、特にサ
ーマルヘッド用耐摩耗性保護膜及びその製造法に関する
〔従来の技術〕
ファクシミリ、コンピュータ端末、ワードプロセッサ、
記録計等における出力方式には、その一つとして、感熱
プリンターが用いられており、その印字素子としてサー
マルヘッドが採用されている。第1図は、このサーマル
ヘッドの基本構造を示す図である。第1図において、1
は表面に蓄熱用グレーズ層を有する磁器基板である。こ
の磁器基板1の表面には抵抗発熱体層2が設けられてお
り、この抵抗発熱体層20表面の両端には通電のための
リード層3.3が設けられている。さらに抵抗発熱体層
2及びリード層3,30表面には、感熱紙との摺接によ
り抵抗発熱体層2やリード層3.3が摩耗、破損するの
を防止するために、保護層4が最上J5として設けられ
ている。このような構造を有するサーマルヘッドにおい
ては、使用に際してリード層3,5間に通電することに
より抵抗発熱体層2が発熱し、この熱が保護層4を介し
て感熱紙上に達することによって感熱記録が行われる仕
組みになっている。
ところで、このようなサーマルヘッドの保護層において
は、高い硬度と耐摩耗性と耐熱性とを有し、その結果、
長期間にわたる摺接及び長期間にわたる発熱に対して充
分にその機能を発揮できることが要求される。
しかしながら、このような厳しい条件に充分満足すべき
程度に対応できる保護層材料はなかった。
従来から使用されているものはTa205や5iCxN
yなどであるが、Ta205は硬度耐摩耗性の点で劣る
また5ICxNyは高い硬度を有するが、じん性がなく
耐クラツク性が低い。また5i02 も検討されたこと
があるが感熱紙と反応したり、また感光紙との摩擦係数
が高くスティッキング等のトラブルを起こすので使用さ
れていない。
さらに、夏期や雨期のような高湿度環境においてはアル
カリイオンが保護膜を通して発熱層へ侵入することがあ
り、すぐれた保護膜の1つとされているS 1CxNy
では十分に対処できない。一方、St  −0−B系の
保護膜も提案されているがホウ素は非常に高価な材料で
あるばかりでなく、ホウ素のソースガスとして広く用い
られているBCI 3ガスは毒性が強く製造工程上の安
全対策が大きい問題となっている。従って、安全なソー
スガスを用い、且つできるだけホウ素の使用量を抑制す
ることが望ましい。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、耐摩耗性、耐湿性、耐熱性及び耐クラ
ツク性に優れた保護膜を提供することにある。本発明の
他の目的は、特にサーマルヘッドにおける上記の優れた
特性を有する保護膜を提供することにある。
また、本発明の他の目的は、上記保護膜を安全に製造す
る方法を提供することにある。
〔発明の概要〕
保護膜における成分忙関して、一般にSi  が多いと
クラック強度が大きくなるが絶縁性の面からはあまり多
量であってはならない。一方、窒素は耐摩耗性や耐湿性
を改善するが、余り多いとじん性を欠きクラック強度を
減じる。従ってN / S iは15を超えるべきでな
い。O,Bが入ると、B−N、B−0,Si  −0の
結合ができて応力を緩和し、じん性とクラック強度を増
大するが、余り多いと摩耗率が増大する。しかし下地の
発熱体ポリシリコンとの間の硬度が近づき密着性が良(
なる。以上のことから、本発明の耐摩耗性保護膜は、原
子比で表わして(全量100%とする)Si  ≧30
X 40%≧0≧5% 15X≧B≧2.5% 30X≧C≧3.5% t5≧N / S i ≧[12 の範囲の化合物より成る。
また、本発明の保護膜の製造には、SiH4、NH4、
B(OCH3)6及びH2を用いる。この方法の特徴は
、従来のBCl3 ガスに代ってB(OCR,)3を用
いる点にある。BCI、ガスは安全対策上、空気中に1
0 ppm以上の漏出があってはならないが、本発明で
用いるB (OCR5) 、ガスは無毒性であり、厳し
い管理は必要としない。また、このガスは同時に酸素及
び炭素の供給源となり、ガス源の設備を減じることがで
きる。上記のガスは常法に従ってプラズマCVDチャン
バーに導入されて所定の成膜が行われる。
以下に実施例を述べる。
〔実施例〕
まず、蓄熱用グレーズ層を設けた厚さ1nの300問×
20m1!lIのアルミナ基板上に、poly Siの
3元化合物薄膜抵抗発熱体層を3000大の厚さに形成
する。次に、この発熱体層の上部両端に厚さCL7μm
のAu 電極を通電のためのリード層として形成し、さ
らに、これらの最上層として、本発明の保護膜を次のよ
うにして厚さ5μmに形成する。
保護膜の形成 平行平板形のプラズマCVD法により、上記の如く形成
した下地デバイスの上に保護膜を成膜した。成膜条件は
次の通りであった。
ガスフロー 20%5IH4/H2200S CCMNH,j 00
〜soo  SCCM B(OCR,)3  10〜1oo  SCCM電力密
度     0.5〜1W/cIIL2圧  力   
       0.1〜t  5  Torrこうして
得られた種々の組成の保護膜を有するサーマルヘッド用
印字要素(ドツト)について試験を行った。
一般にサーマルヘッドの耐クラツク性を簡単に知る方法
は、ステップストレステストである。この方法では、発
熱抵抗体に一定時間印加する′1圧を次第に太き(しな
がら発熱抵抗体の抵抗変化を測定して耐摩耗性保護膜の
クラックに伴なう大きな抵抗変化から耐摩耗性保護膜の
耐クラツク性を評価する。テストに用いた方法は次の通
りである。
すなわち、走査線印字時間10m5ec  以上、走f
a分割数B48分割、データ転送周波数1■七、データ
転送量248(84M8)、印字電圧1&0〜2tOV
印字率20%及び走行距離30に!nである。発熱抵抗
体の寸法は、幅160μm、長さ280μmである。
前記ステップストレステストにおいて、クラックの生じ
た発熱抵抗体当りの印加電力(ワット/ドツト)をもっ
てクラック強度とする。また、印字濃度最大における印
加電力で記録紙を走行させた場合、記録紙の走行距離で
耐摩耗性保護膜の摩耗深さを除した値(μm/h)をも
って摩耗率とする。
第2図は、本発明の耐摩耗性保護膜を用いたサーマルヘ
ッドの摩耗率とクラック強度のO,B、Cに対する依存
性を示したものである。この結果かられかるように、こ
れらの含有率が上記範囲にあればクラック強度は大幅に
改善され、且つ摩耗率は十分に低(抑えられることが分
る。すなわち、Cが増えれば膜が硬くなりクラック強度
は低下するはずであるが、B10が増えるため結果とし
てクラック強度が良くなる。しかし、あまり多くなると
摩耗率が落ちる。本発明はB−N、B−0結合により応
力が緩和されることを応用し、しかも保護膜と下地のポ
リシリコンとの接着を増したのである。
次に、電極にタングステンを用い、それに本発明の保護
膜を5μmの厚さにかぶせて60℃、90%RHの条件
下に試験を行ったところ、3i1に対するNの原子比が
0.2以上あれば、250時間服上にわたって′i!L
iの腐食も保護膜のはがれも生じなかった。   ′ 〔作用効果〕 以上のように、本発明のサーマルヘッド用保護膜は、耐
クラツク強度が大きく且つ摩耗率も低い。
また、本発明ではl3(OCII、)、  を原料ガス
として用いたため、安全性が高く、また同時にB、O。
Cを供給できる。このガス源は他のB、Cガス源洗比し
て安定であり、組成の安定化に後文つ。
第1図はサーマルヘッドの構造を示す断面図であり、第
2図は本発明の保護膜の組成がクラック強度及び摩耗率
に及ぼす影響を示すグラフである。
代理人の氏名  倉 内 基 状□−゛(+4− −川 一二二、ニー;

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、原子比で表わしてSiが30%以上、Bが2.5〜
    15%、Oが5〜40%、Cが3.5〜30%、及び残
    部NであるSi−B−O−C−N化合物より成る保護膜
    。 2、プラズマCVDチャンバーに、Si、B、O、C、
    及びNを供給するガスを導入して成膜する方法において
    、B、O、CのソースガスとしてB(OCH_3)_3
    を用いることを特徴とする保護膜の製造法。 3、20%SiH_4/H_2の基準流量を200SC
    CMとしたときに、NH_3100〜500SCCM、
    B(OCH_3)_310〜100SCCMの割合で流
    し、電力密度0.5〜1w/cm^2、圧力0.1〜1
    5Torrの条件で成膜する前記第2項記載の保護膜の
    製造法。
JP61007836A 1986-01-20 1986-01-20 保護膜とその製造方法 Pending JPS62167058A (ja)

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