JPS62163974A - 電流センサ - Google Patents

電流センサ

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Publication number
JPS62163974A
JPS62163974A JP61004242A JP424286A JPS62163974A JP S62163974 A JPS62163974 A JP S62163974A JP 61004242 A JP61004242 A JP 61004242A JP 424286 A JP424286 A JP 424286A JP S62163974 A JPS62163974 A JP S62163974A
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JP
Japan
Prior art keywords
current
magnetic field
voltage
hall element
bias magnetic
Prior art date
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Pending
Application number
JP61004242A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Numakura
弘 沼倉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPS62163974A publication Critical patent/JPS62163974A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、ホール素子を用いた電流センサに関し、特
に、ホール素子のオフセットをキャンセルして高精度化
した電流センサに関するものである。
[従来の技術] 第3図は例えば「センサ技術(1982年12月号)」
に記載された従来の電流センサを示す斜視図である1図
において、(1)は被検出電流(I)が流れる電線であ
る。(2)は電線(1)の一部を取り囲む磁心であり、
被検出電流(I)によって発生する主磁界(B)の導磁
路となっている。(3)は磁心(2)の端面(2a)、
(2b)間にエアギャップ(G)を介して配置されたホ
ール素子、(4)はホール素子(3)の出力リードであ
る。
従来の電流センサは上記のように構成され、電線(1)
に被検出電流(I)が流れると、被検出電流(I)に比
例した磁界が電線(1)の回りに発生するが、そのほと
んどが主磁界(B)となって磁心(2)を通るようにな
っている。 tieって、磁心(2)の両端面(2a)
、(21+)間に配置されたホール素子(3〉には、主
磁界(B)に比例、即ち被検出電流(I)に比例した電
圧(V)が発生し、出方リード(4〉がら取り出される
第4図は被検出電流(I)とホール素子(3)から得ら
れる出力電圧(V)との関係を示す特性図であり、理想
的には原点(0)を通る直線(、)のような特性となる
。しかし、実際には、ホール素子(3)のオフセット電
圧(V)があるため、第5図の特性図に<b>又は(c
)で示すような特性となる。即ち、被検出電流(T)が
零で主磁界(B)が発生していなくても、オフセット電
圧(V)により(+V)又は(−V)が常に出力してい
ることになる。従って、例えばオフセット電圧が(+V
)の場合は、被検出電流(工、)に対する出力電圧が、
理想的な出力電圧(Vl)に対して(+V)だけシフト
された出力電圧(V2)となり、(1、)とは異なった
被検出電流(工、)を検出してしまう、この場合、理想
的な出力電圧(V)とは常に(+V)の誤差を生じるこ
とになる。
[発明が解決しようとする問題点] 従来の電流センサは以上のように、ホール素子く3)の
オフセット電圧(V)により、常に誤差を持った出力電
圧(V)を検出しているので、高精度の電流センサが得
られないという問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解決するためになされ
たもので、ホール素子のオフセット電圧を常にキャンセ
ルして高精度な電流センサを得ることを目的とする。
[問題点を解決するための手段] この発明に係る電流センサは、磁心にバイアス磁界を発
生させるためのバイアス磁界発生手段を磁心に設けたも
のである。
[作用] この発明においては、バイアス磁界発生手段が、ホール
素子のオフセット電圧と同じ大きさ且つ符号が反対の出
力電圧を発生ずるようなバイアス磁界をホール素子に印
加し、オフセット電圧をキャンセルする。
[実施例] 以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図はこの発明の実施例を示す斜視図であり、(1)〜(
4)、(I)、(B)及び(G)は従来の電流センサと
同様のものである。
(5)は磁心(2)の一部に巻かれ、磁心(2)内にバ
イアス磁界(D>を発生させるための補助コイル、〈6
)は補助コイル(5)の一端に接続された可変抵抗、(
7)は可変抵抗(6)と補助コイル(5)の他端との間
に挿入され、補助コイル(5)を励磁するための直流電
源であり、これら補助コイル(5)、可変抵抗(6)及
び直流電源(7)はバイアス磁界発生手段を構成してい
る。
次に、第2図に示した被検出電流(I)と出力電圧(V
)との特性図を参照しながら、この発明の実施例の動作
について説明する。
いま、ホール素子(3)がオフセラ1〜電圧(+V)を
持っていたとすると、このときの出力電圧(V)は第2
図に破線(b)で示すような特性となっている。
ここで、オフセット電圧(+V)をキャンセルするため
、まず被検出電流(I)が流れていない状態で、直流電
源(7)により可変抵抗(6)を介して補助コイル(5
)に電流を流す。そして、可変抵抗(6)を調整しなが
ら補助コイル(5)に流れる電流を変化させ、第21”
Jに破線(d)で示すようなオフセット電圧(+V)と
同じ大きさ且つ符号が反対の電圧(−V)が、出力リー
ド(4)から得られるようなバイアス磁界(D)を発生
させる。
こうして得られたバイアス磁界(D)によって、オフセ
ット電圧(+V)はキャンセルされて零となる。このバ
イアス磁界(D)を発生させる電流は、被検出電流(I
>が流れている状態でも常に補助コイル(5)に供給さ
れているので、出力リードく4)から検出されるホール
素子(3)の出力電圧(V)は、第2図の直線(a)で
示したように理想的な特性となる。
具体的には、例えば破線(b)で示した特性では、被検
出電流(I 、)に対して出力電圧が(VZ)となるが
、バイアス磁界(D>を印加した理想特性の直線(a)
によれば、オフセット電圧(+V)を含んでいないので
、誤差のない出力電圧(V +)(= V z  v)
が得られる。
し発明の効果] 以上のようにこの発明によれば、磁心にバイアス磁界を
発生させるためのバイアス磁界発生手段を設け、このバ
イアス磁界発生手段が、ホール素子のオフセット電圧と
同じ大きさ且つ符号が反対の出力電圧を発生するような
バイアス磁界をホール素子に印加してオフセット電圧を
キャンセルするように構成したので、誤差のない高精度
な電流センサが得られる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示す斜視図、第2図は第
1図の電流センサによる被検出電流と出力電圧との関係
を示す特性図、第3図は従来の電流センサを示す斜視図
、第4図はホール素子の理想特性を示す特性図、第5図
は従来の電流センサによるホール素子の特性を示す特性
図である。 (1)・・・電線      (2)・−・磁心(3)
・・・ホール素子   (5)・・・補助コイル〈6)
・・・可変抵抗    (7ト・・直流電源<I)・・
・被検出電流   (B)・・・主磁界(D>・・・バ
イアス磁界 兜1図 帛2図 b

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被検出電流が流れる電線と、この電線の一部を取
    り囲む磁心と、この磁心の一部に配置され前記被検出電
    流により前記磁心に発生する主磁界を検出するホール素
    子と、前記磁心に設けられ前記ホール素子のオフセット
    電圧をキャンセルするバイアス磁界を発生させるバイア
    ス磁界発生手段とを備えたことを特徴とする電流センサ
  2. (2)バイアス磁界発生手段が、磁心に巻かれた補助コ
    イルと、この補助コイルに電流を供給するための直流電
    源と、この直流電源からの供給電流を調整するための可
    変抵抗とからなることを特徴とする特許請求の範囲第1
    項記載の電流センサ。
JP61004242A 1986-01-14 1986-01-14 電流センサ Pending JPS62163974A (ja)

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JP61004242A JPS62163974A (ja) 1986-01-14 1986-01-14 電流センサ

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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