JPS6215922A - スイツチ回路 - Google Patents
スイツチ回路Info
- Publication number
- JPS6215922A JPS6215922A JP15404385A JP15404385A JPS6215922A JP S6215922 A JPS6215922 A JP S6215922A JP 15404385 A JP15404385 A JP 15404385A JP 15404385 A JP15404385 A JP 15404385A JP S6215922 A JPS6215922 A JP S6215922A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- phi
- switch
- inverse
- swb
- inputs
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Electronic Switches (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明はMOSスイッチに係り、特に低雑音で集積回路
化に好適なMOSスイッチに関する。
化に好適なMOSスイッチに関する。
本発明に関連するMOSスイッチはアイ・イー・イー・
イー・ジャーナルオブ・ソリッド・ステート・サーキッ
ッ(IEEE J、 5olid 5tateCirc
uits)第5C−14巻、第926−932頁、 (
197812月)に記載されていて、A/D変換器の電
圧比較器における、入力切換スイッチに採用されている
。第1図にこのスイッチを使った電圧比較器を示す、ス
イー/チsW1.SW2によって2つの入力V l m
11Vい2の一方が選択される。
イー・ジャーナルオブ・ソリッド・ステート・サーキッ
ッ(IEEE J、 5olid 5tateCirc
uits)第5C−14巻、第926−932頁、 (
197812月)に記載されていて、A/D変換器の電
圧比較器における、入力切換スイッチに採用されている
。第1図にこのスイッチを使った電圧比較器を示す、ス
イー/チsW1.SW2によって2つの入力V l m
11Vい2の一方が選択される。
今、信号φは信号φの反転信号で、φに対し、遅延τが
あるとすると、第2図に示す様に第1図のスイッチS
w 1.5w2が共に導通状態になる期間τが生じ2つ
の入力が短絡してしまい、雑音発生の要因となる。
あるとすると、第2図に示す様に第1図のスイッチS
w 1.5w2が共に導通状態になる期間τが生じ2つ
の入力が短絡してしまい、雑音発生の要因となる。
本発明の目的はスイッチ切換え時に発生する一時的な入
力間の短絡を容易に防止し雑音の発生を抑制でき、集積
回路化に好適なMOSスイッチを提供することにある。
力間の短絡を容易に防止し雑音の発生を抑制でき、集積
回路化に好適なMOSスイッチを提供することにある。
第1図に示す電圧比較器の入力切換えスイッチSwl、
5w2は、信号φが、信号φに対して遅延を持った反転
信号とすると、スイッチ切換え時に同時に導通状態とな
る期間τがある。このため、入力間が短絡して雑音発生
の要因とある。そこでSwl、5w2を第3図に示す様
にN型MO8とP型MO8を直列接続することにより、
この短絡を防止し、雑音の発生を抑制した。第4図にス
イッチ制御信号φ、φとスイッチSwa、Swbの開閉
の関係を示ず。Swaはφがハイ(High) ’;が
ロー(Low)の時だけ閉じる。一方、SwbはφがL
ow、φがHighの時だけ閉じる。従って、φとφ間
の遅延によって一時的に発生するφとφが共にHigh
、あるいはLowの期間においてSWa、swbは共に
開き、2つの入力V L*1e 71m2は短絡するこ
とがなく、出力V o u tに発生する雑音を抑える
ことができる。
5w2は、信号φが、信号φに対して遅延を持った反転
信号とすると、スイッチ切換え時に同時に導通状態とな
る期間τがある。このため、入力間が短絡して雑音発生
の要因とある。そこでSwl、5w2を第3図に示す様
にN型MO8とP型MO8を直列接続することにより、
この短絡を防止し、雑音の発生を抑制した。第4図にス
イッチ制御信号φ、φとスイッチSwa、Swbの開閉
の関係を示ず。Swaはφがハイ(High) ’;が
ロー(Low)の時だけ閉じる。一方、SwbはφがL
ow、φがHighの時だけ閉じる。従って、φとφ間
の遅延によって一時的に発生するφとφが共にHigh
、あるいはLowの期間においてSWa、swbは共に
開き、2つの入力V L*1e 71m2は短絡するこ
とがなく、出力V o u tに発生する雑音を抑える
ことができる。
以下、本発明の実施例を第5図により説明する。
第5図は本発明のMOSスイッチを使った電圧比較器の
構成を示す、キャパシタとインバータが直列接続され、
インバータの入力端を短絡するスイッチSW3が接続さ
れた比較回路に、入力電圧vl、いVi、を交互に切換
えるスイッチ4が接続されている。スイッチ4の制御信
号φがHighで、v、Slが比較回路に入力される。
構成を示す、キャパシタとインバータが直列接続され、
インバータの入力端を短絡するスイッチSW3が接続さ
れた比較回路に、入力電圧vl、いVi、を交互に切換
えるスイッチ4が接続されている。スイッチ4の制御信
号φがHighで、v、Slが比較回路に入力される。
この時、SWaは閉じている6次にSWaが開き、φが
LowになるとVlalが入力され比較が行なわれる。
LowになるとVlalが入力され比較が行なわれる。
入力切換え時に、一時的に入力間が短絡すると比較すべ
き電圧が変動するため、この変動が整定するまで待たね
ばならない。このため、比較器の高速化の妨げとなって
いたが、本発明のMOSスイッチを使うことにより、こ
れを容易に防止し、比較器の高速化が図られる。
き電圧が変動するため、この変動が整定するまで待たね
ばならない。このため、比較器の高速化の妨げとなって
いたが、本発明のMOSスイッチを使うことにより、こ
れを容易に防止し、比較器の高速化が図られる。
また、第6図に本発明のMOSスイッチを使ったマルチ
プレクサ回路を示す。この回路は、制御信号φ1〜φ、
によって、入力V工〜V、を選択出力する回路である。
プレクサ回路を示す。この回路は、制御信号φ1〜φ、
によって、入力V工〜V、を選択出力する回路である。
各スイッチの入力間がスイッチ切換え時に短絡すること
がないので、出方に発生する雑音を抑えることができる
。
がないので、出方に発生する雑音を抑えることができる
。
本発明によれば、従来のMOSスイッチに存在した入力
間の短絡を容易に防止し、雑音の発生を抑制でき、集積
回路化に好適なMOSスイッチを提供できる。
間の短絡を容易に防止し、雑音の発生を抑制でき、集積
回路化に好適なMOSスイッチを提供できる。
第1図は従来の電圧比較器の回路図、第2図は従来の比
較器における入力切換え信号のタイムチャート、第3図
は本発明の一実施例になるMOSスイッチの回路図、第
4図は本発明のMOSスイッチの制御信号とスイッチの
開閉を示す図、第5図は本発明のMOSスイッチを使っ
た比較器の実施例を示す回路図、第6図は本発明のMO
Sスイッチを使ったマルチプレクサ回路の実施例を示す
回路図である。 1・・・インバータ回路、2・・・P型MO8,3・・
・N型第 2 図 □t 第30 第 4 口 □を 第 5 凹
較器における入力切換え信号のタイムチャート、第3図
は本発明の一実施例になるMOSスイッチの回路図、第
4図は本発明のMOSスイッチの制御信号とスイッチの
開閉を示す図、第5図は本発明のMOSスイッチを使っ
た比較器の実施例を示す回路図、第6図は本発明のMO
Sスイッチを使ったマルチプレクサ回路の実施例を示す
回路図である。 1・・・インバータ回路、2・・・P型MO8,3・・
・N型第 2 図 □t 第30 第 4 口 □を 第 5 凹
Claims (1)
- 2つのスイッチを直列接続し、該接続端を出力端とし、
他を入力端とする回路において、該スイッチを第1のト
ランジスタと第2のトランジスタの直列接続構成とした
ことを特徴とするスイッチ回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15404385A JPS6215922A (ja) | 1985-07-15 | 1985-07-15 | スイツチ回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15404385A JPS6215922A (ja) | 1985-07-15 | 1985-07-15 | スイツチ回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6215922A true JPS6215922A (ja) | 1987-01-24 |
Family
ID=15575670
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15404385A Pending JPS6215922A (ja) | 1985-07-15 | 1985-07-15 | スイツチ回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6215922A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5673277A (en) * | 1993-09-16 | 1997-09-30 | Quality Semiconductor, Inc. | Scan test circuit using fast transmission gate switch |
US6208195B1 (en) | 1991-03-18 | 2001-03-27 | Integrated Device Technology, Inc. | Fast transmission gate switch |
US6215350B1 (en) * | 1991-03-18 | 2001-04-10 | Integrated Device Technology, Inc. | Fast transmission gate switch |
-
1985
- 1985-07-15 JP JP15404385A patent/JPS6215922A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6208195B1 (en) | 1991-03-18 | 2001-03-27 | Integrated Device Technology, Inc. | Fast transmission gate switch |
US6215350B1 (en) * | 1991-03-18 | 2001-04-10 | Integrated Device Technology, Inc. | Fast transmission gate switch |
US6556063B2 (en) | 1991-03-18 | 2003-04-29 | Integrated Device Technology, Inc. | Fast transmission gate switch |
US5673277A (en) * | 1993-09-16 | 1997-09-30 | Quality Semiconductor, Inc. | Scan test circuit using fast transmission gate switch |
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